チップレットシステムにおける経年劣化に対する信頼性と安全性強化技術について
KAKEN 科学研究費助成事業データベース で見る| 研究課題番号 | KAKENHI-PROJECT-25K15042 |
|---|---|
| 研究種目 | 基盤研究(C) |
| 研究分野 | |
| 研究機関 | 愛媛大学 |
| 代表研究者 | 王 森レイ |
| 研究分担者 | 甲斐 博 |
| 研究分担者 | 樋上 喜信 |
| 研究分担者 | 高橋 寛 |
| 研究分担者 | 四柳 浩之 |
| 研究期間 開始年月日 | 2025/4/1 |
| 研究期間 終了年度 | 2027 |
| 研究ステータス | 交付 (2025/4/1) |
| 配分額（合計） | 4,550,000 (直接経費 :3,500,000、間接経費 :1,050,000) |
| 配分額（履歴） |
2027年度：1,170,000 (直接経費 :900,000、間接経費 :270,000) 2026年度：1,820,000 (直接経費 :1,400,000、間接経費 :420,000) 2025年度：1,560,000 (直接経費 :1,200,000、間接経費 :360,000) |
| キーワード | Chiplet TSV Aging Test Security |