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樋上 喜信
愛媛大学
2025年4月18日更新
- 職名
- 教授
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- 学歴
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- 学位
- 博士(工学) （ 大阪大学 ）
- 職歴・経歴
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- 専門分野・研究分野
- ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学） / 通信工学
2025年4月18日更新
- 専門分野・研究分野
- ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学） / 通信工学
- 担当経験のある授業科目
- 2024年度通年 / 修士特別研究２
2024年度通年 / 修士特別研究１
2024年度通年 / アカデミックプレゼンテーション
2024年度通年 / 研究倫理特論
2024年度通年 / 卒業研究
2024年度後期 / MOT特論
2024年度後期 / DS/AI活用PBL演習２
2024年度後期 / ICT社会論
2024年度後期 / 情報工学特別ゼミナールⅣ
2024年度後期 / 情報工学特別ゼミナールⅢ
2024年度後期 / 発展的ICT総合科目Ⅲ
2024年度後期 / 情報システム工学特論Ⅳ
2024年度後期 / PBL演習Ⅱ
2024年度第２クォーター / 計算機システム特論
2024年度第２クォーター / 計算機システム特論ＩＩ
2024年度第２クォーター / 基礎安全学
2024年度第２クォーター / 現代と科学技術
2024年度第１クォーター / 工学リテラシー I
2024年度第１クォーター / 現代と科学技術
2024年度第４クォーター / 工学リテラシーⅣ
2024年度後期 / 学部共通PBL
2024年度後期 / 計算機システムⅡ
2024年度後期 / 情報システム概論
2024年度前期 / 安全衛生管理概論
2024年度前期 / DS/AI活用PBL演習１
2024年度前期 / 研究倫理特論
2024年度前期 / MOT特論
2024年度前期 / 情報工学特別ゼミナールⅣ
2024年度前期 / 情報工学特別ゼミナールⅢ
2024年度前期 / ICTインターンシップⅢ - 指導経験
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2025年4月18日更新
- 専門分野・研究分野
- ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学） / 通信工学
- 研究テーマ
- 計算機工学
Computer Engineering
- 著書
- Three-Dimensional Integration of Semiconductors 樋上 喜信（ 担当： 分担執筆） Springer 2016年1月
LSIテスティングハンドブック 樋上 喜信（ 担当： 分担執筆） オーム社 2008年11月 - 論文
- マルチサイクルテストにおける故障検出低下問 題の解析とその対策 青野 智己, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 電気関係学会四国支部連合大会 2019年9月
Test Point Selection for Multi-Cycle Logic BIST using Multivariate Temporal-Spatial GCNs Senling Wang, Shaoqi Wei, Hisashi Okamoto, Tatusya Nishikawa, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroyuki Yotsuyanagi, Ruijun Ma, Tianming Ni, Hiroshi Takahashi, Xiaoqing Wen 2024 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) 1 - 6 2024年8月
Deep-BMNN: Implementing Sparse Binary Neural Networks in Memory-Based Reconfigurable Processor (MRP) Kenta Sasagawa, Senling Wang, Tetsuya Nishikawa, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tianming Ni, Xiaoqing Wen 2024 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC) 1 - 6 2024年7月
Diagnosis of Double Faults Consisting of a Stuck-at Fault and a Transition Fault 査読 2024年7月
Testing and Delay-Monitoring for the High Reliability of Memory-based Programmable Logic Device 査読 Xihong ZHOU, Senling WANG, Yoshinobu HIGAMI, Hiroshi TAKAHASHI IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems E106-D ( 10 ) 2023年10月
SASL-JTAG: A Light-Weight Dependable JTAG. Senling Wang, Shaoqi Wei, Jun Ma, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Akihiro Shimizu, Xiaoqing Wen, Tianming Ni DFT 1 - 3 2023年
Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning Shaoqi Wei, Kohei Shiotani, Senling Wang, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Gang Wang 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications, ITC-CSCC 2023 2023年
Improving of Fault Diagnosis Ability by Test Point Insertion and Output Compaction Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications, ITC-CSCC 2023 2023年
Preliminary Study on Noise-Resilient Artificial Neural Networks for On-Chip Test Generation 査読 2022年10月
Test Point Insertion for Multi-Cycle Power-On Self-Test Senling Wang, Xihong Zhou, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems 2022年9月
Machine Learning Based Fault Diagnosis for Stuck-at Faults and Bridging Faults 査読 2022年7月
Compaction of Fault Dictionary without Degrading Diagnosis Ability 査読 2021年6月
Preliminary Evaluation of Artificial Neural Networks as Test Pattern Generators for BIST Tsutomu Inamoto, Kazuki Ohtomo, Yoshinobu Higami 2021 36th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications, ITC-CSCC 2021 2021年6月
MNN: A Solution to Implement Neural Networks into a Memory-based Reconfigurable Logic Device (MRLD) 査読 Xihong Zhou, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Mitsunori Katsu, Shoichi Sekiguchi 2021 36th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 2021年6月
Formulation of a Test Pattern Measure that Counts Distinguished Fault-Pairs for Circuit Fault Diagnosis 査読 Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami IEICE Trans. on Fundamentals E103-A ( 12 ) 1456 - 1463 2020年12月
Regeneration of Test Patterns for BIST by Using Artificial Neural Networks Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami ITC-CSCC 2020 - 35th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications 137 - 140 2020年7月
Reduction of Fault Dictionary Size by Optimizing the Order of Test Patterns Application 査読 国際共著 Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC2020) - 131 - 136 2020年7月
Ring-Oscillator Implementation for Monitoring the Aging State of Memory-based Reconfigurable Logic Device (MRLD) 査読 Xihong Zhou, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC2020) 34th 2020年7月
Aging Monitoring for Memory-based Reconfigurable Logic Device (MRLD) Xihong Zhou, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi 35TH INTERNATIONAL TECHNICAL CONFERENCE ON CIRCUITS/SYSTEMS, COMPUTERS AND COMMUNICATIONS (ITC-CSCC 2020) 228 - 233 2020年
FF-Control Point Insertion (FF-CPI) to Overcome the Degradation of Fault Detection under Multi-Cycle Test for POST 査読 Hanan T. Al-Awadhi, Tomoki Aono, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima IEICE Transactions on Information and Systems under review ( 11 ) 2289 - 2301 2019年12月
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出低下問題の解析 中岡 典弘, 青野 智己, 工藤 壮司, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋 潤 デザインガイア2019 -VLSI設計の新しい大地- 2019年11月
Feasibility of Machine Learning Algorithm for Test Partitioning 招待 査読 Senling Wang, Hanan T. Al-Awadhi, Masatoshi Aohagi, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi The 34th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC 2019) 217 - 220 2019年8月
Compact Dictionaries for Reducing Compute Time in Adaptive Diagnosis 招待 査読 Yoshinobu Higami, Tomokazu Nakamura, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja The 34th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC 2019) inpress 124 - 127 2019年8月
Application of Convolutional Neural Networks to Regenerate Deterministic Test Patterns for BIST Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami 34th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications, ITC-CSCC 2019 2019年6月
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法 招待 青野智己, Hanan T.Al-Awadhi, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 愛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋, 潤(ルネサスエレクトロニクス 信学技報 DC研究会信学技報 118 ( 456 ) 49 - 54 2019年2月
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会技術報告 119 145 - 150 2019年
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFF選択法 矢野 良典, 青野, 智己, 王森 レイ, 樋上, 喜信, 高橋 寛 電気関係学会四国支部連合大会 2018年9月
マルチサイクルテストの故障検出率の低下を改善するための キャプチャパターン制御法 青野 智己, 矢野 良典, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 電気関係学会四国支部連合大会 2018年9月
機械学習を適用した半断線故障判別法の評価 増成紳介, 青萩正俊, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 四柳浩之, 橋爪正樹 電気関係学会四国支部連合大会 2018年9月
組込み自己診断向けのテストパターン生成法 松田 優大, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 電気関係学会四国支部連合大会 2018年9月
Fault Diagnosis Considering Path Delay Variations in Multi Cycle Test Environment 査読 樋上 喜信 Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications 90 - 93 2018年7月
Test Method for the Bridge Interconnect Faults in Memory Based Reconfigurable-Logic-Device(MRLD) Considering the Place-and-Route 査読 Senling Wang, Tomoki Aono, Tatsuya Ogawa, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Mitsunori Katsu, Shoichi Sekiguchi International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC) in press 2018年7月
Testing of Interconnect Defects in Memory based Reconfigurable Logic Device (MRLD) 査読 樋上 喜信 Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications 25 - 28 2018年7月
Evaluation of Educational Applications in Terms of Communication Delay between Tablets with Bluetooth or Wi-Fi Direct 査読 K. Endo, G. Fujioka, A. Onoyama, D. Okano, Y. Higami, S. Kobayashi Vietnam Journal of Computer Science 5 ( 3 ) 219 - 227 2018年5月
Testing of interconnect defects in memory based reconfigurable logic device (MRLD) Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Masayuki Sato, Mitsunori Katsu, Shoichi Sekiguchi Proceedings of the Asian Test Symposium 13 - 18 2018年1月
Automotive Functional Safety Assurance by POST with Sequential Observation. Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Jun Matsushima IEEE Design & Test 35 ( 3 ) 39 - 45 2018年
Fault-detection-strengthened method to enable the POST for very-large automotive MCU in compliance with ISO26262. 査読 Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima IEEE European Test Symposium (ETS) 1 - 2 2018年
Capture-Pattern-Control to Address the Fault Detection Degradation Problem of Multi-cycle Test in Logic BIST. 査読 Senling Wang, Tomoki Aono, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima in proc. IEEE Asian Test Symposium 155 - 160 2018年
Discrimination of a resistive open using anomaly detection of delay variation induced by transitions on adjacent lines Hiroyuki Yotsuyanagi, Kotaro Ise, Masaki Hashizume, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences E100A ( 12 ) 2842 - 2850 2017年12月
Towards an ISO26262 Compliant DFT Architecture Enabling POST for Ultra-Large-Scale Automotive MCU 査読 樋上 喜信 2nd IEEE Int. Workshop on Automotive Reliability & Test 2017年11月
A method for diagnosing bridging fault between a gate signal line and a clock line Yoshinobu Higami, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Shin-Ya Kobayashi, Kewal K. Saluja IEICE Transactions on Information and Systems E100D ( 9 ) 2224 - 2227 2017年9月
A Method for Diagnosing Bridging Fault between a Gate Signal Line and a Clock Line 査読 Yoshinobu Higami, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Kewal K. Saluja IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E100D ( 9 ) 2224 - 2227 2017年9月
Road-map to Bridge Theoretical and Practical Approaches for Elevator Operation Problems 招待 査読 Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami, Shin-ya Kobayashi International Journal of Smart Computing and Artificial Intelligence 1 ( 2 ) 113 - 135 2017年9月
Adaptive Field Diagnosis for Reducing the Number of Test Patterns 査読 樋上 喜信 Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications 412 - 415 2017年7月
Pattern Partitioning based Field Testing for Improving the Detection Latency of Aging-Induced Delay Faults 査読 樋上 喜信 Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications 21 - 24 2017年7月
Bluetoothアドホックネットワークを利用した分散型作品画像掲示システムの開発 吉本幸太, 遠藤慶一, 樋上喜信, 小林真也 第79回情報処理学会全国大会 2017年3月
エクスターナルグリッドの処理結果を誤りに導くことを意図する悪人がもたらす影響の定量的評価 山口晃右, 遠藤慶一, 樋上喜信, 小林真也 第79回情報処理学会全国大会 2017年3月
赤潮発生予測の為の海水温情報伝達システムの開発 阿草 裕, 遠藤慶一, 黒田久泰, 樋上喜信 第79回情報処理学会全国大会 2017年3月
閾値暫定法を用いたエクスターナルグリッドにおける高速性・機密性・信頼性のトレードオフ関係の定量的考察 田中祐生, 遠藤慶一, 樋上喜信, 小林真也 第79回情報処理学会全国大会 2017年3月
赤潮への早期対策支援を目的とした漁業従事者向け赤潮情報配信システムの開発 牧野雄之, 中岡優人, 遠藤慶一, 黒田久泰, 樋上喜信, 小林真也 第79回情報処理学会全国大会 2017年3月
Trip-Based Integer Linear Programming Model for Static Multi-Car Elevator Operation Problems 査読 Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami, Shin-ya Kobayashi IEICE TRANSACTIONS ON FUNDAMENTALS OF ELECTRONICS COMMUNICATIONS AND COMPUTER SCIENCES E100A ( 2 ) 385 - 394 2017年2月
