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アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究

KAKEN 科学研究費助成事業データベース で見る
研究課題番号 KAKENHI-PROJECT-19K11877
研究種目 基盤研究(C)
研究分野
研究機関 愛媛大学
代表研究者 樋上 喜信
研究分担者 稲元 勉
研究分担者 高橋 寛
研究分担者 王 森レイ
研究期間 開始年月日 2019/4/1
研究期間 終了年度 2023
研究ステータス 交付 (2022/4/1)
配分額(合計) 4,290,000 (直接経費 :3,300,000、間接経費 :990,000)
配分額(履歴) 2021年度:1,040,000 (直接経費 :800,000、間接経費 :240,000)
2020年度:910,000 (直接経費 :700,000、間接経費 :210,000)
2019年度:2,340,000 (直接経費 :1,800,000、間接経費 :540,000)
キーワード 故障診断
故障辞書
ニューラルネットワーク
テストパターン
組込み自己テスト
LSIテスト
アダプティブ故障診断
LSIの故障診断
フィールドテスト
テストパターン生成
出力応答圧縮

研究成果

[雑誌論文] Preliminary Study on Noise-Resilient Artificial Neural Networks for On-Chip Test Generation

Tsutomu Inamoto, Tomoki Nishino, Senling Wang, Yoshinobu Higami and Hiroshi Takahashi 2022

[学会発表] 圧縮優先度の近似的計算による故障辞書の圧縮処理時間の短縮

濱野郁也,稲元勉,樋上喜信 2022

[雑誌論文] Machine Learning Based Fault Diagnosis for Stuck-at Faults and Bridging Faults

Yoshinobu Higami, Takaya Yamauchi, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja 2022

[学会発表] 機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断

山内崇矢,稲元勉,王森レイ,樋上喜信,高橋寛 2021

[雑誌論文] Compaction of Fault Dictionary without Degrading Diagnosis Ability,

Yoshinobu Higami, Tomokazu Nakamura, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja 2021

[雑誌論文] Preliminary Evaluation of Artificial Neural Networks as Test Pattern Generators for BIST

Tsutomu Inamoto, Kazuki Ohtomo, and Yoshinobu Higami 2021

[雑誌論文] Reduction of Fault Dictionary Size by Optimizing the Order of Test Patterns Application

Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja 2020

[雑誌論文] Formulation of a Test Pattern Measure that Counts Distinguished Fault-Pairs for Circuit Fault Diagnosis

Tsutomu Inamoto and Yoshinobu Higami 2020

[雑誌論文] Regeneration of Test Patterns for BIST by Using Artificial Neural Networks

Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami 2020

[雑誌論文] 畳み込みニューラルネットワークを用いたテストパターンの再生

稲元 勉, 樋上 喜信 2019

[雑誌論文] Compact Dictionaries for Reducing Compute Time in Adaptive Diagnosis

Yoshinobu Higami, Tomokazu Nakamura, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K Saluja 2019

[雑誌論文] Application of Convolutional Neural Networks to RegenerateDeterministic Test Pattern for BIST

Tsutomu Inamoto and Yoshinobu Higami 2019