超高速・超微細VLSIに対する組込み自己テスト手法と故障診断法に関する研究
KAKEN 科学研究費助成事業データベース で見る| 研究課題番号 | KAKENHI-PROJECT-15500043 |
|---|---|
| 研究種目 | 基盤研究(C) |
| 研究分野 | 総合・新領域系 総合領域 情報学 計算機システム・ネットワーク |
| 研究機関 | 愛媛大学 |
| 代表研究者 | 高松 雄三 |
| 研究分担者 | 高橋 寛 |
| 研究分担者 | 樋上 喜信 |
| 研究期間 開始年月日 | 2003/4/1 |
| 研究期間 終了年度 | 2005 |
| 研究ステータス | 完了 (2005/4/1) |
| 配分額（合計） | 3,700,000 (直接経費 :3,700,000) |
| 配分額（履歴） |
2005年度：700,000 (直接経費 :700,000) 2004年度：1,200,000 (直接経費 :1,200,000) 2003年度：1,800,000 (直接経費 :1,800,000) |
| キーワード | 論理回路の故障検査 故障診断 組込み自己テスト テスト圧縮 縮退故障 内部ブリッジ故障 オープン故障 論理回路のテスト 故障検査 ブリッジ故障 クロストーク故障 ドントケア値 VLSIの故障検査 VLSIの故障診断 遅延故障 テスト系列圧縮 消費電力削減 Testing of LSIs Fault diagnosis Built-in self test Test compaction Stuck-at fault Internal bridging fault Open fault |