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高橋 寛
愛媛大学
2025年4月18日更新
- 職名
- 教授
- 電話
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- 電子メール
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- 学歴
- 佐賀大学 大学院理工学研究科 修士課程電子工学専攻 1988年4月 - 1990年3月
佐賀大学 理工学部 電子工学科 1984年4月 - 1988年3月 - 学位
- 博士（工学） （ 愛媛大学 ）
- 職歴・経歴
- 愛媛大学 機構長・副学長 2024年4月 - 現在
愛媛大学 工学部 工学部長 2018年4月 - 2024年3月
愛媛大学大学院 教授 2010年10月 - 現在
米国ウィスコンシン大学 マディソン校 在外研究員 2000年5月 - 2001年3月
愛媛大学 大学院理工学研究科 准教授 2000年4月 - 2010年3月
愛媛大学 工学部 情報工学科 講師 1997年4月 - 2000年3月
愛媛大学 工学部 情報工学科 助手 1990年4月 - 1997年3月
- 専門分野・研究分野
- 情報通信 / 計算機システム
2025年4月18日更新
- 専門分野・研究分野
- 情報通信 / 計算機システム
- 担当経験のある授業科目
- 2024年度第１クォーター / 計算機システム概論B
2024年度第１クォーター / 計算機システム特論Ｉ
2024年度第１クォーター / 論理回路
2024年度第１クォーター / 基礎情報科学
2024年度後期 / 計算機システム概論A
2024年度後期 / DS/AI活用PBL演習２
2024年度後期 / 学部共通PBL
2024年度後期 / コンピュータ工学入門
2024年度前期 / DS/AI活用PBL演習１
2024年度前期 / 情報システム工学特論Ⅲ
2024年度前期 / 組込みシステム開発基礎
2024年度第２クォーター / 計算機システムⅠ - 指導経験
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2025年4月18日更新
- 専門分野・研究分野
- 情報通信 / 計算機システム
- 研究テーマ
- test generation
fault diagnosis
fault modeling
hardware description language
design and test for computer systems
dependable computing
組込みシステム
テスト生成
故障診断
故障モデル．ハードウェア記述言語
システムの高信頼化
embedded system
情報システムの設計とテスト
ディペンダブルコンピューティング
- 著書
- Three-Dimensional Integration of Semiconductors: Processing, Materials, and Applications Kazuo Kondo, Morihiro Kada, Kenji Takahashi Springer 2015年12月
はかる×わかる半導体 半導体テスト技術者検定3級 問題集 浅田邦博, 一般社団法人パワーデバイス, イネーブリング協会 日経BPコンサルティング 2014年12月 （ ISBN:4864430713 ）
LSIテスティングハンドブック LSIテスティング学会 オーム社 2008年11月 （ ISBN:4274206327 ）
新版 論理設計入門 (情報処理基礎シリーズ) 相原 恒博, 高松 雄三, 林田 行雄, 高橋 寛（ 担当： 共著） 日新出版 2002年10月 （ ISBN:4817302070 ） - 論文
- SASL-JTAG+: An Enhanced Lightweight and Secure JTAG Authentication Mechanism for IoT Systems with Diverse Devices 査読 Hisashi Okamoto, Shaoqi Wei, Senling Wang, Hiroshi Kai, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Akihiro Shimizu, Tianming Ni, Xiaoqing Wen Journal of Communications Just Accepted 2025年4月
Test Point Selection for Multi-Cycle Logic BIST using Multivariate Temporal-Spatial GCNs Senling Wang, Shaoqi Wei, Hisashi Okamoto, Tatusya Nishikawa, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroyuki Yotsuyanagi, Ruijun Ma, Tianming Ni, Hiroshi Takahashi, Xiaoqing Wen 2024 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) 1 - 6 2024年8月
Deep-BMNN: Implementing Sparse Binary Neural Networks in Memory-Based Reconfigurable Processor (MRP) Kenta Sasagawa, Senling Wang, Tetsuya Nishikawa, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tianming Ni, Xiaoqing Wen 2024 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC) 1 - 6 2024年7月
3 次元 LSI における貫通シリコンビア(TSV)に対する故障検査法 招待 査読 王 森レイ, 高橋 寛 日本信頼性学会誌 46 ( 3 ) 108 - 115 2024年5月
Testing and Delay-Monitoring for the High Reliability of Memory-based Programmable Logic Device 査読 Xihong ZHOU, Senling WANG, Yoshinobu HIGAMI, Hiroshi TAKAHASHI IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems E106-D ( 10 ) 60 - 71 2023年10月
QR-Code with Superimposed Text. 査読 Naoya Tahara, Senling Wang, Hiroshi Kai, Hiroshi Takahashi, Masakatu Morii APNOMS 259 - 262 2023年
SASL-JTAG: A Light-Weight Dependable JTAG. 査読 Senling Wang, Shaoqi Wei, Jun Ma, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Akihiro Shimizu, Xiaoqing Wen, Tianming Ni DFT 1 - 3 2023年
グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法 WEI Shaoqi, 塩谷晃平, WANG Senling, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 122 ( 393(DC2022 82-92) ) 27 - 32 2023年
ワンタイムパスワードによるJTAGアクセス認証アーキテクチャのFPGA実装と機能検証 馬竣, 岡本悠, 魏少奇, 王森レイ, 甲斐博, 高橋寛, 清水明宏 エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM) 37th 13A1-2 2023年
Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning 査読 Shaoqi Wei, Kohei Shiotani, Senling Wang, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Gang Wang 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications, ITC-CSCC 2023 2023年
Improving of Fault Diagnosis Ability by Test Point Insertion and Output Compaction 査読 Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications, ITC-CSCC 2023 2023年
軽量なワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のFPGA実装と面積評価 岡本 悠, 馬 竣, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 清水明宏 電子情報通信学会技術報告 DC2022 ( 64 ) 168 - 173 2022年11月
Preliminary Study on Noise-Resilient Artificial Neural Networks for On-Chip Test Generation 査読 Tsutomu Inamoto, Tomoki Nishino, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi 2022年10月
Test Point Insertion for Multi-Cycle Power-On Self-Test 査読 Senling Wang, Xihong Zhou, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems 28 ( 3 ) 46 - 21 2022年9月
Machine Learning Based Fault Diagnosis for Stuck-at Faults and Bridging Faults 査読 Yoshinobu Higami, Takaya Yamauchi, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja 2022 37th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 2022年7月
正課としての課題解決型教育(分野融合型)実施における評価方法の改善と指導方法の明確化 勝田, 順一, 中原, 真也, 高橋, 寛 大学教育実践ジャーナル 21 ( 21 ) 51 - 58 2022年3月
地方大学におけるSociety 5.0 に向けた新しい技術者リカレント教育の挑戦 高橋 寛 産学官連携ジャーナル 18 ( 3 ) 20 - 23 2022年
シングルボードコンピュータ上でのSAS認証方式の計算時間の評価 荻田高史郎, 甲斐博, WANG Seiling, 高橋寛, 清水明宏 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2022 2022年
ディープニューラルネットワークを利用したシステムに対する高効率な検証法 白石忠明, 高橋寛, WANG Senling 情報科学技術フォーラム講演論文集 21st 269 - 271 2022年
JTAGのセキュリティ脅威―攻撃の現状とその対策― 査読 王 森レイ, 亀山 修一, 高橋 寛 エレクトロニクス実装学会誌 24 ( 7 ) 668 - 674 2021年11月
MNN: A Solution to Implement Neural Networks into a Memory-based Reconfigurable Logic Device (MRLD) 査読 Xihong Zhou, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Mitsunori Katsu, Shoichi Sekiguchi 2021 36th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 2021年6月
Compaction of Fault Dictionary without Degrading Diagnosis Ability 査読 Yoshinobu Higami, Tomokazu Nakamura, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja 2021 36th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 2021年6月
FF-Control Point Insertion (FF-CPI) to Overcome the Degradation of Fault Detection under Multi-Cycle Test for POST 査読 Hanan T. Al-AWADHI, Tomoki AONO, Senling WANG, Yoshinobu HIGAMI, Hiroshi TAKAHASHI, Hiroyuki IWATA, Yoichi MAEDA, Jun MATSUSHIMA IEICE Transactions on Information and Systems E103.D ( 11 ) 2289 - 2301 2020年11月
Ring-Oscillator Implementation for Monitoring the Aging State of Memory-based Reconfigurable Logic Device (MRLD) 査読 Xihong Zhou, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC2020) 34th 4C1-02 2020年7月
Reduction of Fault Dictionary Size by Optimizing the Order of Test Patterns Application 査読 国際共著 Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC2020) - 131 - 136 2020年7月
工学部における課題解決型教育の試行結果と問題点—Trial results and problems of Problem-Based Learning type education in engineering department 勝田, 順一, 中原, 真也, 三浦, 清孝, 高橋, 寛 大学教育実践ジャーナル 18 53 - 59 2020年3月
車載組込みシステム技術者の育成～enPiT-Pro Embでの教育実践～—招待論文 山本, 雅基, 塩見, 彰睦, 岡村, 寛之, 高橋, 寛, 沢田, 篤史, 高田, 広章 デジタルプラクティス 11 ( 1 ) 99 - 118 2020年1月
NS形電気転てつ機の状態基準保全に関する研究 志田洋, 三崎友樹, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 120 ( 288(DC2020 59-68) ) 2020年
Aging Monitoring for Memory-based Reconfigurable Logic Device (MRLD) 査読 Xihong Zhou, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi 35TH INTERNATIONAL TECHNICAL CONFERENCE ON CIRCUITS/SYSTEMS, COMPUTERS AND COMMUNICATIONS (ITC-CSCC 2020) 228 - 233 2020年
機械学習の異常検知による半断線故障判別法における温度依存性の検討 中西遼太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 119 ( 420(DC2019 86-97)(Web) ) 2020年
マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法 環輝, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋潤 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 120 ( 234(VLD2020 11-38) ) 24 - 29 2020年
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出低下問題の解析 中岡 典弘, 青野 智己, 工藤 壮司, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋 潤 デザインガイア2019 -VLSI設計の新しい大地- 2019年11月
マルチサイクルテストにおける故障検出低下問 題の解析とその対策 青野 智己, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 電気関係学会四国支部連合大会 2019年9月
Feasibility of Machine Learning Algorithm for Test Partitioning 招待 査読 Senling Wang, Hanan T. Al-Awadhi, Masatoshi Aohagi, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi The 34th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC 2019) 217 - 220 2019年8月
Compact Dictionaries for Reducing Compute Time in Adaptive Diagnosis 招待 査読 Yoshinobu Higami, Tomokazu Nakamura, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja The 34th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC 2019) inpress 124 - 127 2019年8月
マハラノビス距離を用いた軌道回路の状態基準保全に関する考察 査読 志田 洋, 二宮 崇, 高橋 寛 電気学会論文誌 D (産業応用部門誌) 139 ( 6 ) 588 - 596 2019年6月
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法 青野智己, Hanan T.Al-Awadhi, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 愛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋, 潤(ルネサスエレクトロニクス 信学技報 DC研究会信学技報 118 ( 456 ) 49 - 54 2019年2月
A Built-In Self-Diagnostic Mechanism for Delay Faults Based on Self-Generation of Expected Signatures. 査読 Yushiro Hiramoto, Satoshi Ohtake, Hiroshi Takahashi 28th IEEE Asian Test Symposium(ATS) 31 - 36 2019年
サウンドコード技術を利用した電気錠システムの開発 周 細紅, 王 森レイ, 高橋 寛 電気関係学会四国支部連合大会 2018年9月
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFF選択法 矢野 良典, 青野, 智己, 王森 レイ, 樋上, 喜信, 高橋 寛 電気関係学会四国支部連合大会 2018年9月
マルチサイクルテストの故障検出率の低下を改善するための キャプチャパターン制御法 青野 智己, 矢野 良典, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 電気関係学会四国支部連合大会 2018年9月
機械学習を適用した半断線故障判別法の評価 増成紳介, 青萩正俊, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 四柳浩之, 橋爪正樹 電気関係学会四国支部連合大会 2018年9月
機能安全要求のためのテスト容易化設計法 招待 高橋寛 情報処理学会DAシンポジウム 1 - 4 2018年8月
Test Method for the Bridge Interconnect Faults in Memory Based Reconfigurable-Logic-Device(MRLD) Considering the Place-and-Route 査読 Senling Wang, Tomoki Aono, Tatsuya Ogawa, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Mitsunori Katsu, Shoichi Sekiguchi International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC) in press 2018年7月
Fault Diagnosis Considering Path Delay Variations in Multi-Cycle Test Environment 査読 Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal, K. Saluja International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC) in press 2018年7月
メモリベース再構成デバイスMRLDにおけるブリッジ接続故障のテスト方法 王 森レイ, 小川達也, 樋上喜信, 高橋 寛, 佐藤正幸, 勝 満徳, 関口象一 信学技報 117 ( 444 ) 61 - 66 2018年2月
Testing of interconnect defects in memory based reconfigurable logic device (MRLD) 査読 Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Masayuki Sato, Mitsunori Katsu, Shoichi Sekiguchi Proceedings of the Asian Test Symposium 13 - 18 2018年1月
エレクトロニクス実装技術の現状と展望 部品内蔵基板の品質保証に必須となるバウンダリスキャン技術 亀山修一, 高橋寛 エレクトロニクス実装学会誌 21 ( 1 ) 57‐61 2018年1月
Fault-detection-strengthened method to enable the POST for very-large automotive MCU in compliance with ISO26262. 査読 Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima 23rd IEEE European Test Symposium, ETS 2018, Bremen, Germany, May 28 - June 1, 2018 1 - 2 2018年
Automotive Functional Safety Assurance by POST with Sequential Observation. 査読 Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Jun Matsushima IEEE Des. Test 35 ( 3 ) 39 - 45 2018年
Capture-Pattern-Control to Address the Fault Detection Degradation Problem of Multi-cycle Test in Logic BIST. 査読 Senling Wang, Tomoki Aono, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima 27th IEEE Asian Test Symposium, ATS 2018, Hefei, China, October 15-18, 2018 155 - 160 2018年
Discrimination of a resistive open using anomaly detection of delay variation induced by transitions on adjacent lines 査読 Hiroyuki Yotsuyanagi, Kotaro Ise, Masaki Hashizume, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences E100A ( 12 ) 2842 - 2850 2017年12月
Towards an ISO26262 Compliant DFT Architecture Enabling POST for Ultra-Large-Scale Automotive MCU 査読 Yoichi Maeda, Hiroyuki Iwata, Jun Matsushima, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi IEEE International Workshop on Automotive Reliability&Test 2017年11月
A method for diagnosing bridging fault between a gate signal line and a clock line Yoshinobu Higami, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Shin-Ya Kobayashi, Kewal K. Saluja IEICE Transactions on Information and Systems E100D ( 9 ) 2224 - 2227 2017年9月
A Method for Diagnosing Bridging Fault between a Gate Signal Line and a Clock Line 査読 Yoshinobu Higami, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Kewal K. Saluja IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E100D ( 9 ) 2224 - 2227 2017年9月
Pattern Partitioning based Field Testing for Improving the Detection Latency of Aging-induced Delay Faults 査読 Hanan T. Al-Awadhi, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi 32nd International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications - In press 2017年8月
三次元積層ICのTSV相互接続の評価容易化設計DFE―アナログバウンダリスキャンによる接続抵抗評価― 亀山修一, 亀山修一, WANG Senling, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 116 ( 466(DC2016 74-83) ) 53‐58 - 58 2017年2月
On selection of adjacent lines in test pattern generation for delay faults considering crosstalk effects. 査読 Yuuya Ohama, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi 17th International Symposium on Communications and Information Technologies, ISCIT 2017, Cairns, Australia, September 25-27, 2017 1 - 5 2017年
Pattern Partitioning for Field Testing Considering the Aging Speed 査読 Hanan T. Al-Awadhi, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi Proc. IEEE WRTLT16, 72 - 76 2016年11月
