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高精度遅延故障シミュレータを用いた遅延故障に対するテストと診断に関する研究

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研究課題番号 KAKENHI-PROJECT-16K00075
研究種目 基盤研究(C)
研究分野 総合系
情報学
計算基盤
計算機システム
研究機関 愛媛大学
代表研究者 樋上 喜信
研究分担者 高橋 寛
研究分担者 王 森レイ
研究期間 開始年月日 2016/4/1
研究期間 終了年度 2019
研究ステータス 完了 (2019/4/1)
配分額（合計） 4,420,000 (直接経費 :3,400,000、間接経費 :1,020,000)
配分額（履歴） 2018年度：1,560,000 (直接経費 :1,200,000、間接経費 :360,000)
2017年度：1,430,000 (直接経費 :1,100,000、間接経費 :330,000)
2016年度：1,430,000 (直接経費 :1,100,000、間接経費 :330,000)
キーワード LSIのテスト
故障診断
遅延故障
LSIテスト
マルチサイクルテスト
縮退故障
信号伝搬遅延変動
テストパターン数削減
ブリッジ故障
故障シミュレーション

研究成果

[学会発表] 圧縮故障辞書を用いたフィールド故障診断

中村 友和, 稲元 勉, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 2019

[学会発表] Fault Diagnosis Considering Path Delay Variations in Multi Cycle Test Environment

Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K Saluja 2018

[学会発表] Adaptive Field Diagnosis for Reducing Computing Time

Yoshinobu Higami 2018

[雑誌論文] A Method for Diagnosing Bridging Fault between a Gate Signal Line and a Clock Line

Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja 2017

[学会発表] Adaptive Field Diagnosis for Reducing the Number of Test Patterns

Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi and K. K. Saluja 2017

[学会発表] Fault Simulation using Hazard Signals and Its Application to Fault Diagnosis for Delay Faults

Y. Higami 2017

[学会発表] Test Generation Methods for Delay Faults on Clock Lines

Y. Higami 2017

[学会発表] Multi-Cycle Test Diagnosis for Path Delay Variations

Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja 2016

[学会発表] マルチサイクルテストにおけるクロック信号線のd-故障に対するテストパターン生成について

和田祐介, 樋上喜信, 王森レイ, 高橋寛, 小林真也 2016