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高橋 寛
愛媛大学
2024年12月23日更新
- 職名
- 教授
- 電話
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- 電子メール
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- 学歴
- 1984/04-1988/03 佐賀大学
1988/04-1990/03 佐賀大学 - 学位
- 博士（工学） Ehime University
- 職歴・経歴
- 1990/04-1997/03 愛媛大学 工学部 情報工学科 助手
1997/04-2000/03 愛媛大学 工学部 情報工学科 講師
2000/04-2010/03 愛媛大学 大学院理工学研究科 准教授
2000/05-2001/03 米国ウィスコンシン大学 マディソン校 在外研究員
2010/10-現在 愛媛大学大学院 教授
2018/04/01-2024/03/31 愛媛大学 工学部 工学部長
2024/04/01-2027/03/31 愛媛大学 機構長・副学長
- 専門分野・研究分野
- 情報通信 / 計算機システム
2024年12月23日更新
- 専門分野・研究分野
- 情報通信 / 計算機システム
- 担当経験のある授業科目
- 基礎情報科学
論理回路
計算機システム特論Ｉ
計算機システム概論B
計算機システムⅠ
組込みシステム開発基礎
情報システム工学特論Ⅲ
DS/AI活用PBL演習１
コンピュータ工学入門
学部共通PBL
DS/AI活用PBL演習２
計算機システム概論A - 指導経験
- 2024,第１クォーター,工学部,基礎情報科学
2024,第１クォーター,工学部,論理回路
2024,第１クォーター,理工学研究科（博士前期課程2006〜）,計算機システム特論Ｉ
2024,第１クォーター,理工学研究科（博士前期課程2006〜）,計算機システム概論B
2024,第２クォーター,工学部,計算機システムⅠ
2024,前期,工学部,組込みシステム開発基礎
2024,前期,理工学研究科（博士後期課程2006〜）,情報システム工学特論Ⅲ
2024,前期,理工学研究科（博士前期課程2006〜）,DS/AI活用PBL演習１
2024,後期,工学部,コンピュータ工学入門
2024,後期,工学部,学部共通PBL
2024,後期,理工学研究科（博士前期課程2006〜）,DS/AI活用PBL演習２
2024,後期,理工学研究科（博士前期課程2006〜）,計算機システム概論A
2024年12月23日更新
- 専門分野・研究分野
- 情報通信 / 計算機システム
- 研究テーマ
- design and test for computer systems
dependable computing
test generation
fault diagnosis
fault modeling
hardware description language
embedded system
情報システムの設計とテスト
ディペンダブルコンピューティング
テスト生成
故障診断
故障モデル．ハードウェア記述言語
システムの高信頼化
組込みシステム
- 著書
- はかる×わかる半導体 半導体 入門編 浅田邦博一般社団法人パワーデバイスイネーブリング協会 日経BPコンサルティング 2020/12/14 ISBN: 4864430713
Three-Dimensional Integration of Semiconductors: Processing, Materials, and Applications Kazuo KondoMorihiro KadaKenji Takahashi Springer 2015/12
はかる×わかる半導体 半導体テスト技術者検定3級 問題集 浅田邦博一般社団法人パワーデバイスイネーブリング協会 日経BPコンサルティング 2014/12/11 ISBN: 4864430713
LSIテスティングハンドブック LSIテスティング学会 オーム社 2008/11 ISBN: 4274206327
新版 論理設計入門 (情報処理基礎シリーズ) 相原 恒博高松 雄三林田 行雄高橋 寛 日新出版 2002/10/30 ISBN: 4817302070 - 論文
- Testing and Delay-Monitoring for the High Reliability of Memory-based Programmable Logic Device Xihong ZHOUSenling WANGYoshinobu HIGAMIHiroshi TAKAHASHI 2023/10 IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems E106-D/ 10 研究論文（学術雑誌）
ワンタイムパスワードによるJTAGアクセス認証アーキテクチャのFPGA実装と機能検証 馬竣岡本悠魏少奇王森レイ甲斐博高橋寛清水明宏 2023 エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM) 37th
グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法 WEI Shaoqi塩谷晃平WANG Senling甲斐博樋上喜信高橋寛 2023 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 122/ 393(DC2022 82-92)
QR-Code with Superimposed Text. Naoya TaharaSenling WangHiroshi KaiHiroshi TakahashiMasakatu Morii 2023 APNOMS 259-262 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Improving of Fault Diagnosis Ability by Test Point Insertion and Output Compaction Yoshinobu HigamiTsutomu InamotoSenling WangHiroshi TakahashiKewal K. Saluja 2023 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications, ITC-CSCC 2023 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning Shaoqi WeiKohei ShiotaniSenling WangHiroshi KaiYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiGang Wang 2023 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications, ITC-CSCC 2023 研究論文（国際会議プロシーディングス）
軽量なワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のFPGA実装と面積評価 岡本 悠馬 竣王 森レイ甲斐 博高橋 寛清水明宏 2022/11 電子情報通信学会技術報告 DC2022/ 64, 168-173
Preliminary Study on Noise-Resilient Artificial Neural Networks for On-Chip Test Generation Tsutomu InamotoTomoki NishinoSenling WangYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2022/10 Proc. IEEE Global Conference on Consumer Electronics 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Test Point Insertion for Multi-Cycle Power-On Self-Test Senling WangXihong ZhouYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiHiroyuki IwataYoichi MaedaJun Matsushima 2022/09/13 ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems 28/ 3, 46-21 研究論文（学術雑誌）
Machine Learning Based Fault Diagnosis for Stuck-at Faults and Bridging Faults Yoshinobu HigamiTakaya YamauchiTsutomu InamotoSenling WangHiroshi TakahashiKewal K. Saluja 2022/07/05 2022 37th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 研究論文（国際会議プロシーディングス）
JTAG認証機構の軽量化設計について 馬竣岡本悠王森レイ甲斐博亀山修一高橋寛清水明宏 2022 エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM) 36th
マルチサイクルの機能動作による故障診断能力の向上について 神崎壽伯WANG S.甲斐博高橋寛 2022 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022
ローエンドエッジデバイスにおけるSAS認証方式の処理時間の評価 荻田高史郎清水健吾中西佳菜子甲斐博WANG S.高橋寛清水明宏 2022 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022
SAS-Lを用いたJTAG認証システムのアクセスポートロック機能回路の設計と実装 MA J.岡本悠WANG S.甲斐博亀山修一高橋寛清水明宏 2022 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022
RS符号の消失訂正を用いたAesthetic QRコードの生成法 田原直哉甲斐博WANG S.高橋寛森井昌克 2022 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022
マルチサイクルテストによるテストパターン削減 中野潤平WANG S.甲斐博樋上喜信高橋寛 2022 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022
グラフ構造強化学習を用いたテスト検査点選定法 塩谷晃平WEI S.Q.WANG S.甲斐博高橋寛 2022 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022
エッジデバイスにおけるSAS認証回路の設計と実装 岡本悠WANG S.甲斐博高橋寛清水明宏 2022 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022
シングルボードコンピュータ上でのSAS認証方式の計算時間の評価 荻田高史郎甲斐博WANG Seiling高橋寛清水明宏 2022 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2022
地方大学におけるSociety 5.0 に向けた新しい技術者リカレント教育の挑戦 高橋 寛 2022 産学官連携ジャーナル 18/ 3, 20-23 研究論文（その他学術会議資料等）
ディープニューラルネットワークを利用したシステムに対する高効率な検証法 白石忠明高橋寛WANG Senling 2022 情報科学技術フォーラム講演論文集 21st 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
JTAGのセキュリティ脅威―攻撃の現状とその対策― 王 森レイ亀山 修一高橋 寛 2021/11/01 エレクトロニクス実装学会誌 24/ 7, 668-674
MNN: A Solution to Implement Neural Networks into a Memory-based Reconfigurable Logic Device (MRLD) Xihong ZhouSenling WangYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiMitsunori KatsuShoichi Sekiguchi 2021/06/27 2021 36th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Compaction of Fault Dictionary without Degrading Diagnosis Ability Yoshinobu HigamiTomokazu NakamuraTsutomu InamotoSenling WangHiroshi TakahashiKewal K. Saluja 2021/06/27 2021 36th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 研究論文（国際会議プロシーディングス）
WebGLによるネットワークトラフィック可視化方法の検討 松浦拓海WANG S.甲斐博高橋寛森井昌克 2021 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021
グラフ畳み込みニューラルネットワークを用いたテストポイント選定について WEI S.Q.WANG S.L.甲斐博樋上喜信高橋寛 2021 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021
マルチサイクルテストの導入による組込自己診断の故障診断能力評価 WANG Y.Wang S.樋上喜信甲斐博高橋寛 2021 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021
マルチサイクルの機能動作による故障診断用パターン生成 神崎壽伯WANG S.甲斐博樋上喜信高橋寛 2021 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021
Aesthetic QRコードを生成するソフトウェアの実装に関する研究 福田諒也WANG S.甲斐博高橋寛森井昌克 2021 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021
機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断 山内崇矢稲元勉WANG S.樋上喜信高橋寛 2021 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021
機械学習を用いたマルウェアの機能推定に関する研究 中島拓哉児玉光平WANG S.甲斐博高橋寛森井昌克 2021 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021
マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法 中岡典弘WANG Senling樋上喜信高橋寛岩田浩幸前田洋一松嶋潤 2021 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 120/ 358(DC2020 69-79)
FF-Control Point Insertion (FF-CPI) to Overcome the Degradation of Fault Detection under Multi-Cycle Test for POST Hanan T. Al-AWADHITomoki AONOSenling WANGYoshinobu HIGAMIHiroshi TAKAHASHIHiroyuki IWATAYoichi MAEDAJun MATSUSHIMA 2020/11/01 IEICE Transactions on Information and Systems E103.D/ 11, 2289-2301 研究論文（学術雑誌）
