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組み込みシステムに対するソフト/ハード協調テスト法の開発

KAKEN 科学研究費助成事業データベース で見る
研究課題番号 KAKENHI-PROJECT-18500055
研究種目 基盤研究(C)
研究分野 総合・新領域系
総合領域
情報学
計算機システム・ネットワーク
研究機関 愛媛大学
代表研究者 高松 雄三
研究分担者 高橋 寛
研究分担者 樋上 喜信
研究分担者 阿萬 裕久
研究期間 開始年月日 2006/4/1
研究期間 終了年度 2008
研究ステータス 完了 (2008/4/1)
配分額(合計) 4,000,000 (直接経費 :3,400,000、間接経費 :600,000)
配分額(履歴) 2008年度:1,040,000 (直接経費 :800,000、間接経費 :240,000)
2007年度:1,560,000 (直接経費 :1,200,000、間接経費 :360,000)
2006年度:1,400,000 (直接経費 :1,400,000)
キーワード 組み込みシステム
テスト
ハードウエア
ソフトウエア
協調テスト
ソフト
ハード協調設計
ハード協調テスト
テストケース
ソフトウエアメトリクス
保守性
ハードウエア記述言語

研究成果

[学会発表] オープンソース開発におけるバグ報告累積数の成長曲線モデルを用いた分析

黒川耕平, 阿萬裕久 2008

[学会発表] ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について

高橋 寛, 樋上 喜信, 阿萬 裕久, 釜山 天平, 小林 真也, 高松 雄三 2008

[学会発表] 原因-結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケース生成法

藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三 2008

[学会発表] 原因-結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケール生成法

藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三 2008

[学会発表] オープンソース開発におけるバグ報告累積数の成長曲線モデルを用いた分析

黒川耕平, 阿萬裕久 2008

[雑誌論文] ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケール生成法

樋上喜信, 藤尾昇平, 阿萬裕久, 高橋寛, 高松雄三 2008

[学会発表] 要求仕様作成に対する直交表を用いた支援法について

阿萬裕久 2008

[学会発表] 要求仕様作成に対する直交表を用いた支援法について

阿萬裕久 2008

[雑誌論文] ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケース生成法

樋上喜信, 藤尾昇平, 阿萬裕久, 高橋寛, 高松雄三 2008

[学会発表] ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について

高橋寛, 樋上喜信, 阿萬裕久, 釜山天平, 小林真也, 高松雄三 2008

[学会発表] 直交表を用いた単体テストに関する考察~JUnit支援ツールの試作~

山田輝, 阿萬裕久, 高松雄三 2007

[学会発表] 直交表を用いた単体テストに関する考察 〜JUnit支援ツールの試作

山田 輝・阿萬 裕久・高松 雄三 2007

[学会発表] ハードウエア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用

阿萬裕久, 池田裕輔, 市川直樹, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三 2007

[雑誌論文] ハードウエア設計に対するソフトウエアメトリクスの適用

阿萬裕久, 池田裕輔, 市川直樹, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三 2007

[学会発表] ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法

樋上喜信, K. K. Saluja, 高橋寛, 小林真也, 高松雄三 2007

[雑誌論文] ソースコードの外部依存率と保守性との関係に関する考察

土居通夫, 阿萬裕久, 山田宏之 2006

[雑誌論文] ソースコードにおけるコメント文の割合と保守性との関係に関する考察

岡崎博和, 阿萬裕久, 山田宏之 2006

[雑誌論文] ソースコードの保守性に対するコメント文の影響

岡崎博和, 阿萬裕久, 山田宏之 2006

[雑誌論文] 組合せ回路および順序回路に対する検出・非検出情報に基づく診断用テスト圧縮法

樋上喜信, Kewal K. Saluja, 高橋寛, 小林真也, 高松雄三 2006

[雑誌論文] On Finding Don't Cares in Test Sequences for Sequential Circuits

Y. Higami, S. Kajihara, I. Pomeranz, S. Kobayashi and Y. Takamatsu 2006

[学会発表] Diagnosis of Transistor Shorts in Logic Test Environment

Y. Higami, K. K. Saluja, H. Takahasi, K. Kobayashi and Y. Takamatsu 2006