On selection of adjacent lines in test pattern generation for delay faults considering crosstalk effects. 査読 Yuuya Ohama, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi 17th International Symposium on Communications and Information Technologies, ISCIT 2017, Cairns, Australia, September 25-27, 2017 1 - 5 2017年
Harnessing fuzziness of the pragmatic rule-design without IF-THEN rules Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami Frontiers in Artificial Intelligence and Applications 299 54 - 62 2017年
Comparative Evaluation of Bluetooth and Wi-Fi Direct for Tablet-Oriented Educational Applications 査読 Keiichi Endo, Ayame Onoyama, Dai Okano, Yoshinobu Higami, Shinya Kobayashi INTELLIGENT INFORMATION AND DATABASE SYSTEMS, ACIIDS 2017, PT I 10191 345 - 354 2017年
Pattern Partitioning for Field Testing Considering the Aging Speed 査読 Hanan T. Al-Awadhi, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi Proc. IEEE WRTLT16, 72 - 76 2016年11月
運搬経路問題のパラメータ付けられた整数線形計画問題としての定式化に向けた検討 稲元 勉, 遠藤 慶一, 樋上 喜信, 小林 真也 平成28年 電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集 15 - 19 2016年9月
多義性を有するクラシファイアシステムの性質に関するデコーダ問題を対象とした予備調査 稲元 勉, 遠藤 慶一, 樋上 喜信, 小林 真也 平成28年 電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集 169 - 174 2016年9月
赤潮や魚病の発生予測のための海水サンプル採取を支援するシステムの開発 安藤顕人, 岡本拓哉, 遠藤慶一, 黒田久泰, 樋上喜信, 小林真也 FIT2016 第15回情報科学技術フォーラム 2016年9月
暫定閾値に基づく先行処理を用いたエクスターナルグ リッドにおける閾値と処理時間の関係 田中祐生, 井上竜太郎, 稲元勉, 遠藤慶一, 樋上喜信, 小林真也 平成２８年度 電気関係学会四国支部連合大会 2016年9月
タブレット向け描画画面共有アプリケーションにおける無線通信の遅延特性 遠藤 慶一, 小野山 紋女, 岡野 大, 樋上 喜信, 小林 真也 マルチメディア，分散協調とモバイルシンポジウム2016論文集 ( 2016 ) 1593 - 1596 2016年7月
悪人集団の盗視に対抗する保護処理を用いたエクスターナルグリッドの性能評価 山口 晃右, 稲元 勉, 樋上 喜信, 小林 真也 マルチメディア，分散，協調とモバイル(DICOMO2016)シンポジウム 2016年7月
設備故障が旅客に与える経済的損失を評価尺度とした鉄道信号設備のライフサイクルコストの低減に関する考察 査読 志田 洋, 大串 裕郁, 樋上 喜信, 阿萬 裕久, 高橋 寛 電子情報通信学会論文誌 J99-D ( 5 ) 539 - 548 2016年5月
The analysis of Automated HTML5 Offline Services (AHOS) Zulkifli Tahir, Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami, Shinya Kobayashi ICIIBMS 2015 - International Conference on Intelligent Informatics and Biomedical Sciences 62 - 66 2016年3月
無限期間動的計画法の GPU 実装における収束判定の処理時間削減に向けた検討 稲元 勉, 樋上 喜信, 小林 真也 情報処理学会研究報告 2016-HPC-153 ( 29 ) 2016年3月
Design and Implementation of Data Synchronization and Offline Capabilities in Native Mobile Apps 査読 Kamoliddin Mavlonov, Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami, Shin-Ya Kobayashi Intelligent Information and Database Systems, ACIIDS 2016, Pt II 9622 61 - 71 2016年
Diagnosis methods for gate delay faults with various amounts of delays 査読 Yoshinobu Higami, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Shin-Ya Kobayashi, Kewal K. Saluja IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 9 13 - 20 2016年
Road-map to Bridge Theoretical and Practical Approaches for Elevator Operations Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami, Shin-ya Kobayashi PROCEEDINGS 2016 5TH IIAI INTERNATIONAL CONGRESS ON ADVANCED APPLIED INFORMATICS IIAI-AAI 2016 1097 - 1102 2016年
Structure-Based Methods for Selecting Fault-Detection-Strengthened FF under Multi-Cycle Test with Sequential Observation Senling Wang, Hanan T. Al-Awadhi, Soh Hamada, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Jun Matsushima 2016 IEEE 25TH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS) 209 - 214 2016年
マルチサイクルテストでのクロック信号線のd-故障に対する故障診断 和田 祐介, 樋上 喜信, 王 森レイ, 高橋 寛, 小林 真也 平成27年度電気関係学会四国支部連合大会 2015年9月
A Proposal of Maintenance Cost Model of Track Circuits 査読 志田洋, 樋上喜信, 阿萬裕久, 高橋 寛 Proc.MMR2015 2015年9月
An Automated HTML5 Offline Services (AHOS) A Case Study Of Web-Based Maintenance DSS In SMIs 査読 Z. Tahir, T. Inamoto, Y. Higami, S. Kobayashi The 14th International Conference on QiR (Quality in Research) 2015 2015年8月
POP-based Approximation Method Enabled by Physical ILP Model for Static Elevator Operation Problems 査読 T. Inamoto, Y. Higami, S. Kobayashi 22nd International Symposium on Mathematical Optimization (ISMP 2015) 2015年7月
Diagnosis of Delay Faults in the Presence of Clock Delays Considering Hazards 査読 Yoshinobu Higami, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Kewal K. Saluja Proc. 30th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 649 - 652 2015年
Giving Formal Roles to Elevators for Breaking Symmetry in Static Elevator Operation Problems Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami, Shin-ya Kobayashi 2015 IEEE 4TH GLOBAL CONFERENCE ON CONSUMER ELECTRONICS (GCCE) 621 - 625 2015年
Diagnosis of Delay Faults Considering Hazards 査読 Yoshinobu Higami, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Graduate, Kewal K. Saluja 2015 IEEE COMPUTER SOCIETY ANNUAL SYMPOSIUM ON VLSI 503 - 508 2015年
A Simulated Annealing based Pattern Selection Method to HandlePower Supply Noise for Resistive Open Fault Diagnosis 査読 樋上 喜信, 高橋 寛 Proc. ITC-CSCC2015 - 592 - 595 2015年
0‐1整数計画問題を利用した欠陥検出向けテストパターン選択法 志田洋, 樋上喜信, 阿萬裕久, 高橋寛, SALUJA Kewal K 日本信頼性学会誌 36 ( 8 ) 501 - 510 2014年11月
0-1 整数計画問題を利用した欠陥検出向けテストパターン選択法 査読 志田 洋, 樋上 喜信, 阿萬 裕久, 高橋 寛, ケーワル サルージャ 日本信頼性学会誌 36 ( 8 ) 501 - 510 2014年11月
素朴な分類子を対象とした多数決制度による遺伝的機械学習の性能向上に関する予備的調査 稲元 勉, 樋上 喜信, 小林 真也 平成26年 電気学会電子・情報・システム部門大会 2014年9月
Diagnosis of Delay Faults in Multi-Clock SOCs 査読 Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi, K. K. Saluja Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications 2014年7月
アナログバウンダリスキャンによる三次元積層後のTSV抵抗精密計測法 亀山修一, 馬場雅之, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会論文誌 D(Web) J97-D ( 4 ) 887-890 (WEB ONLY) - 890 2014年4月
Optimal Periods for Probing Convergence of Infinite-stage Dynamic Programmings on GPUs. 査読 Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami, Shin-ya Kobayashi IJNC 4 ( 2 ) 321 - 335 2014年
Measuring Method for TSV-based Interconnect Resistance in 3D-SIC by Embedded Analog Boundary-Scan Circuit 査読 KAMEYAMA Shuichi, BABA Masayuki, HIGAMI Yoshinobu, TAKAHASHI Hiroshi Trans Jpn Inst Electron Packag (Web) 7 ( 1 ) 140-146 (J-STAGE) - 146 2014年
Diagnosis of Gate Delay Faults in the Presence of Clock Delay Faults 査読 Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Kewal K. Saluja 2014 IEEE COMPUTER SOCIETY ANNUAL SYMPOSIUM ON VLSI (ISVLSI) 321 - 326 2014年
Test Generation for Delay Faults on Clock Lines under Launch-on-Capture Test Environment 査読 Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Kewal K. Saluja IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E96D ( 6 ) 1323 - 1331 2013年6月
Diagnosing Resistive Open Faults Using Small Delay Fault Simulation 査読 Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Hironobu Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Kewal K. Saluja 2013 22ND ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS) 79 - 84 2013年
Intermittently proving dynamic programming to solve infinite MDPs on GPUs 査読 Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami, Shin-Ya Kobayashi Proceedings - 2013 1st International Symposium on Computing and Networking, CANDAR 2013 252 - 256 2013年
Generation of Diagnostic Tests for Transition Faults Using a Stuck-At ATPG Tool 査読 Yoshinobu Higami, Satoshi Ohno, Hironori Yamaoka, Hiroshi Takahashi, Yoshihiro Shimizu, Takashi Aikyo IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E95D ( 4 ) 1093 - 1100 2012年4月
Dynamic routing and wavelength assignment with backward reservation in wavelength-routed multifiber WDM networks 査読 Dewiani, Kouji Hirata, Khamisi Kalegele, Yoshinobu Higami, Shin-ya Kobayashi Journal of Networks 7 ( 9 ) 1441 - 1448 2012年
Diagnosis for bridging faults on clock lines 査読 Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Shin-Ya Kobayashi, Kewal K. Saluja Proceedings of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing, PRDC 135 - 144 2012年
論理回路の故障診断法―外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展― 高松雄三, 佐藤康夫, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二 電子情報通信学会論文誌 D J94-D ( 1 ) 266 - 279 2011年1月
Test Pattern Selection for Defect-Aware Test 査読 Yoshinobu Higami, Hiroshi Furutani, Takao Sakai, Shuichi Kameyama, Hiroshi Takahashi 2011 20TH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS) 102 - 107 2011年
On Detecting Transition Faults in the Presence of Clock Delay Faults 査読 Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Kewal K. Saluja 2011 20TH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS) 1 - 6 2011年
Fault Simulation and Test Generation for Clock Delay Faults 査読 Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Kewal K. Saluja 2011 16TH ASIA AND SOUTH PACIFIC DESIGN AUTOMATION CONFERENCE (ASP-DAC) 799 - 805 2011年
Enhancement of Clock Delay Faults Testing 査読 Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Kewal K. Saluja 2011 16TH IEEE EUROPEAN TEST SYMPOSIUM (ETS) 216 - 216 2011年
故障励起関数を利用したオープン故障の診断法 山崎浩二, 堤利幸, 高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 四柳浩之, 橋爪正樹, 高松雄三 電子情報通信学会論文誌 D J93-D ( 11 ) 2416 - 2425 2010年11月
Replica Selection and Downloading based on Wavelength Availability in λ-grid Networks. 査読 Kouji Hirata, Khamisi Kalegele, Yoshinobu Higami, Shin-ya Kobayashi JCM 5 ( 9 ) 692 - 702 2010年10月
Energy Aware MPR Selection Mechanism in OLSR-based Mobile Ad Hoc Networks 査読 Wardi, K. Hirata, Y. Higami, S. Kobayashi 17th International Multi-Conference on Advanced Computer Systems 0 ( 0 ) 0 2010年10月
Optimistic Processing Protocol for Multiplexing in External PC Grids 査読 A. Funo, K. Hirata, Y. Higami, S. Kobayashi 17th International Multi-Conference on Advanced Computer Systems 0 ( 0 ) 0 2010年10月
Addressing Defect Coverage through Generating Test Vectors for Transistor Defects 査読 Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu IEICE TRANSACTIONS ON FUNDAMENTALS OF ELECTRONICS COMMUNICATIONS AND COMPUTER SCIENCES E92A ( 12 ) 3128 - 3135 2009年12月
Information filtering method using diversity among languages for personalized information delivery systems 査読 T. Ooka, K. Hirata, Y. Higami, S. Kobayashi Polish Journal of Environmental Studies, Selected Paper of ACS 2009 18 ( 4A ) 67 - 71 2009年10月
検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法 相京隆, 高橋寛, 樋上喜信, 大津潤一, 小野恭平, 清水隆治, 高松雄三 電子情報通信学会論文誌 D J92-D ( 7 ) 984 - 993 2009年7月
An Algorithm for Diagnosing Transistor Shorts Using Gate-level Simulation Higami Yoshinobu, Saluja Kewal K., Takahashi Hiroshi, Kobayashi Sin-ya, Takamatsu Yuzo Information and Media Technologies 4 ( 4 ) 727 - 739 2009年
An algorithm for diagnosing transistor shorts using gate-level simulation 査読 Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Sin-Ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 2 250 - 262 2009年
An effective dynamic parallel downloading scheme with network coding in λ-grid networks 査読 Kouji Hirata, Yoshinobu Higami, Shin-Ya Kobayashi 1st South Central Asian Himalayas Regional IEEE/IFIP International Conference on Internet, AH-ICI 2009 5 ( 5 ) 425 - 435 2009年
Fault Effect of Open Faults Considering Adjacent Signal Lines in a 90 nm IC 査読 Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Toshiyuki Tsutsumi, Koji Yamazaki, Takashi Aikyo, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Yuzo Takamatsu 22ND INTERNATIONAL CONFERENCE ON VLSI DESIGN HELD JOINTLY WITH 8TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON EMBEDDED SYSTEMS, PROCEEDINGS 91 - + 2009年
