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分子/半導体表面の個々の原子サイトを選別した局所電子状態、電子励起ダイナミクス

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研究課題番号 KAKENHI-PROJECT-24360021
研究種目 基盤研究(B)
研究分野 理工系
工学
応用物理学・工学基礎
薄膜・表面界面物性
研究機関 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構
代表研究者 間瀬 一彦
研究分担者 小澤 健一
研究分担者 垣内 拓大
連携研究者 長岡 伸一
連携研究者 奥平 幸司
連携研究者 田中 正俊
連携研究者 奥沢 誠
研究期間 開始年月日 2012/4/1
研究期間 終了年度 2014
研究ステータス 完了 (2014/4/1)
配分額(合計) 19,630,000 (直接経費 :15,100,000、間接経費 :4,530,000)
配分額(履歴) 2014年度:2,730,000 (直接経費 :2,100,000、間接経費 :630,000)
2013年度:2,860,000 (直接経費 :2,200,000、間接経費 :660,000)
2012年度:14,040,000 (直接経費 :10,800,000、間接経費 :3,240,000)
キーワード 表面
局所電子状態
電子励起ダイナミクス
光電子分光
オージェ電子分光
コインシデンス分光
半導体
吸着分子
半導体表面
電子励起誘起イオン脱離

研究成果

[学会発表] Au-N6,7VVオージェ電子-Au-4f光電子コインシデンス分光測定によるAu-4f内殻正孔緩和過程の研究

小玉開,田中正人,大野真也,垣内拓大,間瀬一彦,奥平幸司,田中正俊,田中慎一郎 2015

[学会発表] Decay Processes of Si 2s Core Holes in Si(111)-7×7 Revealed by Si Auger Electron Si 2s Photoelectron Coincidence Measurements

K. Mase, K. Hiraga, S. Arae, R. Kanemura, Y. Takano, K. Yanase, Y. Ogashiwa, N. Shohata, N. Kanayama, T. Kakiuchi, S. Ohno, D. Sekiba, K. Okudaira, M. Okusawa, M, Tanaka 2014

[雑誌論文] Decay Processes of Si 2s Core Holes in Si(111)-7×7 Revealed by Si Auger Electron Si 2s Photoelectron Coincidence Measurements

K. Mase, K. Hiraga, S. Arae, R. Kanemura, Y. Takano, K. Yanase, Y. Ogashiwa, N. Shohata, N. Kanayama, T. Kakiuchi, S. Ohno, D. Sekiba, K. K. Okudaira, M. Okusawa and M. Tanaka 2014

[雑誌論文] Attempts to Improve the Sensitivity and the Energy Resolution of an Analyzer for Auger Photoelectron Coincidence Spectroscopy and Electron Ion Coincidence Spectroscopy

Sadanori Arae, Rui Kanemura, Kenta Hiraga, Yosuke Ogashiwa, Kohtaro Yanase, Noritsugu Kanayama, Shinya Ohno, Takuhiro Kakiuchi, Kazuhiko Mase, Koji K. Okudaira, Makoto Okusawa, Masatoshi Tanaka 2013