Ring-Oscillator Implementation for Monitoring the Aging State of Memory-based Reconfigurable Logic Device (MRLD) Xihong ZhouSenling WangYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2020/07 International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC2020) 34th 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Reduction of Fault Dictionary Size by Optimizing the Order of Test Patterns Application Yoshinobu HigamiTsutomu InamotoSenling WangHiroshi TakahashiKewal K. Saluja 2020/07 International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC2020) -, 131-136 研究論文（学術雑誌）
工学部における課題解決型教育の試行結果と問題点—Trial results and problems of Problem-Based Learning type education in engineering department 勝田 順一中原 真也三浦 清孝高橋 寛 2020/03 大学教育実践ジャーナル 18, 53-59 研究論文（大学，研究機関紀要）
メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装 周 細紅王 森レイ樋上 喜信高橋 寛 2020/03 第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会講演集 34 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
ハイブリッドテストポイント挿入法のマルチサイクルテストへの適用とその性能評価 中岡典弘青野智己王 森レイ高橋 寛松嶋 潤岩田浩幸前田洋一 2020/03 2020年電子情報通信学会総合大会 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法 青野智己中岡典弘周 細紅王 森レイ樋上喜信高橋 寛岩田浩幸前田洋一松嶋 潤 2020/02 電子情報通信学会技術研究報告 119/ 420
車載組込みシステム技術者の育成～enPiT-Pro Embでの教育実践～—招待論文 山本 雅基塩見 彰睦岡村 寛之高橋 寛沢田 篤史高田 広章 2020/01/15 デジタルプラクティス 11/ 1
電子メールによる情報提供システムへのアクセス方法の検討 浅沼和希岡田奈々松浦拓海福田諒也児玉光平甲斐博WANG S.高橋寛 2020 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2020
マルチサイクルテストのテスト容易化のための制御ポイント選定法 環輝WANG Senling樋上喜信高橋寛 2020 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2020
Aging Monitoring for Memory-based Reconfigurable Logic Device (MRLD) Xihong ZhouSenling WangYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2020 35TH INTERNATIONAL TECHNICAL CONFERENCE ON CIRCUITS/SYSTEMS, COMPUTERS AND COMMUNICATIONS (ITC-CSCC 2020) 228-233 研究論文（国際会議プロシーディングス）
NS形電気転てつ機の状態基準保全に関する研究 志田洋三崎友樹高橋寛 2020 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 120/ 288(DC2020 59-68)
マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法 環輝WANG Senling樋上喜信高橋寛岩田浩幸前田洋一松嶋潤 2020 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 120/ 234(VLD2020 11-38)
機械学習の異常検知による半断線故障判別法における温度依存性の検討 中西遼太郎四柳浩之橋爪正樹樋上喜信高橋寛 2020 電子情報通信学会技術研究報告 119/ 420(DC2019 86-97)(Web)
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析—Analysis of Fault Detection Degradation Issue in Multi-cycle Test Scheme using Probabilistic Evaluation Method—VLSI設計技術 ; デザインガイア2019 : VLSI設計の新しい大地 中岡 典弘青野 智己工藤 壮司王 森レイ樋上 喜信高橋 寛岩田 浩幸前田 洋一松嶋 潤 2019/11 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 119/ 282
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出低下問題の解析 中岡 典弘青野 智己工藤 壮司王 森レイ樋上 喜信高橋 寛岩田浩幸前田洋一松嶋 潤 2019/11 デザインガイア2019 -VLSI設計の新しい大地- 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
Raspberry Piを用いた画像処理とCNNによる微小害虫の計数システムの構築 阿部 寛人畝山 勇一朗中岡 典弘渡辺 友希福本 真也森田 航平中本 裕大周 細紅河野 靖木下 浩二一色 正晴二宮 崇田村 晃裕甲斐 博高橋 寛王 森レイ 2019/09 令和元年度電気関係学会四国支部連合大会論文集（CD-ROM) 2019
マルチサイクルテストにおける故障検出低下問 題の解析とその対策 青野 智己王 森レイ樋上 喜信高橋 寛 2019/09 電気関係学会四国支部連合大会 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
Feasibility of Machine Learning Algorithm for Test Partitioning Senling WangHanan T. Al-AwadhiMasatoshi AohagiYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2019/08 The 34th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC 2019) 217-220 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Compact Dictionaries for Reducing Compute Time in Adaptive Diagnosis Yoshinobu HigamiTomokazu NakamuraTsutomu InamotoSenling WangHiroshi TakahashiKewal K. Saluja 2019/08 The 34th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC 2019) inpress, 124-127 研究論文（国際会議プロシーディングス）
マハラノビス距離を用いた軌道回路の状態基準保全に関する考察 志田 洋二宮 崇高橋 寛 2019/06 電気学会論文誌 D (産業応用部門誌) 139/ 6, 588-596
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法 青野智己Hanan T.Al-Awadhi王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛岩田浩幸前田洋一松嶋潤(ルネサスエレクトロニクス 2019/02 信学技報 DC研究会信学技報 118/ 456, 49-54
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析 王 森レイ樋上 喜信高橋 寛 2019 電子情報通信学会技術報告 119
enPiT-Pro Embにおける社会人教育実践とその評価 名倉正剛高田広章山本雅基塩見彰睦野口靖浩岡村寛之高橋寛一色正晴WANG Senling甲斐博木下浩二田村晃裕二宮崇沢田篤史 2019 教育システム情報学会全国大会講演論文集(CD-ROM) 44th （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
A Built-In Self-Diagnostic Mechanism for Delay Faults Based on Self-Generation of Expected Signatures. Yushiro HiramotoSatoshi OhtakeHiroshi Takahashi 2019 28th IEEE Asian Test Symposium(ATS) 31-36 研究論文（国際会議プロシーディングス）
機械学習を応用した軌道回路の状態基準保全に関する研究 志田洋田村晃裕二宮崇高橋寛 2018/12 日本機械学会 第25回鉄道技術連合シンポジウム 25th （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
サウンドコード技術を利用した電気錠システムの開発 周 細紅王 森レイ高橋 寛 2018/09 電気関係学会四国支部連合大会
機械学習を適用した半断線故障判別法の評価 増成紳介青萩正俊王 森レイ樋上喜信高橋 寛四柳浩之橋爪正樹 2018/09 電気関係学会四国支部連合大会
マルチサイクルテストの故障検出率の低下を改善するための キャプチャパターン制御法 青野 智己矢野 良典王 森レイ樋上 喜信高橋 寛 2018/09 電気関係学会四国支部連合大会
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFF選択法 矢野 良典青野智己王森 レイ樋上喜信高橋 寛 2018/09 電気関係学会四国支部連合大会
バウンダリスキャン技術におけるテスト容易化設計とその最新状況 亀山 修一高橋 寛 2018/08/01 エレクトロニクス実装学会誌 21/ 5
機能安全要求のためのテスト容易化設計法 高橋寛 2018/08 情報処理学会DAシンポジウム 1-4 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
Test Method for the Bridge Interconnect Faults in Memory Based Reconfigurable-Logic-Device(MRLD) Considering the Place-and-Route Senling WangTomoki AonoTatsuya OgawaYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiMitsunori KatsuShoichi Sekiguchi 2018/07 International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC) in press 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Fault Diagnosis Considering Path Delay Variations in Multi-Cycle Test Environment Yoshinobu HigamiTsutomu InamotoSenling WangHiroshi TakahashiKewalK. Saluja 2018/07 International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC) in press 研究論文（国際会議プロシーディングス）
ニューラルネットワークによる軌道回路の状態基準保全に関する考察 志田 洋田村 晃裕二宮 崇高橋 寛 2018/06 日本信頼性学会第26回春季信頼性シンポジウム
メモリベース再構成デバイスMRLDにおけるブリッジ接続故障のテスト方法 王 森レイ小川達也樋上喜信高橋 寛佐藤正幸勝 満徳関口象一 2018/02 信学技報 117/ 444, 61-66
Testing of interconnect defects in memory based reconfigurable logic device (MRLD) Senling WangYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiMasayuki SatoMitsunori KatsuShoichi Sekiguchi 2018/01/24 Proceedings of the Asian Test Symposium 13-18 研究論文（国際会議プロシーディングス）
エレクトロニクス実装技術の現状と展望 部品内蔵基板の品質保証に必須となるバウンダリスキャン技術 亀山修一高橋寛 2018/01/01 エレクトロニクス実装学会誌 21/ 1, 57‐61
偽造ICチップの脅威と対策 -バウンダリスキャンによる真贋判定とトレーサビリティ- 亀山 修一高橋 寛 2018 エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集 32
Capture-Pattern-Control to Address the Fault Detection Degradation Problem of Multi-cycle Test in Logic BIST. Senling WangTomoki AonoYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiHiroyuki IwataYoichi MaedaJun Matsushima 2018 27th IEEE Asian Test Symposium, ATS 2018, Hefei, China, October 15-18, 2018 155-160 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Automotive Functional Safety Assurance by POST with Sequential Observation. Senling WangYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiHiroyuki IwataJun Matsushima 2018 IEEE Des. Test 35/ 3, 39-45 研究論文（学術雑誌）
Fault-detection-strengthened method to enable the POST for very-large automotive MCU in compliance with ISO26262. Senling WangYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiHiroyuki IwataYoichi MaedaJun Matsushima 2018 23rd IEEE European Test Symposium, ETS 2018, Bremen, Germany, May 28 - June 1, 2018 1-2 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Discrimination of a resistive open using anomaly detection of delay variation induced by transitions on adjacent lines Hiroyuki YotsuyanagiKotaro IseMasaki HashizumeYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2017/12/01 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences E100A/ 12, 2842-2850 研究論文（国際会議プロシーディングス）
