トップ›研究者を探す›つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発

つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発

KAKEN 科学研究費助成事業データベース で見る
研究課題番号 KAKENHI-PROJECT-19K11878
研究種目 基盤研究(C)
研究分野
研究機関 愛媛大学
代表研究者 高橋 寛
研究分担者 樋上 喜信
研究分担者 王 森レイ
研究期間 開始年月日 2019/4/1
研究期間 終了年度 2022
研究ステータス 完了 (2022/4/1)
配分額（合計） 2,600,000 (直接経費 :2,000,000、間接経費 :600,000)
配分額（履歴） 2021年度：910,000 (直接経費 :700,000、間接経費 :210,000)
2020年度：910,000 (直接経費 :700,000、間接経費 :210,000)
2019年度：780,000 (直接経費 :600,000、間接経費 :180,000)
キーワード フィールドテスト
つながるデバイス
信頼性強化設計法
組込み自己テスト
認証方式
テスト容易化設計法
検査容易化設計

研究成果

[雑誌論文] グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法

魏　少奇・塩谷晃平・王　森レイ・甲斐　博・樋上喜信・高橋　寛 2023

[学会発表] JTAG 認証機構の軽量化設計について

馬竣 岡本悠 王森レイ 甲斐博 亀山修一　高橋寛　清水明宏 2022

[学会発表] シングルボードコンピュータ上でのSAS認証方式の計算時間の評価

荻田高史郎　甲斐　博・王　森レイ・高橋　寛・清水明宏 2022

[学会発表] エッジデバイスにおける SAS 認証回路の設計と実装

岡本 悠, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 清水 明宏 2022

[学会発表] マルチサイクルテストによるテストパターン削減

中野 潤平, 王 森レイ, 甲斐 博, 樋上 喜信, 高橋 寛 2022

[学会発表] SAS-L を用いた JTAG 認証システムのアクセスポートロック機能回路の設計と実装

馬 竣, 岡本 悠, 王 森レイ, 甲斐 博, 亀山 修一, 高橋 寛, 清水 明宏 2022

[学会発表] マルチサイクルの機能動作による故障診断能力の向上について

神崎 壽伯, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛 2022

[学会発表] グラフ構造強化学習を用いたテスト検査点選定法

塩谷 晃平, 魏 少奇, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛 2022

[雑誌論文] 軽量なワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のFPGA実装と面積評価

岡本 悠, 馬 竣, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 清水明宏 2022

[雑誌論文] JTAGのセキュリティ脅威 　―攻撃の現状とその対策―

王シンレイ，亀山修一，高橋寛 2021

[学会発表] グラフ畳み込みニューラルネットワークを用いたテストポイント選定について

魏少奇, 王森レイ, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛 2021

[学会発表] マルチサイクルテストの導入による組込自己診断の故障診断能力評価

王宇超, 王森レイ, 樋上喜信, 甲斐博, 高橋寛 2021

[学会発表] マルチサイクル機能動作による故障診断用パターン生成

神崎壽伯, 王シンレイ, 樋上喜信, 甲斐博, 高橋寛 2021

[雑誌論文] マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法

青野智己, 中岡典弘, 周　細紅, 王　森レイ, 樋上喜信, 高橋　寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋　潤 2020

[学会発表] ハイブリッドテストポイント挿入法のマルチサイクルテストへの適用とその性能評価

中岡典弘・青野智己・王　森レイ・高橋　寛・ 松嶋　潤・岩田浩幸・前田洋一 2020

[雑誌論文] マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法

環　輝・王　森レイ・樋上喜信・高橋　寛・岩田浩幸・前田洋一・松嶋　潤 2020

[雑誌論文] FF-Control Point Insertion (FF-CPI) to Overcome the Degradation of Fault Detection under Multi-Cycle Test for POST

Al-AWADHI Hanan T.、AONO Tomoki、WANG Senling、HIGAMI Yoshinobu、TAKAHASHI Hiroshi、IWATA Hiroyuki、MAEDA Yoichi、MATSUSHIMA Jun 2020

[学会発表] マルチサイクルテストのテスト容易化のための制御ポイント選定法

環　輝・王　森レイ・樋上喜信・高橋　寛 2020

[雑誌論文] マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法

中岡典弘・王　森レイ・樋上喜信・高橋　寛・岩田浩幸・前田洋一・松嶋　潤 2020

[学会発表] マルチサイクルテストにおける故障検出低下問題の解析とその対策

青野智己,王　森レイ, 樋上喜信, 高橋　寛 2019

[雑誌論文] 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析

中岡典弘，青野智己，工藤壮司，王　森レイ，樋上喜信，高橋　寛，岩田浩幸，前田洋一，松嶋　潤 2019