設備故障が旅客に与える経済的損失を評価尺度とした鉄道信号設備のライフサイクルコストの低減に関する考察 査読 志田 洋, 大串 裕郁, 樋上, 喜信, 阿萬, 裕久, 高橋 寛 電子情報通信学会論文誌Ｄ J99-D ( 5 ) 539 - 548 2016年5月
Structure-Based Methods for Selecting Fault-Detection-Strengthened FF under Multi-Cycle Test with Sequential Observation 査読 Senling Wang, Hanan T. Al-Awadhi, Soh Hamada, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Jun Matsushima 2016 IEEE 25TH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS) 2016 ( ATS ) 209 - 214 2016年
Diagnosis methods for gate delay faults with various amounts of delays 査読 Yoshinobu Higami, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Shin-Ya Kobayashi, Kewal K. Saluja IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 9 13 - 20 2016年
Physical power evaluation of low power logic-bist scheme using test element group chip 査読 Senling Wang, Yasuo Sato, Seiji Kajihara, Hiroshi Takahashi Journal of Low Power Electronics 11 ( 4 ) 528 - 540 2015年12月
マルチサイクルテストでのクロック信号線のd-故障に対する故障診断 和田 祐介, 樋上 喜信, 王 森レイ, 高橋 寛, 小林 真也 平成27年度電気関係学会四国支部連合大会 2015年9月
A Proposal of Maintenance Cost Model of Track Circuits 査読 志田洋, 樋上喜信, 阿萬裕久, 高橋 寛 Proc.MMR2015 2015年9月
遅延を考慮したシミュレータ用いたクロック信号線のブリッジ故障の故障診断 細川 優人, 樋上 喜信, 王 森レイ, 高橋 寛, 小林 真也 平成27年度電気関係学会四国支部連合大会 2015年9月
組込み自己診断におけるテストパターン系列の診断能力に関して 宮本夏規, 村上陽紀, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛, 大竹哲史 情報科学技術フォーラム講演論文集 14th 273 - 274 2015年8月
学生への実務教育にシニア技術者の活用とWBTシステムの教材開発について―アクティブインターンシップの提案― 査読 田中良一, 松本多恵, 金田紀夫, 畠山一実, 松本哲郎, 高橋寛, 林田行雄 CIEC研究会報告集 6 34 - 37 2015年3月
0‐1整数計画問題を利用した遅延故障テストの改善 門田一樹, 今村亮太, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ( 1 ) ROMBUNNO.D-10-4 2015年2月
Trends in 3D integrated circuit (3D-IC) testing technology Hiroshi Takahashi, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Shuichi Kameyama, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Shyue-Kung Lu, Zvi Roth Three-Dimensional Integration of Semiconductors: Processing, Materials, and Applications 235 - 268 2015年1月
Diagnosis of Delay Faults in the Presence of Clock Delays Considering Hazards 査読 Yoshinobu Higami, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Kewal K. Saluja Proc. 30th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 649 - 652 2015年
Diagnosis of Delay Faults Considering Hazards 査読 Yoshinobu Higami, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Graduate, Kewal K. Saluja 2015 IEEE COMPUTER SOCIETY ANNUAL SYMPOSIUM ON VLSI 07-10-July-2015 503 - 508 2015年
列車検知装置の保全コストに関する考察(その2)―設備保全データのモデル化と活用― 志田洋, 大串裕郁, 樋上喜信, 阿萬裕久, 高橋寛 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 27th 77 - 80 2014年11月
0-1 整数計画問題を利用した欠陥検出向けテストパターン選択法 査読 志田 洋, 樋上 喜信, 阿萬 裕久, 高橋 寛, ケーワル サルージャ 日本信頼性学会誌 36 ( 8 ) 501 - 510 2014年11月
0‐1整数計画問題を利用した欠陥検出向けテストパターン選択法 査読 志田洋, 樋上喜信, 阿萬裕久, 高橋寛, SALUJA Kewal K 日本信頼性学会誌 36 ( 8 ) 501 - 510 2014年11月
クロック信号線のブリッジ故障に対する遅延を考慮した故障診断 細川 優人, 樋上 喜信, 王 森レイ, 高橋 寛, 小林 真也 電気関係学会四国支部連合大会 2014年9月
列車検知装置の安全性・信頼性を考慮した設備保全の再検討に関する考察 査読 志田洋, 大串裕郁, 高橋寛 日本信頼性学会誌 36 ( 6 ) 391 - 396 2014年9月
マルチサイクルテストでの遷移故障に対するテスト生成 藤原 翼, 樋上 喜信, 王 森レイ, 高橋 寛, 小林 真也 電気関係学会四国支部連合大会 2014年9月
Diagnosis of Delay Faults in Multi-Clock SOCs 査読 Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi, K. K. Saluja Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications 2014年7月
列車検知装置の保全コストに関する考察 志田洋, 大串裕郁, 高橋寛 日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 22nd 47 - 48 2014年6月
アナログバウンダリスキャンによる三次元積層後のTSV抵抗精密計測法 亀山修一, 馬場雅之, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会論文誌 D(Web) J97-D ( 4 ) 887-890 (WEB ONLY) - 890 2014年4月
Power Evaluation of a Low Power Logic BIST Scheme using TEG Chip 査読 Senling Wang, Toshiya Nishida, Yasuo Sato, Seiji Kajihara, Hiroshi Takahashi Proc. of IEEE WRTLT14 pp.8 - 13 2014年
Measuring Method for TSV-based Interconnect Resistance in 3D-SIC by Embedded Analog Boundary-Scan Circuit 査読 KAMEYAMA Shuichi, BABA Masayuki, HIGAMI Yoshinobu, TAKAHASHI Hiroshi Trans Jpn Inst Electron Packag (Web) 7 ( 1 ) 140-146 (J-STAGE) - 146 2014年
Diagnosis of Gate Delay Faults in the Presence of Clock Delay Faults 査読 Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Kewal K. Saluja 2014 IEEE COMPUTER SOCIETY ANNUAL SYMPOSIUM ON VLSI (ISVLSI) 321 - 326 2014年
FOREWORD 査読 Elena Pecchioni, Alessandra Bonazza PERIODICO DI MINERALOGIA 82 ( 3 ) 1905 - 1906 2013年12月
鉄道信号設備のライフサイクルコストを考慮した設備保全に関する一考察―設備故障発生時の経済的損失と設備保全― 査読 志田洋, 大串裕郁, 高橋寛 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 26th ( 26 ) 67 - 70 2013年11月
バンダリスキャンテスト実行時のIC内部の擾乱 査読 亀山 修一, 馬場 雅之, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会論文誌. D, 情報・システム 96 ( 9 ) 2078 - 2081 2013年9月
Generation for Delay Faults on Clock Lines under Launch-on-Capture Test Environment 査読 樋上 喜信, 高橋 寛 IEICE Transactions on Information and Systems E96D ( 6 ) 1323 - 1331 2013年6月
半断線故障検出のための信号遅延の特性評価 (ディペンダブルコンピューティング) 大栗 裕人, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 堤 利幸, 山崎 浩二, 樋上 善信, 高橋 寛 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報 112 ( 429 ) 25 - 30 2013年2月
Diagnosing Resistive Open Faults Using Small Delay Fault Simulation 査読 Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Hironobu Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Kewal K. Saluja 2013 22ND ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS) 79 - 84 2013年
Generation of Diagnostic Tests for Transition Faults Using a Stuck-At ATPG Tool 査読 Yoshinobu Higami, Satoshi Ohno, Hironori Yamaoka, Hiroshi Takahashi, Yoshihiro Shimizu, Takashi Aikyo IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E95D ( 4 ) 1093 - 1100 2012年4月
Diagnosis for bridging faults on clock lines 査読 Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Shin-Ya Kobayashi, Kewal K. Saluja Proceedings of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing, PRDC 135 - 144 2012年
論理回路の故障診断法 : 外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展 査読 高松 雄三, 佐藤 康夫, 高橋 寛, 樋上 喜信, 山崎 浩二 電子情報通信学会論文誌. D, 情報・システム = The IEICE transactions on information and systems (Japanese edition) 94 ( 1 ) 266 - 279 2011年1月
On Detecting Transition Faults in the Presence of Clock Delay Faults 査読 Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Kewal K. Saluja 2011 20TH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS) 1 - 6 2011年
Fault Simulation and Test Generation for Clock Delay Faults 査読 Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Kewal K. Saluja 2011 16TH ASIA AND SOUTH PACIFIC DESIGN AUTOMATION CONFERENCE (ASP-DAC) 799 - 805 2011年
Enhancement of Clock Delay Faults Testing 査読 Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Kewal K. Saluja 2011 16TH IEEE EUROPEAN TEST SYMPOSIUM (ETS) 216 - 216 2011年
Test Pattern Selection for Defect-Aware Test 査読 Yoshinobu Higami, Hiroshi Furutani, Takao Sakai, Shuichi Kameyama, Hiroshi Takahashi 2011 20TH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS) 102 - 107 2011年
故障励起関数を利用したオープン故障の診断法 査読 山崎浩二, 堤利幸, 高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 四柳浩之, 橋爪正樹, 高松雄三 電子情報通信学会論文誌 D J93-D ( 11 ) 2416 - 2425 2010年11月
Output voltage estimation of a floating interconnect line caused by a hard open in 90nm ICs 査読 Katsuya Manabe, Yuichi Yamada, Hiroyuki Yotsuyanagi, Toshiyuki Tsutsumi, Koji Yamazaki, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Yuzo Takamatsu, Masaki Hashizume ISCIT 2010 - 2010 10th International Symposium on Communications and Information Technologies 603 - 608 2010年
A Method for Diagnosing Resistive Open Faults with Considering Adjacent Lines 査読 高橋 寛 Proc.IEEE 10th International Symposium on Communications and Information Technologies 0 ( 0 ) 609 - 614 2010年
Addressing Defect Coverage through Generating Test Vectors for Transistor Defects 査読 Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu IEICE TRANSACTIONS ON FUNDAMENTALS OF ELECTRONICS COMMUNICATIONS AND COMPUTER SCIENCES E92A ( 12 ) 3128 - 3135 2009年12月
検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法 査読 相京隆, 高橋寛, 樋上喜信, 大津潤一, 小野恭平, 清水隆治, 高松雄三 電子情報通信学会論文誌 D J92-D ( 7 ) 984 - 993 2009年7月
An algorithm for diagnosing transistor shorts using gate-level simulation 査読 Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Sin-Ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 2 250 - 262 2009年
New Class of Tests for Open Faults with Considering Adjacent Lines 査読 Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume 2009 ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 301 - + 2009年
Diagnostic Test Generation for Transition Faults Using a Stuck-at ATPG Tool 査読 Yoshinobu Higami, Yosuke Kurose, Satoshi Ohno, Hironori Yamaoka, Hiroshi Takahashi, Yoshihiro Shimizu, Takashi Aikyo, Yuzo Takamatsu ITC: 2009 INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 462 - + 2009年
An Algorithm for Diagnosing Transistor Shorts Using Gate-level Simulation Higami Yoshinobu, Saluja Kewal K., Takahashi Hiroshi, Kobayashi Sin-ya, Takamatsu Yuzo Information and Media Technologies 4 ( 4 ) 727 - 739 2009年
Fault Effect of Open Faults Considering Adjacent Signal Lines in a 90 nm IC 査読 Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Toshiyuki Tsutsumi, Koji Yamazaki, Takashi Aikyo, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Yuzo Takamatsu 22ND INTERNATIONAL CONFERENCE ON VLSI DESIGN HELD JOINTLY WITH 8TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON EMBEDDED SYSTEMS, PROCEEDINGS 91 - + 2009年
A Novel Approach for Improving the Quality of Open Fault Diagnosis 査読 Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Takashi Aikyo, Yuzo Takamatsu, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume 22ND INTERNATIONAL CONFERENCE ON VLSI DESIGN HELD JOINTLY WITH 8TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON EMBEDDED SYSTEMS, PROCEEDINGS 85 - + 2009年
Maximizing Stuck-Open Fault Coverage Using Stuck-at Test Vectors 査読 Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu IEICE TRANSACTIONS ON FUNDAMENTALS OF ELECTRONICS COMMUNICATIONS AND COMPUTER SCIENCES E91A ( 12 ) 3506 - 3513 2008年12月
ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケース生成法 査読 樋上喜信, 藤尾昇平, 阿萬裕久, 高橋寛, 高松雄三 情報処理学会シンポジウム論文集 2008 ( 9 ) 151 - 157 2008年10月
Fault simulation and test generation for transistor shorts using stuck-at test tools 査読 Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E91D ( 3 ) 690 - 699 2008年3月
Fault diagnosis on multiple fault models by using pass/fail information 査読 Yuzo Takamatsu, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Takashi Aikyo, Koji Yamazaki IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E91D ( 3 ) 675 - 682 2008年3月
Post-BIST fault diagnosis for multiple faults 査読 Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Shuhei Kadoyama, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Takashi Aikyo, Yasuo Sato IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E91D ( 3 ) 771 - 775 2008年3月
Increasing Defect Coverage by Generating Test Vectors for Stuck-open Faults 査読 Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu PROCEEDINGS OF THE 17TH ASIAN TEST SYMPOSIUM 97 - + 2008年
Post-BIST fault diagnosis for multiple faults Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Shuhei Kadoyama, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Takashi Aikyo, Yasuo Sato IEICE Transactions on Information and Systems E91-D ( 3 ) 771 - 775 2008年
The Development of the Financial Learning Tool through Business Game. Yasuo Yamashita, Hiroshi Takahashi, Takao Terano Knowledge-Based Intelligent Information and Engineering Systems 986 - 993 2008年
Timing-aware diagnosis for small delay defects 査読 Takashi Aikyo, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Junichi Ootsu, Kyohei Ono, Yuzo Takamatsu DFT 2007: 22ND IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT-TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS 0 ( 0 ) 223 - 231 2007年
Fault coverage and fault efficiency of transistor shorts using gate-level simulation and test generation 査読 Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Yuzo Takamatsu 20TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON VLSI DESIGN, PROCEEDINGS 781 - + 2007年
Test generation for transistor shorts using stuck-at fault simulator and test generator 査読 Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu PROCEEDINGS OF THE 16TH ASIAN TEST SYMPOSIUM 271 - 274 2007年
Test generation and diagnostic test generation for open faults with considering adjacent lines 査読 Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Toru Kikkawa, Takashi Aikyo, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume DFT 2007: 22ND IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT-TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS 0 ( 0 ) 243 - 251 2007年
Clues for modeling and diagnosing open faults with considering adjacent lines 査読 Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Shuhei Kadoyama, Takashi Aikyo, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume PROCEEDINGS OF THE 16TH ASIAN TEST SYMPOSIUM 0 ( 0 ) 39 - + 2007年
組合せ回路および順序回路に対する検出・非検出情報に基づく診断用テスト圧縮法 査読 樋上 喜信, ケーワルK.サルージャ, 高橋 寛, 小林 真也, 高松 雄三 情報処理学会論文誌 47 ( 6 ) 1629 - 1638 2006年6月
Compaction of pass/fail-based diagnostic test vectors for combinational and sequential circuits. 査読 Yoshinobu Higami,Kewal, K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu Proceedings of the 2006 Conference on Asia South Pacific Design Automation: ASP-DAC 2006, Yokohama, Japan, January 24-27, 2006 47 ( 6 ) 659 - 664 2006年6月