軌道回路の状態基準保全に向けた検討（その3）－設備故障の再現試験とマハラノビス距離による設備の劣化把握－ 志田 洋二宮 崇高橋 寛 2017/11 日本信頼性学会第30回秋季信頼性シンポジウム
Towards an ISO26262 Compliant DFT Architecture Enabling POST for Ultra-Large-Scale Automotive MCU Yoichi MaedaHiroyuki IwataJun MatsushimaSenling WangYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2017/11 IEEE International Workshop on Automotive Reliability&Test 研究論文（国際会議プロシーディングス）
パス順位比較を用いる半断線故障の検査可能性評価 片山知拓四柳浩之橋爪正樹樋上喜信高橋寛 2017/09/16 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017
画像処理と深層学習による微小害虫の検出 中浦大貴渡邊大貴増成紳介矢野良典河野靖木下浩二二宮崇田村晃裕高橋寛WANG S樋上喜信藤田欣裕二宮宏 2017/09/16 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017
フィールドテストにおけるテスト集合分割法 青萩正俊増成紳介WANG S高橋寛 2017/09/16 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017
組込み自己診断向けのテストパターン生成法 松田優大WANG S樋上喜信高橋寛 2017/09/16 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017
再構成可能デバイスMRLDのための接続欠陥テスト 小川達也WANG S高橋寛佐藤正幸 2017/09/05 情報科学技術フォーラム講演論文集 16th
深層学習による柑橘類果実の個数推定 野口 敬輔小川 達也安保 良佑高原 圭太河野 靖木下 浩二二宮 崇田村 晃裕高橋 寛王 森レイ樋上 善信藤田 欣裕二宮 宏 2017/09 平成29年度 電気関係学会四国支部連合大会 講演論文集 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
A Method for Diagnosing Bridging Fault between a Gate Signal Line and a Clock Line Yoshinobu HigamiSenling WangHiroshi TakahashiShin-ya KobayashiKewal K. Saluja 2017/09 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E100D/ 9, 2224-2227 研究論文（学術雑誌）
Pattern Partitioning based Field Testing for Improving the Detection Latency of Aging-induced Delay Faults Hanan T. Al-AwadhiSenling WangYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2017/08 32nd International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications In press 研究論文（国際会議プロシーディングス）
軌道回路の状態基準保全に向けた検討(その2)―機械学習による設備状態のトレンド分析― 志田洋志田洋武市徹大串裕郁二宮崇高橋寛 2017/05/31 日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 25th
論理回路の組込み自己診断に関する提案 香川敬祐矢野郁也WANG Senling樋上喜信高橋寛大竹哲史 2017/02/14 電子情報通信学会技術研究報告 116/ 466(DC2016 74-83)
三次元積層ICのTSV相互接続の評価容易化設計DFE―アナログバウンダリスキャンによる接続抵抗評価― 亀山修一亀山修一WANG Senling高橋寛 2017/02/14 電子情報通信学会技術研究報告 116/ 466(DC2016 74-83), 53‐58-58 研究論文（学術雑誌）
On selection of adjacent lines in test pattern generation for delay faults considering crosstalk effects. Yuuya OhamaHiroyuki YotsuyanagiMasaki HashizumeYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2017 17th International Symposium on Communications and Information Technologies, ISCIT 2017, Cairns, Australia, September 25-27, 2017 1-5 研究論文（学術雑誌）
軌道回路の状態基準保全に向けた検討(その1)―状態監視データから見た軌道回路の特徴― 志田洋比澤庸平大串裕郁高橋寛 2016/11/24 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 29th
Pattern Partitioning for Field Testing Considering the Aging Speed Hanan T. Al-AwadhiSenling WangYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2016/11 Proc. IEEE WRTLT16, 72-76 研究論文（国際会議プロシーディングス）
隣接線の信号遷移を用いる半断線故障判別法の断線位置に対する有効性調査 伊勢幸太郎四柳浩之橋爪正樹樋上喜信高橋寛 2016/09/17 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016
中間観測FF選択法の大規模ベンチマーク回路に対する評価 濱田宗WANG S樋上喜信高橋寛岩田浩幸松嶋潤 2016/09/17 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016
アナログバウンダリスキャンを適用した三次元積層後のTSV抵抗精密計測法の計測精度評価 香川敬祐WANG S亀山修一樋上喜信高橋寛 2016/09/17 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016
マルチサイクルテストにおけるクロック信号線のd‐故障に対するテストパターン生成について 和田祐介樋上喜信WANG S高橋寛小林真也 2016/09/17 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016
マルチサイクルテストにおけるFFの接続情報を用いた中間観測FFの選択法 高原圭太WANG S樋上喜信高橋寛 2016/09/17 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016
組込み自己診断におけるハードウェア制約の改善法 矢野郁也WANG S樋上喜信高橋寛 2016/09/17 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016
踏切保安装置の安全性再評価に関する考察 志田洋大串裕郁高橋寛 2016/05/23 日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 24th
設備故障が旅客に与える経済的損失を評価尺度とした鉄道信号設備のライフサイクルコストの低減に関する考察 志田 洋大串 裕郁樋上 喜信阿萬 裕久高橋 寛 2016/05/01 電子情報通信学会論文誌D 情報・システム J99-D/ 5
設備故障が旅客に与える経済的損失を評価尺度とした鉄道信号設備のライフサイクルコストの低減に関する考察 志田 洋大串 裕郁樋上喜信阿萬裕久高橋 寛 2016/05/01 電子情報通信学会論文誌Ｄ J99-D/ 5, 539-548 研究論文（学術雑誌）
マルチサイクルテストのためのFFの構造的評価 門田一樹濱田宗WANG S樋上喜信高橋寛岩田浩幸松嶋潤 2016/03/01 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2016/ 1
論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減 藤谷和依四柳浩之橋爪正樹樋上喜信高橋寛 2016/02/10 電子情報通信学会技術研究報告 115/ 449(DC2015 86-96)
三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について WANG Senling香川敬祐亀山修一亀山修一樋上喜信高橋寛 2016/02/10 電子情報通信学会技術研究報告 115/ 449(DC2015 86-96)
踏切設備故障による経済的損失コストの評価手法に関する一考察 志田洋大串裕郁高橋寛 2016 信頼性・保全性シンポジウム(CD-ROM) 46th
Diagnosis methods for gate delay faults with various amounts of delays Yoshinobu HigamiSenling WangHiroshi TakahashiShin-Ya KobayashiKewal K. Saluja 2016 IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 9, 13-20 研究論文（学術雑誌）
Structure-Based Methods for Selecting Fault-Detection-Strengthened FF under Multi-Cycle Test with Sequential Observation Senling WangHanan T. Al-AwadhiSoh HamadaYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiHiroyuki IwataJun Matsushima 2016 2016 IEEE 25TH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS) 2016/ ATS, 209-214 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Physical power evaluation of low power logic-bist scheme using test element group chip Senling WangYasuo SatoSeiji KajiharaHiroshi Takahashi 2015/12/01 Journal of Low Power Electronics 11/ 4, 528-540 研究論文（学術雑誌）
アナログバウンダリスキャンを用いた三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法の実装について WANG Senling香川敬祐亀山修一亀山修一樋上喜信高橋寛 2015/11/24 電子情報通信学会技術研究報告 115/ 338(VLD2015 38-76)
隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について 伊勢幸太郎四柳浩之橋爪正樹樋上喜信高橋寛 2015/11/24 電子情報通信学会技術研究報告 115/ 338(VLD2015 38-76)
論理BISTにおける故障検出率の向上を考慮したシフトピーク電力制御法 WANG S樋上喜信高橋寛 2015/09/26 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015
タイミングシミュレーション情報に基づく故障診断法 門田一樹矢野郁也WANG S樋上喜信高橋寛 2015/09/26 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015
アナログバウンダリスキャンによる三次元積層後のTSV抵抗精密計測法の実装と評価 香川敬祐WANG S亀山修一樋上喜信高橋寛 2015/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
組込み自己診断におけるシード候補の生成法 村上陽紀宮本夏規WANG S樋上喜信高橋寛 2015/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
隣接線の信号遷移を用いる多変量解析による半断線故障の検出可能性について 伊勢幸太郎四柳浩之橋爪正樹樋上喜信高橋寛 2015/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
組込み自己診断における遷移故障診断能力の改善法 宮本夏規村上陽紀WANG S樋上喜信高橋寛 2015/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
A Proposal of Maintenance Cost Model of Track Circuits 志田洋樋上喜信阿萬裕久高橋 寛 2015/09 Proc.MMR2015 研究論文（国際会議プロシーディングス）
マルチサイクルテストでのクロック信号線のd-故障に対する故障診断 和田 祐介樋上 喜信王 森レイ高橋 寛小林 真也 2015/09 平成27年度電気関係学会四国支部連合大会 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
遅延を考慮したシミュレータ用いたクロック信号線のブリッジ故障の故障診断 細川 優人樋上 喜信王 森レイ高橋 寛小林 真也 2015/09 平成27年度電気関係学会四国支部連合大会 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
組込み自己診断におけるテストパターン系列の診断能力に関して 宮本夏規村上陽紀WANG Senling樋上喜信高橋寛大竹哲史 2015/08 情報科学技術フォーラム講演論文集 14th, 273-274
学生への実務教育にシニア技術者の活用とWBTシステムの教材開発について―アクティブインターンシップの提案― 田中良一松本多恵金田紀夫畠山一実松本哲郎高橋寛林田行雄 2015/03 CIEC研究会報告集 6, 34-37 研究論文（学術雑誌）
IR-dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法 (ディペンダブルコンピューティング) 王 森レイ井上 大画アル・アワディー ハナン ティ樋上 喜信高橋 寛 2015/02/13 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114/ 446
0‐1整数計画問題を利用した遅延故障テストの改善 門田一樹今村亮太WANG Senling樋上喜信高橋寛 2015/02 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2015/ 1, ROMBUNNO.D-10-4
Trends in 3D integrated circuit (3D-IC) testing technology Hiroshi TakahashiSenling WangYoshinobu HigamiShuichi KameyamaHiroyuki YotsuyanagiMasaki HashizumeShyue-Kung LuZvi Roth 2015/01/01 Three-Dimensional Integration of Semiconductors: Processing, Materials, and Applications 235-268 論文集(書籍)内論文
