プリシリコンテストとポストシリコンテストを併用したタイミング不良診断法の開発
KAKEN 科学研究費助成事業データベース で見る| 研究課題番号 | KAKENHI-PROJECT-25330063 |
|---|---|
| 研究種目 | 基盤研究(C) |
| 研究分野 | 総合系 情報学 計算基盤 計算機システム |
| 研究機関 | 愛媛大学 |
| 代表研究者 | 高橋 寛 |
| 研究分担者 | 樋上 喜信 |
| 研究分担者 | 四柳 浩之 |
| 研究期間 開始年月日 | 2013/4/1 |
| 研究期間 終了年度 | 2016 |
| 研究ステータス | 完了 (2016/4/1) |
| 配分額（合計） | 4,420,000 (直接経費 :3,400,000、間接経費 :1,020,000) |
| 配分額（履歴） |
2015年度：1,820,000 (直接経費 :1,400,000、間接経費 :420,000) 2014年度：1,560,000 (直接経費 :1,200,000、間接経費 :360,000) 2013年度：1,040,000 (直接経費 :800,000、間接経費 :240,000) |
| キーワード | ディペンダブルコンピューティング 故障検査 故障診断 オープン故障 タイミング不良 テスト 診断 オンチップセンサー 抵抗性オープン故障 ポストシリコンテスト プリシリコンテスト 故障診断法 診断用テスト 遅延故障 組込み自己テスト 組込み自己診断 |