検出/非検出情報に基づくオープン故障の一診断法 査読 佐藤 雄一, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会論文誌. D, 情報・システム = The IEICE transactions on information and systems (Japanese edition) 89 ( 4 ) 778 - 787 2006年4月
Diagnosis of transistor shorts in logic test environment 査読 Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Sin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu PROCEEDINGS OF THE 15TH ASIAN TEST SYMPOSIUM 354 - + 2006年
Compaction of pass/fail-based diagnostic test vectors for combinational and sequential circuits* 査読 Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu ASP-DAC 2006: 11TH ASIA AND SOUTH PACIFIC DESIGN AUTOMATION CONFERENCE, PROCEEDINGS 659 - 664 2006年
Effective post-BIST fault diagnosis for multiple faults 査読 Hiroshi Takahashi, Shuhei Kadoyama, Yoshinobu Higami, Yuzo Takamatsu, Koji Yatnazaki, Takashi Aikyo, Yasuo Sato 21ST IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT-TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS 401 - + 2006年
BIST環境における不確かなテスト集合による単一縮退故障の一診断法 (LSIのテスト・診断技術論文小特集) 査読 高橋 寛, 山本 幸大, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会論文誌 D-1 情報・システム 88 ( 6 ) 1029 - 1038 2005年6月
A method for reducing the target fault list of crosstalk faults in synchronous sequential circuits 査読 H Takahashi, KJ Keller, KT Le, KK Saluja, Y Takamatsu IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS 24 ( 2 ) 252 - 263 2005年2月
On the fault diagnosis in the presence of unknown fault models using pass/fail information 査読 Yuzo Takamatsu, Tetsuya Seiyama, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Koji Yamazaki Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems 2987 - 2990 2005年
On the fault diagnosis in the presence of unknown fault models using pass/fail information 査読 Y Takamatsu, T Seiyama, H Takahashi, Y Higami, K Yamazaki 2005 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS (ISCAS), VOLS 1-6, CONFERENCE PROCEEDINGS 2987 - 2990 2005年
BIST環境における不確かなテスト集合による単一縮退故障の一診断法 査読 電子情報通信学会電子情報通信学会論文誌 J88-D-I ( 6 ) 1029 - 1038 2005年
Enhancing BIST based single/multiple stuck-at fault diagnosis by ambiguous test set 査読 H Takahashi, Y Yamamoto, Y Higami, Y Takamatsu 13TH ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 216 - 221 2004年
Failure analysis of open faults by using detecting/un-detecting information on tests 査読 Y Sato, H Takahashi, Y Higami, Y Takamatsu 13TH ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 222 - 227 2004年
An alternative test generation for path delay faults by using N-i-detection test sets 査読 H Takahashi, KK Saluja, Y Takamatsu IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E86D ( 12 ) 2650 - 2658 2003年12月
BIST based fault diagnosis using ambiguous test set 査読 H Takahashi, Y Tsugaoka, H Ayano, Y Takamatsu 18TH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS 89 - 96 2003年
Diagnosing crosstalk faults in sequential circuits using fault simulation H Takahashi, M Phadoongsidhi, Y Higami, KK Saluja, Y Takamatsu IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E85D ( 10 ) 1515 - 1525 2002年10月
On diagnosing multiple stuck-at faults using multiple and single fault simulation in combinational circuits 査読 H Takahashi, KO Boateng, KK Saluja, Y Takamatsu IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS 21 ( 3 ) 362 - 368 2002年3月
Reduction of target fault list for crosstalk-induced delay faults by using layout constraints 査読 KJ Keller, H Takahashi, KT Le, KK Saluja, Y Takamatsu PROCEEDINGS OF THE 11TH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS 02) 242 - 247 2002年
An alternative method of generating tests for path delay faults using N-i-Detection test sets 査読 H Takahashi, KK Saluja, Y Takamatsu 2002 PACIFIC RIM INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEPENDABLE COMPUTING, PROCEEDINGS 275 - 282 2002年
Incremental diagnosis of multiple open-interconnects 査読 JB Liu, A Veneris, H Takahashi INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 2002, PROCEEDINGS 1085 - 1092 2002年
Simulation-based diagnosis for crosstalk faults in sequential circuits 査読 H Takahashi, M Phadoongsidhi, Y Higami, KK Saluja, Y Takamatsu 10TH ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 63 - 68 2001年
Design Error Diagnosis Using Backward Path-tracing and Logic Simulation 査読 Proc. The International Technical Conference on Circuits/Systems, Computer and Communications 426 - 429 2001年
Efficient signature-based fault diagnosis using variable size windows 査読 T Clouqueur, O Ercevik, KK Saluja, H Takahashi VLSI DESIGN 2001: FOURTEENTH INTERNATIONAL CONFERENCE ON VLSI DESIGN 391 - 396 2001年
On reducing the target fault list of crosstalk-induced delay faults in synchronous sequential circuits 査読 KJ Keller, H Takahashi, KK Saluja, Y Takamatsu INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 2001, PROCEEDINGS 568 - 577 2001年
Design of C-Testable Modified-Booth Multipliers 査読 BOATENG Kwame Osei, TAKAHASHI Hiroshi, TAKAMATSU Yuzo IEICE transactions on information and systems 83 ( 10 ) 1868 - 1878 2000年10月
Design of C-testable modified-booth multipliers 査読 KO Boateng, H Takahashi, Y Takamatsu IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E83D ( 10 ) 1868 - 1878 2000年10月
General BIST-Amenable Method of Test Generation for Iterative Logic Arrays. 査読 Kwame Osei Boateng, Hiroshi Takahashi, Yuzo Takamatsu 18th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2000), 30 April - 4 May 2000, Montreal, Canada 171 - 178 2000年
Diagnosing Delay Faults in Combinational Circuits under the Ambiguous Delay Model 査読 BOATENG Kwame Osei, TAKAHASHI Hiroshi, TAKAMATSU Yuzo IEICE transactions on information and systems 82 ( 12 ) 1563 - 1571 1999年12月
Diagnosing delay faults in combinational circuits under the ambiguous delay model 査読 KO Boateng, H Takahashi, Y Takamatsu IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E82D ( 12 ) 1563 - 1571 1999年12月
A Method of Generating Tests with Linearity Property for Gate Delay Faults in Combinational Circuits 査読 TAKAHASHI Hiroshi, BOATENG Kwame Osei, TAKAMATSU Yuzo IEICE transactions on information and systems 82 ( 11 ) 1466 - 1473 1999年11月
A method of generating tests with linearity property for gate delay faults in combinational circuits 査読 H Takahashi, KO Boateng, Y Takamatsu IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E82D ( 11 ) 1466 - 1473 1999年11月
ゲート遅延故障シミュレーションを用いた単一ゲート遅延故障の一診断法 査読 高橋 寛, ボアテン クワメ オセイ, 高松 雄三 電子情報通信学会論文誌. D-1, 情報・システム 1-情報処理 82 ( 7 ) 925 - 931 1999年7月
A new method for diagnosing multiple stuck-at faults using multiple and single fault simulations 査読 H Takahashi, KO Boateng, Y Takamatsu 17TH IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 64 - 69 1999年
Multiple Fault Diagnosis in Logic Circuits using EB Tester and Multiple/Single Fault Simulators 査読 Proc. of ATS '99 341 - 346 1999年
A New Method for Diagnosing Mutiple Stuck-at Faults using Multiple and Single Fault Simulations(共著) 査読 Proc. of 17th IEEE VLSI Test Symposium 64 - 69 1999年
Multiple Gate Delay Fault Diagnosis Using Test-Pairs for Marginal Delays 査読 BOATENG Kwame Osei, TAKAHASHI Hiroshi, TAKAMATSU Yuzo IEICE transactions on information and systems 81 ( 7 ) 706 - 715 1998年7月
Multiple gate delay fault diagnosis using test-pairs for marginal delays 査読 KO Boateng, H Takahashi, Y Takamatsu IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E81D ( 7 ) 706 - 715 1998年7月
Electron beam tester aided fault diagnosis for logic circuits based on sensitized paths 査読 N Yanagida, H Takahashi, Y Takamatsu SEVENTH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS'98), PROCEEDINGS 237 - 241 1998年
Diagnosis of single gate delay faults in combinational circuits using delay fault simulation 査読 H Takahashi, KO Boateng, S Takamatsu SEVENTH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS'98), PROCEEDINGS 108 - 112 1998年
Tests for small gate delay faults in combinational circuits and a test generation method 査読 Hiroshi Takahashi, Takashi Watanabe, Toshiyuki Matsunaga, Yuzo Takamatsu Systems and Computers in Japan 28 ( 6 ) 68 - 76 1997年6月
A method of multiple fault diagnosis in sequential circuits by sensitizing sequence pairs 査読 N Yanagida, H Takahashi, Y Takamatsu IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E80D ( 1 ) 28 - 37 1997年1月
Design of c-testable multipliers based on the modified booth algorithm 査読 KO Boateng, H Takahashi, Y Takamatsu SIXTH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS'97), PROCEEDINGS 42 - 47 1997年
A method of generating tests for marginal delays and delay faults in combinational circuits 査読 H Takahashi, T Matsunaga, KO Boateng, Y Takamatsu SIXTH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS'97), PROCEEDINGS 320 - 325 1997年
信号伝搬時間を利用した組合せ回路の多重縮退故障に対する一診断法 高橋 寛, 柳田 宣広, 高松 雄三 電子情報通信学会論文誌. D-1, 情報・システム 1-コンピュータ 79 ( 12 ) 1131 - 1140 1996年12月
組合せ回路の微小なゲート遅延故障に対するテストとその生成法 査読 高橋 寛, 渡部 崇史, 松永 敏幸, 高松 雄三 電子情報通信学会論文誌. D-1, 情報・システム 1-コンピュータ 79 ( 6 ) 361 - 370 1996年6月
Multiple fault diagnosis in sequential circuits using sensitizing sequence pairs 査読 N Yanagida, H Takahashi, Y Takamatsu PROCEEDINGS OF THE TWENTY-SIXTH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON FAULT-TOLERANT COMPUTING 86 - 95 1996年
A STUDY FOR TESTABILITY OF REDUNDANT FAULTS IN COMBINATIONAL-CIRCUITS USING DELAY EFFECTS 査読 XQ YU, H TAKAHASHI, Y TAKAMATSU IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E78D ( 7 ) 822 - 829 1995年7月
MULTIPLE-FAULT DIAGNOSIS IN COMBINATIONAL-CIRCUITS USING SENSITIZING INPUT-PAIRS 査読 N YANAGIDA, H TAKAHASHI, Y TAKAMATSU SYSTEMS AND COMPUTERS IN JAPAN 26 ( 3 ) 17 - 29 1995年3月
Generation of tenacious tests for small gate delay faults in combinational circuits. 査読 Hiroshi Takahashi, Takashi Watanabe, Yuzo Takamatsu 4th Asian Test Symposium (ATS '95), November 23-24, 1995. Bangalore, India 332 - 338 1995年
Multiple Fault Diagnosis by Sensitizing Input Pairs. 査読 Nobuhiro Yanagida, Hiroshi Takahashi, Yuzo Takamatsu IEEE Design & Test of Computers 12 ( 3 ) 44 - 52 1995年
Enhancing Multiple Fault Diagnosis in Combinational Circuits Based on Sensitized Paths and EB Testing 査読 TAKAHASHI H. Proc. IEEE ATS'95 58 - 64 1995年
分割した構造記述関数による組合せ回路の経路解析 査読 于 湘秋, 柳田 宣広, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-コンピュータ = The transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers 77 ( 10 ) 741 - 744 1994年10月
活性化入力対を用いた組合せ回路の多重縮退故障の診断に関する一考察 柳田 宣広, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-コンピュータ = The transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers 77 ( 4 ) 318 - 327 1994年4月
A Study for Multiple Fault Diagnosis in Combinational Circuits Using Sensitizing Input-Pairs The Transactios of The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers D-I J77-D-1 ( 4 ) 318 - 327 1994年
Efficiency improvements for multiple fault diagnosis of combinational circuits Nobuhiro Yanagida, Hiroshi Takahashi, Yuzo Takamatsu Proceedings of the Asian Test Symposium 82 - 87 1994年
Test generation for redundant faults in combinational circuits by using delay effects Xiangqiu Yu, Hiroshi Takahashi, Yuzo Takamatsu Proceedings of the Asian Test Symposium 107 - 112 1994年
Multiple stuck-fault diagnosis in combinational circuits based on restricted single sensitized paths TAKAHASHI T. Proc. of IEEE ATS '93 93 ( 182 ) 185 - 190 1993年
順序回路の前方テスト生成に対する一手法 高松 雄三, 小川 泰次郎, 高橋 寛 電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-コンピュータ = The transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers 75 ( 9 ) 864 - 873 1992年9月
A METHOD OF GENERATING TESTS FOR COMBINATIONAL-CIRCUITS WITH MULTIPLE FAULTS H TAKAHASHI, N IUCHI, Y TAKAMAISU IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E75D ( 4 ) 569 - 576 1992年7月
Test generation for-combinational circuits with multiple faults Hiroshi Takahashi, Nobukage Iuchi, Yuzo Takamatsu Proceedings - Pacific Rim International Symposium on Fault Tolerant Systems, RFTS 1991 212 - 217 1991年 - MISC
- 愛媛大学大学院理工学研究科計算機・ソフトウェアシステム研究室 王 森岭, 甲斐 博, 高橋 寛 エレクトロニクス実装学会誌 27 ( 1 ) 169 - 169 2024年1月
深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法 塩谷晃平, 西川竜矢, WEI Shaoqi, WANG Senling, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 123 ( 389(DC2023 94-103) ) 2024年
マルチサイクルの機能動作による故障診断能力の向上について 神崎壽伯, WANG S., 甲斐博, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022 2022年
SAS-Lを用いたJTAG認証システムのアクセスポートロック機能回路の設計と実装 MA J., 岡本悠, WANG S., 甲斐博, 亀山修一, 高橋寛, 清水明宏 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022 2022年
ローエンドエッジデバイスにおけるSAS認証方式の処理時間の評価 荻田高史郎, 清水健吾, 中西佳菜子, 甲斐博, WANG S., 高橋寛, 清水明宏 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022 2022年
RS符号の消失訂正を用いたAesthetic QRコードの生成法 田原直哉, 甲斐博, WANG S., 高橋寛, 森井昌克 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022 2022年
JTAG認証機構の軽量化設計について 馬竣, 岡本悠, 王森レイ, 甲斐博, 亀山修一, 高橋寛, 清水明宏 エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM) 36th 25A3-3 2022年
正課としての課題解決型教育(分野融合型)実施における評価方法の改善と指導方法の明確化—Improvement of Evaluation Method of Problem-based Learning Type Education (Interdisciplinary Fusion Type) as a Regular Curriculum and Clarification of Educational Method 勝田 順一, 中原 真也, 高橋 寛 大学教育実践ジャーナル = Journal of faculty and staff development in higher education ( 21 ) 51 - 58 2022年
エッジデバイスにおけるSAS認証回路の設計と実装 岡本悠, WANG S., 甲斐博, 高橋寛, 清水明宏 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022 2022年