A Simulated Annealing based Pattern Selection Method to HandlePower Supply Noise for Resistive Open Fault Diagnosis 樋上 喜信高橋 寛 2015 Proc. ITC-CSCC2015 -
Diagnosis of Delay Faults Considering Hazards Yoshinobu HigamiSenling WangHiroshi TakahashiShin-ya GraduateKewal K. Saluja 2015 2015 IEEE COMPUTER SOCIETY ANNUAL SYMPOSIUM ON VLSI 07-10-July-2015, 503-508 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Diagnosis of Delay Faults in the Presence of Clock Delays Considering Hazards Yoshinobu HigamiSenling WangHiroshi TakahashiShin-ya KobayashiKewal K. Saluja 2015 Proc. 30th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 649-652 研究論文（国際会議プロシーディングス）
0‐1整数計画問題を利用した欠陥検出向けテストパターン選択法 志田洋樋上喜信阿萬裕久高橋寛SALUJA Kewal K 2014/11 日本信頼性学会誌 36/ 8, 501-510
列車検知装置の保全コストに関する考察(その2)―設備保全データのモデル化と活用― 志田洋大串裕郁樋上喜信阿萬裕久高橋寛 2014/11 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 27th, 77-80 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
0-1 整数計画問題を利用した欠陥検出向けテストパターン選択法 志田 洋樋上 喜信阿萬 裕久高橋 寛ケーワル サルージャ 2014/11 日本信頼性学会誌 36/ 8, 501-510 研究論文（学術雑誌）
0‐1整数計画問題を利用した診断用テスト生成システムの開発 村上陽紀宮本夏規WANG S樋上喜信高橋寛 2014/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
消費電力制約下での焼きなまし法を利用したテストパターン変更法 井上大画WANG S樋上喜信高橋寛 2014/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
遺伝的アルゴリズムを利用した診断用テスト生成 門田一樹今村亮太WANG S樋上喜信高橋寛 2014/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
オンチップセンサを利用した抵抗性オープン故障診断 竹田和生WANG S樋上喜信高橋寛 2014/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
列車検知装置の安全性・信頼性を考慮した設備保全の再検討に関する考察 志田洋大串裕郁高橋寛 2014/09 日本信頼性学会誌 36/ 6, 391-396
クロック信号線のブリッジ故障に対する遅延を考慮した故障診断 細川 優人樋上 喜信王 森レイ高橋 寛小林 真也 2014/09 電気関係学会四国支部連合大会 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
マルチサイクルテストでの遷移故障に対するテスト生成 藤原 翼樋上 喜信王 森レイ高橋 寛小林 真也 2014/09 電気関係学会四国支部連合大会 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
Diagnosis of Delay Faults in Multi-Clock SOCs Y. HigamiH. TakahashiS. KobayashiK. K. Saluja 2014/07 Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications 研究論文（国際会議プロシーディングス）
列車検知装置の保全コストに関する考察 志田洋大串裕郁高橋寛 2014/06 日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 22nd, 47-48
アナログバウンダリスキャンによる三次元積層後のTSV抵抗精密計測法 亀山修一馬場雅之樋上喜信高橋寛 2014/04 電子情報通信学会論文誌 D(Web) J97-D/ 4, 887-890 (WEB ONLY)-890 研究論文（学術雑誌）
Validation of XML document content using ontology Shinji NorimatsuShinji NorimatsuKenji MurakamiHiroshi Takahashi 2014/01/01 International Conference on Artificial Intelligence and Pattern Recognition, AIPR 2014, Held at the 3rd World Congress on Computing and Information Technology, WCIT
３次元VLSIの故障検査法に関するサーベイ 高橋 寛 2014 エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集 28
Accurate Resistance Measuring Method for High Density Post-Bond TSVs in 3D-SIC with Electrical Probes Shuichi KameyamaMasayuki BabaYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2014 2014 INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRONICS PACKAGING (ICEP)
Diagnosis of Gate Delay Faults in the Presence of Clock Delay Faults Yoshinobu HigamiHiroshi TakahashiShin-ya KobayashiKewal K. Saluja 2014 2014 IEEE COMPUTER SOCIETY ANNUAL SYMPOSIUM ON VLSI (ISVLSI) 321-326 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Measuring Method for TSV-based Interconnect Resistance in 3D-SIC by Embedded Analog Boundary-Scan Circuit KAMEYAMA ShuichiBABA MasayukiHIGAMI YoshinobuTAKAHASHI Hiroshi 2014 Trans Jpn Inst Electron Packag (Web) 7/ 1, 140-146 (J-STAGE)-146 研究論文（学術雑誌）
Power Evaluation of a Low Power Logic BIST Scheme using TEG Chip Senling WangToshiya NishidaYasuo SatoSeiji KajiharaHiroshi Takahashi 2014 Proc. of IEEE WRTLT14 pp.8-13 研究論文（国際会議プロシーディングス）
FOREWORD Elena PecchioniAlessandra Bonazza 2013/12 PERIODICO DI MINERALOGIA 82/ 3, 1905-1906
鉄道信号設備のライフサイクルコストを考慮した設備保全に関する一考察―設備故障発生時の経済的損失と設備保全― 志田洋大串裕郁高橋寛 2013/11 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 26th/ 26, 67-70
IRドロップを考慮した抵抗性オープン故障に対するテストパターン生成 大田淳司樋上喜信高橋寛 2013/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
欠陥検出評価関数に基づくテストパターンの選択 稲田暢樋上喜信高橋寛 2013/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
抵抗性オープン故障に対する診断用テスト生成 松川翔平高橋寛樋上喜信四柳浩之橋爪正樹 2013/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
抵抗性オープン故障診断のための後方追跡 竹田和生樋上喜信高橋寛 2013/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
クロック信号線の遅延故障に対する故障診断用テスト生成 江口拓弥樋上喜信高橋寛小林真也 2013/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
SAT手法による隣接線影響を考慮した微小遅延故障検査用テストパターン生成に関する一考察 山下淳四柳浩之橋爪正樹樋上喜信高橋寛 2013/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
多重抵抗性オープン故障診断における順位付けの効果 田中陽樋上喜信高橋寛 2013/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
IRドロップを考慮した遷移故障に対するテストパターン生成 井上大画樋上喜信高橋寛 2013/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
バンダリスキャンテスト実行時のIC内部の擾乱 亀山 修一馬場 雅之樋上 喜信高橋 寛 2013/09 電子情報通信学会論文誌. D, 情報・システム 96/ 9, 2078-2081
Generation for Delay Faults on Clock Lines under Launch-on-Capture Test Environment 樋上 喜信高橋 寛 2013/06 IEICE Transactions on Information and Systems E96D/ 6, 1323-1331 研究論文（学術雑誌）
半断線故障検出のための信号遅延の特性評価 (ディペンダブルコンピューティング) 大栗 裕人四柳 浩之橋爪 正樹堤 利幸山崎 浩二樋上 善信高橋 寛 2013/02/13 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報 112/ 429, 25-30
Diagnosing Resistive Open Faults Using Small Delay Fault Simulation Koji YamazakiToshiyuki TsutsumiHiroshi TakahashiYoshinobu HigamiHironobu YotsuyanagiMasaki HashizumeKewal K. Saluja 2013 2013 22ND ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS) 79-84 研究論文（国際会議プロシーディングス）
ファンアウトブランチに着目した欠陥検出テスト生成 河野博志樋上喜信高橋寛 2012/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
クロック信号線の遅延故障に対する故障診断 江口拓弥樋上喜信高橋寛小林真也 2012/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
隣接信号線の影響を考慮したテストパターン選択法 岡崎孝昭大田淳司樋上喜信高橋寛 2012/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
招待講演 シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み (ディペンダブルコンピューティング) 高橋 寛樋上 喜信堤 利幸 2012/06/22 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報 112/ 102
シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み 高橋 寛樋上 喜信堤 利幸山崎 浩二四柳 浩之橋爪 正樹 2012/06/15 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 112/ 102
Generation of Diagnostic Tests for Transition Faults Using a Stuck-At ATPG Tool Yoshinobu HigamiSatoshi OhnoHironori YamaokaHiroshi TakahashiYoshihiro ShimizuTakashi Aikyo 2012/04 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E95D/ 4, 1093-1100 研究論文（学術雑誌）
通信・放送融合における著著作権問題 : 裁判例と各国の比較から導く日本著作権法のあり方 竹村 茉莉平松 幸男高橋 寛 2012/03/08 電子情報通信学会技術研究報告. IA, インターネットアーキテクチャ 111/ 485
バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 : 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察 亀山 修一馬場 雅之樋上 喜信高橋 寛 2012/02/06 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 111/ 435
バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 : 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察(テスト生成・レスト容易化設計,VLSI設計とテスト及び一般) 亀山 修一馬場 雅之樋上 喜信高橋 寛 2012/02/06 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 111/ 435
論理回路の故障診断法 高松 雄三佐藤 康夫高橋 寛樋上 喜信山崎 浩二 2012 情報・システムソサイエティ誌 17/ 3
Diagnosis for bridging faults on clock lines Yoshinobu HigamiHiroshi TakahashiShin-Ya KobayashiKewal K. Saluja 2012 Proceedings of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing, PRDC 135-144 研究論文（国際会議プロシーディングス）
活性化経路評価関数を利用したテストパターン選択の性能改善 酒井孝郎樋上喜信高橋寛 2011/09/13 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011
遠隔地監視システムにおける自己診断法 高山誠司樋上喜信高橋寛小林真也二宮宏 2011/09/13 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011
抵抗性オープン故障テスト生成法の性能評価 澤田晋佑樋上喜信高橋寛 2011/09/13 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011