A Novel Approach for Improving the Quality of Open Fault Diagnosis 査読 Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Takashi Aikyo, Yuzo Takamatsu, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume 22ND INTERNATIONAL CONFERENCE ON VLSI DESIGN HELD JOINTLY WITH 8TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON EMBEDDED SYSTEMS, PROCEEDINGS 85 - + 2009年
Diagnostic Test Generation for Transition Faults Using a Stuck-at ATPG Tool 査読 Yoshinobu Higami, Yosuke Kurose, Satoshi Ohno, Hironori Yamaoka, Hiroshi Takahashi, Yoshihiro Shimizu, Takashi Aikyo, Yuzo Takamatsu ITC: 2009 INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 462 - + 2009年
New Class of Tests for Open Faults with Considering Adjacent Lines 査読 Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume 2009 ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 301 - + 2009年
Maximizing Stuck-Open Fault Coverage Using Stuck-at Test Vectors 査読 Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu IEICE TRANSACTIONS ON FUNDAMENTALS OF ELECTRONICS COMMUNICATIONS AND COMPUTER SCIENCES E91A ( 12 ) 3506 - 3513 2008年12月
Fault diagnosis on multiple fault models by using pass/fail information 査読 Yuzo Takamatsu, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Takashi Aikyo, Koji Yamazaki IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E91D ( 3 ) 675 - 682 2008年3月
Post-BIST fault diagnosis for multiple faults 査読 Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Shuhei Kadoyama, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Takashi Aikyo, Yasuo Sato IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E91D ( 3 ) 771 - 775 2008年3月
Fault simulation and test generation for transistor shorts using stuck-at test tools 査読 Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E91D ( 3 ) 690 - 699 2008年3月
Increasing Defect Coverage by Generating Test Vectors for Stuck-open Faults 査読 Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu PROCEEDINGS OF THE 17TH ASIAN TEST SYMPOSIUM 97 - + 2008年
Test generation and diagnostic test generation for open faults with considering adjacent lines 査読 Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Toru Kikkawa, Takashi Aikyo, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume DFT 2007: 22ND IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT-TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS 243 - 251 2007年
Timing-aware diagnosis for small delay defects 査読 Takashi Aikyo, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Junichi Ootsu, Kyohei Ono, Yuzo Takamatsu DFT 2007: 22ND IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT-TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS 223 - 231 2007年
A consideration of processor utilization on multi-processor system 査読 Koichi Kashiwagi, Yoshinobu Higami, Shin-Ya Kobayashi ADVANCES IN INFORMATION PROCESSING AND PROTECTION 383 - 390 2007年
Development of concealing the purpose of processing for programs in a distributed computing environment 査読 Yuji Kinoshita, Koichi Kashiwagi, Yoshinobu Higami, Shin-Ya Kobayashi ADVANCES IN INFORMATION PROCESSING AND PROTECTION 263 - 269 2007年
Fault coverage and fault efficiency of transistor shorts using gate-level simulation and test generation 査読 Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Yuzo Takamatsu 20TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON VLSI DESIGN, PROCEEDINGS 781 - + 2007年
On finding don't cares in test sequences for sequential circuits 査読 Yoshinobu Higami, Seiji Kajihara, Irith Pomeranz, Shin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E89D ( 11 ) 2748 - 2755 2006年11月
Compaction of pass/fail-based diagnostic test vectors for combinational and sequential circuits. 査読 Yoshinobu Higami, Kewal, K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu Proceedings of the 2006 Conference on Asia South Pacific Design Automation: ASP-DAC 2006, Yokohama, Japan, January 24-27, 2006 47 ( 6 ) 659 - 664 2006年6月
検出/非検出情報に基づくオープン故障の一診断法 佐藤雄一, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 電子情報通信学会論文誌 D J89-D ( 4 ) 778 - 787 2006年4月
Effective post-BIST fault diagnosis for multiple faults 査読 Hiroshi Takahashi, Shuhei Kadoyama, Yoshinobu Higami, Yuzo Takamatsu, Koji Yatnazaki, Takashi Aikyo, Yasuo Sato 21ST IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT-TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS 401 - + 2006年
Test cost reduction for logic circuits: Reduction of test data volume and test application time 査読 Yoshinobu Higami, Seiji Kajihara, Hideyuki Ichihara, Yuzo Takamatsu Systems and Computers in Japan 36 ( 6 ) 69 - 83 2005年6月
BIST環境における不確かなテスト集合による単一縮退故障の一診断法 高橋寛, 山本幸大, 樋上喜信, 高松雄三 電子情報通信学会論文誌 D-1 J88-D-1 ( 6 ) 1029 - 1038 2005年6月
On the fault diagnosis in the presence of unknown fault models using pass/fail information 査読 Yuzo Takamatsu, Tetsuya Seiyama, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Koji Yamazaki Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems 2987 - 2990 2005年
On the fault diagnosis in the presence of unknown fault models using pass/fail information 査読 Y Takamatsu, T Seiyama, H Takahashi, Y Higami, K Yamazaki 2005 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS (ISCAS), VOLS 1-6, CONFERENCE PROCEEDINGS 2987 - 2990 2005年
論理回路に対するテストコスト削減法-テストデータ量及びテスト実行時間の削減- 樋上喜信, 梶原誠司, 市原英行, 高松雄三 電子情報通信学会論文誌 D-1 J87-D-1 ( 3 ) 291 - 307 2004年3月
Generation of test sequences with low power dissipation for sequential circuits 査読 Y Higami, S Kobayashi, Y Takamatsu IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E87D ( 3 ) 530 - 536 2004年3月
Failure analysis of open faults by using detecting/un-detecting information on tests 査読 Y Sato, H Takahashi, Y Higami, Y Takamatsu 13TH ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 222 - 227 2004年
Enhancing BIST based single/multiple stuck-at fault diagnosis by ambiguous test set 査読 H Takahashi, Y Yamamoto, Y Higami, Y Takamatsu 13TH ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 216 - 221 2004年
Techniques for finding Xs in test sequences for sequential circuits and applications to test length/power reduction 査読 Y Higami, S Kajihara, SY Kobayashi, Y Takamatsu 13TH ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 46 - 49 2004年
一般ユーザを対象とした自律負荷分散方式利用コマンドの実装 小林真也, 久原俊介, 清家悠, 樋上喜信 電気学会論文誌 C 124 ( 4 ) 1021 - 1028 2004年
Improvement and evaluation of autonomous load distribution method 査読 Y Ito, S Miyazaki, Y Higami, S Kobayashi ARTIFICIAL INTELLIGENCE AND SECURITY IN COMPUTING SYSTEMS 752 91 - 99 2003年
A method to find don't care values in test sequences for sequential circuits 査読 Y Higami, SY Kobayashi, Y Takamatsu, S Kajihara, Pomeranz, I 21ST INTERNATIONAL CONFERENCE ON COMPUTER DESIGN, PROCEEDINGS 397 - 399 2003年
Diagnosing crosstalk faults in sequential circuits using fault simulation 査読 H Takahashi, M Phadoongsidhi, Y Higami, KK Saluja, Y Takamatsu IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E85D ( 10 ) 1515 - 1525 2002年10月
システムLSIの設計技術と設計自動化 順序回路に対する消費電力削減のためのテストベクトル変更法 査読 樋上喜信, 小林真也, 高松雄三 情報処理学会論文誌 43 ( 5 ) 1269 - 1277 2002年5月
順序回路に対する消費電力削減のためのテストベクトル変更法 査読 樋上喜信, 小林真也, 高松雄三 情報処理学会論文誌 43, 1269-1277 ( 5 ) 1269 - 1277 2002年
Modifying test vectors for reducing power dissipation in CMOS circuits 査読 Y Higami, SY Kobayashi, Y Takamatsu FIRST IEEE INTERNATION WORKSHOP ON ELECTRONIC DESIGN, TEST AND APPLICATIONS, PROCEEDINGS 431 - 433 2002年
A method to reduce power dissipation during test for sequential circuits 査読 Y Higami, SY Kobayashi, Y Takamatsu PROCEEDINGS OF THE 11TH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS 02) 326 - 331 2002年
システムLSIの設計技術と設計自動化 リセット機能を持つ順序回路に対するテスト系列圧縮法 査読 樋上喜信, 高松雄三, 樹下行三 情報処理学会論文誌 42 ( 4 ) 1036 - 1044 2001年4月
単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成について 樋上喜信, 高橋直子, 高松雄三 愛媛大学工学部紀要 20 217 - 223 2001年2月
Test generation for double stuck-at faults 査読 Y Higami, N Takahashi, Y Takamatsu 10TH ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 71 - 75 2001年
Simulation-based diagnosis for crosstalk faults in sequential circuits 査読 H Takahashi, M Phadoongsidhi, Y Higami, KK Saluja, Y Takamatsu 10TH ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 63 - 68 2001年
リセット機能を持っ順序回路に対するテスト系列圧縮法 査読 樋上喜信 情報処理学会論文誌 42 ( 4 ) 1036 - 1044 2001年
Fault models and test generation for IDDQ testing 査読 Yoshinobu Higami, Yuzo Takamatsu, Kewal K. Saluja, Kozo Kinoshita Proceedings of the Asia and South Pacific Design Automation Conference, ASP-DAC 509 - 514 2000年
Static test compaction for IDDQ testing of bridging faults in sequential circuits 査読 Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Yuzo Takamatsu, Kozo Kinoshita Systems and Computers in Japan 31 ( 11 ) 41 - 50 2000年
順序回路のブリッジ故障に対するIDDQ観測ベクトルの選択法 査読 樋上喜信, Kewal K. Saluja, 高松雄三, 樹下行三 Journal of Electrical Testing: Theories and Applications 16 ( 5 ) 443 - 451 2000年
Test sequence compaction for sequential circuits with reset states 査読 Y Higami, Y Takamatsu, K Kinoshita PROCEEDINGS OF THE NINTH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS 2000) 165 - 170 2000年
順序回路のブリッジ故障に対するIDDQテストのための静的なテスト系列圧縮法 査読 樋上喜信, SALUJA K K, 高松雄三, 樹下行三 電子情報通信学会論文誌 D-1 J82-D-1 ( 7 ) 879 - 887 1999年7月
Fault Simulation Techniques to Reduce IDDQ Measurement Vectors for Sequential Circuits. 査読 Yoshinobu Higami, Yuzo Takamatsu, Kewal, K. Saluja, Kozo Kinoshita 8th Asian Test Symposium (ATS '99), 16-18 November 1999, Shanghai, China 141 - 146 1999年
Efficient techniques for reducing IDDQ observation time for sequential circuits 査読 Y Higami, KK Saluja, K Kinoshita TWELFTH INTERNATIONAL CONFERENCE ON VLSI DESIGN, PROCEEDINGS 72 - 77 1999年
Test generation for sequential circuits under IDDQ testing 査読 T Maeda, Y Higami, K Kinoshita IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E81D ( 7 ) 689 - 696 1998年7月
Observation time reduction for IDDQ testing of bridging faults in sequential circuits 査読 Y Higami, KK Saluja, K Kinoshita SEVENTH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS'98), PROCEEDINGS 312 - 317 1998年
Design of partially parallel scan chain. 査読 Yoshinobu Higami, Kozo Kinoshita European Design and Test Conference, ED&TC '97, Paris, France, 17-20 March 1997 626 626 1997年
Partially parallel scan chain for test length reduction by using retiming technique 査読 Y Higami, S Kajihara, K Kinoshita PROCEEDINGS OF THE FIFTH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS '96) 94 - 99 1996年
PARTIAL SCAN DESIGN AND TEST SEQUENCE GENERATION BASED ON REDUCED SCAN SHIFT METHOD 査読 Y HIGAMI, S KAJIHARA, K KINOSHITA JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS 7 ( 1-2 ) 115 - 124 1995年8月
Test sequence compaction by reduced scan shift and retiming. 査読 Yoshinobu Higami, Seiji Kajihara, Kozo Kinoshita 4th Asian Test Symposium (ATS '95), November 23-24, 1995. Bangalore, India 169 - 175 1995年
REDUCED SCAN SHIFT - A NEW TESTING METHOD FOR SEQUENTIAL CIRCUITS 査読 Y HIGAMI, S KAJIHARA, K KINOSHITA INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 1994, PROCEEDINGS 624 - 630 1994年 - MISC
- 深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法 塩谷晃平, 西川竜矢, WEI Shaoqi, WANG Senling, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 123 ( 389(DC2023 94-103) ) 2024年
グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法 WEI Shaoqi, 塩谷晃平, WANG Senling, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 122 ( 393(DC2022 82-92) ) 2023年
