システム LSI におけるクロック信号線上の故障に対する検査法β診断法の開発
KAKEN 科学研究費助成事業データベース で見る| 研究課題番号 | KAKENHI-PROJECT-22500048 |
|---|---|
| 研究種目 | 基盤研究(C) |
| 研究分野 | 総合・新領域系 総合領域 情報学 計算機システム・ネットワーク |
| 研究機関 | 愛媛大学 |
| 代表研究者 | 樋上 喜信 |
| 研究分担者 | 高橋 寛 |
| 研究期間 開始年月日 | 2010/4/1 |
| 研究期間 終了年度 | 2012 |
| 研究ステータス | 完了 (2012/4/1) |
| 配分額（合計） | 3,250,000 (直接経費 :2,500,000、間接経費 :750,000) |
| 配分額（履歴） |
2012年度：650,000 (直接経費 :500,000、間接経費 :150,000) 2011年度：1,560,000 (直接経費 :1,200,000、間接経費 :360,000) 2010年度：1,040,000 (直接経費 :800,000、間接経費 :240,000) |
| キーワード | ディペンダブルコンピューティング 論理回路の故障検査 LSIの故障診断 故障検査 システムLSI クロック信号線 遅延故障 テストパターン生成 LSIの設計・テスト 故障診断 論理回路 |