欠陥検出テスト生成法の改善法 藤原大也樋上喜信高橋寛 2011/09/13 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011
ファンアウト数に着目した欠陥検出テスト生成 河野博志樋上喜信高橋寛 2011/09/13 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011
超高信頼性チップ製造のためのシグナルインティグリティ不良のモデル化およびその故障検査法 高橋寛樋上喜信大西洋一 2011/03 愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書 4
D-10-8 活性化経路評価関数に基づくパターン選択(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 高橋 寛樋上 喜信酒井 孝郎 2011/02/28 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2011/ 1
欠陥検出テストのためのテストパターン選択 古谷 博司酒井 孝郎樋上 喜信高橋 寛 2011/02/07 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 110/ 413
論理回路の故障診断法 : 外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展 高松 雄三佐藤 康夫高橋 寛樋上 喜信山崎 浩二 2011/01/01 電子情報通信学会論文誌. D, 情報・システム = The IEICE transactions on information and systems (Japanese edition) 94/ 1, 266-279
On Detecting Transition Faults in the Presence of Clock Delay Faults Yoshinobu HigamiHiroshi TakahashiShin-ya KobayashiKewal K. Saluja 2011 2011 20TH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS) 1-6 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Test Pattern Selection for Defect-Aware Test Yoshinobu HigamiHiroshi FurutaniTakao SakaiShuichi KameyamaHiroshi Takahashi 2011 2011 20TH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS) 102-107 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Enhancement of Clock Delay Faults Testing Yoshinobu HigamiHiroshi TakahashiShin-ya KobayashiKewal K. Saluja 2011 2011 16TH IEEE EUROPEAN TEST SYMPOSIUM (ETS) 216-216 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Fault Simulation and Test Generation for Clock Delay Faults Yoshinobu HigamiHiroshi TakahashiShin-ya KobayashiKewal K. Saluja 2011 2011 16TH ASIA AND SOUTH PACIFIC DESIGN AUTOMATION CONFERENCE (ASP-DAC) 799-805 研究論文（国際会議プロシーディングス）
故障励起関数を利用したオープン故障の診断法 山崎 浩二堤 利幸高橋 寛樋上 喜信相京 隆四柳 浩之橋爪 正樹高松 雄三 2010/11/01 電子情報通信学会論文誌. D, 情報・システム = The IEICE transactions on information and systems (Japanese edition) 93/ 11
故障励起関数を利用したオープン故障の診断法 山崎浩二堤利幸高橋寛樋上喜信相京隆四柳浩之橋爪正樹高松雄三 2010/11 電子情報通信学会論文誌 D J93-D/ 11, 2416-2425
クロストーク故障に対するテストパターン生成 遠藤剛史樋上喜信高橋寛小林真也 2010/09/14 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010
LOCテストに対応したブリッジ故障シミュレータの高精度化 高橋寛樋上喜信大野智志山岡弘典 2010/09/14 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010
遷移故障における等価故障判定 山本隆也樋上喜信高橋寛小林真也 2010/09/14 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010
欠陥検出確率を利用した2パターンテスト生成法 高橋寛樋上喜信古谷博司 2010/09/14 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010
IC内隣接配線における半断線故障時の信号遅延解析 岡田理四柳浩之橋爪正樹堤利幸山崎浩二樋上喜信高橋寛 2010/09/14 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010
ハザードの影響を考慮した信号遷移シミュレーション 高橋寛樋上喜信森本恭平池田雅史 2010/09/14 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010
LOCテストに対応した抵抗性オープン故障テスト生成 高橋寛樋上喜信高棟佑司岡崎孝昭 2010/09/14 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010
伝播経路評価関数を利用したテストパターン選択法 高橋寛樋上喜信酒井孝郎 2010/09/14 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010
状態遷移図の簡単化を用いた組込みシステムに対するテスト系列生成法 松本拓樋上喜信高橋寛小林真也 2010/09/14 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010
ハザードの影響をマスクした微小遅延故障診断法 高橋寛樋上喜信森本恭平池田雅史 2010/09/14 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010
遅延故障診断に関する研究 高橋寛樋上喜信高松雄三相京隆 2010/03 愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書 3
TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討 堤 利幸刈谷 泰由紀山崎 浩二橋爪 正樹四柳 浩之高橋 寛樋上 喜信高松 雄三 2010/02/08 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 109/ 416
抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について 高橋 寛樋上 喜信首藤 祐太高棟 佑司高松 雄三堤 利幸山崎 浩二四柳 浩之橋爪 正樹 2010/02/08 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 109/ 416
Output voltage estimation of a floating interconnect line caused by a hard open in 90nm ICs Katsuya ManabeYuichi YamadaHiroyuki YotsuyanagiToshiyuki TsutsumiKoji YamazakiYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiYuzo TakamatsuMasaki Hashizume 2010 ISCIT 2010 - 2010 10th International Symposium on Communications and Information Technologies 603-608 研究論文（国際会議プロシーディングス）
A Method for Diagnosing Resistive Open Faults with Considering Adjacent Lines 高橋 寛 2010 Proc.IEEE 10th International Symposium on Communications and Information Technologies 0/ 0, 609-614 研究論文（学術雑誌）
Addressing Defect Coverage through Generating Test Vectors for Transistor Defects Yoshinobu HigamiKewal K. SalujaHiroshi TakahashiShin-ya KobayashiYuzo Takamatsu 2009/12 IEICE TRANSACTIONS ON FUNDAMENTALS OF ELECTRONICS COMMUNICATIONS AND COMPUTER SCIENCES E92A/ 12, 3128-3135 研究論文（学術雑誌）
An Algorithm for Diagnosing Transistor Shorts Using Gate-level Simulation (IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology Vol.2) HIGAMI YOSHINOBUSALUJA Kewal K.TAKAHASHI HIROSHI 2009/11 情報処理学会論文誌 論文誌トランザクション 2009/ 1
LOCテストに対応した抵抗性オープン故障シミュレータ 高橋寛樋上喜信首藤祐太 2009/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009
欠陥考慮2パターンテストについて 高橋寛樋上喜信古谷博司 2009/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009
抵抗性オープン故障に対するテストについて 高橋寛樋上喜信高棟佑司 2009/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009
クロストークを考慮した抵抗性ブリッジ故障シミュレーション 高橋寛樋上喜信北橋省吾 2009/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009
微小遅延故障診断におけるゲート遅延変動の影響 高橋寛樋上喜信岡山浩士森本恭平 2009/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009
LOCテストに対応したブリッジ故障シミュレータ 高橋寛樋上喜信大野智志山岡弘典 2009/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009
テストサイクル決定に関する一考察 高橋寛樋上喜信田中太郎 2009/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009
SATソルバーを利用したオープン故障に対するテストの評価 高橋寛樋上喜信松村佳典 2009/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009
検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法 相京 隆高橋 寛樋上 喜信大津 潤一小野 恭平清水 隆治高松 雄三 2009/07/01 電子情報通信学会論文誌. D, 情報・システム = The IEICE transactions on information and systems (Japanese edition) 92/ 7
検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法 相京隆高橋寛樋上喜信大津潤一小野恭平清水隆治高松雄三 2009/07 電子情報通信学会論文誌 D J92-D/ 7, 984-993
縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法 樋上 喜信黒瀬 洋介大野 智志山岡 弘典高橋 寛清水 良浩相京 隆高松 雄三 2009/06/12 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 109/ 95
D-10-19 遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 高橋 寛樋上 喜信岡山 浩士相京 隆高松 雄三 2009/03/04 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2009/ 1
テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化設計のための新故障モデルとそのテスト・故障診断に関する研究 高松雄三高橋寛樋上喜信山崎浩二堤利幸橋爪正樹四柳浩之宮本俊介 2009/03 愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書 2
組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法 高橋 寛樋上 喜信和泉 太佑相京 隆高松 雄三 2009/02/09 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 108/ 431
隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて 渡部 哲也高橋 寛樋上 喜信堤 利幸山崎 浩二四柳 浩之橋爪 正樹高松 雄三 2009/02/09 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 108/ 431
An Algorithm for Diagnosing Transistor Shorts Using Gate-level Simulation Higami YoshinobuSaluja Kewal K.Takahashi HiroshiKobayashi Sin-yaTakamatsu Yuzo 2009 Information and Media Technologies 4/ 4, 727-739
An algorithm for diagnosing transistor shorts using gate-level simulation Yoshinobu HigamiKewal K. SalujaHiroshi TakahashiSin-Ya KobayashiYuzo Takamatsu 2009 IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 2, 250-262 研究論文（学術雑誌）