グラフ構造強化学習を用いたテスト検査点選定法 塩谷晃平, WEI S.Q., WANG S., 甲斐博, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022 2022年
マルチサイクルテストによるテストパターン削減 中野潤平, WANG S., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022 2022年
マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法 中岡典弘, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋潤 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 120 ( 358(DC2020 69-79) ) 36 - 41 2021年
Aesthetic QRコードを生成するソフトウェアの実装に関する研究 福田諒也, WANG S., 甲斐博, 高橋寛, 森井昌克 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
マルチサイクルの機能動作による故障診断用パターン生成 神崎壽伯, WANG S., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
マルチサイクルテストの導入による組込自己診断の故障診断能力評価 WANG Y., Wang S., 樋上喜信, 甲斐博, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
グラフ畳み込みニューラルネットワークを用いたテストポイント選定について WEI S.Q., WANG S.L., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
WebGLによるネットワークトラフィック可視化方法の検討 松浦拓海, WANG S., 甲斐博, 高橋寛, 森井昌克 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
機械学習による踏切遮断かん折損検知に関する考察 志田洋, 志田洋, 白石倫之, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 121 ( 293(DC2021 55-63) ) 2021年
機械学習を用いたマルウェアの機能推定に関する研究 中島拓哉, 児玉光平, WANG S., 甲斐博, 高橋寛, 森井昌克 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断 山内崇矢, 稲元勉, WANG S., 樋上喜信, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装 周 細紅, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会講演集 34 4C1-02 2020年3月
ハイブリッドテストポイント挿入法のマルチサイクルテストへの適用とその性能評価 中岡典弘, 青野智己, 王 森レイ, 高橋 寛, 松嶋 潤, 岩田浩幸, 前田洋一 2020年電子情報通信学会総合大会 2020年3月
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法 青野智己, 中岡典弘, 周 細紅, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋 潤 電子情報通信学会技術研究報告 119 ( 420 ) 19 - 24 2020年2月
電子メールによる情報提供システムへのアクセス方法の検討 浅沼和希, 岡田奈々, 松浦拓海, 福田諒也, 児玉光平, 甲斐博, WANG S., 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2020 2020年
マルチサイクルテストのテスト容易化のための制御ポイント選定法 環輝, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2020 2020年
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析—Analysis of Fault Detection Degradation Issue in Multi-cycle Test Scheme using Probabilistic Evaluation Method—VLSI設計技術 ; デザインガイア2019 : VLSI設計の新しい大地 中岡 典弘, 青野 智己, 工藤 壮司, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛, 岩田 浩幸, 前田 洋一, 松嶋 潤 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 119 ( 282 ) 145 - 150 2019年11月
Raspberry Piを用いた画像処理とCNNによる微小害虫の計数システムの構築 阿部 寛人, 畝山 勇一朗, 中岡 典弘, 渡辺 友希, 福本 真也, 森田 航平, 中本 裕大, 周 細紅, 河野 靖, 木下 浩二, 一色 正晴, 二宮 崇, 田村 晃裕, 甲斐 博, 高橋 寛, 王 森レイ 令和元年度電気関係学会四国支部連合大会論文集（CD-ROM) 2019 2019年9月
enPiT-Pro Embにおける社会人教育実践とその評価 名倉正剛, 高田広章, 山本雅基, 塩見彰睦, 野口靖浩, 岡村寛之, 高橋寛, 一色正晴, WANG Senling, 甲斐博, 木下浩二, 田村晃裕, 二宮崇, 沢田篤史 教育システム情報学会全国大会講演論文集(CD-ROM) 44th 2019年
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会技術報告 119 145 - 150 2019年
機械学習を応用した軌道回路の状態基準保全に関する研究 志田洋, 田村晃裕, 二宮崇, 高橋寛 日本機械学会 第25回鉄道技術連合シンポジウム 25th 2307 2018年12月
バウンダリスキャン技術におけるテスト容易化設計とその最新状況 亀山 修一, 高橋 寛 エレクトロニクス実装学会誌 21 ( 5 ) 405 - 410 2018年8月
ニューラルネットワークによる軌道回路の状態基準保全に関する考察 志田 洋, 田村 晃裕, 二宮 崇, 高橋 寛 日本信頼性学会第26回春季信頼性シンポジウム 2018年6月
偽造ICチップの脅威と対策 -バウンダリスキャンによる真贋判定とトレーサビリティ- 亀山 修一, 高橋 寛 エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集 32 18 - 20 2018年
軌道回路の状態基準保全に向けた検討（その3）－設備故障の再現試験とマハラノビス距離による設備の劣化把握－ 志田 洋, 二宮 崇, 高橋 寛 日本信頼性学会第30回秋季信頼性シンポジウム 2017年11月
フィールドテストにおけるテスト集合分割法 青萩正俊, 増成紳介, WANG S, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017 ROMBUNNO.10‐6 2017年9月
画像処理と深層学習による微小害虫の検出 中浦大貴, 渡邊大貴, 増成紳介, 矢野良典, 河野靖, 木下浩二, 二宮崇, 田村晃裕, 高橋寛, WANG S, 樋上喜信, 藤田欣裕, 二宮宏 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017 ROMBUNNO.17‐3 2017年9月
パス順位比較を用いる半断線故障の検査可能性評価 片山知拓, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017 ROMBUNNO.10‐3 2017年9月
組込み自己診断向けのテストパターン生成法 松田優大, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017 ROMBUNNO.10‐7 2017年9月
再構成可能デバイスMRLDのための接続欠陥テスト 小川達也, WANG S, 高橋寛, 佐藤正幸 情報科学技術フォーラム講演論文集 16th 237‐238 2017年9月
深層学習による柑橘類果実の個数推定 野口 敬輔, 小川 達也, 安保 良佑, 高原 圭太, 河野 靖, 木下 浩二, 二宮 崇, 田村 晃裕, 高橋 寛, 王 森レイ, 樋上 善信, 藤田 欣裕, 二宮 宏 平成29年度 電気関係学会四国支部連合大会 講演論文集 177 - 177 2017年9月
軌道回路の状態基準保全に向けた検討(その2)―機械学習による設備状態のトレンド分析― 志田洋, 志田洋, 武市徹, 大串裕郁, 二宮崇, 高橋寛 日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 25th 45‐46 2017年5月
論理回路の組込み自己診断に関する提案 香川敬祐, 矢野郁也, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛, 大竹哲史 電子情報通信学会技術研究報告 116 ( 466(DC2016 74-83) ) 11‐16 - 16 2017年2月
軌道回路の状態基準保全に向けた検討(その1)―状態監視データから見た軌道回路の特徴― 志田洋, 比澤庸平, 大串裕郁, 高橋寛 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 29th 93‐96 2016年11月
隣接線の信号遷移を用いる半断線故障判別法の断線位置に対する有効性調査 伊勢幸太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.10‐1 2016年9月
組込み自己診断におけるハードウェア制約の改善法 矢野郁也, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.10‐9 2016年9月
マルチサイクルテストにおけるFFの接続情報を用いた中間観測FFの選択法 高原圭太, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.10‐7 2016年9月
マルチサイクルテストにおけるクロック信号線のd‐故障に対するテストパターン生成について 和田祐介, 樋上喜信, WANG S, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.10‐6 2016年9月
アナログバウンダリスキャンを適用した三次元積層後のTSV抵抗精密計測法の計測精度評価 香川敬祐, WANG S, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.10‐5 2016年9月
中間観測FF選択法の大規模ベンチマーク回路に対する評価 濱田宗, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 松嶋潤 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.10‐8 2016年9月
踏切保安装置の安全性再評価に関する考察 志田洋, 大串裕郁, 高橋寛 日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 24th 65‐66 2016年5月
設備故障が旅客に与える経済的損失を評価尺度とした鉄道信号設備のライフサイクルコストの低減に関する考察 志田 洋, 大串 裕郁, 樋上 喜信, 阿萬 裕久, 高橋 寛 電子情報通信学会論文誌D 情報・システム J99-D ( 5 ) 539 - 548 2016年5月
マルチサイクルテストのためのFFの構造的評価 門田一樹, 濱田宗, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 松嶋潤 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ( 1 ) ROMBUNNO.D‐10‐2 - 151 2016年3月
三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について WANG Senling, 香川敬祐, 亀山修一, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 115 ( 449(DC2015 86-96) ) 49‐54 - 54 2016年2月
論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減 藤谷和依, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 115 ( 449(DC2015 86-96) ) 13‐18 - 18 2016年2月
踏切設備故障による経済的損失コストの評価手法に関する一考察 志田洋, 大串裕郁, 高橋寛 信頼性・保全性シンポジウム(CD-ROM) 46th ROMBUNNO.Session11‐1 2016年
アナログバウンダリスキャンを用いた三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法の実装について WANG Senling, 香川敬祐, 亀山修一, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 115 ( 338(VLD2015 38-76) ) 177‐182 - 6 2015年11月
隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について 伊勢幸太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 115 ( 338(VLD2015 38-76) ) 31‐36 - 36 2015年11月
論理BISTにおける故障検出率の向上を考慮したシフトピーク電力制御法 WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-21 2015年9月
タイミングシミュレーション情報に基づく故障診断法 門田一樹, 矢野郁也, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-8 2015年9月
アナログバウンダリスキャンによる三次元積層後のTSV抵抗精密計測法の実装と評価 香川敬祐, WANG S, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-16 2015年9月
組込み自己診断における遷移故障診断能力の改善法 宮本夏規, 村上陽紀, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-12 2015年9月
隣接線の信号遷移を用いる多変量解析による半断線故障の検出可能性について 伊勢幸太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-7 2015年9月
組込み自己診断におけるシード候補の生成法 村上陽紀, 宮本夏規, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-15 2015年9月
IR-dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法 (ディペンダブルコンピューティング) 王 森レイ, 井上 大画, アル・アワディー ハナン ティ, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114 ( 446 ) 55 - 60 2015年2月
A Simulated Annealing based Pattern Selection Method to HandlePower Supply Noise for Resistive Open Fault Diagnosis 査読 樋上 喜信, 高橋 寛 Proc. ITC-CSCC2015 - 592 - 595 2015年
0‐1整数計画問題を利用した診断用テスト生成システムの開発 村上陽紀, 宮本夏規, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.10-11 2014年9月
オンチップセンサを利用した抵抗性オープン故障診断 竹田和生, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.10-9 2014年9月
遺伝的アルゴリズムを利用した診断用テスト生成 門田一樹, 今村亮太, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.10-10 2014年9月
消費電力制約下での焼きなまし法を利用したテストパターン変更法 井上大画, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.10-8 2014年9月
Validation of XML document content using ontology Shinji Norimatsu, Shinji Norimatsu, Kenji Murakami, Hiroshi Takahashi International Conference on Artificial Intelligence and Pattern Recognition, AIPR 2014, Held at the 3rd World Congress on Computing and Information Technology, WCIT 152 - 158 2014年1月
３次元VLSIの故障検査法に関するサーベイ 高橋 寛 エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集 28 231 - 234 2014年
Accurate Resistance Measuring Method for High Density Post-Bond TSVs in 3D-SIC with Electrical Probes Shuichi Kameyama, Masayuki Baba, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi 2014 INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRONICS PACKAGING (ICEP) 117 - 121 2014年
多重抵抗性オープン故障診断における順位付けの効果 田中陽, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.10-10 2013年9月
SAT手法による隣接線影響を考慮した微小遅延故障検査用テストパターン生成に関する一考察 山下淳, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.10-12 2013年9月
クロック信号線の遅延故障に対する故障診断用テスト生成 江口拓弥, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.10-5 2013年9月
抵抗性オープン故障診断のための後方追跡 竹田和生, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.10-9 2013年9月
抵抗性オープン故障に対する診断用テスト生成 松川翔平, 高橋寛, 樋上喜信, 四柳浩之, 橋爪正樹 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.10-11 2013年9月
欠陥検出評価関数に基づくテストパターンの選択 稲田暢, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.10-6 2013年9月
IRドロップを考慮した抵抗性オープン故障に対するテストパターン生成 大田淳司, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.10-8 2013年9月
IRドロップを考慮した遷移故障に対するテストパターン生成 井上大画, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 ROMBUNNO.10-7 2013年9月
隣接信号線の影響を考慮したテストパターン選択法 岡崎孝昭, 大田淳司, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012 ROMBUNNO.10-9 2012年9月
クロック信号線の遅延故障に対する故障診断 江口拓弥, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012 ROMBUNNO.17-8 2012年9月
ファンアウトブランチに着目した欠陥検出テスト生成 河野博志, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012 ROMBUNNO.10-7 2012年9月
招待講演 シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み (ディペンダブルコンピューティング) 高橋 寛, 樋上 喜信, 堤 利幸 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報 112 ( 102 ) 21 - 26 2012年6月
シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み 高橋 寛, 樋上 喜信, 堤 利幸, 山崎 浩二, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 112 ( 102 ) 21 - 26 2012年6月
通信・放送融合における著著作権問題 : 裁判例と各国の比較から導く日本著作権法のあり方 竹村 茉莉, 平松 幸男, 高橋 寛 電子情報通信学会技術研究報告. IA, インターネットアーキテクチャ 111 ( 485 ) 101 - 106 2012年3月
バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 : 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察 亀山 修一, 馬場 雅之, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 111 ( 435 ) 31 - 35 2012年2月
バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 : 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察(テスト生成・レスト容易化設計,VLSI設計とテスト及び一般) 亀山 修一, 馬場 雅之, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 111 ( 435 ) 31 - 35 2012年2月
論理回路の故障診断法 高松 雄三, 佐藤 康夫, 高橋 寛, 樋上 喜信, 山崎 浩二 情報・システムソサイエティ誌 17 ( 3 ) 13 - 13 2012年
Generation of diagnostic tests for tranition faults using a stuck-at ATPG tool Yoshinobu Higami, Satosgi Ohno, Hironori Yamaoka, Hiroshi Takahashi, Yoshihiro Shimizu, Takashi Aikyo IEICE Transactions on Information and Systems E95-D ( 4 ) 1093 - 1100 2012年
活性化経路評価関数を利用したテストパターン選択の性能改善 酒井孝郎, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011 ROMBUNNO.10-3 2011年9月
ファンアウト数に着目した欠陥検出テスト生成 河野博志, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011 ROMBUNNO.10-6 2011年9月
欠陥検出テスト生成法の改善法 藤原大也, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011 ROMBUNNO.10-4 2011年9月
抵抗性オープン故障テスト生成法の性能評価 澤田晋佑, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011 ROMBUNNO.10-5 2011年9月
遠隔地監視システムにおける自己診断法 高山誠司, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也, 二宮宏 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011 ROMBUNNO.10-7 2011年9月
超高信頼性チップ製造のためのシグナルインティグリティ不良のモデル化およびその故障検査法 高橋寛, 樋上喜信, 大西洋一 愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書 ( 4 ) 22 - 25 2011年3月
D-10-8 活性化経路評価関数に基づくパターン選択(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 高橋 寛, 樋上 喜信, 酒井 孝郎 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2011 ( 1 ) 122 - 122 2011年2月
欠陥検出テストのためのテストパターン選択 古谷 博司, 酒井 孝郎, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 110 ( 413 ) 45 - 50 2011年2月
故障励起関数を利用したオープン故障の診断法 山崎 浩二, 堤 利幸, 高橋 寛, 樋上 喜信, 相京 隆, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 高松 雄三 電子情報通信学会論文誌. D, 情報・システム = The IEICE transactions on information and systems (Japanese edition) 93 ( 11 ) 2416 - 2425 2010年11月
IC内隣接配線における半断線故障時の信号遅延解析 岡田理, 四柳浩之, 橋爪正樹, 堤利幸, 山崎浩二, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-9 2010年9月
ハザードの影響をマスクした微小遅延故障診断法 高橋寛, 樋上喜信, 森本恭平, 池田雅史 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-5 2010年9月
状態遷移図の簡単化を用いた組込みシステムに対するテスト系列生成法 松本拓, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-8 2010年9月
伝播経路評価関数を利用したテストパターン選択法 高橋寛, 樋上喜信, 酒井孝郎 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-1 2010年9月
LOCテストに対応した抵抗性オープン故障テスト生成 高橋寛, 樋上喜信, 高棟佑司, 岡崎孝昭 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-3 2010年9月
ハザードの影響を考慮した信号遷移シミュレーション 高橋寛, 樋上喜信, 森本恭平, 池田雅史 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-4 2010年9月
LOCテストに対応したブリッジ故障シミュレータの高精度化 高橋寛, 樋上喜信, 大野智志, 山岡弘典 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-15 2010年9月
クロストーク故障に対するテストパターン生成 遠藤剛史, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-6 2010年9月
欠陥検出確率を利用した2パターンテスト生成法 高橋寛, 樋上喜信, 古谷博司 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-2 2010年9月
遷移故障における等価故障判定 山本隆也, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010 ROMBUNNO.10-7 2010年9月
遅延故障診断に関する研究 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三, 相京隆 愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書 ( 3 ) 18 - 20 2010年3月
TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討 堤 利幸, 刈谷 泰由紀, 山崎 浩二, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 109 ( 416 ) 75 - 80 2010年2月
抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について 高橋 寛, 樋上 喜信, 首藤 祐太, 高棟 佑司, 高松 雄三, 堤 利幸, 山崎 浩二, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 109 ( 416 ) 19 - 24 2010年2月
An Algorithm for Diagnosing Transistor Shorts Using Gate-level Simulation (IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology Vol.2) HIGAMI YOSHINOBU, SALUJA Kewal K., TAKAHASHI HIROSHI 情報処理学会論文誌 論文誌トランザクション 2009 ( 1 ) 250 - 262 2009年11月
クロストークを考慮した抵抗性ブリッジ故障シミュレーション 高橋寛, 樋上喜信, 北橋省吾 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009 ROMBUNNO.10-4 2009年9月
SATソルバーを利用したオープン故障に対するテストの評価 高橋寛, 樋上喜信, 松村佳典 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009 ROMBUNNO.10-2 2009年9月
テストサイクル決定に関する一考察 高橋寛, 樋上喜信, 田中太郎 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009 ROMBUNNO.10-7 2009年9月
抵抗性オープン故障に対するテストについて 高橋寛, 樋上喜信, 高棟佑司 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009 ROMBUNNO.10-3 2009年9月
欠陥考慮2パターンテストについて 高橋寛, 樋上喜信, 古谷博司 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009 ROMBUNNO.10-1 2009年9月
LOCテストに対応した抵抗性オープン故障シミュレータ 高橋寛, 樋上喜信, 首藤祐太 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009 ROMBUNNO.10-5 2009年9月
LOCテストに対応したブリッジ故障シミュレータ 高橋寛, 樋上喜信, 大野智志, 山岡弘典 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009 ROMBUNNO.10-6 2009年9月
微小遅延故障診断におけるゲート遅延変動の影響 高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 森本恭平 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009 ROMBUNNO.10-8 2009年9月
検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法 相京 隆, 高橋 寛, 樋上 喜信, 大津 潤一, 小野 恭平, 清水 隆治, 高松 雄三 電子情報通信学会論文誌. D, 情報・システム = The IEICE transactions on information and systems (Japanese edition) 92 ( 7 ) 984 - 993 2009年7月
縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法 樋上 喜信, 黒瀬 洋介, 大野 智志, 山岡 弘典, 高橋 寛, 清水 良浩, 相京 隆, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 109 ( 95 ) 19 - 24 2009年6月
D-10-19 遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 高橋 寛, 樋上 喜信, 岡山 浩士, 相京 隆, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2009 ( 1 ) 162 - 162 2009年3月
テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化設計のための新故障モデルとそのテスト・故障診断に関する研究 高松雄三, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二, 堤利幸, 橋爪正樹, 四柳浩之, 宮本俊介 愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書 ( 2 ) 19 - 23 2009年3月
組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法 高橋 寛, 樋上 喜信, 和泉 太佑, 相京 隆, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 108 ( 431 ) 31 - 36 2009年2月
隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて 渡部 哲也, 高橋 寛, 樋上 喜信, 堤 利幸, 山崎 浩二, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 108 ( 431 ) 37 - 42 2009年2月
TEGチップを用いたオープン故障の解析 堤 利幸, 刈谷 泰由紀, 山崎 浩二, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 108 ( 299 ) 19 - 24 2008年11月
TEGチップを用いたオープン故障の解析 堤 利幸, 刈谷 泰由紀, 山崎 浩二, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術] 137 ( 111 ) 19 - 24 2008年11月
TEGチップを用いたオープン故障の解析 堤 利幸, 刈谷 泰由紀, 山崎 浩二, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 108 ( 298 ) 19 - 24 2008年11月
欠陥検出向けテストパターンの一選択法 高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.10-11 2008年9月
抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 高橋寛, 樋上喜信, 渡部哲也, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.10-8 2008年9月
原因‐結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケース生成法 藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.15-36 2008年9月
複数故障モデルに対する統計的な故障診断法 高橋寛, 樋上喜信, 首藤祐太, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.10-13 2008年9月
縮退故障ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法 相京隆, 樋上喜信, 高橋寛, 黒瀬洋介, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.10-12 2008年9月
遅延故障シミュレーションを利用した欠陥診断法 高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 小野恭平, 相京隆, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.10-10 2008年9月
SATソルバーを利用した診断用テスト生成法 高橋寛, 樋上喜信, 松村佳典, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.10-14 2008年9月
抵抗性ブリッジ故障シミュレーションについて 高橋寛, 樋上喜信, 北橋省吾, 相京隆, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 ROMBUNNO.10-9 2008年9月
オープン故障診断の性能向上について (ディペンダブルコンピューティング) 山崎 浩二, 堤 利幸, 高橋 寛, 樋上 喜信, 相京 隆, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告 108 ( 99 ) 29 - 34 2008年6月
D-10-3 スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 樋上 喜信, 高橋 寛, 廣瀬 雅人, 小林 真也, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008 ( 1 ) 162 - 162 2008年3月
D-10-1 ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 高橋 寛, 樋上 喜信, 阿萬 裕久, 釜山 天平, 小林 真也, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008 ( 1 ) 160 - 160 2008年3月
D-10-2 動的なオープン故障に対するテストパターン生成法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 高橋 寛, 樋上 喜信, 渡部 哲也, 相京 隆, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008 ( 1 ) 161 - 161 2008年3月
遷移故障に対する診断用テスト生成法 相京 隆, 樋上 喜信, 高橋 寛, 吉川 達, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 107 ( 482 ) 13 - 18 2008年2月
隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法 高橋 寛, 樋上 喜信, 相京 隆, 門山 周平, 渡部 哲也, 高松 雄三, 堤 利幸, 山崎 浩二, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 107 ( 482 ) 7 - 12 2008年2月
故障励起条件を考慮した欠陥検出テストパターン 高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007 ROMBUNNO.10-6 2007年9月
遅延故障に対する診断用テスト生成法 相京隆, 吉川達, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007 ROMBUNNO.10-7 2007年9月
微小遅延故障に対する故障診断 相京隆, 高橋寛, 樋上喜信, 大津潤一, 小野恭平, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007 ROMBUNNO.10-8 2007年9月
D-10-2 縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演) 高橋 寛, 樋上 喜信, 吉川 達, 清水 祐紀, 相京 隆, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2007 ( 1 ) 129 - 129 2007年3月
D-10-1 ハードウェア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演) 阿萬 裕久, 池田 裕輔, 市川 直樹, 樋上 喜信, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2007 ( 1 ) 128 - 128 2007年3月
ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法 樋上 喜信, Saluja Kewal K., 高橋 寛, 小林 真也, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 106 ( 528 ) 31 - 36 2007年2月
ハードウエア設計に対するソフトウエアメトリクスの適用 阿萬 裕久, 樋上 喜信, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会論文集 2007年
BIST環境に適応した故障診断法に関する研究―ブリッジおよびオープン故障に対する故障診断への拡張―大規模回路への適用可能性の調査― 高松雄三, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二, 宮本俊介 愛媛大学産業科学技術支援センター研究成果報告書 ( 10 ) 30 - 32 2006年11月
オープン故障に対する診断用テスト生成について 八木啓仁, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006 ROMBUNNO.10-5 2006年9月
縮退故障テストに基づくオープン故障のテスト生成 吉川達, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006 ROMBUNNO.10-6 2006年9月
隣接信号線の信号変化を考慮したオープン故障 門山周平, 大津潤一, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006 ROMBUNNO.10-7 2006年9月
BIST環境における単一縮退故障診断法の評価実験 大津潤一, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006 ROMBUNNO.10-8 2006年9月
隣接信号線を考慮したオープン故障の一モデルとその故障診断 門山 周平, 武智 清, 高橋 寛, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 105 ( 607 ) 25 - 30 2006年2月
組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法 樋上 喜信, Saluja Kewal K., 高橋 寛, 小林 真也, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告 105 ( 267 ) 25 - 30 2005年9月
組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法 樋上 喜信, Saluja Kewal K., 高橋 寛, 小林 真也, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告 105 ( 265 ) 25 - 30 2005年9月
BIST環境を考慮した故障診断システムについて 高橋寛, 門山周平, 樋上喜信, 高松雄三, 山崎浩二 情報処理学会シンポジウム論文集 2005 ( 9 ) 55 - 60 2005年8月
検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法 山崎 亜佳根, 精山 哲也, 高橋 寛, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 104 ( 664 ) 87 - 92 2005年2月
不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法 栗山 和樹, 西山 隆広, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 104 ( 664 ) 45 - 49 2005年2月
不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法 武智 清, 佐藤 雄一, 高橋 寛, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 104 ( 664 ) 51 - 56 2005年2月
検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用 山崎 浩二, 樋上 喜信, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 104 ( 664 ) 81 - 86 2005年2月
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断 西山 隆広, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 104 ( 480 ) 55 - 60 2004年12月
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断 西山 隆広, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高橋 寛, 高松 雄三 情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術] 117 125 - 130 2004年12月
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断 山本 幸大, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 103 ( 482 ) 49 - 54 2004年12月
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断 西山 隆広, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 103 ( 482 ) 55 - 60 2004年12月
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断 山本 幸大, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 104 ( 478 ) 49 - 54 2004年12月
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断 西山 隆広, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 104 ( 478 ) 55 - 60 2004年12月
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断 山本 幸大, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術] 117 119 - 124 2004年12月
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断 山本 幸大, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 104 ( 480 ) 49 - 54 2004年12月
多重縮退故障診断における故障候補の削減法について 武智清, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2004 62 2004年9月
テストの検出/非検出情報に基づくブリッジ故障診断について 栗山和樹, 樋上喜信, 山崎浩二, 高橋寛, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2004 63 2004年9月
テストの検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法 佐藤 雄一, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 103 ( 668 ) 1 - 6 2004年2月
不確かな診断テスト集合による単一/多重縮退故障の診断法 山本 幸大, 綾野 秀和, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 103 ( 668 ) 7 - 12 2004年2月
An Alternative Test Generation for Path Delay Faults by Using N_i-Detection Test Sets(Test)(Dependable Computing) TAKAHASHI Hiroshi, SALUJA Kewal K., TAKAMATSU Yuzo IEICE transactions on information and systems 86 ( 12 ) 2650 - 2658 2003年12月
不確かなテスト集合をもつBISTの故障診断法 高橋 寛, 栂岡 靖典, 綾野 秀和, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 102 ( 658 ) 1 - 6 2003年2月
塑性加工における新生面の発生条件について 高橋 寛 山形大学紀要 工学 27 ( 2 ) 1 - 9 2003年2月
Diagnosing Crosstalk Faults in Sequential Circuits Using Fault Simulation TAKAHASHI Hiroshi, PHADOONGSIDHI Marong, HIGAMI Yoshinobu, SALUJA Kewal K., TAKAMATSU Yuzo IEICE transactions on information and systems 85 ( 10 ) 1515 - 1525 2002年10月
順序回路のクロストークによる遅延故障に対する目標故障の一判別法 高橋 寛, Keller Keith J., Saluja KewaI K., 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告 101 ( 658 ) 77 - 84 2002年2月
縮退故障のテスト集合に基づくパス遅延故障の一テスト生成法 水本 涼, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告 100 ( 250 ) 25 - 32 2000年8月
多結晶塑性論へのいざない 高橋 寛 塑性と加工 41 ( 473 ) 541 - 547 2000年6月
一機械屋の金属学への恋 高橋 寛 まてりあ : 日本金属学会会報 39 ( 4 ) 367 - 367 2000年4月
論理シミュレータを利用した単一設計誤りの一診断法 高橋 寛, 門口 大悟, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2000 ( 1 ) 164 - 164 2000年3月
組合せ回路のゲート遅延故障に対する一診断法 高橋 寛, Boateng Kwame Osei, 高松 雄三 愛媛大学工学部紀要 ( 19 ) 325 - 335 2000年2月
種々の階層における塑性理論の発展 2. 結晶塑性論とその応用 高橋 寛 材料 48 ( 6 ) 649 - 655 1999年6月
A Method of Test Generation for Iterative Logic Arrays (特集:VLSIプロセッサ及び新アーキテクチャLSI技術,一般) Boateng Kwame Osei, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 99 ( 4 ) 53 - 60 1999年4月
A Method of Test Generation for Iterative Logic Arrays (特集:VLSIプロセッサ及び新アーキテクチャLSI技術,一般) ボマテン クワメ オセイ, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. CPSY, コンピュータシステム 99 ( 6 ) 53 - 60 1999年4月
A Method of Test Generation for Iterative Logic Arrays (特集 VLSIプロセッサ及び新アーキテクスチャLSI技術、一般) Boateng Kwame Osei, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告 99 ( 8 ) 53 - 60 1999年4月
多結晶塑性論 高橋 寛 日本機械学会論文集. A編 = Transactions of the Japan Society of Mechanical Engineers. A 65 ( 630 ) 201 - 209 1999年2月
単一/多重故障シミュレーションに基づく組合せ回路の多重縮退故障に対する一診断法 高橋 寛, ボアテン クワメ オセイ, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 98 ( 585 ) 31 - 38 1999年2月
単一/多重故障シミュレーションに基づく組合せ回路の多重縮退故障に対する一診断法 高橋 寛, ボアテン クワメ オセイ, 高松 雄三 情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告 99 ( 12 ) 73 - 80 1999年2月
Design of C-Testable Modified-Booth Multipliers Under the Stuck-at Fault Model Boateng Kwame Osei, Takahashi Hiroshi, Takamatsu Yuzo 愛媛大学工学部紀要 ( 18 ) 425 - 435 1999年2月
多重/単一故障シミュレータを用いた多重故障診断実験 高橋寛, BOATENG K O, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1999 155 1999年
電子ビ-ムテスタを用いた順序回路の故障診断 柳田 宣広, 高橋 寛, 高松 雄三 愛媛大学工学部紀要 17 ( 17 ) 401 - 409 1998年2月
改良 Booth 法に基づく乗算回路のC-テスタブル設計について ボアテン クァメ・オセイ, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 96 ( 557 ) 1 - 8 1997年3月
改良 Booth 法に基づく乗算回路のC-テスタブル設計について ボアテン クァメ・オセイ, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 96 ( 555 ) 1 - 8 1997年3月
複数の外部入力を変化させる活性化入力対の生成法について 松永 隆徳, Boateng Kwarne Osei, 柳田 宣広, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 96 ( 519 ) 97 - 104 1997年2月
組合せ回路の活性化入力対とその故障診断への応用 松永 隆徳, 柳田 宣広, 高橋 寛 愛媛大学工学部紀要 16 ( 16 ) 501 - 512 1997年2月
B-11 Caroli病を基礎疾患とした小児食道胃静脈瘤に対する食道離断術(腹腔鏡(2)) 高橋 広, 堀内 淳, 池上 玲一, 土居 崇, 宮内 勝敏, 河内 寛治 日本小児外科学会雑誌 33 ( 3 ) 468 1997年
有限要素多結晶モデルによる数値材料試験と塑性加工解析 高橋 寛 塑性と加工 37 ( 431 ) 1244 - 1251 1996年12月
連続体塑性論から多結晶塑性論へ 高橋 寛 塑性と加工 37 ( 424 ) 443 - 443 1996年5月
有限要素多結晶モデルによる塑性変形解析およびそのシステム化 本橋 元, 高橋 寛, 土田 信 塑性と加工 37 ( 421 ) 201 - 206 1996年2月
電子ビ-ムテスタを用いた活性化入力対による組合せ回路の多重故障診断 柳田 宣広, 高橋 寛, 高松 雄三 愛媛大学工学部紀要 15 ( 15 ) 531 - 544 1996年2月
組合せ回路におけるクリティカル経路の検出 于 湘秋, 高橋 寛, 高松 雄三 愛媛大学工学部紀要 15 ( 15 ) 545 - 553 1996年2月