マルチサイクルテストによるテストパターン削減 中野潤平, WANG S., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022 2022年
マルチサイクルテストの導入による組込自己診断の故障診断能力評価 WANG Y., Wang S., 樋上喜信, 甲斐博, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法 中岡典弘, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋潤 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 120 ( 358(DC2020 69-79) ) 2021年
グラフ畳み込みニューラルネットワークを用いたテストポイント選定について WEI S.Q., WANG S.L., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
マルチサイクルの機能動作による故障診断用パターン生成 神崎壽伯, WANG S., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断 山内崇矢, 稲元勉, WANG S., 樋上喜信, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装 周 細紅, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会講演集 34 4C1-02 2020年3月
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法 招待 青野智己, 中岡典弘, 周 細紅, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋 潤 電子情報通信学会技術研究報告 119 ( 420 ) 19 - 24 2020年2月
マルチサイクルテストのテスト容易化のための制御ポイント選定法 環輝, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2020 2020年
マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法 環輝, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋潤 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 120 ( 234(VLD2020 11-38) ) 2020年
機械学習の異常検知による半断線故障判別法における温度依存性の検討 中西遼太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 119 ( 420(DC2019 86-97)(Web) ) 2020年
人工神経回路網からのプラグマティックルール・ベース構築の1試行 稲元 勉, 樋上 喜信 システム制御情報学会研究発表講演会講演論文集 62 2018年5月
Testing the Bridge Interconnect Fault for Memory based Reconfigurable Logic Device (ディペンダブルコンピューティング) WANG Senlingp, 小川 達也, 樋上 喜信, 高橋 寛, 佐藤 正幸, 勝 満徳, 関口 象一 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 117 ( 444 ) 61 - 66 2018年2月
組合せ回路用テストパターン生成への計算機代数システムの利用に関する調査 (ソフトウェアサイエンス) 稲元 勉, 樋上 喜信 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 117 ( 381 ) 59 - 64 2018年1月
組合せ回路用テストパターン生成への計算機代数システムの利用に関する調査 (システム数理と応用) 稲元 勉, 樋上 喜信 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 117 ( 380 ) 59 - 64 2018年1月
パス順位比較を用いる半断線故障の検査可能性評価 片山知拓, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017 ROMBUNNO.10‐3 2017年9月
深層学習による柑橘類果実の個数推定 野口敬輔, 小川達也, 安保良佑, 高原圭太, 河野靖, 木下浩二, 二宮崇, 田村晃裕, 高橋寛, WANG S, 樋上喜信, 藤田欣裕, 二宮宏 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017 ROMBUNNO.15‐14 2017年9月
画像処理と深層学習による微小害虫の検出 中浦 大貴, 渡邊 大貴, 増成 紳介, 矢野 良典, 河野 靖, 木下 浩二, 二宮 崇, 田村 晃裕, 高橋 寛, 王 森レイ, 樋上 喜信, 藤田 欣裕, 二宮 宏 平成29年度 電気関係学会四国支部連合大会 講演論文集 183 - 183 2017年9月
赤潮発生予測のための海域情報報告アプリケーションのマルチプラットフォーム化 (知的環境とセンサネットワーク) 遠藤 慶一, 楠野 和也, 藤橋 卓也, 黒田 久泰, 樋上 喜信, 小林 真也 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 117 ( 57 ) 13 - 18 2017年5月
最適方策の深層学習による教師あり学習に関するmountain-car問題における基礎検討 稲元 勉, 遠藤 慶一, 樋上 喜信, 小林 真也 システム制御情報学会研究発表講演会講演論文集 61 6p 2017年5月
運搬経路問題における強欲法の整数線形計画問題としての定式化 稲元 勉, 遠藤 慶一, 樋上 喜信, 小林 真也 システム制御情報学会研究発表講演会講演論文集 61 6p 2017年5月
組合せ回路用テストパターン生成への計算機代数システムの利用に関する一試行 稲元 勉, 遠藤 慶一, 樋上 喜信, 小林 真也 回路とシステムワークショップ論文集 Workshop on Circuits and Systems 30 295 - 300 2017年5月
論理回路の組込み自己診断に関する提案 (ディペンダブルコンピューティング) 香川 敬祐, 矢野 郁也, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛, 大竹 哲史 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 116 ( 466 ) 11 - 16 2017年2月
Evaluation of influence exerted by a malicious group’s various aims in the external grid Kosuke Yamaguchi, Tsutomu Inamoto, Keiichi Endo, Yoshinobu Higami, Shinya Kobayashi Advances in Intelligent Systems and Computing 534 112 - 122 2017年
組込み自己診断におけるハードウェア制約の改善法 矢野郁也, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.10‐9 2016年9月
マルチサイクルテストにおけるFFの接続情報を用いた中間観測FFの選択法 高原圭太, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.10‐7 2016年9月
中間観測FF選択法の大規模ベンチマーク回路に対する評価 濱田宗, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 松嶋潤 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.10‐8 2016年9月
アナログバウンダリスキャンを適用した三次元積層後のTSV抵抗精密計測法の計測精度評価 香川敬祐, WANG S, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.10‐5 2016年9月
隣接線の信号遷移を用いる半断線故障判別法の断線位置に対する有効性調査 伊勢幸太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.10‐1 2016年9月
多義的クラシファイア集合獲得問題のための整数線形計画モデルを用いたデコーダ設計における多義性の有用性について 稲元 勉, 樋上 喜信 回路とシステムワークショップ論文集 Workshop on Circuits and Systems 29 148 - 153 2016年5月
D-10-2 マルチサイクルテストのためのFFの構造的評価(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 門田 一樹, 濱田 宗, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛, 岩田 浩幸, 松嶋 潤 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2016 ( 1 ) 151 - 151 2016年3月
多値支持を与えうるクラシファイア集合を求めるための整数線形計画モデルに基づく多義性に関する調査 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 電気学会全国大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.3-031 2016年3月
マルチサイクルテストのためのFFの構造的評価 門田一樹, 濱田宗, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 松嶋潤 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ( 1 ) ROMBUNNO.D-10-2 - 151 2016年3月
双方向通信を利用した赤潮予測のための「水産コミュニケーションシステム」開発に関する研究 清水園子, 安藤顕人, 岡本拓也, 太田耕平, 黒田久泰, 樋上喜信, 遠藤慶一, 入野和朗, 吉田則彦, 浦崎慎太郎, 松原孝博, 小林真也 日本水産学会大会講演要旨集 2016 156 2016年3月
エクスターナルグリッドに対する依存関係を利用した不正解析のリスクを軽減する手法 山口晃右, 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会全国大会講演論文集 78th ( 3 ) 3.85-3.86 2016年3月
赤潮や魚病の発生予測の為の海域情報収集支援システムの開発 安藤顕人, 岡本拓哉, 遠藤慶一, 黒田久泰, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会全国大会講演論文集 78th ( 4 ) 4.937-4.938 2016年3月
三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について WANG Senling, 香川敬祐, 亀山修一, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 115 ( 449(DC2015 86-96) ) 49 - 54 2016年2月
論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減 藤谷和依, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 115 ( 449(DC2015 86-96) ) 13 - 18 2016年2月
分割学習で作成した種ルールを用いた遺伝的機械学習によるエレベータ運行ルール集合獲得の効率化 (システム研究会 機械学習研究の最新動向) 稲元 勉, 樋上 喜信, 小林 真也 電気学会研究会資料. ST 2015 ( 25 ) 11 - 15 2015年12月
分割学習で作成した種ルールを用いた遺伝的機械学習によるエレベータ運行ルール集合獲得の効率化 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 電気学会システム研究会資料 ST-15 ( 25-32 ) 11 - 15 2015年12月
静的マルチカーエレベータ運行計画問題のためのトリップに基づく整数線形計画モデルに関する一検討 (回路とシステム) 稲元 勉, 樋上 喜信 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 115 ( 315 ) 129 - 134 2015年11月
静的マルチカーエレベータ運行計画問題のためのトリップに基づく整数線形計画モデルに関する一検討 稲元勉, 樋上喜信 電子情報通信学会技術研究報告 115 ( 316(MSS2015 20-34) ) 129 - 134 2015年11月
アナログバウンダリスキャンを用いた三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法の実装について WANG Senling, 香川敬祐, 亀山修一, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 115 ( 338(VLD2015 38-76) ) 177 - 182 2015年11月
隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について 伊勢幸太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 115 ( 338(VLD2015 38-76) ) 31 - 36 2015年11月
遅延を考慮したシミュレータを用いたクロック信号線のブリッジ故障の故障診断 細川優人, 樋上喜信, WANG S, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-9 2015年9月
タイミングシミュレーション情報に基づく故障診断法 門田一樹, 矢野郁也, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-8 2015年9月
組込み自己診断における遷移故障診断能力の改善法 宮本夏規, 村上陽紀, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-12 2015年9月
隣接線の信号遷移を用いる多変量解析による半断線故障の検出可能性について 伊勢幸太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-7 2015年9月
マルチサイクルテストにおけるクロック信号線のd‐故障に対する診断技術 和田祐介, 樋上喜信, WANG S, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-22 2015年9月
論理BISTにおける故障検出率の向上を考慮したシフトピーク電力制御法 WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-21 2015年9月
組込み自己診断におけるシード候補の生成法 村上陽紀, 宮本夏規, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-15 2015年9月
アナログバウンダリスキャンによる三次元積層後のTSV抵抗精密計測法の実装と評価 香川敬祐, WANG S, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-16 2015年9月
C-020 組込み自己診断におけるテストパターン系列の診断能力に関して(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ,一般論文) 宮本 夏規, 村上 陽紀, 王 シンレイ, 樋上 喜信, 高橋 寛, 大竹 哲史 情報科学技術フォーラム講演論文集 14 ( 1 ) 273 - 274 2015年8月
M-027 操作履歴に基づき個人向けにニュースを選択表示するスマートフォンアプリの開発(M分野:ユビキタス・モバイルコンピューティング,一般論文) 小野 智士, 稲元 勉, 樋上 喜信, 小林 真也 情報科学技術フォーラム講演論文集 14 ( 4 ) 353 - 356 2015年8月
L-024 セキュアプロセッシングにおける先行処理による処理時間改善に対する定量的評価(L分野:ネットワーク・セキュリティ,一般論文) 廣瀬 吉隆, 稲元 勉, 樋上 喜信, 小林 真也 情報科学技術フォーラム講演論文集 14 ( 4 ) 241 - 242 2015年8月
セキュアプロセッシングにおける先行処理による処理時間改善に対する定量的評価 廣瀬吉隆, 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 情報科学技術フォーラム講演論文集 14th 241 - 242 2015年8月
整数線形計画法による最適なコード行列を用いたECOCの性能に関する調査 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.TC3-11 2015年8月
組込み自己診断におけるテストパターン系列の診断能力に関して 宮本夏規, 村上陽紀, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛, 大竹哲史 情報科学技術フォーラム講演論文集 14th 273 - 274 2015年8月
操作履歴に基づき個人向けにニュースを選択表示するスマートフォンアプリの開発 小野智士, 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 情報科学技術フォーラム講演論文集 14th 353 - 356 2015年8月
プログラム断片の連続性に基づくセキュアプロセッシングの秘匿性能に関する調査 中矢匠, 中矢匠, 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウムシリーズ(CD-ROM) 2015 ( 1 ) 287 - 294 2015年7月
記事情報の選別フィルタリングにおける興味の変化への追随性の改善に関する研究 山根稔弘, 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会全国大会講演論文集 77th ( 3 ) 3.229-3.230 2015年3月
D-10-4 0-1整数計画問題を利用した遅延故障テストの改善(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 門田 一樹, 今村 亮太, 王 シンレイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2015 ( 1 ) 155 - 155 2015年2月
A-12-6 最長待ち時間の仮定による静的エレベータ運行計画問題の客に基づく整数線形計画モデルの求解時間の削減(A-12.システム数理と応用,一般セッション) 稲元 勉, 樋上 喜信, 小林 真也 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2015 178 - 178 2015年2月
IR‐dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法 WANG Senling, 井上大画, AL‐AWADHI Hanan T, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 114 ( 446(DC2014 78-87) ) 55 - 60 2015年2月
最長待ち時間の仮定による静的エレベータ運行計画問題の客に基づく整数線形計画モデルの求解時間の削減 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.A-12-6 2015年2月
0‐1整数計画問題を利用した遅延故障テストの改善 門田一樹, 今村亮太, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.D-10-4 2015年2月
Trends in 3D integrated circuit (3D-IC) testing technology Hiroshi Takahashi, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Shuichi Kameyama, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Shyue-Kung Lu, Zvi Roth Three-Dimensional Integration of Semiconductors: Processing, Materials, and Applications 235 - 268 2015年1月
Sushi: A Lightweight Distributed Image Storage System for Mobile and Web Services Kamoliddin Mavlonov, Yoshinobu Higami, Shin-ya Kobayashi SOFT COMPUTING IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE 342 121 - 137 2015年
Foreword: Special section on VLSI design and CAD algorithms Akihisa Yamada, Yoshinobu Higami, Kazuyoshi Takagi, Motoki Amagasaki, Makoto Ikeda, Tohru Ishihara, Kazuhito Ito, Kimiyoshi Usami, Kenichi Okada, Seiji Kajihara, Mineo Kaneko, Hiroshi Kawaguchi, Shinji Kimura, Atsushi Kurokawa, Yuichiro Shibata, Kenshu Seto, Tian Song, Yasuhiro Takashima, Atsushi Takahashi, Takashi Takenaka, Nozomu Togawa, Hiroyuki Tomiyama, Shigetoshi Nakatake, Yuichi Nakamura, Masanori Hashimoto, Kiyoharu Hamaguchi, Hiroyuki Higuchi, Tetsuya Hirose, Daisuke Fukuda, Takeshi Matsumoto, Yukiya Miura, Shin Ichi Minato, Fumihiro Minami, Shigeru Yamashita, Yasushi Yuminaka, Masaya Yoshikawa, Takayuki Watanabe IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences E97A ( 12 ) 2366 2014年12月
列車検知装置の保全コストに関する考察(その2)設備保全データのモデル化とその活用 志田 洋, 大串 裕郁, 樋上 喜信, 阿萬 裕久, 高橋 寛 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 = Proceedings of Autumn Symposium on Reliability 27 77 - 80 2014年11月
列車検知装置の保全コストに関する考察(その2)―設備保全データのモデル化と活用― 志田洋, 大串裕郁, 樋上喜信, 阿萬裕久, 高橋寛 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 27th 77 - 80 2014年11月
トリップへの客割り当てに基づく静的エレベータ運行計画問題の定式化 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 計測自動制御学会システム・情報部門学術講演会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.SS22-8 2014年11月
オンチップセンサを利用した抵抗性オープン故障診断 竹田和生, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.10-9 2014年9月
静的エレベータ運行計画問題の客に基づく整数線形計画問題としての定式化 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 スケジューリング・シンポジウム講演論文集 2014 225 - 230 2014年9月