New Class of Tests for Open Faults with Considering Adjacent Lines Hiroshi TakahashiYoshinobu HigamiYuzo TakamatsuKoji YamazakiToshiyuki TsutsumiHiroyuki YotsuyanagiMasaki Hashizume 2009 2009 ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 301-+ 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Diagnostic Test Generation for Transition Faults Using a Stuck-at ATPG Tool Yoshinobu HigamiYosuke KuroseSatoshi OhnoHironori YamaokaHiroshi TakahashiYoshihiro ShimizuTakashi AikyoYuzo Takamatsu 2009 ITC: 2009 INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 462-+ 研究論文（国際会議プロシーディングス）
A Novel Approach for Improving the Quality of Open Fault Diagnosis Koji YamazakiToshiyuki TsutsumiHiroshi TakahashiYoshinobu HigamiTakashi AikyoYuzo TakamatsuHiroyuki YotsuyanagiMasaki Hashizume 2009 22ND INTERNATIONAL CONFERENCE ON VLSI DESIGN HELD JOINTLY WITH 8TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON EMBEDDED SYSTEMS, PROCEEDINGS 85-+ 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Fault Effect of Open Faults Considering Adjacent Signal Lines in a 90 nm IC Hiroyuki YotsuyanagiMasaki HashizumeToshiyuki TsutsumiKoji YamazakiTakashi AikyoYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiYuzo Takamatsu 2009 22ND INTERNATIONAL CONFERENCE ON VLSI DESIGN HELD JOINTLY WITH 8TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON EMBEDDED SYSTEMS, PROCEEDINGS 91-+ 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Maximizing Stuck-Open Fault Coverage Using Stuck-at Test Vectors Yoshinobu HigamiKewal K. SalujaHiroshi TakahashiShin-ya KobayashiYuzo Takamatsu 2008/12 IEICE TRANSACTIONS ON FUNDAMENTALS OF ELECTRONICS COMMUNICATIONS AND COMPUTER SCIENCES E91A/ 12, 3506-3513 研究論文（学術雑誌）
TEGチップを用いたオープン故障の解析 堤 利幸刈谷 泰由紀山崎 浩二橋爪 正樹四柳 浩之高橋 寛樋上 喜信高松 雄三 2008/11/10 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 108/ 299
TEGチップを用いたオープン故障の解析 堤 利幸刈谷 泰由紀山崎 浩二橋爪 正樹四柳 浩之高橋 寛樋上 喜信高松 雄三 2008/11/10 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 108/ 298
TEGチップを用いたオープン故障の解析 堤 利幸刈谷 泰由紀山崎 浩二橋爪 正樹四柳 浩之高橋 寛樋上 喜信高松 雄三 2008/11/10 情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術] 137/ 111
ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケース生成法 樋上喜信藤尾昇平阿萬裕久高橋寛高松雄三 2008/10 情報処理学会シンポジウム論文集 2008/ 9, 151-157 研究論文（学術雑誌）
欠陥検出向けテストパターンの一選択法 高橋寛樋上喜信和泉太佑相京隆高松雄三 2008/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008
原因‐結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケース生成法 藤尾昇平阿萬裕久樋上喜信高橋寛高松雄三 2008/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008
抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 高橋寛樋上喜信渡部哲也高松雄三 2008/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008
複数故障モデルに対する統計的な故障診断法 高橋寛樋上喜信首藤祐太高松雄三 2008/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008
抵抗性ブリッジ故障シミュレーションについて 高橋寛樋上喜信北橋省吾相京隆高松雄三 2008/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008
SATソルバーを利用した診断用テスト生成法 高橋寛樋上喜信松村佳典高松雄三 2008/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008
遅延故障シミュレーションを利用した欠陥診断法 高橋寛樋上喜信岡山浩士小野恭平相京隆高松雄三 2008/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008
縮退故障ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法 相京隆樋上喜信高橋寛黒瀬洋介高松雄三 2008/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008
オープン故障診断の性能向上について (ディペンダブルコンピューティング) 山崎 浩二堤 利幸高橋 寛樋上 喜信相京 隆四柳 浩之橋爪 正樹高松 雄三 2008/06/20 電子情報通信学会技術研究報告 108/ 99
D-10-3 スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 樋上 喜信高橋 寛廣瀬 雅人小林 真也高松 雄三 2008/03/05 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008/ 1
D-10-2 動的なオープン故障に対するテストパターン生成法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 高橋 寛樋上 喜信渡部 哲也相京 隆高松 雄三 2008/03/05 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008/ 1
D-10-1 ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 高橋 寛樋上 喜信阿萬 裕久釜山 天平小林 真也高松 雄三 2008/03/05 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008/ 1
Fault simulation and test generation for transistor shorts using stuck-at test tools Yoshinobu HigamiKewal K. SalujaHiroshi TakahashiShin-ya KobayashiYuzo Takamatsu 2008/03 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E91D/ 3, 690-699 研究論文（学術雑誌）
Fault diagnosis on multiple fault models by using pass/fail information Yuzo TakamatsuHiroshi TakahashiYoshinobu HigamiTakashi AikyoKoji Yamazaki 2008/03 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E91D/ 3, 675-682 研究論文（学術雑誌）
Post-BIST fault diagnosis for multiple faults Hiroshi TakahashiYoshinobu HigamiShuhei KadoyamaYuzo TakamatsuKoji YamazakiTakashi AikyoYasuo Sato 2008/03 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E91D/ 3, 771-775 研究論文（学術雑誌）
遷移故障に対する診断用テスト生成法 相京 隆樋上 喜信高橋 寛吉川 達高松 雄三 2008/02/08 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 107/ 482
隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法 高橋 寛樋上 喜信相京 隆門山 周平渡部 哲也高松 雄三堤 利幸山崎 浩二四柳 浩之橋爪 正樹 2008/02/08 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 107/ 482
馬見ヶ崎川合口頭首工における低周波音対策 高橋 寛 2008/02/01 水土の知 : 農業農村工学会誌 : 76/ 2
Increasing Defect Coverage by Generating Test Vectors for Stuck-open Faults Yoshinobu HigamiKewal K. SalujaHiroshi TakahashiShin-ya KobayashiYuzo Takamatsu 2008 PROCEEDINGS OF THE 17TH ASIAN TEST SYMPOSIUM 97-+ 研究論文（国際会議プロシーディングス）
微小遅延故障に対する故障診断 相京隆高橋寛樋上喜信大津潤一小野恭平高松雄三 2007/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007
遅延故障に対する診断用テスト生成法 相京隆吉川達樋上喜信高橋寛高松雄三 2007/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007
故障励起条件を考慮した欠陥検出テストパターン 高橋寛樋上喜信和泉太佑相京隆高松雄三 2007/09/15 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007
D-10-2 縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演) 高橋 寛樋上 喜信吉川 達清水 祐紀相京 隆高松 雄三 2007/03/07 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2007/ 1
D-10-1 ハードウェア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演) 阿萬 裕久池田 裕輔市川 直樹樋上 喜信高橋 寛高松 雄三 2007/03/07 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2007/ 1
ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法 樋上 喜信Saluja Kewal K.高橋 寛小林 真也高松 雄三 2007/02/02 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 106/ 528
ハードウエア設計に対するソフトウエアメトリクスの適用 阿萬 裕久樋上 喜信高橋 寛高松 雄三 2007 電子情報通信学会総合大会論文集
Fault coverage and fault efficiency of transistor shorts using gate-level simulation and test generation Yoshinobu HigamiKewal K. SalujaHiroshi TakahashiYuzo Takamatsu 2007 20TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON VLSI DESIGN, PROCEEDINGS 781-+ 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Test generation for transistor shorts using stuck-at fault simulator and test generator Yoshinobu HigamiKewal K. SalujaHiroshi TakahashiShin-ya KobayashiYuzo Takamatsu 2007 PROCEEDINGS OF THE 16TH ASIAN TEST SYMPOSIUM 271-274 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Timing-aware diagnosis for small delay defects Takashi AikyoHiroshi TakahashiYoshinobu HigamiJunichi OotsuKyohei OnoYuzo Takamatsu 2007 DFT 2007: 22ND IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT-TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS 0/ 0, 223-231 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Clues for modeling and diagnosing open faults with considering adjacent lines Hiroshi TakahashiYoshinobu HigamiShuhei KadoyamaTakashi AikyoYuzo TakamatsuKoji YamazakiToshiyuki TsutsumiHiroyuki YotsuyanagiMasaki Hashizume 2007 PROCEEDINGS OF THE 16TH ASIAN TEST SYMPOSIUM 0/ 0, 39-+ 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Test generation and diagnostic test generation for open faults with considering adjacent lines Hiroshi TakahashiYoshinobu HigamiToru KikkawaTakashi AikyoYuzo TakamatsuKoji YamazakiToshiyuki TsutsumiHiroyuki YotsuyanagiMasaki Hashizume 2007 DFT 2007: 22ND IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT-TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS 0/ 0, 243-251 研究論文（国際会議プロシーディングス）
