積層チップ間の故障テスト用信号生成・供給回路設計手法の開発
KAKEN 科学研究費助成事業データベース で見る| 研究課題番号 | KAKENHI-PROJECT-18K11218 |
|---|---|
| 研究種目 | 基盤研究(C) |
| 研究分野 | |
| 研究機関 | 徳島大学 |
| 代表研究者 | 四柳 浩之 |
| 研究期間 開始年月日 | 2018/4/1 |
| 研究期間 終了年度 | 2020 |
| 研究ステータス | 完了 (2020/4/1) |
| 配分額（合計） | 4,550,000 (直接経費 :3,500,000、間接経費 :1,050,000) |
| 配分額（履歴） |
2020年度：1,560,000 (直接経費 :1,200,000、間接経費 :360,000) 2019年度：1,560,000 (直接経費 :1,200,000、間接経費 :360,000) 2018年度：1,430,000 (直接経費 :1,100,000、間接経費 :330,000) |
| キーワード | VLSIの検査技術 検査容易化設計 ３次元積層IC 遅延故障 LSIテスト ディペンダブル・コンピューティング ディペンダブルコンピューティング VLSIのテスト技術 VLSIの検査容易化設計 故障検出 |