遺伝的アルゴリズムを利用した診断用テスト生成 門田一樹, 今村亮太, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.10-10 2014年9月
消費電力制約下での焼きなまし法を利用したテストパターン変更法 井上大画, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.10-8 2014年9月
0‐1整数計画問題を利用した診断用テスト生成システムの開発 村上陽紀, 宮本夏規, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.10-11 2014年9月
多数決制度による遺伝的機械学習の性能向上に関する予備的調査 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.TC1-6 2014年9月
可達行列算出のためのGPUを用いた実装例 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.16-7 2014年9月
クロック信号線のブリッジ故障に対する遅延を考慮した故障診断 細川優人, 樋上喜信, WANG S, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.10-12 2014年9月
マルチサイクルテストでの遷移故障に対するテスト生成 藤原翼, 樋上喜信, WANG S, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.10-13 2014年9月
セキュアプロセッシングにおけるファイル分散配置による通信負荷改善の効果に関する研究 平田智紀, 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウムシリーズ(CD-ROM) 2014 ( 1 ) 1806 - 1817 2014年7月
ゾーニングによるエレベータ運行の最適性に関する数値的調査 (システム数理と応用) 稲元 勉, 樋上 喜信, 小林 真也 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113 ( 466 ) 43 - 48 2014年3月
ダミーコードの挿入による隠蔽効果 川野純, 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 電気学会全国大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.3-066 2014年3月
ゾーニングによるエレベータ運行の最適性に関する数値的調査 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 電子情報通信学会技術研究報告 113 ( 466(MSS2013 75-96) ) 43 - 48 2014年2月
A Call-based Integer Programming Model for Static Elevator Operation Problems Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami, Shin-ya Kobayashi 2014 JOINT 7TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON SOFT COMPUTING AND INTELLIGENT SYSTEMS (SCIS) AND 15TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ADVANCED INTELLIGENT SYSTEMS (ISIS) 365 - 369 2014年
Decreasing Computational Times for Solving Static Elevator Operation Problems by Assuming Maximum Waiting Times Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami, Shin-ya Kobayashi 2014 IEEE 3RD GLOBAL CONFERENCE ON CONSUMER ELECTRONICS (GCCE) 593 - 596 2014年
Accurate Resistance Measuring Method for High Density Post-Bond TSVs in 3D-SIC with Electrical Probes Shuichi Kameyama, Masayuki Baba, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi 2014 INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRONICS PACKAGING (ICEP) 117 - 121 2014年
抵抗性オープン故障診断のための後方追跡 竹田和生, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.10-9 2013年9月
欠陥検出評価関数に基づくテストパターンの選択 稲田暢, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.10-6 2013年9月
IRドロップを考慮した抵抗性オープン故障に対するテストパターン生成 大田淳司, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.10-8 2013年9月
バンダリスキャンテスト実行時のIC内部の擾乱 亀山 修一, 馬場 雅之, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会論文誌. D, 情報・システム 96 ( 9 ) 2078 - 2081 2013年9月
抵抗性オープン故障に対する診断用テスト生成 松川翔平, 高橋寛, 樋上喜信, 四柳浩之, 橋爪正樹 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.10-11 2013年9月
IRドロップを考慮した遷移故障に対するテストパターン生成 井上大画, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.10-7 2013年9月
多重抵抗性オープン故障診断における順位付けの効果 田中陽, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.10-10 2013年9月
SAT手法による隣接線影響を考慮した微小遅延故障検査用テストパターン生成に関する一考察 山下淳, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.10-12 2013年9月
クロック信号線の遅延故障に対する故障診断用テスト生成 江口拓弥, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.10-5 2013年9月
分散動的計画法のGPGPUによる実装例 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.16-32 2013年9月
セキュアプロセッシングにおける処理多重化へ共謀が与える影響に関する数値的調査 稲元勉, 島本将成, 島本将成, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウムシリーズ(CD-ROM) 2013 ( 2 ) ROMBUNNO.2H-5 - 520 2013年7月
半断線故障検出のための信号遅延の特性評価 (ディペンダブルコンピューティング) 大栗 裕人, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 堤 利幸, 山崎 浩二, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報 112 ( 429 ) 25 - 30 2013年2月
Injecting speculation on ideal trajectories into a trip-based integer programming model for elevator operations Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami, Shin-Ya Kobayashi 2013 IEEE 2nd Global Conference on Consumer Electronics, GCCE 2013 23 - 27 2013年
クロック信号線の遅延故障に対する故障診断 江口拓弥, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012 ROMBUNNO.17-8 2012年9月
ファンアウトブランチに着目した欠陥検出テスト生成 河野博志, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012 ROMBUNNO.10-7 2012年9月
TV画面上の字幕表示における字体の違いと見やすさの関係 川西博也, 白石貴弘, 玉井義明, 樋上喜信, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012 ROMBUNNO.17-6 2012年9月
隣接信号線の影響を考慮したテストパターン選択法 岡崎孝昭, 大田淳司, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012 ROMBUNNO.10-9 2012年9月
TV画面上の字幕表示における文字の大きさと速さによる見やすさの関係 安松龍一, 川西博也, 白石貴弘, 玉井義明, 樋上喜信, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012 ROMBUNNO.17-7 2012年9月
招待講演 シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み (ディペンダブルコンピューティング) 高橋 寛, 樋上 喜信, 堤 利幸 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報 112 ( 102 ) 21 - 26 2012年6月
シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み 高橋寛, 樋上喜信, 堤利幸, 山崎浩二, 四柳浩之, 橋爪正樹 電子情報通信学会技術研究報告 112 ( 102(DC2012 9-16) ) 21 - 26 2012年6月
セキュアプロセッシングにおけるダミーコードと隠蔽効果の関係 川野純, 布野晶彦, 甲斐博, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウムシリーズ(CD-ROM) 2012 ( 1 ) ROMBUNNO.1D-3 2012年6月
バウンダリスキャンテストにおける新たな課題―相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察― 亀山修一, 馬場雅之, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 111 ( 435(DC2011 76-86) ) 31 - 35 2012年2月
バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 : 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察 亀山 修一, 馬場 雅之, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 111 ( 435 ) 31 - 35 2012年2月
Dummy code insertion and its efforts on concealment for secure processing Jun Kawano, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Shinya Kobayashi PRZEGLAD ELEKTROTECHNICZNY 88 ( 10B ) 227 - 230 2012年
論理回路の故障診断法 高松 雄三, 佐藤 康夫, 高橋 寛, 樋上 喜信, 山崎 浩二 情報・システムソサイエティ誌 17 ( 3 ) 13 - 13 2012年
Dynamic routing and wavelength assignment in multifiber WDM networks with sparse wavelength conversion Dewiani, Kouji Hirata, Yoshinobu Higami, Shin-Ya Kobayashi International Conference on ICT Convergence 567 - 572 2012年
Generation of diagnostic tests for tranition faults using a stuck-at ATPG tool Yoshinobu Higami, Satosgi Ohno, Hironori Yamaoka, Hiroshi Takahashi, Yoshihiro Shimizu, Takashi Aikyo IEICE Transactions on Information and Systems E95-D ( 4 ) 1093 - 1100 2012年
抵抗性オープン故障テスト生成法の性能評価 澤田晋佑, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011 ROMBUNNO.10-5 2011年9月
欠陥検出テスト生成法の改善法 藤原大也, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011 ROMBUNNO.10-4 2011年9月
ファンアウト数に着目した欠陥検出テスト生成 河野博志, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011 ROMBUNNO.10-6 2011年9月
個人向け情報配信システムにおける興味の変化に対応した情報フィルタリング 中満大介, 平田孝志, 樋上喜信, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011 ROMBUNNO.17-13 2011年9月
活性化経路評価関数を利用したテストパターン選択の性能改善 酒井孝郎, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011 ROMBUNNO.10-3 2011年9月
遠隔地監視システムにおける自己診断法 高山誠司, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也, 二宮宏 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011 ROMBUNNO.10-7 2011年9月
超高信頼性チップ製造のためのシグナルインティグリティ不良のモデル化およびその故障検査法 高橋寛, 樋上喜信, 大西洋一 愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書 ( 4 ) 22 - 25 2011年3月
活性化経路評価関数に基づくパターン選択 高橋寛, 樋上喜信, 酒井孝郎 電子情報通信学会大会講演論文集 2011 ( 1 ) 122 - 122 2011年2月
D-10-8 活性化経路評価関数に基づくパターン選択(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 高橋 寛, 樋上 喜信, 酒井 孝郎 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2011 ( 1 ) 122 - 122 2011年2月
欠陥検出テストのためのテストパターン選択 古谷博司, 酒井孝郎, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 110 ( 413(DC2010 59-69) ) 45 - 50 2011年2月
Wavelength selection based on wavelength availability in multi-fiber WDM networks Dewiani, Kouji Hirata, Yoshinobu Higami, Shin-Ya Kobayashi 2011 International Conference on Multimedia Technology, ICMT 2011 3794 - 3797 2011年
Residual energy-based OLSR in mobile ad hoc networks Wardi, Kouji Hirata, Yoshinobu Higami, Shin-Ya Kobayashi 2011 International Conference on Multimedia Technology, ICMT 2011 3214 - 3217 2011年
マルチファイバWDMネットワークにおける後方型波長予約を用いた経路及び波長選択手法 平田孝志, DEWIANI, 樋上喜信, 小林真也 電子情報通信学会技術研究報告 111 ( 196(NS2011 61-81) ) 447 - 452 2011年
Dynamic routing and wavelength assignment scheme using signaling of backward reservation in multifiber WDM networks Dewiani, Kouji Hirata, Yoshinobu Higami, Shin-Ya Kobayashi 2011 International Conference on ICT Convergence, ICTC 2011 447 - 452 2011年
Auxons: A large scale distributed storage system for semi-structured data Kamoliddin Mavlonov, Kouji Hirata, Yoshinobu Higami, Shin Ya Kobayashi RPC 2010 - 1st Russia and Pacific Conference on Computer Technology and Applications 120 - 124 2010年12月
伝播経路評価関数を利用したテストパターン選択法 高橋寛, 樋上喜信, 酒井孝郎 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-1 2010年9月
LOCテストに対応したブリッジ故障シミュレータの高精度化 高橋寛, 樋上喜信, 大野智志, 山岡弘典 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-15 2010年9月
遷移故障における等価故障判定 山本隆也, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-7 2010年9月
欠陥検出確率を利用した2パターンテスト生成法 高橋寛, 樋上喜信, 古谷博司 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-2 2010年9月
IC内隣接配線における半断線故障時の信号遅延解析 岡田理, 四柳浩之, 橋爪正樹, 堤利幸, 山崎浩二, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-9 2010年9月
クロストーク故障に対するテストパターン生成 遠藤剛史, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-6 2010年9月
多重化を用いたPCグリッドにおける先行処理手法 布野晶彦, 平田孝志, 樋上喜信, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.17-9 2010年9月
状態遷移図の簡単化を用いた組込みシステムに対するテスト系列生成法 松本拓, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-8 2010年9月
ハザードの影響をマスクした微小遅延故障診断法 高橋寛, 樋上喜信, 森本恭平, 池田雅史 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-5 2010年9月
ハザードの影響を考慮した信号遷移シミュレーション 高橋寛, 樋上喜信, 森本恭平, 池田雅史 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-4 2010年9月
LOCテストに対応した抵抗性オープン故障テスト生成 高橋寛, 樋上喜信, 高棟佑司, 岡崎孝昭 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-3 2010年9月
個人向け情報配信システムにおけるユーザの興味に応じた知的情報フィルタリング 中満大介, 泉真人, 平田孝志, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウムシリーズ(CD-ROM) 2010 ( 1 ) 383 - 389 2010年6月
光グリッドネットワークにおける波長資源を考慮した複製選択及び転送手法 平田孝志, 樋上喜信, 小林真也 電子情報通信学会技術研究報告 110 ( 39(NS2010 16-27) ) 65 - 70 2010年5月
個人向け情報配信システムにおける情報フィルタリング精度改善手法 大岡哲也, 松村和紀, 平田孝志, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会全国大会講演論文集 72nd ( 4 ) 4.791-4.792 - 792 2010年3月
遅延故障診断に関する研究 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三, 相京隆 愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書 ( 3 ) 18 - 20 2010年3月
TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討 堤利幸, 刈谷泰由紀, 山崎浩二, 橋爪正樹, 四柳浩之, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 109 ( 416(DC2009 65-77) ) 75 - 80 2010年2月
抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について 高橋寛, 樋上喜信, 首藤祐太, 高棟佑司, 高松雄三, 堤利幸, 山崎浩二, 四柳浩之, 橋爪正樹 電子情報通信学会技術研究報告 109 ( 416(DC2009 65-77) ) 19 - 24 2010年2月
光グリッドネットワークにおけるトラヒック種別を考慮したスケジューリング手法 船津和也, 平田孝志, 樋上喜信, 小林真也 電子情報通信学会技術研究報告 109 ( 398(NS2009 142-161) ) 77 - 82 2010年1月
Output voltage estimation of a floating interconnect line caused by a hard open in 90nm ICs Katsuya Manabe, Yuichi Yamada, Hiroyuki Yotsuyanagi, Toshiyuki Tsutsumi, Koji Yamazaki, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Yuzo Takamatsu, Masaki Hashizume ISCIT 2010 - 2010 10th International Symposium on Communications and Information Technologies 603 - 608 2010年
A method for diagnosing resistive open faults with considering adjacent lines Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume ISCIT 2010 - 2010 10th International Symposium on Communications and Information Technologies 609 - 614 2010年