BIST環境に適応した故障診断法に関する研究―ブリッジおよびオープン故障に対する故障診断への拡張―大規模回路への適用可能性の調査― 高松雄三高橋寛樋上喜信山崎浩二宮本俊介 2006/11 愛媛大学産業科学技術支援センター研究成果報告書 10
縮退故障テストに基づくオープン故障のテスト生成 吉川達高橋寛樋上喜信高松雄三 2006/09/12 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006
オープン故障に対する診断用テスト生成について 八木啓仁高橋寛樋上喜信高松雄三 2006/09/12 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006
BIST環境における単一縮退故障診断法の評価実験 大津潤一高橋寛樋上喜信山崎浩二高松雄三 2006/09/12 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006
隣接信号線の信号変化を考慮したオープン故障 門山周平大津潤一高橋寛樋上喜信高松雄三 2006/09/12 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006
組合せ回路および順序回路に対する検出・非検出情報に基づく診断用テスト圧縮法 樋上 喜信ケーワルK.サルージャ高橋 寛小林 真也高松 雄三 2006/06/15 情報処理学会論文誌 47/ 6, 1629-1638
Compaction of pass/fail-based diagnostic test vectors for combinational and sequential circuits. Yoshinobu HigamiKewalK. SalujaHiroshi TakahashiShin-ya KobayashiYuzo Takamatsu 2006/06 Proceedings of the 2006 Conference on Asia South Pacific Design Automation: ASP-DAC 2006, Yokohama, Japan, January 24-27, 2006 47/ 6, 659-664 研究論文（国際会議プロシーディングス）
検出/非検出情報に基づくオープン故障の一診断法 佐藤 雄一高橋 寛樋上 喜信高松 雄三 2006/04/01 電子情報通信学会論文誌. D, 情報・システム = The IEICE transactions on information and systems (Japanese edition) 89/ 4, 778-787
隣接信号線を考慮したオープン故障の一モデルとその故障診断 門山 周平武智 清高橋 寛樋上 喜信山崎 浩二高松 雄三 2006/02/17 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 105/ 607
Diagnosis of transistor shorts in logic test environment Yoshinobu HigamiKewal K. SalujaHiroshi TakahashiSin-ya KobayashiYuzo Takamatsu 2006 PROCEEDINGS OF THE 15TH ASIAN TEST SYMPOSIUM 354-+ 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Effective post-BIST fault diagnosis for multiple faults Hiroshi TakahashiShuhei KadoyamaYoshinobu HigamiYuzo TakamatsuKoji YatnazakiTakashi AikyoYasuo Sato 2006 21ST IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT-TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS 401-+ 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Compaction of pass/fail-based diagnostic test vectors for combinational and sequential circuits* Yoshinobu HigamiKewal K. SalujaHiroshi TakahashiShin-ya KobayashiYuzo Takamatsu 2006 ASP-DAC 2006: 11TH ASIA AND SOUTH PACIFIC DESIGN AUTOMATION CONFERENCE, PROCEEDINGS 659-664 研究論文（国際会議プロシーディングス）
組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法 樋上 喜信Saluja Kewal K.高橋 寛小林 真也高松 雄三 2005/09/08 電子情報通信学会技術研究報告 105/ 267
組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法 樋上 喜信Saluja Kewal K.高橋 寛小林 真也高松 雄三 2005/09/08 電子情報通信学会技術研究報告 105/ 265
BIST環境を考慮した故障診断システムについて 高橋寛門山周平樋上喜信高松雄三山崎浩二 2005/08/24 情報処理学会シンポジウム論文集 2005/ 9
BIST環境における不確かなテスト集合による単一縮退故障の一診断法 (LSIのテスト・診断技術論文小特集) 高橋 寛山本 幸大樋上 喜信高松 雄三 2005/06 電子情報通信学会論文誌 D-1 情報・システム 88/ 6, 1029-1038
検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法 山崎 亜佳根精山 哲也高橋 寛樋上 喜信山崎 浩二高松 雄三 2005/02/18 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 104/ 664
検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用 山崎 浩二樋上 喜信高橋 寛高松 雄三 2005/02/18 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 104/ 664
不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法 武智 清佐藤 雄一高橋 寛樋上 喜信山崎 浩二高松 雄三 2005/02/18 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 104/ 664
不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法 栗山 和樹西山 隆広樋上 喜信山崎 浩二高橋 寛高松 雄三 2005/02/18 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 104/ 664
A method for reducing the target fault list of crosstalk faults in synchronous sequential circuits H TakahashiKJ KellerKT LeKK SalujaY Takamatsu 2005/02 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS 24/ 2, 252-263 研究論文（学術雑誌）
On the fault diagnosis in the presence of unknown fault models using pass/fail information Y TakamatsuT SeiyamaH TakahashiY HigamiK Yamazaki 2005 2005 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS (ISCAS), VOLS 1-6, CONFERENCE PROCEEDINGS 2987-2990 研究論文（国際会議プロシーディングス）
BIST環境における不確かなテスト集合による単一縮退故障の一診断法 2005 電子情報通信学会電子情報通信学会論文誌 J88-D-I/ 6, 1029-1038
On the fault diagnosis in the presence of unknown fault models using pass/fail information Yuzo TakamatsuTetsuya SeiyamaHiroshi TakahashiYoshinobu HigamiKoji Yamazaki 2005 Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems 2987-2990 研究論文（国際会議プロシーディングス）
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断 西山 隆広樋上 喜信山崎 浩二高橋 寛高松 雄三 2004/12/02 情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術] 117
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断 山本 幸大高橋 寛樋上 喜信高松 雄三 2004/12/02 情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術] 117
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断 西山 隆広樋上 喜信山崎 浩二高橋 寛高松 雄三 2004/12/02 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 104/ 480
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断 山本 幸大高橋 寛樋上 喜信高松 雄三 2004/12/02 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 104/ 480
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断 西山 隆広樋上 喜信山崎 浩二高橋 寛高松 雄三 2004/12/02 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 104/ 478
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断 山本 幸大高橋 寛樋上 喜信高松 雄三 2004/12/02 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 104/ 478
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断 西山 隆広樋上 喜信山崎 浩二高橋 寛高松 雄三 2004/12/02 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 103/ 482
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断 山本 幸大高橋 寛樋上 喜信高松 雄三 2004/12/02 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 103/ 482
多重縮退故障診断における故障候補の削減法について 武智清高橋寛樋上喜信山崎浩二高松雄三 2004/09/08 電子情報通信学会大会講演論文集 2004
テストの検出/非検出情報に基づくブリッジ故障診断について 栗山和樹樋上喜信山崎浩二高橋寛高松雄三 2004/09/08 電子情報通信学会大会講演論文集 2004
不確かな診断テスト集合による単一/多重縮退故障の診断法 山本 幸大綾野 秀和高橋 寛樋上 喜信高松 雄三 2004/02/13 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 103/ 668
テストの検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法 佐藤 雄一高橋 寛樋上 喜信高松 雄三 2004/02/13 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 103/ 668
Enhancing BIST based single/multiple stuck-at fault diagnosis by ambiguous test set H TakahashiY YamamotoY HigamiY Takamatsu 2004 13TH ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 216-221 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Failure analysis of open faults by using detecting/un-detecting information on tests Y SatoH TakahashiY HigamiY Takamatsu 2004 13TH ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 222-227 研究論文（国際会議プロシーディングス）
An Alternative Test Generation for Path Delay Faults by Using N_i-Detection Test Sets(Test)(<Special Issue>Dependable Computing) TAKAHASHI HiroshiSALUJA Kewal K.TAKAMATSU Yuzo 2003/12/01 IEICE transactions on information and systems 86/ 12
An alternative test generation for path delay faults by using N-i-detection test sets H TakahashiKK SalujaY Takamatsu 2003/12 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E86D/ 12, 2650-2658 研究論文（学術雑誌）
不確かなテスト集合をもつBISTの故障診断法 高橋 寛栂岡 靖典綾野 秀和高松 雄三 2003/02/14 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 102/ 658
塑性加工における新生面の発生条件について 高橋 寛 2003/02 山形大学紀要 工学 27/ 2
BIST based fault diagnosis using ambiguous test set H TakahashiY TsugaokaH AyanoY Takamatsu 2003 18TH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS 89-96 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Diagnosing Crosstalk Faults in Sequential Circuits Using Fault Simulation TAKAHASHI HiroshiPHADOONGSIDHI MarongHIGAMI YoshinobuSALUJA Kewal K.TAKAMATSU Yuzo 2002/10/01 IEICE transactions on information and systems 85/ 10
Diagnosing crosstalk faults in sequential circuits using fault simulation H TakahashiM PhadoongsidhiY HigamiKK SalujaY Takamatsu 2002/10 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E85D/ 10, 1515-1525 研究論文（学術雑誌）
