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機能安全技術のための組込み自己診断法の開発

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研究課題番号 KAKENHI-PROJECT-16K00074
研究種目 基盤研究(C)
研究分野 総合系
情報学
計算基盤
計算機システム
研究機関 愛媛大学
代表研究者 高橋 寛
研究分担者 大竹 哲史
研究分担者 樋上 喜信
研究分担者 王 森レイ
研究期間 開始年月日 2016/4/1
研究期間 終了年度 2018
研究ステータス 完了 (2018/4/1)
配分額(合計) 3,900,000 (直接経費 :3,000,000、間接経費 :900,000)
配分額(履歴) 2018年度:1,560,000 (直接経費 :1,200,000、間接経費 :360,000)
2017年度:1,300,000 (直接経費 :1,000,000、間接経費 :300,000)
2016年度:1,040,000 (直接経費 :800,000、間接経費 :240,000)
キーワード 故障検査
組込み自己診断
組込み自己テスト
機能安全
組込み自己診断法
LSIのテスト
先進自動運転
故障診断
先進運転支援システム
計算機システム
ディペンダブル・コンピューティング

研究成果

[雑誌論文] Automotive Functional Safety Assurance by POST with Sequential Observation

S. Wang, Y. Higami, H. Iwata, J. Matsushima, H. Takahashi 2018

[雑誌論文] Fault-Detection-Strengthened Method to Enable the POST for Very-Large Automotive MCU in Compliance with ISO26262

S. Wang , Y. Higami, H. Iwata, Y. Maeda, J. Matsushima, H. Takahasi 2018

[学会発表] 機械学習を適用した半断線故障判別法の評価

増成紳介,青萩正俊,王森レイ, 樋上喜信,高橋寛,四柳浩之,橋爪正樹 2018

[学会発表] 機能安全要求のためのテスト容易化設計法

高橋寛 2018

[雑誌論文] Fault-detection-strengthened method to enable the POST for very-large automotive MCU in compliance with ISO26262

Senling Wang,Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Hiroyuki Iwata,Yoichi Maeda,Jun Matsushima 2018

[雑誌論文] Automotive Functional Safety Assurance by POST with Sequential Observation

S. Wang, Y. Higami, H. Takahashi, H. Iwata, J. Matsushima 2018

[学会発表] 期待署名自己生成に基づく組込み自己診断機構

平本悠翔郎,大竹哲史,高橋 寛 2018

[学会発表] キャプチャパターン制御機構を付加したフリップフロップの選択法

矢野良典,青野智己,王森レイ, 樋上喜信,高橋 寛 2018

[学会発表] マルチサイクルテストの故障検出率の低下を改善するためのキ ャプチャパターン制御法

青野智己,矢野良典,王森レイ, 樋上喜信,高橋寛 2018

[雑誌論文] Capture-Pattern-Control to Address the Fault Detection Degradation Problem of Multi-cycle Test in Logic BIST

Senling Wang,Tomoki Aono,Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Hiroyuki Iwata,Yoichi Maeda,Jun Matsushima 2018

[雑誌論文] Pattern Partitioning based Field Testing for Improving the Detection Latency of Aging-induced Delay Faults

H.T. Al-Awadhi, S. Wang, Y. Higami, H. Takahashi 2017

[学会発表] 可変サイクルテストのテスト圧縮効果

矢野 良典,王森レイ,樋上喜信,高橋 寛 2017

[学会発表] マルチサイクルテストにおける故障検出率最大化のための電力制御法

高原 圭太,王森レイ,樋上喜信,高橋 寛 2017

[学会発表] 再構成可能デバイスMRLDのための接続欠陥テスト

小川達也,王森レイ,高橋 寛,佐藤正幸 2017

[雑誌論文] Testing of Interconnect Defects in Memory Based Reconfigurable Logic Device (MRLD)

Wang Senling、Higami Yoshinobu、Takahashi Hiroshi、Sato Masayuki、Katsu Mitsunori、Sekiguchi Shoichi 2017

[学会発表] 組込み自己診断向けのテストパターン生成法

松田 優太,王森レイ,樋上喜信,高橋 寛 2017

[学会発表] フィールドテストにおけるテスト集合分割法

青萩 正俊,増成 紳介,王森レイ,樋上喜信,高橋 寛 2017

[雑誌論文] Structure-Based Methods for Selecting Fault-Detection-Strengthened FF under Multi-cycle Test with Sequential Observation

Senling Wang, Hanan T. Al-Awadhi, Soh Hamada, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Jun Matsushima 2016

[学会発表] 矢野郁也, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛

矢野郁也, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 2016

[学会発表] 中間観測FF選択法の大規模ベンチマーク回路に対する評価

濱田 宗, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛, 岩田 浩幸, 松嶋 潤 2016

[学会発表] マルチサイクテストにおけるFFの接続 情報を用いた中間観測FFの選択法

高原 圭太, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 2016

[雑誌論文] 論理回路の組込み自己診断に関する提案

香川 敬祐, 矢野 郁也, 王 森レイ,樋上 喜信,高橋 寛,大竹 哲史 2016