光グリッドネットワークにおけるバックワード型波長予約を利用した複製ファイル選択手法 平田孝志, 樋上喜信, 小林真也 電子情報通信学会技術研究報告 109 ( 326(NS2009 120-141) ) 23 - 28 2009年12月
An Algorithm for Diagnosing Transistor Shorts Using Gate-level Simulation (IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology Vol.2) HIGAMI YOSHINOBU, SALUJA Kewal K., TAKAHASHI HIROSHI 情報処理学会論文誌 論文誌トランザクション 2009 ( 1 ) 250 - 262 2009年11月
LOCテストに対応したブリッジ故障シミュレータ 高橋寛, 樋上喜信, 大野智志, 山岡弘典 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009 ROMBUNNO.10-6 2009年9月
LOCテストに対応した抵抗性オープン故障シミュレータ 高橋寛, 樋上喜信, 首藤祐太 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009 ROMBUNNO.10-5 2009年9月
欠陥考慮2パターンテストについて 高橋寛, 樋上喜信, 古谷博司 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009 ROMBUNNO.10-1 2009年9月
SATソルバーを利用したオープン故障に対するテストの評価 高橋寛, 樋上喜信, 松村佳典 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009 ROMBUNNO.10-2 2009年9月
テストサイクル決定に関する一考察 高橋寛, 樋上喜信, 田中太郎 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009 ROMBUNNO.10-7 2009年9月
抵抗性オープン故障に対するテストについて 高橋寛, 樋上喜信, 高棟佑司 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009 ROMBUNNO.10-3 2009年9月
クロストークを考慮した抵抗性ブリッジ故障シミュレーション 高橋寛, 樋上喜信, 北橋省吾 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009 ROMBUNNO.10-4 2009年9月
微小遅延故障診断におけるゲート遅延変動の影響 高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 森本恭平 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009 ROMBUNNO.10-8 2009年9月
D-040 Automatic determination of compatibility of method invocations in object-oriented database systems KALEGELE Khamisi, HIRATA Kouji, HIGAMI Yoshinobu, KOBAYASHI Shin-ya 情報科学技術フォーラム講演論文集 8 ( 2 ) 227 - 230 2009年8月
個人向け情報配信システムにおける単語の出現頻度を考慮した情報フィルタリング手法 松村和紀, 平田孝志, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウムシリーズ(CD-ROM) 2009 ( 1 ) 1193 - 1197 2009年7月
多重化を用いたグリッドコンピューティングにおける多数決処理の負荷分散手法 杉本恭平, 平田孝志, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウムシリーズ(CD-ROM) 2009 ( 1 ) 309 - 314 2009年7月
縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法 樋上喜信, 黒瀬洋介, 大野智志, 山岡弘典, 高橋寛, 清水良浩, 相京隆, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 109 ( 95(DC2009 10-17) ) 19 - 24 2009年6月
携帯電話を利用した個人向け情報配信システムにおける情報のランク付け 矢野健太郎, 平田孝志, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会全国大会講演論文集 71st ( 4 ) 4.491-4.492 - 492 2009年3月
個人向け情報配信システムにおける文字情報のフィルタリングに関する研究 遠藤洋記, 平田孝志, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会全国大会講演論文集 71st ( 4 ) 4.485-4.486 - 486 2009年3月
D-10-19 遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 高橋 寛, 樋上 喜信, 岡山 浩士, 相京 隆, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2009 ( 1 ) 162 - 162 2009年3月
遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断 高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 相京隆, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2009 ( 1 ) 162 - 162 2009年3月
テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化設計のための新故障モデルとそのテスト・故障診断に関する研究 高松雄三, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二, 堤利幸, 橋爪正樹, 四柳浩之, 宮本俊介 愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書 ( 2 ) 19 - 23 2009年3月
ネットワークコーディングを用いた光グリッドネットワーク 平田孝志, 樋上喜信, 小林真也 電子情報通信学会技術研究報告 108 ( 457(NS2008 143-233) ) 79 - 82 2009年2月
隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて 渡部哲也, 高橋寛, 樋上喜信, 堤利幸, 山崎浩二, 四柳浩之, 橋爪正樹, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 108 ( 431(DC2008 68-78) ) 37 - 42 2009年2月
組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法 高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 108 ( 431(DC2008 68-78) ) 31 - 36 2009年2月
携帯電話を利用した個人向け情報配信システムの開発 矢野健太郎, 平田孝志, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会研究報告 2009 ( 8(MBL-48) ) 103 - 109 2009年1月
光グリッドネットワークにおけるネットワークコーディングを用いたファイル配置法 平田孝志, 樋上喜信, 小林真也 電子情報通信学会技術研究報告 108 ( 392(NS2008 125-142) ) 23 - 26 2009年1月
An effective dynamic parallel downloading scheme with network coding in λ-grid networks Kouji Hirata, Yoshinobu Higami, Shin Ya Kobayashi 1st South Central Asian Himalayas Regional IEEE/IFIP International Conference on Internet, AH-ICI 2009 2009年
TEGチップを用いたオープン故障の解析 堤利幸, 刈谷泰由紀, 山崎浩二, 橋爪正樹, 四柳浩之, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 情報処理学会研究報告 2008 ( 111(SLDM-137) ) 19 - 24 2008年11月
TEGチップを用いたオープン故障の解析 堤 利幸, 刈谷 泰由紀, 山崎 浩二, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 108 ( 298 ) 19 - 24 2008年11月
TEGチップを用いたオープン故障の解析 堤 利幸, 刈谷 泰由紀, 山崎 浩二, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 2008 ( 111 ) 19 - 24 2008年11月
ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケース生成法 樋上喜信, 藤尾昇平, 阿萬裕久, 高橋寛, 高松雄三 情報処理学会シンポジウム論文集 2008 ( 9 ) 151 - 157 2008年10月
縮退故障ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法 相京隆, 樋上喜信, 高橋寛, 黒瀬洋介, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.10-12 2008年9月
複数故障モデルに対する統計的な故障診断法 高橋寛, 樋上喜信, 首藤祐太, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.10-13 2008年9月
抵抗性ブリッジ故障シミュレーションについて 高橋寛, 樋上喜信, 北橋省吾, 相京隆, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.10-9 2008年9月
SATソルバーを利用した診断用テスト生成法 高橋寛, 樋上喜信, 松村佳典, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.10-14 2008年9月
欠陥検出向けテストパターンの一選択法 高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.10-11 2008年9月
中継点経路選択法を用いた物流網における中継点配置に関する考察 北地敏隆, 平田孝志, 樋上喜信, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.15-37 2008年9月
原因‐結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケース生成法 藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.15-36 2008年9月
抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 高橋寛, 樋上喜信, 渡部哲也, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.10-8 2008年9月
遅延故障シミュレーションを利用した欠陥診断法 高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 小野恭平, 相京隆, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.10-10 2008年9月
処理目的の隠蔽技法の冗長性を利用した処理の真正保証手法 宮岡広寿, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウムシリーズ(CD-ROM) 2008 ( 1 ) 1894 - 1898 2008年7月
処理目的の隠蔽法における依存関係に基づくプログラム分割サイズに関する考察 高須賀智, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウムシリーズ(CD-ROM) 2008 ( 1 ) 1899 - 1904 2008年7月
隠蔽効果の高いプログラム断片作成のためのプログラムの特徴に関する考察 姫田健生, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウムシリーズ(CD-ROM) 2008 ( 1 ) 1905 - 1908 2008年7月
オープン故障診断の性能向上について (ディペンダブルコンピューティング) 山崎 浩二, 堤 利幸, 高橋 寛, 樋上 喜信, 相京 隆, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告 108 ( 99 ) 29 - 34 2008年6月
オープン故障診断の性能向上について 山崎浩二, 堤利幸, 高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 四柳浩之, 橋爪正樹, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 108 ( 99(DC2008 11-18) ) 29 - 34 2008年6月
D-10-2 動的なオープン故障に対するテストパターン生成法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 高橋 寛, 樋上 喜信, 渡部 哲也, 相京 隆, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008 ( 1 ) 161 - 161 2008年3月
D-10-1 ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 高橋 寛, 樋上 喜信, 阿萬 裕久, 釜山 天平, 小林 真也, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008 ( 1 ) 160 - 160 2008年3月
スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について 樋上喜信, 高橋寛, 廣瀬雅人, 小林真也, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2008 ( 1 ) 162 - 162 2008年3月
動的なオープン故障に対するテストパターン生成法 高橋寛, 樋上喜信, 渡部哲也, 相京隆, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2008 ( 1 ) 161 - 161 2008年3月
ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について 高橋寛, 樋上喜信, 阿萬裕久, 釜山天平, 小林真也, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2008 ( 1 ) 160 - 160 2008年3月
D-10-3 スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 樋上 喜信, 高橋 寛, 廣瀬 雅人, 小林 真也, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008 ( 1 ) 162 - 162 2008年3月
隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法 高橋 寛, 樋上 喜信, 相京 隆, 門山 周平, 渡部 哲也, 高松 雄三, 堤 利幸, 山崎 浩二, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 107 ( 482 ) 7 - 12 2008年2月
遷移故障に対する診断用テスト生成法 相京 隆, 樋上 喜信, 高橋 寛, 吉川 達, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 107 ( 482 ) 13 - 18 2008年2月
遷移故障に対する診断用テスト生成法 相京隆, 樋上喜信, 高橋寛, 吉川達, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 107 ( 482(DC2007 67-83) ) 13 - 18 2008年2月
隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法 高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 門山周平, 渡部哲也, 高松雄三, 堤利幸, 山崎浩二, 四柳浩之, 橋爪正樹 電子情報通信学会技術研究報告 107 ( 482(DC2007 67-83) ) 7 - 12 2008年2月
エクスターナルグリッドを対象とした処理目的の隠蔽法 合田卓矢, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウム論文集 2007 ( 9 ) 91 - 92 2007年10月
故障励起条件を考慮した欠陥検出テストパターン 高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007 ROMBUNNO.10-6 2007年9月
微小遅延故障に対する故障診断 相京隆, 高橋寛, 樋上喜信, 大津潤一, 小野恭平, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007 ROMBUNNO.10-8 2007年9月
遅延故障に対する診断用テスト生成法 相京隆, 吉川達, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007 ROMBUNNO.10-7 2007年9月
情報配信システムにおける情報の取得先RSSサイトの遠隔指定機能の実装 矢野健太郎, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウムシリーズ(CD-ROM) 2007 ( 1 ) 7E-1 2007年6月
自律負荷分散方式におけるノード情報の制限と局所的タスク投入による影響 合田卓矢, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウムシリーズ(CD-ROM) 2007 ( 1 ) 4G-1 2007年6月
D-10-1 ハードウェア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演) 阿萬 裕久, 池田 裕輔, 市川 直樹, 樋上 喜信, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2007 ( 1 ) 128 - 128 2007年3月
縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法 高橋寛, 樋上喜信, 吉川達, 清水祐紀, 相京隆, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2007 ( 1 ) 129 - 129 2007年3月
ハードウェア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用 阿萬裕久, 池田裕輔, 市川直樹, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2007 ( 1 ) 128 - 128 2007年3月
D-10-2 縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演) 高橋 寛, 樋上 喜信, 吉川 達, 清水 祐紀, 相京 隆, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2007 ( 1 ) 129 - 129 2007年3月
ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法 樋上喜信, SALUJA Kewal K, 高橋寛, 小林真也, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 106 ( 528(DC2006 80-90) ) 31 - 36 2007年2月
Test generation for transistor shorts using stuck-at fault simulator and test generator Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu PROCEEDINGS OF THE 16TH ASIAN TEST SYMPOSIUM 271 - 274 2007年
自律負荷分散方式におけるノード情報とその信頼性 工藤路比古, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウムシリーズ(CD-ROM) 2007 ( 1 ) 391 - 398 2007年
Clues for modeling and diagnosing open faults with considering adjacent lines Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Shuhei Kadoyama, Takashi Aikyo, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume PROCEEDINGS OF THE 16TH ASIAN TEST SYMPOSIUM 39 - + 2007年
On Finding Don't Cares in Test Sequences for Sequential Circuits HIGAMI Yoshinobu, KAJIHARA Seiji, POMERANZ Irith, KOBAYASHI Shin-ya, TAKAMATSU Yuzo IEICE transactions on information and systems 89 ( 11 ) 2748 - 2755 2006年11月
BIST環境に適応した故障診断法に関する研究―ブリッジおよびオープン故障に対する故障診断への拡張―大規模回路への適用可能性の調査― 高松雄三, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二, 宮本俊介 愛媛大学産業科学技術支援センター研究成果報告書 ( 10 ) 30 - 32 2006年11月
隣接信号線の信号変化を考慮したオープン故障 門山周平, 大津潤一, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006 ROMBUNNO.10-7 2006年9月
縮退故障テストに基づくオープン故障のテスト生成 吉川達, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006 ROMBUNNO.10-6 2006年9月
オープン故障に対する診断用テスト生成について 八木啓仁, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006 ROMBUNNO.10-5 2006年9月
BIST環境における単一縮退故障診断法の評価実験 大津潤一, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006 ROMBUNNO.10-8 2006年9月
Tickerに対する配信情報のフィルタリングに関する研究 柏木紘一, 森健, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウム論文集 2006 ( 6-1 ) 117 - 120 2006年7月
輸送時間とコストを考慮したマルチエージェントによる物流網制御の改善 波多野洋一, 柏木紘一, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウム論文集 2006 ( 6-1 ) 57 - 60 2006年7月
組合せ回路および順序回路に対する検出・非検出情報に基づく診断用テスト圧縮法 樋上 喜信, ケーワルK.サルージャ, 高橋 寛, 小林 真也, 高松 雄三 情報処理学会論文誌 47 ( 6 ) 1629 - 1638 2006年6月