活性化入力系列を用いた順序回路の故障診断に関する一考察 柳田 宣広, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 95 ( 306 ) 17 - 24 1995年10月
活性化入力系列を用いた順序回路の故障診断に関する一考察 柳田 宣広, 高橋 寛, 高松 雄三 情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告 95 ( 99 ) 17 - 24 1995年10月
組合せ回路の微小なゲート遅延故障に対するテスト生成 高橋 寛, 渡部 崇史, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 95 ( 87 ) 33 - 40 1995年6月
組合せ回路のゲート遅延故障に対する高分解能テストの生成 高橋 寛, 渡部 崇史, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 1995 ( 1 ) 270 - 270 1995年3月
組合せ回路におけるクリティカル経路の一検出法 于 湘秋, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 1995 ( 1 ) 269 - 269 1995年3月
有限要素多結晶モデルによる塑性変形解析 本橋 元, 影沢 豊彦, 高橋 寛, 土田 信 日本機械学会論文集. A編 61 ( 582 ) 353 - 358 1995年2月
組合せ回路のタイミング解析におけるクリティカル経路問題について 于 湘秋, 高橋 寛, 高松 雄三 愛媛大学工学部紀要 14 ( 14 ) p449 - 457 1995年2月
遅延効果を用いた組合せ回路における冗長故障のテスト生成法 于 湘秋, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 94 ( 128 ) 53 - 60 1994年6月
組合せ回路の遅延故障に対するロバストテスト対生成法について 井内 張景, 高橋 寛, 高松 雄三 愛媛大学工学部紀要 ( 13 ) p473 - 485 1994年2月
組合せ回路のタイミング解析におけるクリティカル経路の一検出法 于 湘秋, 柳田 宣広, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 93 ( 303 ) 41 - 48 1993年10月
組合せ回路のタイミング解析におけるクリティカル経路の一検出法 于 湘秋, 柳田 宣広, 高橋 寛, 高松 雄三 情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告 93 ( 94 ) 131 - 138 1993年10月
単一活性化経路に基づく組合せ回路の多重縮退故障の診断法に関する一考察 高橋 寛, 柳田 宣広, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 93 ( 182 ) 47 - 54 1993年8月
Improved Forward Test Generation of Sequential Circuits Using Variable-Length Time Frames (Special Issue on VLSI Testing and Testable Design) Takamatsu Yuzo, Ogawa Taijiro, Takahashi Hiroshi IEICE transactions on information and systems 76 ( 7 ) 832 - 836 1993年7月
Test generation for multiple fault diagnosis in one-dimensional iterative logic arrays 高橋 寛, 山本 貴之, 高松 雄三 愛媛大学工学部紀要 12 ( 4 ) p501 - 512 1993年2月
周波数特性を同じにした補聴器のききやすさ 高橋 信雄, 中川 寛, 高橋 真由美 ＡＵＤＩＯＬＯＧＹ ＪＡＰＡＮ 36 ( 5 ) 313 - 314 1993年
多結晶塑性論における天才Taylorと秀才Hill 高橋 寛 塑性と加工 33 ( 383 ) 1327 - 1328 1992年12月
順序回路のデ-タ構造について 小川 泰次郎, 高橋 寛, 高松 雄三 愛媛大学工学部紀要 12 ( 3 ) p533 - 544 1992年2月
大ひずみ域におけるバウシンガ-曲線と再負荷曲線 塩野 功, 高橋 寛 山形大学紀要 工学 19 ( 2 ) p131 - 136 1987年1月
山形県立川町における風況--風エネルギ-の観点から 丹 省一, 福士 正幸, 高橋 寛 鶴岡工業高等専門学校研究紀要 ( 18 ) p257 - 271 1983年12月
深絞り容器の軸圧縮と内圧による張出加工 塩野 功, 高橋 寛 山形大学紀要 工学 16 ( 1 ) p135 - 146 1980年1月
有限要素法による円柱圧縮の塑性解析に関するいくつかの問題点 高橋 寛, 塩野 功, 小林 史郎 塑性と加工 18 ( 198 ) p558 - 565 1977年7月
金属円板の静水圧による張出し変形の解析 : 第2報, 実験と理論解析の比較 高橋 寛 日本機械学会誌 73 ( 619 ) 1189 - 1189 1970年
- 総説・解説
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
- 講演・発表
- ワンタイムパスワードによるJTAGアクセス認証アーキテクチャのFPGA実装と機能検証 馬竣, 岡本悠, 魏少奇, 王森レイ, 甲斐博, 高橋寛, 清水明宏 エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM) 2023年
グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法 WEI Shaoqi, 塩谷晃平, WANG Senling, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 2023年
NS形電気転てつ機のフィールドデータ分析と状態基準保全に関する研究 志田洋, 白石倫之, 高橋寛 電気学会全国大会講演論文集(CD-ROM) 2023年
JTAG認証機構の軽量化設計について 馬竣, 岡本悠, 王森レイ, 甲斐博, 亀山修一, 高橋寛, 清水明宏 エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
RS符号の消失訂正を用いたAesthetic QRコードの生成法 田原直哉, 甲斐博, WANG S., 高橋寛, 森井昌克 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
SAS-Lを用いたJTAG認証システムのアクセスポートロック機能回路の設計と実装 MA J., 岡本悠, WANG S., 甲斐博, 亀山修一, 高橋寛, 清水明宏 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
ローエンドエッジデバイスにおけるSAS認証方式の処理時間の評価 荻田高史郎, 清水健吾, 中西佳菜子, 甲斐博, WANG S., 高橋寛, 清水明宏 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
マルチサイクルの機能動作による故障診断能力の向上について 神崎壽伯, WANG S., 甲斐博, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
地方大学におけるSociety5.0に向けた新しい技術者リカレント教育の挑戦 高橋寛 産学官連携ジャーナル(Web) 2022年
シングルボードコンピュータ上でのSAS認証方式の計算時間の評価 荻田高史郎, 甲斐博, WANG Seiling, 高橋寛, 清水明宏 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
エッジデバイスにおけるSAS認証回路の設計と実装 岡本悠, WANG S., 甲斐博, 高橋寛, 清水明宏 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
グラフ構造強化学習を用いたテスト検査点選定法 塩谷晃平, WEI S.Q., WANG S., 甲斐博, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
マルチサイクルテストによるテストパターン削減 中野潤平, WANG S., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法 中岡典弘, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋潤 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 2021年
グラフ畳み込みニューラルネットワークを用いたテストポイント選定について WEI S.Q., WANG S.L., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021年
WebGLによるネットワークトラフィック可視化方法の検討 松浦拓海, WANG S., 甲斐博, 高橋寛, 森井昌克 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021年
機械学習による踏切遮断かん折損検知に関する考察 志田洋, 志田洋, 白石倫之, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 2021年
機械学習を用いたマルウェアの機能推定に関する研究 中島拓哉, 児玉光平, WANG S., 甲斐博, 高橋寛, 森井昌克 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021年
機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断 山内崇矢, 稲元勉, WANG S., 樋上喜信, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021年
Aesthetic QRコードを生成するソフトウェアの実装に関する研究 福田諒也, WANG S., 甲斐博, 高橋寛, 森井昌克 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021年
マルチサイクルの機能動作による故障診断用パターン生成 神崎壽伯, WANG S., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021年
マルチサイクルテストの導入による組込自己診断の故障診断能力評価 WANG Y., Wang S., 樋上喜信, 甲斐博, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021年
メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装 周 細紅, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会講演集 2020年3月
ハイブリッドテストポイント挿入法のマルチサイクルテストへの適用とその性能評価 中岡典弘, 青野智己, 王 森レイ, 高橋 寛, 松嶋 潤, 岩田浩幸, 前田洋一 2020年電子情報通信学会総合大会 2020年3月
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法 青野智己, 中岡典弘, 周 細紅, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋 潤 電子情報通信学会技術研究報告 2020年2月
車載組込みシステム技術者の育成～enPiT-Pro Embでの教育実践～—招待論文 山本, 雅基, 塩見, 彰睦, 岡村, 寛之, 高橋, 寛, 沢田, 篤史, 高田, 広章 デジタルプラクティス 2020年1月
NS形電気転てつ機の状態基準保全に関する研究 志田洋, 三崎友樹, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 2020年
機械学習の異常検知による半断線故障判別法における温度依存性の検討 中西遼太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 2020年
Raspberry Piを用いた画像処理とCNNによる微小害虫の計数システムの構築 阿部 寛人, 畝山 勇一朗, 中岡 典弘, 渡辺 友希, 福本 真也, 森田 航平, 中本 裕大, 周 細紅, 河野 靖, 木下 浩二, 一色 正晴, 二宮 崇, 田村 晃裕, 甲斐 博, 高橋 寛, 王 森レイ 令和元年度電気関係学会四国支部連合大会論文集（CD-ROM) 2019年9月
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会技術報告 2019年
enPiT-Pro Embにおける社会人教育実践とその評価 名倉正剛, 高田広章, 山本雅基, 塩見彰睦, 野口靖浩, 岡村寛之, 高橋寛, 一色正晴, WANG Senling, 甲斐博, 木下浩二, 田村晃裕, 二宮崇, 沢田篤史 教育システム情報学会全国大会講演論文集(CD-ROM) 2019年
機械学習を応用した軌道回路の状態基準保全に関する研究 志田洋, 田村晃裕, 二宮崇, 高橋寛 日本機械学会 第25回鉄道技術連合シンポジウム 2018年12月
バウンダリスキャン技術におけるテスト容易化設計とその最新状況 亀山 修一, 高橋 寛 エレクトロニクス実装学会誌 2018年8月 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
偽造ICチップの脅威と対策 -バウンダリスキャンによる真贋判定とトレーサビリティ- 亀山 修一, 高橋 寛 エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集 2018年 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
順序回路のクロストークによる遅延故障に対する目標故障の一判別法 高橋寛, KELLER K J, SALUJA K K, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 2002年2月
遅延を考慮したシミュレータを用いたクロック信号線のブリッジ故障の故障診断 細川優人, 樋上喜信, WANG S, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015年9月
順序回路のクロストークによる遅延故障に対する目標故障の一判別法 高橋 寛, Keller Keith J, Saluja Kewal K, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 2002年2月
鉄道信号設備のライフサイクルコストを考慮した設備保全に関する一考察―設備故障発生時の経済的損失と設備保全― 志田洋, 大串裕郁, 高橋寛 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 2013年11月
組合せ回路の単一設計誤りに対する一診断法 門口大悟, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1999年
IRドロップを考慮した抵抗性オープン故障に対するテストパターン生成 大田淳司, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013年9月
電子ビームテスタを用いた順序回路の故障診断 柳田 宣広, 高橋 寛, 高松 雄三 愛媛大学工学部紀要 1998年2月
欠陥検出評価関数に基づくテストパターンの選択 稲田暢, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013年9月
多重/単一故障シミュレーションを利用した多重縮退故障の一診断法 高橋寛, BOATENG K O, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1998年
抵抗性オープン故障に対する診断用テスト生成 松川翔平, 高橋寛, 樋上喜信, 四柳浩之, 橋爪正樹 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013年9月
CMOS論理回路の短絡故障に対する並列故障シミュレーションについて 小林一正, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1998年
抵抗性オープン故障診断のための後方追跡 竹田和生, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013年9月
改良Booth法に基づく乗算回路のC-テスタブル設計について ボアテン クァメ オセイ, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 1997年3月
クロック信号線の遅延故障に対する故障診断用テスト生成 江口拓弥, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013年9月
改良Booth法に基づく乗算回路のC-テスタブル設計について ボアテン クァメ オセイ, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 1997年3月
SAT手法による隣接線影響を考慮した微小遅延故障検査用テストパターン生成に関する一考察 山下淳, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013年9月
複数の外部入力を変化させる活性化入力対の生成法について 松永 隆徳, Boateng Kwarne Osei, 柳田 宣広, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 1997年2月
多重抵抗性オープン故障診断における順位付けの効果 田中陽, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013年9月
単一/多重故障シミュレーションに基づく組合せ回路の多重縮退故障に対する一診断法 高橋 寛, ボアテン クワメ オセイ, 高松 雄三 情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告 1999年2月
クロック信号線のブリッジ故障に対する遅延を考慮した故障診断 細川優人, 樋上喜信, WANG S, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014年9月
Design of C-Testable Modified-Booth Multipliers Under the Stuck-at Fault Model Boateng Kwame Osei, Takahashi Hiroshi, Takamatsu Yuzo 愛媛大学工学部紀要 1999年2月
列車検知装置の保全コストに関する考察 志田洋, 大串裕郁, 高橋寛 日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 2014年6月
縮退故障のテスト集合を用いたパス遅延故障に対するテストの一生成法 水本涼, 河本昭, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1999年
クロック信号線の遅延故障に対する故障診断 江口拓弥, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012年9月
組合せ回路におけるクリティカル経路の検出 于 湘秋, 高橋 寛, 高松 雄三 愛媛大学工学部紀要 1996年2月
隣接信号線の影響を考慮したテストパターン選択法 岡崎孝昭, 大田淳司, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012年9月
電子ビームテスタを用いた活性化入力対による組合せ回路の多重故障診断 柳田 宣広, 高橋 寛, 高松 雄三 愛媛大学工学部紀要 1996年2月
招待講演 シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み (ディペンダブルコンピューティング) 高橋 寛, 樋上 喜信, 堤 利幸 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報 2012年6月
ゲート遅延故障に対する診断用テストの一生成法 松永敏幸, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1996年
シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み(設計/テスト/検証) 高橋 寛, 樋上 喜信, 堤 利幸, 山崎 浩二, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2012年6月
電子ビームテスタを利用した組合せ回路の多重縮退故障に対するテスト生成 長行康男, 柳田宣広, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1996年
バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 : 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察 亀山 修一, 馬場 雅之, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 2012年2月
複数の変化信号値をもつ活性化入力対の生成について 松永隆徳, 柳田宣広, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1996年
バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 : 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察(テスト生成・レスト容易化設計,VLSI設計とテスト及び一般) 亀山 修一, 馬場 雅之, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2012年2月
活性化入力系列を用いた順序回路の故障診断に関する一考察 柳田 宣広, 高橋 寛, 高松 雄三 情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告 1995年10月
欠陥検出テスト生成法の改善法 藤原大也, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011年9月
組合せ回路の活性化入力対とその故障診断への応用 松永隆徳, 柳田宣広, 高橋寛, 高松雄三 愛媛大学工学部紀要 1997年2月
IRドロップを考慮した遷移故障に対するテストパターン生成 井上大画, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013年9月
組合せ回路の活性化入力化とその故障診断への応用 松永 隆徳, 柳田 宣広, 高橋 寛 愛媛大学工学部紀要 1997年2月
半断線故障検出のための信号遅延の特性評価(遅延テスト, VLSI設計とテスト及び一般) 大栗 裕人, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 堤 利幸, 山崎 浩二, 樋上 善信, 高橋 寛 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2013年2月
遅延故障シミュレーションを用いたゲート遅延故障の一診断法 高橋寛, 高松雄三, BOATENG K O 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1997年
ファンアウトブランチに着目した欠陥検出テスト生成 河野博志, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012年9月
順序回路の故障検査のための観測点挿入位置の決定法 門口大悟, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1997年
欠陥検出テストのためのテストパターン選択(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般) 古谷 博司, 酒井 孝郎, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2011年2月
ティネシャステスト(Tenacious Test)集合を用いた組合せ回路の縮退故障診断について 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1995年
欠陥検出テストのためのテストパターン選択 電子情報通信学会電子情報通信学会技術報告 2011年
活性化入力対の追加生成による組合せ回路の故障診断強化について 松永隆徳, 柳田宣広, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1995年
ハザードの影響をマスクした微小遅延故障診断法 高橋寛, 樋上喜信, 森本恭平, 池田雅史 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010年9月
表駆動型遅延故障シミュレータの作成 松永敏幸, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1995年
状態遷移図の簡単化を用いた組込みシステムに対するテスト系列生成法 松本拓, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010年9月
遅延効果を用いた組合せ回路における冗長故障のテスト生成法 于 湘秋, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 1994年6月
伝播経路評価関数を利用したテストパターン選択法 高橋寛, 樋上喜信, 酒井孝郎 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010年9月
組合せ回路の遅延故障に対するロバストテスト対生成法について 井内張景, 高橋寛, 高松雄三 愛媛大学工学部紀要 1994年2月
クロストーク故障に対するテストパターン生成 遠藤剛史, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010年9月
活性化入力系列を用いた順序回路の故障診断に関する一考察 柳田 宣広, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 1995年10月
ファンアウト数に着目した欠陥検出テスト生成 河野博志, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011年9月
組合せ回路の微小なゲート遅延故障に対するテスト生成 高橋 寛, 渡部 崇史, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 1995年6月
超高信頼性チップ製造のためのシグナルインティグリティ不良のモデル化およびその故障検査法 高橋寛, 樋上喜信, 大西洋一 愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書 2011年3月
組合せ回路におけるクリティカル経路の一検出法 于 湘秋, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 1995年3月
活性化経路評価関数に基づくパターン選択 高橋寛, 樋上喜信, 酒井孝郎 電子情報通信学会大会講演論文集 2011年2月
組合せ回路のゲート遅延故障に対する高分解能テストの生成 高橋 寛, 渡部 崇史, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 1995年3月
D-10-8 活性化経路評価関数に基づくパターン選択(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 高橋 寛, 樋上 喜信, 酒井 孝郎 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2011年2月
組合せ回路のタイミング解析におけるクリティカル経路問題について 干 湘秋, 高橋 寛, 高松 雄三 愛媛大学工学部紀要 1995年2月
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 山本 幸大, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 2004年11月
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 西山 隆広, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 2004年11月
