高速VLSIのクロストーク故障に対する高信頼テスト手法に関する研究
KAKEN 科学研究費助成事業データベース で見る| 研究課題番号 | KAKENHI-PROJECT-19500045 |
|---|---|
| 研究種目 | 基盤研究(C) |
| 研究分野 | 総合・新領域系 総合領域 情報学 計算機システム・ネットワーク |
| 研究機関 | 愛媛大学 |
| 代表研究者 | 樋上 喜信 |
| 研究分担者 | 高橋 寛 |
| 研究期間 開始年月日 | 2007/4/1 |
| 研究期間 終了年度 | 2009 |
| 研究ステータス | 完了 (2009/4/1) |
| 配分額（合計） | 3,380,000 (直接経費 :2,600,000、間接経費 :780,000) |
| 配分額（履歴） |
2009年度：1,040,000 (直接経費 :800,000、間接経費 :240,000) 2008年度：1,300,000 (直接経費 :1,000,000、間接経費 :300,000) 2007年度：1,040,000 (直接経費 :800,000、間接経費 :240,000) |
| キーワード | VLSI(大規模集積回路) テスト 故障診断 クロストーク故障 テストパターン生成 トランジスタショート ゲートレベルツール 故障シミュレーション 高信頼化 論理回路 VLSIのテスト シミュレーション 故障モデル |