論理回路に対するテスト実行時間削減法 樋上 喜信, 梶原 誠司, 市原 英行, 高松 雄三 工学ジャーナル 5 98 - 109 2006年3月
隣接信号線を考慮したオープン故障の一モデルとその故障診断 門山 周平, 武智 清, 高橋 寛, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 105 ( 607 ) 25 - 30 2006年2月
隣接信号線を考慮したオープン故障の一モデルとその故障診断 門山周平, 武智清, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 105 ( 607(DC2005 72-83) ) 25 - 30 2006年2月
Compaction of pass/fail-based diagnostic test vectors for combinational and sequential circuits* Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu ASP-DAC 2006: 11TH ASIA AND SOUTH PACIFIC DESIGN AUTOMATION CONFERENCE, PROCEEDINGS 2006 659 - 664 2006年
Diagnosis of transistor shorts in logic test environment Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Sin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu PROCEEDINGS OF THE 15TH ASIAN TEST SYMPOSIUM 2006 354 - + 2006年
Tickerに対する表示操作履歴に基づいた興味の有無の推論 森健, 柏木紘一, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウム論文集 2005 ( 14 ) 111 - 116 2005年11月
組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法 樋上 喜信, Saluja Kewal K, 高橋 寛, 小林 真也, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告 105 ( 265 ) 25 - 30 2005年9月
組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法 樋上 喜信, Saluja Kewal K, 高橋 寛, 小林 真也, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告 105 ( 267 ) 25 - 30 2005年9月
組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法 樋上喜信, SALUJA Kewal K, 高橋寛, 小林真也, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 105 ( 267(ICD2005 95-105) ) 25 - 30 2005年9月
BIST環境を考慮した故障診断システムについて 高橋寛, 門山周平, 樋上喜信, 高松雄三, 山崎浩二 情報処理学会シンポジウム論文集 2005 ( 9 ) 55 - 60 2005年8月
K-024 双方向性通信可能な個人向け情報配信システムの構築(K分野:ヒューマンコミュニケーション&インタラクション) 植村 雄一郎, 西岡 豊, 柏木 紘一, 樋上 喜信, 小林 真也 情報科学技術フォーラム一般講演論文集 4 ( 3 ) 409 - 410 2005年8月
双方向性通信可能な個人向け情報配信システムの構築 植村雄一郎, 西岡豊, 柏木紘一, 樋上喜信, 小林真也 情報科学技術フォーラム FIT 2005 ( 3 ) 409 - 410 2005年8月
マルチコンピュータ環境における自律負荷分散方式の実装 柏木紘一, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウム論文集 2005 ( 6 ) 173 - 176 2005年7月
個人向け情報の配信を目的としたPUSH型情報配信システムの構築 小森健市, 西岡豊, 柏木紘一, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウム論文集 2005 ( 6 ) 249 - 252 2005年7月
プッシュ型情報配信システムにおける情報の表示に関する操作に基づいた興味の有無の推論 森健, 柏木紘一, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウム論文集 2005 ( 6 ) 245 - 248 2005年7月
検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法 山崎 亜佳根, 精山 哲也, 高橋 寛, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 104 ( 664 ) 87 - 92 2005年2月
検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用 山崎 浩二, 樋上 喜信, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 104 ( 664 ) 81 - 86 2005年2月
不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法 武智 清, 佐藤 雄一, 高橋 寛, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 104 ( 664 ) 51 - 56 2005年2月
不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法 栗山 和樹, 西山 隆広, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 104 ( 664 ) 45 - 49 2005年2月
不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法 栗山和樹, 西山隆広, 樋上喜信, 山崎浩二, 高橋寛, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 104 ( 664(DC2004 92-109) ) 45 - 49 2005年2月
検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法 山崎亜佳根, 精山哲也, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 104 ( 664(DC2004 92-109) ) 87 - 92 2005年2月
検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用 山崎浩二, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 104 ( 664(DC2004 92-109) ) 81 - 86 2005年2月
不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法 武智清, 佐藤雄一, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 104 ( 664(DC2004 92-109) ) 51 - 56 2005年2月
順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について 樋上 喜信, 梶原 誠司, 小林 真也, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告 104 ( 629 ) 41 - 46 2005年1月
順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について 樋上喜信, 梶原誠司, 小林真也, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 104 ( 627(CPM2004 162-174) ) 41 - 46 2005年1月
順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について 樋上 喜信, 梶原 誠司, 小林 真也, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 104 ( 629 ) 41 - 46 2005年1月
Code migration concealment by interleaving dummy segments SY Kobayashi, S Morigaki, E Nelson, K Kashiwagi, Y Higami, M Fukuda 2005 IEEE PACIFIC RIM CONFERENCE ON COMMUNICATIONS, COMPUTERS AND SIGNAL PROCESSING (PACRIM) 2005 269 - 272 2005年
Improvement of the processors operating ratio in task scheduling using the deadline method Koichi Kashiwagi, Yoshinobu Higami, Shin-Ya Kobayashi Enhanced Methods in Computer Security, Biometric and Artificial Intelligence Systems 387 - 394 2005年
Model description method based on a graphical language and a character based language together for a queueing network model K Motoyama, K Kashiwagi, Y Higami, S Kobayashi 2005 IEEE PACIFIC RIM CONFERENCE ON COMMUNICATIONS, COMPUTERS AND SIGNAL PROCESSING (PACRIM) 2005 93 - 96 2005年
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断 山本 幸大, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 2004 ( 122 ) 119 - 124 2004年12月
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断 山本 幸大, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 104 ( 480 ) 49 - 54 2004年12月
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断 西山 隆広, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 104 ( 478 ) 55 - 60 2004年12月
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断 山本 幸大, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 104 ( 478 ) 49 - 54 2004年12月
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断 西山 隆広, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 103 ( 482 ) 55 - 60 2004年12月
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断 西山 隆広, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 104 ( 480 ) 55 - 60 2004年12月
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断 山本 幸大, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 103 ( 482 ) 49 - 54 2004年12月
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断 西山 隆広, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高橋寛, 高松雄三 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 2004 ( 122 ) 125 - 130 2004年12月
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断 西山隆広, 樋上喜信, 山崎浩二, 高橋寛, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 104 ( 478(VLD2004 61-96) ) 55 - 60 2004年11月
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断 山本幸大, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 104 ( 478(VLD2004 61-96) ) 49 - 54 2004年11月
グラフィカル入力と文字入力を併用した待ち行列網モデルの記述表現法 本山謙太郎, 柏木紘一, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会研究報告 2004 ( 106(EVA-11) ) 19 - 24 2004年11月
テストの検出/非検出情報に基づくブリッジ故障診断について 栗山和樹, 樋上喜信, 山崎浩二, 高橋寛, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2004 63 2004年9月
多重縮退故障診断における故障候補の削減法について 武智清, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2004 62 2004年9月
情報フィルタリングにおけるテキスト情報に含まれる品詞と受信者の特徴との関係‐名詞と動詞に基づいた受信者の興味の類推‐ 西岡豊, 柏木紘一, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウム論文集 2004 ( 7 ) 535 - 538 2004年7月
コードマイグレイションにおける処理目的の隠蔽方法 森垣慎治, 柏木紘一, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウム論文集 2004 ( 7 ) 357 - 360 2004年7月
Generation of Test Sequences with Low Power Dissipation for Sequential Circuits HIGAMI Yoshinobu, KOBAYASHI Shin-ya, TAKAMATSU Yuzo IEICE transactions on information and systems 87 ( 3 ) 530 - 536 2004年3月
不確かな診断テスト集合による単一/多重縮退故障の診断法 山本幸大, 綾野秀和, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 103 ( 668(DC2003 90-102) ) 7 - 12 2004年2月
テストの検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法 佐藤雄一, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 103 ( 668(DC2003 90-102) ) 1 - 6 2004年2月
不確かな診断テスト集合による単一/多重縮退故障の診断法 山本 幸大, 綾野 秀和, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 103 ( 668 ) 7 - 12 2004年2月
テストの検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法 佐藤 雄一, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 103 ( 668 ) 1 - 6 2004年2月
順序回路のテスト系列中のドントケア値発見法 樋上喜信, 梶原誠司, IRITH P, 小林真也, 高松雄三 電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集 2003(CD-ROM) MC2-3 2003年8月
負荷変動に対応可能な仮想回線を実現するエージェントとノードの機能 水野賢五, 柏木紘一, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウム論文集 2003 ( 9 ) 133 - 136 2003年6月
Problems and Solutions on IDDQ Testing Higami Yoshinobu, Kobayashi Shin-ya, Takamatsu Yuzo 工学ジャーナル 2 119 - 128 2003年3月
自律負荷分散方式のノード増設に対応した実装 伊藤雄吾, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会シンポジウム論文集 2002 ( 9 ) 567 - 570 2002年7月
芸予地震における情報通信システムの実態調査 小林真也, 樋上喜信, 高松雄三 情報処理学会全国大会講演論文集 64th ( 4 ) 4.319-4.320 - 320 2002年3月
スケジューリングにおける利用プロセッサ制限とその一時解除による稼働率改善の実現 柏木紘一, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会全国大会講演論文集 64th ( 1 ) 1.7-1.8 2002年3月
A-12-5 荷物エージェント間交渉の結果予測を考慮した輸送経路選択 長瀬 哲洋, 樋上 喜信, 山田 宏之, 小林 真也 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2002 271 - 271 2002年3月
荷物エージェント間交渉の結果予測を考慮した輸送経路選択 長瀬哲洋, 樋上喜信, 山田宏之, 小林真也 電子情報通信学会大会講演論文集 2002 271 - 271 2002年3月
Diagnosing crosstalk faults in sequential circuits using fault simulation Hiroshi Takahashi, Marong Phadoongsidhi, Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Yuzo Takamatsu IEICE Transactions on Information and Systems E85-D 1515 - 1525 2002年1月
リセット機能を持つ順序回路に対するテスト系列圧縮法 樋上 喜信, 高松 雄三, 樹下行三 情報処理学会論文誌 42 ( 4 ) 1306 - 1044 2001年4月
2重縮退故障のテスト生成法 高橋直子, 樋上喜信, 高松雄三 情報処理学会全国大会講演論文集 61st ( 1 ) 1.97-1.98 2000年10月
Algorithms to select IDDQ measurement vectors for bridging faults in sequential circuits Y Higami, Y Takamatsu, KK Saluja, K Kinoshita JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS 16 ( 5 ) 443 - 451 2000年10月
リセット機能を持つ順序回路のテスト圧縮法 樋上喜信, 高松雄三, 樹下行三 情報処理学会シンポジウム論文集 2000 ( 8 ) 225 - 230 2000年7月
2重縮退故障に対するテスト生成について 樋上喜信, 高橋直子, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2000 ( 1 ) 163 - 163 2000年3月
単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成について 樋上 喜信, 高橋 直子, 高松 雄三 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 2000 ( 17 ) 31 - 37 2000年2月
単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成について 樋上喜信, 高橋直子, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 99 ( 614(FTS99 75-84) ) 31 - 37 2000年2月
Compaction of Test Vectors for IDDQ Testing of Sequential Circuits Higami Yoshinobu, Saluja Kewal K., Takamatsu Yuzo 愛媛大学工学部紀要 ( 19 ) 317 - 324 2000年2月
Static test compaction for IDDQ testing of bridging faults in sequential circuits Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Yuzo Takamatsu, Kozo Kinoshita Systems and Computers in Japan 31 ( 11 ) 41 - 50 2000年
順序回路に対するIDDQテスト時間短縮について 樋上 喜信, 高松 雄三, 高松 雄三, 樹下 行三 電子情報通信学会技術研究報告. CPSY, コンピュータシステム 99 ( 6 ) 61 - 68 1999年4月
順序回路に対するIDDQテスト時間短縮について 樋上喜信, SALUJA K K, 高松雄三, 樹下行三 電子情報通信学会技術研究報告 99 ( 8(FTS99 6-19) ) 61 - 68 1999年4月
順序回路に対するIDDQテスト時間短縮について (特集 VLSIプロセッサ及び新アーキテクスチャLSI技術、一般) 樋上 喜信, 高松 雄三, Saluja Kewal K, 樹下 行三 電子情報通信学会技術研究報告 99 ( 8 ) 61 - 68 1999年4月
Static Test Compaction for IDDQ Tesling of Bridging Faulls in Sequeutial Circuits The Trausnclion of the IEICE J82-D-I ( 7 ) 879 - 887 1999年
IDDQテスト環境での順序回路のブリッジ故障に対する故障診断 松浦健史, 樋上喜信, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1999 153 1999年
冗長故障のコンパクトテスト集合に対する影響について 高橋直子, 樋上喜信, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1999 157 1999年
順序回路の短絡故障(Uモデル)に対する並列故障シミュレーション法 小林一正, 樋上喜信, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1999 154 1999年
Test generation for sequential circuits under IDDQ testing Toshiyuki Maeda, Yoshinobu Higami, Kozo Kinoshita IEICE Transactions on Information and Systems E81-D 689 - 696 1998年1月