不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般) 栗山 和樹, 西山 隆広, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2005年2月
不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般) 武智 清, 佐藤 雄一, 高橋 寛, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2005年2月
検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般) 山崎 浩二, 樋上 喜信, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2005年2月
検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般) 山崎 亜佳根, 精山 哲也, 高橋 寛, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2005年2月
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断 山本 幸大, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 2004年12月
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断 西山 隆広, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高橋寛, 高松雄三 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 2004年12月
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 山本 幸大, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2004年11月
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 西山 隆広, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2004年11月
不確かなテスト集合をもつBISTの故障診断法 高橋 寛, 栂岡 靖典, 綾野 秀和, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2003年2月
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 西山 隆広, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 2004年11月
多重縮退故障診断における故障候補の削減法について 武智清, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2004年9月
テストの検出/非検出情報に基づくブリッジ故障診断について 栗山和樹, 樋上喜信, 山崎浩二, 高橋寛, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2004年9月
テストの検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法 佐藤雄一, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 2004年2月
不確かな診断テスト集合による単一/多重縮退故障の診断法 山本幸大, 綾野秀和, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 2004年2月
テストの検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(VLSI設計とテスト) 佐藤 雄一, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2004年2月
不確かな診断テスト集合による単一/多重縮退故障の診断法(VLSI設計とテスト) 山本 幸大, 綾野 秀和, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2004年2月
不確かなテスト集合をもつBISTの故障診断法 高橋寛, 栂岡靖典, 綾野秀和, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 2003年2月
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 山本 幸大, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 2004年11月
単一/多重故障シミュレーションに基づく組合せ回路の多重縮退故障に対する一診断法 高橋 寛, ボアテン クワメ オセイ, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 1999年2月
隣接信号線の信号変化を考慮したオープン故障 門山周平, 大津潤一, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006年9月
軌道回路の状態基準保全に向けた検討(その3)―設備故障の再現試験とマハラノビス距離による設備の劣化把握― 志田洋, 志田洋, 二宮崇, 高橋寛 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 2017年11月
BIST環境における単一縮退故障診断法の評価実験 大津潤一, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006年9月
偽造ICチップの脅威と対策―バウンダリスキャンによる真贋判定とトレーサビリティ― 亀山修一, 高橋寛 エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM) 2018年3月
BIST環境に適応した故障診断法に関する研究―ブリッジおよびオープン故障に対する故障診断への拡張―大規模回路への適用可能性の調査― 高松雄三, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二, 宮本俊介 愛媛大学産業科学技術支援センター研究成果報告書 2006年11月
在宅医療制度を患者の利益に推進する取組み~全国在宅医療テストと訪問看護活用のためのアプリ~ 江篭平紀子, 永吉裕子, 飯森俊介, 永井直美, 木原信吾, 永井康徳, 甲斐博, 高橋寛 日本在宅医学会大会抄録集 2018年
故障励起条件を考慮した欠陥検出テストパターン 高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007年9月
遅延故障に対する診断用テスト生成法 相京隆, 吉川達, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007年9月
マルチサイクルテストの故障検出率の低下を改善するためのキャプチャパターン制御法 青野智己, 矢野良典, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2018年9月
微小遅延故障に対する故障診断 相京隆, 高橋寛, 樋上喜信, 大津潤一, 小野恭平, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007年9月
機械学習を適用した半断線故障判別法の評価 増成紳介, 青萩正俊, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛, 四柳浩之, 橋爪正樹 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2018年9月
ハードウェア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用 阿萬裕久, 池田裕輔, 市川直樹, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2007年3月
隣接線の信号遷移を用いる半断線故障判別法の温度に対する有効性調査 柴田駿介, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2018年9月
縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法 高橋寛, 樋上喜信, 吉川達, 清水祐紀, 相京隆, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2007年3月
サウンドコード技術を利用した電気錠システムの開発 ZHOU X, WANG S, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2018年9月
D-10-1 ハードウェア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演) 阿萬 裕久, 池田 裕輔, 市川 直樹, 樋上 喜信, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2007年3月
キャプチャパターン制御機構を付加したフリップフロップの選択法 矢野良典, 青野智己, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2018年9月
D-10-2 縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演) 高橋 寛, 樋上 喜信, 吉川 達, 清水 祐紀, 相京 隆, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2007年3月
ニューラルネットワークによる軌道回路の状態基準保全に関する考察 志田洋, 志田洋, 田村晃裕, 二宮崇, 高橋寛 日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 2018年6月
ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般) 樋上 喜信, Saluja Kewal K, 高橋 寛, 小林 真也, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2007年2月
論理回路の組込み自己診断に関する提案 香川敬祐, 矢野郁也, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛, 大竹哲史 電子情報通信学会技術研究報告 2017年2月
軌道回路の状態基準保全に向けた検討(その1)―状態監視データから見た軌道回路の特徴― 志田洋, 比澤庸平, 大串裕郁, 高橋寛 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 2016年11月
三次元積層ICのTSV相互接続の評価容易化設計DFE―アナログバウンダリスキャンによる接続抵抗評価― 亀山修一, 亀山修一, WANG Senling, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 2017年2月
可変サイクルテストのテスト圧縮効果 矢野良典, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017年9月
オープン故障に対する診断用テスト生成について 八木啓仁, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006年9月
マルチサイクルテストにおける故障検出率最大化のための電力制御法 高原圭太, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017年9月
縮退故障テストに基づくオープン故障のテスト生成 吉川達, 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006年9月
訪問看護制度利用のためのアプリ開発 武智聡平, 上野ひかり, 増成紳介, 矢野良典, 甲斐博, 高橋寛, 永吉裕子, 江篭平紀子, 飯森俊介, 永井康徳 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017年9月
隣接信号線を考慮したオープン故障の一モデルとその故障診断(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般) 門山 周平, 武智 清, 高橋 寛, 樋上 喜信, 山崎 浩二, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2006年2月
パス順位比較を用いる半断線故障の検査可能性評価 片山知拓, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017年9月
オープン故障に対する一故障モデルの提案とその故障診断 ＬＳＩテスティングシンポジウム２００６ 2006年
画像処理と深層学習による微小害虫の検出 中浦大貴, 渡邊大貴, 増成紳介, 矢野良典, 河野靖, 木下浩二, 二宮崇, 田村晃裕, 高橋寛, WANG S, 樋上喜信, 藤田欣裕, 二宮宏 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017年9月
隣接信号線を考慮したオープン故障の一診断法 LSIテスティングシンポジウム 2006年
フィールドテストにおけるテスト集合分割法 青萩正俊, 増成紳介, WANG S, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017年9月
組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術) 樋上 喜信, Saluja Kewal K, 高橋 寛, 小林 真也, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. CPM, 電子部品・材料 2005年9月
組込み自己診断向けのテストパターン生成法 松田優大, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017年9月
組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術) 樋上 喜信, Saluja Kewal K, 高橋 寛, 小林 真也, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 2005年9月
深層学習による柑橘類果実の個数推定 野口敬輔, 小川達也, 安保良佑, 高原圭太, 河野靖, 木下浩二, 二宮崇, 田村晃裕, 高橋寛, WANG S, 樋上喜信, 藤田欣裕, 二宮宏 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017年9月
BIST環境を考慮した故障診断システムについて 高橋寛, 門山周平, 樋上喜信, 高松雄三, 山崎浩二 情報処理学会シンポジウム論文集 2005年8月
三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について WANG Senling, 香川敬祐, 亀山修一, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 2016年2月
アナログバウンダリスキャンを用いた三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法の実装について WANG Senling, 香川敬祐, 亀山修一, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 2015年11月
隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について 伊勢幸太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 2015年11月
中間観測FF選択法の大規模ベンチマーク回路に対する評価 濱田宗, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 松嶋潤 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016年9月
アナログバウンダリスキャンを適用した三次元積層後のTSV抵抗精密計測法の計測精度評価 香川敬祐, WANG S, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016年9月
マルチサイクルテストにおけるクロック信号線のd‐故障に対するテストパターン生成について 和田祐介, 樋上喜信, WANG S, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016年9月
マルチサイクルテストにおけるFFの接続情報を用いた中間観測FFの選択法 高原圭太, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016年9月
組込み自己診断におけるハードウェア制約の改善法 矢野郁也, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016年9月
隣接線の信号遷移を用いる半断線故障判別法の断線位置に対する有効性調査 伊勢幸太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016年9月
マルチサイクルテストのためのFFの構造的評価 門田一樹, 濱田宗, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 松嶋潤 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2016年3月
論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減 藤谷和依, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 2016年2月
論理BISTにおける故障検出率の向上を考慮したシフトピーク電力制御法 WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015年9月
タイミングシミュレーション情報に基づく故障診断法 門田一樹, 矢野郁也, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015年9月
組込み自己診断における遷移故障診断能力の改善法 宮本夏規, 村上陽紀, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015年9月
隣接線の信号遷移を用いる多変量解析による半断線故障の検出可能性について 伊勢幸太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015年9月
マルチサイクルテストにおけるクロック信号線のd‐故障に対する診断技術 和田祐介, 樋上喜信, WANG S, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015年9月
組込み自己診断におけるシード候補の生成法 村上陽紀, 宮本夏規, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015年9月
アナログバウンダリスキャンによる三次元積層後のTSV抵抗精密計測法の実装と評価 香川敬祐, WANG S, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015年9月
LOCテストに対応した抵抗性オープン故障テスト生成 高橋寛, 樋上喜信, 高棟佑司, 岡崎孝昭 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010年9月
単一活性化経路に基づく組合せ回路の多重縮退故障の診断法に関する一考察 高橋 寛, 柳田 宣広, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 1993年8月
遅延故障診断に関する研究 高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三, 相京隆 愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書 2010年3月
Test generation for multiple fault diagnosis in one-dimensional iterative logic arrays 高橋 寛, 山本 貴之, 高松 雄三 愛媛大学工学部紀要 1993年2月
抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般) 高橋 寛, 樋上 喜信, 首藤 祐太, 高棟 佑司, 高松 雄三, 堤 利幸, 山崎 浩二, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2010年2月
組合せ回路の多重故障に対する適応検査について 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1993年
TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般) 堤 利幸, 刈谷 泰由紀, 山崎 浩二, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2010年2月
組合せ回路におけるクリティカル経路問題: 理論 う湘秋, 柳田宣広, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1993年
抵抗性オープン故障に対するテストについて 高橋寛, 樋上喜信, 高棟佑司 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009年9月
組合せ回路における冗長故障のテスト生成のためのデータ構造とその演算法 う湘秋, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1994年
LOCテストに対応したブリッジ故障シミュレータの高精度化 高橋寛, 樋上喜信, 大野智志, 山岡弘典 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010年9月
活性化入力対を用いた組合せ回路の多重故障診断の推論強化に対する二,三の手法 柳田宣広, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1994年
遷移故障における等価故障判定 山本隆也, 樋上喜信, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010年9月
活性化入力対を用いた組合せ回路におけるゲート遅延故障の一診断法 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1994年
欠陥検出確率を利用した2パターンテスト生成法 高橋寛, 樋上喜信, 古谷博司 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010年9月
遅延効果を用いた組合せ回路における冗長故障のテスト生成について う湘秋, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1994年
IC内隣接配線における半断線故障時の信号遅延解析 岡田理, 四柳浩之, 橋爪正樹, 堤利幸, 山崎浩二, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010年9月
組合せ回路のタイミング解析におけるクリティカル経路の一検出法 于 湘秋, 柳田 宣広, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 1993年10月
ハザードの影響を考慮した信号遷移シミュレーション 高橋寛, 樋上喜信, 森本恭平, 池田雅史 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010年9月
組合せ回路のタイミング解析におけるクリティカル経路の一検出法 于 湘秋, 柳田 宣広, 高橋 寛, 高松 雄三 情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告 1993年10月
縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証) 樋上 喜信, 黒瀬 洋介, 大野 智志, 山岡 弘典, 高橋 寛, 清水 良浩, 相京 隆, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2009年6月
順序回路の前方テスト生成アルゴリズム 高松雄三, 小川泰次郎, 高橋寛 電子情報通信学会全国大会講演論文集 1991年3月
遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断 高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 相京隆, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2009年3月
多重故障をもつ組合せ回路の検査入力生成アルゴリズム 高橋寛, 井内張景, 高松雄三 電子情報通信学会全国大会講演論文集 1991年3月
D-10-19 遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 高橋 寛, 樋上 喜信, 岡山 浩士, 相京 隆, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2009年3月
多重故障をもつ組合せ回路の検査入力生成法 高橋寛, 井内張景, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 1990年12月
テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化設計のための新故障モデルとそのテスト・故障診断に関する研究 高松雄三, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二, 堤利幸, 橋爪正樹, 四柳浩之, 宮本俊介 愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書 2009年3月
組合せ回路の遅延故障に対するロバストテスト対生成法について 愛媛大学工学部紀要 1993年
微小遅延故障診断におけるゲート遅延変動の影響 高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 森本恭平 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009年9月
A Method of Generating Robust Test-Pairs for Delay Faults in Combinational Circuits Memories of Faculty of Engineering, Ehime University 1993年
LOCテストに対応したブリッジ故障シミュレータ 高橋寛, 樋上喜信, 大野智志, 山岡弘典 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009年9月
活性化入力対を用いた組合せ回路における多重縮退故障の診断について 柳田宣広, 高橋寛, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 1992年12月
テストサイクル決定に関する一考察 高橋寛, 樋上喜信, 田中太郎 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009年9月
一次元繰返し回路における多重故障診断テストの生成法 高橋寛, 山本貴之, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 1992年6月
SATソルバーを利用したオープン故障に対するテストの評価 高橋寛, 樋上喜信, 松村佳典 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009年9月
ハザードを考慮したゲート遅延故障に対するロバストテスト対の生成について 井内張景, 高橋寛, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 1992年6月
欠陥考慮2パターンテストについて 高橋寛, 樋上喜信, 古谷博司 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009年9月
順序回路のデータ構造について 小川泰次郎, 高橋寛, 高松雄三 愛媛大学工学部紀要 1992年2月