Observation time reduction for IDDQ testing of bridging faults in sequential circuits Y Higami, KK Saluja, K Kinoshita SEVENTH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS'98), PROCEEDINGS 312 - 317 1998年
順序回路に対するIDDQテストのための静的なテスト系列圧縮法 樋上喜信, SALUJA K K, 高松雄三, 樹下行三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1998 149 1998年
順序回路のためのIDDQテスト生成手法について 前田敏行, 樋上喜信, 樹下行三 電子情報通信学会技術研究報告 97 ( 419(FTS97 63-70) ) 25 - 32 1997年12月
IDDQテストのための順序回路のブリッジ故障に対するテスト生成 前田敏行, 樋上喜信, 樹下行三 電子情報通信学会技術研究報告 96 ( 519(FTS96 58-75) ) 105 - 112 1997年2月
Sequential circuit test generation for IDDQ testing of bridging faults Y Higami, T Maeda, K Kinoshita IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON IDDQ TESTING, DIGEST OF PAPERS 12 - 16 1997年
テスト系列短縮のための部分的並列なスキャンチェーンの構成法 樋上喜信, 梶原誠司, 樹下行三 電子情報通信学会技術研究報告 96 ( 25(FTS96 14-27) ) 101 - 108 1996年4月
Partial scan algorithm based on reduced scan shift Yoshinobu Higami, Seiji Kajihara, Kozo Kinoshita Proceedings of the Asian Test Symposium 336 - 341 1994年12月
A REDUCED SCAN SHIFT METHOD FOR SEQUENTIAL-CIRCUIT TESTING Y HIGAMI, S KAJIHARA, K KINOSHITA IEICE TRANSACTIONS ON FUNDAMENTALS OF ELECTRONICS COMMUNICATIONS AND COMPUTER SCIENCES E77A ( 12 ) 2010 - 2016 1994年12月
短縮スキャンシフトによるパーシャルスキャンアルゴリズム 樋上喜信, 梶原誠司, 樹下行三 情報処理学会シンポジウム論文集 94 ( 5 ) 107 - 112 1994年8月
状態遷移を用いた短縮スキャンシフトによる順序回路のテスト 樋上喜信, 梶原誠司, 樹下行三 電子情報通信学会技術研究報告 93 ( 506(ICD93 193-205) ) 87 - 94 1994年3月
A Reduced Scan Shift Method for Sequential Circuit Testing IEICE Transaction on Fundamentals E77-A ( 12 ) 2010 - 2016 1994年
短縮スキャンシフトによる順序回路のテスト 樋上喜信, 梶原誠司, 樹下行三 電子情報通信学会技術研究報告 93 ( 393(ICD93 147-153) ) 21 - 28 1993年12月
TEST SEQUENCE GENERATION FOR SEQUENTIAL-CIRCUITS WITH DISTINGUISHING SEQUENCES Y HIGAMI, S KAJIHARA, K KINOSHITA IEICE TRANSACTIONS ON FUNDAMENTALS OF ELECTRONICS COMMUNICATIONS AND COMPUTER SCIENCES E76A ( 10 ) 1730 - 1737 1993年10月
- 総説・解説
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
- 講演・発表
- A-12-6 最長待ち時間の仮定による静的エレベータ運行計画問題の客に基づく整数線形計画モデルの求解時間の削減(A-12.システム数理と応用,一般セッション) 稲元 勉, 樋上 喜信, 小林 真也 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2015年2月
D-10-4 0-1整数計画問題を利用した遅延故障テストの改善(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 門田 一樹, 今村 亮太, 王 シンレイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2015年2月
IR-dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般) 王 森レイ, 井上 大画, ハナン テイ・アル・アワディー, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2015年2月
全可観測な環境での順序回路のテスト生成について 樋上喜信, 梶原誠司, 樹下行三 電子情報通信学会技術研究報告 1991年12月
L-024 セキュアプロセッシングにおける先行処理による処理時間改善に対する定量的評価(L分野:ネットワーク・セキュリティ,一般論文) 廣瀬 吉隆, 稲元 勉, 樋上 喜信, 小林 真也 情報科学技術フォーラム講演論文集 2015年8月
M-027 操作履歴に基づき個人向けにニュースを選択表示するスマートフォンアプリの開発(M分野:ユビキタス・モバイルコンピューティング,一般論文) 小野 智士, 稲元 勉, 樋上 喜信, 小林 真也 情報科学技術フォーラム講演論文集 2015年8月
C-020 組込み自己診断におけるテストパターン系列の診断能力に関して(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ,一般論文) 宮本 夏規, 村上 陽紀, 王 シンレイ, 樋上 喜信, 高橋 寛, 大竹 哲史 情報科学技術フォーラム講演論文集 2015年8月
多値支持を与えうるクラシファイア集合を求めるための整数線形計画モデルに基づく多義性に関する調査 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 電気学会全国大会講演論文集(CD-ROM) 2016年3月
アナログバウンダリスキャンを用いた三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法の実装について WANG Senling, 香川敬祐, 亀山修一, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 2015年11月
隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について 伊勢幸太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 2015年11月
静的マルチカーエレベータ運行計画問題のためのトリップに基づく整数線形計画モデルに関する一検討 (システム数理と応用) 稲元 勉, 樋上 喜信 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 2015年11月
静的マルチカーエレベータ運行計画問題のためのトリップに基づく整数線形計画モデルに関する一検討 (回路とシステム) 稲元 勉, 樋上 喜信 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 2015年11月
論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減 藤谷和依, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 2016年2月
三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について WANG Senling, 香川敬祐, 亀山修一, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 2016年2月
分割学習で作成した種ルールを用いた遺伝的機械学習によるエレベータ運行ルール集合獲得の効率化 (システム研究会 機械学習研究の最新動向) 稲元 勉, 樋上 喜信, 小林 真也 電気学会研究会資料. ST 2015年12月
分割学習で作成した種ルールを用いた遺伝的機械学習によるエレベータ運行ルール集合獲得の効率化 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 電気学会システム研究会資料 2015年12月
D-10-2 マルチサイクルテストのためのFFの構造的評価(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 門田 一樹, 濱田 宗, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛, 岩田 浩幸, 松嶋 潤 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2016年3月
マルチサイクルテストのためのFFの構造的評価 門田一樹, 濱田宗, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 松嶋潤 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2016年3月
Test Generation Methods for Delay Faults on Clock Lines 招待 国際会議 樋上 喜信 The 3rd Int. Conf. on Fuzzy Systems and Data Mining 2017年11月
双方向通信を利用した赤潮予測のための「水産コミュニケーションシステム」開発に関する研究 清水園子, 安藤顕人, 岡本拓也, 太田耕平, 黒田久泰, 樋上喜信, 遠藤慶一, 入野和朗, 吉田則彦, 浦崎慎太郎, 松原孝博, 小林真也 日本水産学会大会講演要旨集 2016年3月
エクスターナルグリッドに対する依存関係を利用した不正解析のリスクを軽減する手法 山口晃右, 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会全国大会講演論文集 2016年3月
赤潮や魚病の発生予測の為の海域情報収集支援システムの開発 安藤顕人, 岡本拓哉, 遠藤慶一, 黒田久泰, 樋上喜信, 小林真也 情報処理学会全国大会講演論文集 2016年3月
Fault Simulation using Hazard Signals and Its Application to Fault Diagnosis for Delay Faults 招待 国際会議 樋上 喜信 Int. Conf. for Top and Emerging Computer Scientists 2017年12月
- 研究会・報告書
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
- 特許
- 故障推定装置及び方法 高松 雄三, 高橋 寛, 樋上 喜信, 中尾 教伸, 相京 隆, 江守 道明, 大前 英雄
故障検査装置及び方法 高松 雄三, 高橋 寛, 樋上 喜信, 中尾 教伸, 相京 隆, 江守 道明, 大前 英雄 - 作品
- 順序回路に対するテスト系列生成とテスト容易化設計に関する研究 1991年
Test Generation and Design for Testability for Sequential Circuits 1991年 - 補助金・競争的資金
- 構造型情報処理アーキテクチャに対するフィールドテスト法 2023年4月 - 2026年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 高橋 寛, 樋上 喜信, 王 森レイ
メモリ型再構成エッジデバイスにおける高信頼性知的処理機能の設計法に関する研究 2022年4月 - 2025年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛
つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発 2019年4月 - 2023年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 高橋 寛, 樋上 喜信, 王 森レイ
アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究 2019年4月 - 2023年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 樋上 喜信, 稲元 勉, 高橋 寛, 王 森レイ
高精度遅延故障シミュレータを用いた遅延故障に対するテストと診断に関する研究 2016年4月 - 2020年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 樋上 喜信, 高橋 寛, 王 森レイ
機能安全技術のための組込み自己診断法の開発 2016年4月 - 2019年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 高橋 寛, 大竹 哲史, 樋上 喜信, 王 森レイ
プリシリコンテストとポストシリコンテストを併用したタイミング不良診断法の開発 2013年4月 - 2017年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 高橋 寛, 樋上 喜信, 四柳 浩之
３次元LSIにおけるビア接続不良に対するテストと診断に関する研究 2013年4月 - 2016年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 樋上 喜信, 高橋 寛
システム LSI におけるクロック信号線上の故障に対する検査法β診断法の開発 2010年 - 2012年 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 樋上 喜信, 高橋 寛
高速VLSIのクロストーク故障に対する高信頼テスト手法に関する研究 2007年 - 2009年 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 樋上 喜信, 高橋 寛
組み込みシステムに対するソフト/ハード協調テスト法の開発 2006年 - 2008年 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 高松 雄三, 高橋 寛, 樋上 喜信, 阿萬 裕久
超高速・超微細VLSIに対する組込み自己テスト手法と故障診断法に関する研究 2003年 - 2005年 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 高松 雄三, 高橋 寛, 樋上 喜信
論理回路の設計とテストに関する研究
Study on Design and Test of Digital Circuits
- その他
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
2025年4月18日更新
- 専門分野・研究分野
- ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学） / 通信工学
- 所属学会・所属協会
- 電子情報通信学会
情報処理学会
電気電子学会(IEEE) - 委員歴・役員歴
- IEEE Shikoku Section Professional Activity Chair 2015年1月 - 2016年12月
情報処理学会 Transactions on System LSI Design Methogology編集委員 2014年4月 - 2017年3月
電子情報通信学会 英文誌A編集委員 2011年5月 - 2015年5月
電子情報通信学会 英文誌D編集委員 2007年5月 - 2011年5月
電子情報通信学会 査読委員 1999年5月 - 2017年5月 - 受賞
- 日本信頼性学会高木賞 2016年6月 日本信頼性学会 樋上 喜信
最優秀論文賞 2014年7月 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI 樋上 喜信
電子情報通信学会論文賞 2012年5月 電子情報通信学会 樋上 喜信
電子情報通信学会論文賞 2005年5月 電子情報通信学会 樋上 喜信 - 活動
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
更新
2025年4月12日更新
Ｊグローバル
- Jグローバル最終確認日
- 2025/4/12 01:09
- 氏名（漢字）
- 樋上 喜信
- 氏名（フリガナ）
- ヒガミ ヨシノブ
- 氏名（英字）
- Higami Yoshinobu
- 所属機関
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リサーチマップ
- researchmap最終確認日
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- 氏名（漢字）
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- 氏名（フリガナ）
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- 氏名（英字）
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- プロフィール
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- eメール（その他）
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- 部署
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- 学位
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- 科研費研究者番号
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- その他の所属ID
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- その他の所属名
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- その他の所属 職名
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- 最近のエントリー
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- Read会員ID
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- 経歴
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- 受賞
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- Misc
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- 論文
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- 講演・口頭発表等
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- 書籍等出版物
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- 学歴
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- 社会貢献活動
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2025年4月12日更新
- 研究者番号
- 40304654
- 所属（現在）
- 2025/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授
- 所属（過去の研究課題
情報に基づく）*注記 - 2016/4/1 – 2023/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授
2012/4/1 – 2015/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科, 准教授
2008/4/1 – 2012/4/1 : 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 准教授
2007/4/1 – 2009/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科, 准教授
2006/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科, 助教授
2005/4/1 : 愛媛大学, 工学部, 助教授
2003/4/1 – 2004/4/1 : 愛媛大学, 工学部, 講師
- 審査区分/研究分野
-
研究代表者
総合・新領域系 / 総合領域 / 情報学 / 計算機システム・ネットワーク
総合系 / 情報学 / 計算基盤 / 計算機システム
小区分60040:計算機システム関連研究代表者以外
総合・新領域系 / 総合領域 / 情報学 / 計算機システム・ネットワーク
総合系 / 情報学 / 計算基盤 / 計算機システム
小区分60040:計算機システム関連
- キーワード
-
研究代表者
VLSI(大規模集積回路) / テスト / 故障診断 / クロストーク故障 / テストパターン生成 / トランジスタショート / ゲートレベルツール / 故障シミュレーション / 高信頼化 / 論理回路 / VLSIのテスト / シミュレーション / 故障モデル / ディペンダブルコンピューティング / 論理回路の故障検査 / LSIの故障診断 / 故障検査 / システムLSI / クロック信号線 / 遅延故障 / LSIの設計・テスト / LSI / 3次元LSI / LSIのテスト / LSIテスト / マルチサイクルテスト / 縮退故障 / 信号伝搬遅延変動 / テストパターン数削減 / ブリッジ故障 / テスト容易化設計 / 故障辞書 / 機械学習 / テストポイント / 出力圧縮 / ニューラルネットワーク / テストパターン / 組込み自己テスト / アダプティブ故障診断 / フィールドテスト / 出力応答圧縮
研究代表者以外
組み込みシステム / テスト / ハードウエア / ソフトウエア / 協調テスト / ソフト / ハード協調設計 / ハード協調テスト / テストケース / ソフトウエアメトリクス / 保守性 / ハードウエア記述言語 / ディペンダブルコンピューティング / 故障検査 / 故障診断 / オープン故障 / タイミング不良 / 診断 / オンチップセンサー / 抵抗性オープン故障 / ポストシリコンテスト / プリシリコンテスト / 故障診断法 / 診断用テスト / 遅延故障 / 組込み自己テスト / 組込み自己診断 / 論理回路の故障検査 / テスト圧縮 / 縮退故障 / 内部ブリッジ故障 / 論理回路のテスト / ブリッジ故障 / クロストーク故障 / ドントケア値 / VLSIの故障検査 / VLSIの故障診断 / テスト系列圧縮 / 消費電力削減 / Testing of LSIs / Fault diagnosis / Built-in self test / Test compaction / Stuck-at fault / Internal bridging fault / Open fault / 機能安全 / 組込み自己診断法 / LSIのテスト / 先進自動運転 / 先進運転支援システム / 計算機システム / ディペンダブル・コンピューティング / フィールドテスト / つながるデバイス / 信頼性強化設計法 / 認証方式 / テスト容易化設計法 / 検査容易化設計 / バイナリーニューラルネットワーク / バウンダリスキャン / セキュリティ / テスト容易化 / 時空間グラフ畳み込みニューラルネットワーク / AI（人工知能） / MRP / ニューラルネットワーク（NN） / シストリックアレイ / 深層強化学習 / 集積回路回路 / シストリックアーキテクチャ / メモリ / 構造型情報処理アーキテクチャ / テスト容易化設計
研究課題
研究成果
共同研究者
注目研究はありません。