LOCテストに対応した抵抗性オープン故障シミュレータ 高橋寛, 樋上喜信, 首藤祐太 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009年9月
順序回路の前方テスト生成アルゴリズム:FORTE 高松雄三, 小川泰次郎, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 1991年4月
遅延故障シミュレーションを利用した欠陥診断法 高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 小野恭平, 相京隆, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008年9月
欠陥検出向けテストパターンの一選択法 高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008年9月
原因‐結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケース生成法 藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008年9月
隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般) 渡部 哲也, 高橋 寛, 樋上 喜信, 堤 利幸, 山崎 浩二, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2009年2月
組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般) 高橋 寛, 樋上 喜信, 和泉 太佑, 相京 隆, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2009年2月
TEGチップを用いたオープン故障の解析 堤 利幸, 刈谷 泰由紀, 山崎 浩二, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 2008年11月
TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地) 堤 利幸, 刈谷 泰由紀, 山崎 浩二, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 2008年11月
TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地) 堤 利幸, 刈谷 泰由紀, 山崎 浩二, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 高橋 寛, 樋上 喜信, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2008年11月
抵抗性ブリッジ故障シミュレーションについて 高橋寛, 樋上喜信, 北橋省吾, 相京隆, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008年9月
SATソルバーを利用した診断用テスト生成法 高橋寛, 樋上喜信, 松村佳典, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008年9月
遷移故障に対する診断用テスト生成法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般) 相京 隆, 樋上 喜信, 高橋 寛, 吉川 達, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2008年2月
D-10-3 スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 樋上 喜信, 高橋 寛, 廣瀬 雅人, 小林 真也, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008年3月
隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般) 高橋 寛, 樋上 喜信, 相京 隆, 門山 周平, 渡部 哲也, 高松 雄三, 堤 利幸, 山崎 浩二, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2008年2月
抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 高橋寛, 樋上喜信, 渡部哲也, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008年9月
複数故障モデルに対する統計的な故障診断法 高橋寛, 樋上喜信, 首藤祐太, 高松雄三 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008年9月
オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証) 山崎 浩二, 堤 利幸, 高橋 寛, 樋上 喜信, 相京 隆, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2008年6月
スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について 樋上喜信, 高橋寛, 廣瀬雅人, 小林真也, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2008年3月
動的なオープン故障に対するテストパターン生成法 高橋寛, 樋上喜信, 渡部哲也, 相京隆, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2008年3月
ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について 高橋寛, 樋上喜信, 阿萬裕久, 釜山天平, 小林真也, 高松雄三 電子情報通信学会大会講演論文集 2008年3月
D-10-1 ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 高橋 寛, 樋上 喜信, 阿萬 裕久, 釜山 天平, 小林 真也, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008年3月
D-10-2 動的なオープン故障に対するテストパターン生成法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 高橋 寛, 樋上 喜信, 渡部 哲也, 相京 隆, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008年3月
マルチサイクルテストでの遷移故障に対するテスト生成 藤原翼, 樋上喜信, WANG S, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014年9月
組込み自己診断におけるテストパターン系列の診断能力に関して 宮本夏規, 村上陽紀, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛, 大竹哲史 情報科学技術フォーラム講演論文集 2015年8月
縮退故障のテスト集合に基づくパス遅延故障の一テスト生成法 水本涼, 高橋寛, 高松雄三 電子情報通信学会技術研究報告 2000年8月
0‐1整数計画問題を利用した遅延故障テストの改善 門田一樹, 今村亮太, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2015年2月
FTS2000-24 縮退故障のテスト集合に基づくパス遅延故障の一テスト生成法 水本 涼, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 2000年7月
IR‐dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法 WANG Senling, 井上大画, AL‐AWADHI Hanan T, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 2015年2月
論理シミュレータを利用した単一設計誤りの一診断法 高橋 寛, 門口 大悟, 高松 雄三 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2000年3月
列車検知装置の保全コストに関する考察(その2)―設備保全データのモデル化と活用― 志田洋, 大串裕郁, 樋上喜信, 阿萬裕久, 高橋寛 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 2014年11月
組合せ回路のゲート遅延故障に対する一診断法 高橋寛, BOATENG K O, 高松雄三 愛媛大学工学部紀要 2000年2月
0‐1整数計画問題を利用した診断用テスト生成システムの開発 村上陽紀, 宮本夏規, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014年9月
A Method of Test Generation for Iterative Logic Arrays (特集:VLSIプロセッサ及び新アーキテクチャLSI技術,一般) ボマテン クワメ オセイ, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. CPSY, コンピュータシステム 1999年4月
消費電力制約下での焼きなまし法を利用したテストパターン変更法 井上大画, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014年9月
A Method of Test Generation for Iterative Logic Arrays (特集 VLSIプロセッサ及び新アーキテクスチャLSI技術、一般) Boateng Kwame Osei, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 1999年4月
遺伝的アルゴリズムを利用した診断用テスト生成 門田一樹, 今村亮太, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014年9月
A Method of Test Generation for Iterative Logic Arrays (特集:VLSIプロセッサ及び新アーキテクチャLSI技術,一般) Boateng Kwame Osei, 高橋 寛, 高松 雄三 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 1999年4月
オンチップセンサを利用した抵抗性オープン故障診断 竹田和生, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014年9月
- 研究会・報告書
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
- 特許
- 故障推定装置及び方法 高松 雄三, 高橋 寛, 樋上 喜信, 中尾 教伸, 相京 隆, 江守 道明, 大前 英雄
故障検査装置及び方法 高松 雄三, 高橋 寛, 樋上 喜信, 中尾 教伸, 相京 隆, 江守 道明, 大前 英雄
アドレス線のテスト方法 大野 文男, 亀山 修一, 高橋 寛 - 作品
- 超高信頼性チップ製造のためのシグナルインティグリティ不良のモデル化およびその故障検査法に関する研究 2009年 - 2011年
故障励起関数に基づく高性能LSIに対する高効率故障検査ツールの開発 2008年
遅延故障診断に関する研究 2007年 - 2008年
テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化設計のための新故障モデルとそのテスト・故障診断に関する研究 2006年 - 補助金・競争的資金
- 構造型情報処理アーキテクチャに対するフィールドテスト法 2023年4月 - 2026年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 高橋 寛, 樋上 喜信, 王 森レイ
メモリ型再構成エッジデバイスにおける高信頼性知的処理機能の設計法に関する研究 2022年4月 - 2025年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 基盤研究(C) 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛
つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発 2019年4月 - 2022年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 基盤研究(C) 高橋 寛, 樋上 喜信, 王 森レイ
アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究 2019年4月 - 2022年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 基盤研究(C) 樋上 喜信, 稲元 勉, 高橋 寛, 王 森レイ
高精度遅延故障シミュレータを用いた遅延故障に対するテストと診断に関する研究 2016年4月 - 2020年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 基盤研究(C) 樋上 喜信, 高橋 寛, 王 森レイ
機能安全技術のための組込み自己診断法の開発 2016年4月 - 2019年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 基盤研究(C) 高橋 寛, 大竹 哲史, 樋上 喜信, 王 森レイ
機能安全技術のための組込み自己診断法の開発 研究課題 2016年4月 - 2019年3月 学振 基盤研究Ｃ 高橋 寛
プリシリコンテストとポストシリコンテストを併用したタイミング不良診断法の開発 2013年4月 - 2017年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 基盤研究(C) 高橋 寛, 樋上 喜信, 四柳 浩之
プリシリコンテストとポストシリコンテストを併用したタイミング不良診断法の開発 2013年4月 - 2017年3月 学振 基盤研究Ｃ 高橋 寛
３次元LSIにおけるビア接続不良に対するテストと診断に関する研究 2013年4月 - 2016年3月 学振 基盤研究Ｃ 樋上 喜信
３次元LSIにおけるビア接続不良に対するテストと診断に関する研究 2013年4月 - 2016年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 基盤研究(C) 樋上 喜信, 高橋 寛
システム LSI におけるクロック信号線上の故障に対する検査法β診断法の開発 2010年 - 2012年 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 基盤研究(C) 樋上 喜信, 高橋 寛
超高信頼性チップ製造のためのシグナルインティグリティ不良のモデル化およびその故障検査法 2009年4月 - 2012年3月 半導体理工学研究センター 高橋 寛
故障励起関数に基づく欠陥検出向きテスト生成法に関する研究 2008年4月 - 2011年3月 学振 基盤研究Ｃ 高橋 寛
故障励起関数に基づく欠陥検出向きテスト生成法に関する研究 2008年 - 2010年 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 基盤研究(C) 高橋 寛
高速VLSIのクロストーク故障に対する高信頼テスト手法に関する研究 2007年 - 2009年 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 基盤研究(C) 樋上 喜信, 高橋 寛
組み込みシステムに対するソフト/ハード協調テスト法の開発 2006年 - 2008年 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 基盤研究(C) 高松 雄三, 高橋 寛, 樋上 喜信, 阿萬 裕久
超高速・超微細VLSIに対する組込み自己テスト手法と故障診断法に関する研究 2003年 - 2005年 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 基盤研究(C) 高松 雄三, 高橋 寛, 樋上 喜信
組合せ回路の遅延故障に対する新しいテストとその診断への応用に関する研究 1997年 - 1998年 日本学術振興会 科学研究費助成事業 奨励研究(A) 奨励研究(A) 高橋 寛
組合せ回路の遅延故障に対する新しいテストの提案とその生成法 1996年 日本学術振興会 科学研究費助成事業 奨励研究(A) 奨励研究(A) 高橋 寛
部分単一活性化経路に基づく組合せ回路の多重縮退故障の診断法に関する研究 1994年 日本学術振興会 科学研究費助成事業 奨励研究(A) 奨励研究(A) 高橋 寛
- その他
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
2025年4月18日更新
- 専門分野・研究分野
- 情報通信 / 計算機システム
- 所属学会・所属協会
- 情報処理学会
日本信頼性学会
IEEE: The Institute of Electrical and Electronics Engineers
IEEE Asian Test Symposium Steering Committee
Information Processing Society of Japan
電子情報通信学会
The Institute of Electornics
Information and Communication Engineers - 委員歴・役員歴
- 電子情報通信学会 フェロー 2024年3月 - 現在
電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会委員長 2020年6月 - 2022年5月
情報処理学会四国支部 幹事 2020年6月 - 2021年6月
エレクトロニクス実装学会 マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文委員会委員 2020年4月 - 現在
一般社団法人パワーデバイス・イネーブリング協会 半導体テスト技術者検定 課題検討委員会 2018年8月 - 現在
日本信頼性学会 評議員 2018年6月 - 現在
情報処理学会 四国支部長 2018年6月 - 2020年6月
電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会副委員長 2018年6月 - 2020年6月
IEEE アジアテストシンポジウム 実行委員長 2015年4月 - 2016年11月
IEEE アジアテストシンポジウムＳＣ 2009年4月 - 現在 - 受賞
- フェロー称号 2024年3月 電子情報通信学会
IEEE CASS 四国チャプタ主催アワード 2020年1月 高橋 寛
特別研究員等の書面審査における貢献 2018年7月 日本学術振興会 高橋 寛
高木賞 2016年5月 日本信頼性学会 高橋 寛
電子情報通信学会論文賞 2012年5月 電子情報通信学会 高松雄三, 佐藤康夫, 高橋 寛, 樋上喜信, 山崎浩二 - 活動
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2025年4月13日更新
更新
Ｊグローバル
- Jグローバル最終確認日
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- 氏名（漢字）
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- 氏名（フリガナ）
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- 氏名（英字）
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- 所属機関
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リサーチマップ
- researchmap最終確認日
- 2025/4/13 01:26
- 氏名（漢字）
- 高橋 寛
- 氏名（フリガナ）
- タカハシ ヒロシ
- 氏名（英字）
- Takahashi Hiroshi
- プロフィール
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- 登録日時
- 2011/8/16 00:00
- 更新日時
- 2025/3/6 14:48
- アバター画像URI
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- ハンドル
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- eメール
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- eメール（その他）
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- 携帯メール
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- 性別
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- 没年月日
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- 所属ID
- 0352021007
- 所属
- 愛媛大学
- 部署
- 大学院理工学研究科 電子情報工学専攻
- 職名
- 教授,副学長
- 学位
- 博士（工学）
- 学位授与機関
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- URL
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- 科研費研究者番号
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- Google Analytics ID
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- ORCID ID
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- その他の所属ID
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- その他の所属名
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- その他の所属 部署
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- その他の所属 職名
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- 最近のエントリー
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- Read会員ID
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- 経歴
- 受賞
- Misc
- 論文
- 講演・口頭発表等
- 書籍等出版物
- 研究キーワード
- 研究分野
- 所属学協会
- 担当経験のある科目
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- その他
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- Works
- 特許
- 学歴
- 委員歴
- 社会貢献活動
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2025年4月12日更新
- 研究者番号
- 80226878
- 所属（現在）
- 2025/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授
- 所属（過去の研究課題
情報に基づく）*注記 - 2016/4/1 – 2023/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授
2015/4/1 : 愛媛大学, 大学院理工学研究科, 教授
2012/4/1 – 2015/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科, 教授
2009/4/1 – 2012/4/1 : 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 教授
2010/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科, 教授
2008/4/1 – 2009/4/1 : 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 准教授
2007/4/1 – 2009/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科, 准教授
2006/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科, 助教授
2003/4/1 – 2005/4/1 : 愛媛大学, 工学部, 助教授
1997/4/1 – 1998/4/1 : 愛媛大学, 工学部, 講師
1996/4/1 : 愛媛大学, 工学部, 助手
1994/4/1 : 愛媛大学, 工学部, 助手
- 審査区分/研究分野
-
研究代表者
複合領域 / 情報科学 / 計算機科学
総合・新領域系 / 総合領域 / 情報学 / 計算機システム・ネットワーク
総合系 / 情報学 / 計算基盤 / 計算機システム
小区分60040:計算機システム関連研究代表者以外
総合・新領域系 / 総合領域 / 情報学 / 計算機システム・ネットワーク
総合系 / 情報学 / 計算基盤 / 計算機システム
小区分60040:計算機システム関連
- キーワード
-
研究代表者
故障診断 / 多重縮退故障 / 診断用テスト集合 / 活性化経路 / 組合せ回路 / ゲート遅延故障 / テスト生成 / 遅延故障 / 組み合せ回路 / ディペンダブルコンピューティング / ブリッジ故障 / オープン故障 / 欠陥検出向きテスト / 情報工学 / システムオンチップ / 故障検査 / タイミング不良 / テスト / 診断 / オンチップセンサー / 抵抗性オープン故障 / ポストシリコンテスト / プリシリコンテスト / 故障診断法 / 診断用テスト / 組込み自己テスト / 組込み自己診断 / 機能安全 / 組込み自己診断法 / LSIのテスト / 先進自動運転 / 先進運転支援システム / 計算機システム / ディペンダブル・コンピューティング / フィールドテスト / つながるデバイス / 信頼性強化設計法 / 認証方式 / テスト容易化設計法 / 検査容易化設計 / 構造型情報処理アーキテクチャ / テスト容易化設計
研究代表者以外
組み込みシステム / テスト / ハードウエア / ソフトウエア / 協調テスト / ソフト / ハード協調設計 / ハード協調テスト / テストケース / ソフトウエアメトリクス / 保守性 / ハードウエア記述言語 / VLSI(大規模集積回路) / 故障診断 / クロストーク故障 / テストパターン生成 / トランジスタショート / ゲートレベルツール / 故障シミュレーション / 高信頼化 / 論理回路 / VLSIのテスト / シミュレーション / 故障モデル / ディペンダブルコンピューティング / 論理回路の故障検査 / LSIの故障診断 / 故障検査 / システムLSI / クロック信号線 / 遅延故障 / LSIの設計・テスト / LSI / 3次元LSI / LSIのテスト / 組込み自己テスト / テスト圧縮 / 縮退故障 / 内部ブリッジ故障 / オープン故障 / 論理回路のテスト / ブリッジ故障 / ドントケア値 / VLSIの故障検査 / VLSIの故障診断 / テスト系列圧縮 / 消費電力削減 / Testing of LSIs / Fault diagnosis / Built-in self test / Test compaction / Stuck-at fault / Internal bridging fault / Open fault / LSIテスト / マルチサイクルテスト / 信号伝搬遅延変動 / テストパターン数削減 / テスト容易化設計 / 故障辞書 / 機械学習 / テストポイント / 出力圧縮 / ニューラルネットワーク / テストパターン / アダプティブ故障診断 / フィールドテスト / 出力応答圧縮 / バイナリーニューラルネットワーク / バウンダリスキャン / セキュリティ / テスト容易化 / 時空間グラフ畳み込みニューラルネットワーク / AI（人工知能） / MRP / ニューラルネットワーク（NN） / シストリックアレイ / 深層強化学習 / 集積回路回路 / シストリックアーキテクチャ / メモリ
研究課題
研究成果
共同研究者
注目研究はありません。