On diagnosing multiple stuck-at faults using multiple and single fault simulation in combinational circuits H TakahashiKO BoatengKK SalujaY Takamatsu 2002/03 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS 21/ 3, 362-368 研究論文（学術雑誌）
順序回路のクロストークによる遅延故障に対する目標故障の一判別法 高橋 寛Keller Keith J.Saluja KewaI K.高松 雄三 2002/02/22 電子情報通信学会技術研究報告 101/ 658
Reduction of target fault list for crosstalk-induced delay faults by using layout constraints KJ KellerH TakahashiKT LeKK SalujaY Takamatsu 2002 PROCEEDINGS OF THE 11TH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS 02) 242-247 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Incremental diagnosis of multiple open-interconnects JB LiuA VenerisH Takahashi 2002 INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 2002, PROCEEDINGS 1085-1092 研究論文（国際会議プロシーディングス）
An alternative method of generating tests for path delay faults using N-i-Detection test sets H TakahashiKK SalujaY Takamatsu 2002 2002 PACIFIC RIM INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEPENDABLE COMPUTING, PROCEEDINGS 275-282 研究論文（国際会議プロシーディングス）
On reducing the target fault list of crosstalk-induced delay faults in synchronous sequential circuits KJ KellerH TakahashiKK SalujaY Takamatsu 2001 INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 2001, PROCEEDINGS 568-577 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Efficient signature-based fault diagnosis using variable size windows T ClouqueurO ErcevikKK SalujaH Takahashi 2001 VLSI DESIGN 2001: FOURTEENTH INTERNATIONAL CONFERENCE ON VLSI DESIGN 391-396 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Design Error Diagnosis Using Backward Path-tracing and Logic Simulation 2001 Proc. The International Technical Conference on Circuits/Systems, Computer and Communications 426-429
Simulation-based diagnosis for crosstalk faults in sequential circuits H TakahashiM PhadoongsidhiY HigamiKK SalujaY Takamatsu 2001 10TH ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 63-68 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Design of C-Testable Modified-Booth Multipliers BOATENG Kwame OseiTAKAHASHI HiroshiTAKAMATSU Yuzo 2000/10/25 IEICE transactions on information and systems 83/ 10, 1868-1878
Design of C-testable modified-booth multipliers KO BoatengH TakahashiY Takamatsu 2000/10 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E83D/ 10, 1868-1878 研究論文（学術雑誌）
縮退故障のテスト集合に基づくパス遅延故障の一テスト生成法 水本 涼高橋 寛高松 雄三 2000/08/05 電子情報通信学会技術研究報告 100/ 250
多結晶塑性論へのいざない 高橋 寛 2000/06/25 塑性と加工 41/ 473
一機械屋の金属学への恋 高橋 寛 2000/04/20 まてりあ : 日本金属学会会報 39/ 4
論理シミュレータを利用した単一設計誤りの一診断法 高橋 寛門口 大悟高松 雄三 2000/03/07 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2000/ 1
組合せ回路のゲート遅延故障に対する一診断法 高橋 寛Boateng Kwame Osei高松 雄三 2000/02 愛媛大学工学部紀要 19
General BIST-Amenable Method of Test Generation for Iterative Logic Arrays. Kwame Osei BoatengHiroshi TakahashiYuzo Takamatsu 2000 18th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2000), 30 April - 4 May 2000, Montreal, Canada 171-178
Diagnosing Delay Faults in Combinational Circuits under the Ambiguous Delay Model BOATENG Kwame OseiTAKAHASHI HiroshiTAKAMATSU Yuzo 1999/12/01 IEICE transactions on information and systems 82/ 12, 1563-1571
Diagnosing delay faults in combinational circuits under the ambiguous delay model KO BoatengH TakahashiY Takamatsu 1999/12 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E82D/ 12, 1563-1571 研究論文（学術雑誌）
A Method of Generating Tests with Linearity Property for Gate Delay Faults in Combinational Circuits TAKAHASHI HiroshiBOATENG Kwame OseiTAKAMATSU Yuzo 1999/11/25 IEICE transactions on information and systems 82/ 11, 1466-1473
A method of generating tests with linearity property for gate delay faults in combinational circuits H TakahashiKO BoatengY Takamatsu 1999/11 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E82D/ 11, 1466-1473 研究論文（学術雑誌）
ゲート遅延故障シミュレーションを用いた単一ゲート遅延故障の一診断法 高橋 寛ボアテン クワメ オセイ高松 雄三 1999/07 電子情報通信学会論文誌. D-1, 情報・システム 1-情報処理 82/ 7, 925-931
種々の階層における塑性理論の発展 2. 結晶塑性論とその応用 高橋 寛 1999/06/15 材料 48/ 6
A Method of Test Generation for Iterative Logic Arrays (特集:VLSIプロセッサ及び新アーキテクチャLSI技術,一般) Boateng Kwame Osei高橋 寛高松 雄三 1999/04/16 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 99/ 4
A Method of Test Generation for Iterative Logic Arrays (特集 VLSIプロセッサ及び新アーキテクスチャLSI技術、一般) Boateng Kwame Osei高橋 寛高松 雄三 1999/04/16 電子情報通信学会技術研究報告 99/ 8
A Method of Test Generation for Iterative Logic Arrays (特集:VLSIプロセッサ及び新アーキテクチャLSI技術,一般) ボマテン クワメ オセイ高橋 寛高松 雄三 1999/04/16 電子情報通信学会技術研究報告. CPSY, コンピュータシステム 99/ 6
多結晶塑性論 高橋 寛 1999/02/25 日本機械学会論文集. A編 = Transactions of the Japan Society of Mechanical Engineers. A 65/ 630
単一/多重故障シミュレーションに基づく組合せ回路の多重縮退故障に対する一診断法 高橋 寛ボアテン クワメ オセイ高松 雄三 1999/02/05 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 98/ 585
単一/多重故障シミュレーションに基づく組合せ回路の多重縮退故障に対する一診断法 高橋 寛ボアテン クワメ オセイ高松 雄三 1999/02/04 情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告 99/ 12
Design of C-Testable Modified-Booth Multipliers Under the Stuck-at Fault Model Boateng Kwame OseiTakahashi HiroshiTakamatsu Yuzo 1999/02 愛媛大学工学部紀要 18
多重/単一故障シミュレータを用いた多重故障診断実験 高橋寛BOATENG K O高松雄三 1999 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1999
A new method for diagnosing multiple stuck-at faults using multiple and single fault simulations H TakahashiKO BoatengY Takamatsu 1999 17TH IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 64-69 研究論文（国際会議プロシーディングス）
A New Method for Diagnosing Mutiple Stuck-at Faults using Multiple and Single Fault Simulations(共著) H TakahashiKO BoatengY Takamatsu 1999 Proc. of 17th IEEE VLSI Test Symposium 64-69 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Multiple Fault Diagnosis in Logic Circuits using EB Tester and Multiple/Single Fault Simulators 1999 Proc. of ATS '99 341-346
Multiple Gate Delay Fault Diagnosis Using Test-Pairs for Marginal Delays BOATENG Kwame OseiTAKAHASHI HiroshiTAKAMATSU Yuzo 1998/07/25 IEICE transactions on information and systems 81/ 7, 706-715
Multiple gate delay fault diagnosis using test-pairs for marginal delays KO BoatengH TakahashiY Takamatsu 1998/07 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E81D/ 7, 706-715 研究論文（学術雑誌）
電子ビ-ムテスタを用いた順序回路の故障診断 柳田 宣広高橋 寛高松 雄三 1998/02 愛媛大学工学部紀要 17/ 17
Electron beam tester aided fault diagnosis for logic circuits based on sensitized paths N YanagidaH TakahashiY Takamatsu 1998 SEVENTH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS'98), PROCEEDINGS 237-241 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Diagnosis of single gate delay faults in combinational circuits using delay fault simulation H TakahashiKO BoatengS Takamatsu 1998 SEVENTH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS'98), PROCEEDINGS 108-112 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Tests for small gate delay faults in combinational circuits and a test generation method Hiroshi TakahashiTakashi WatanabeToshiyuki MatsunagaYuzo Takamatsu 1997/06/15 Systems and Computers in Japan 28/ 6, 68-76 研究論文（学術雑誌）
改良 Booth 法に基づく乗算回路のC-テスタブル設計について ボアテン クァメ・オセイ高橋 寛高松 雄三 1997/03/06 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 96/ 557
改良 Booth 法に基づく乗算回路のC-テスタブル設計について ボアテン クァメ・オセイ高橋 寛高松 雄三 1997/03/06 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 96/ 555
複数の外部入力を変化させる活性化入力対の生成法について 松永 隆徳Boateng Kwarne Osei柳田 宣広高橋 寛高松 雄三 1997/02/13 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 96/ 519
組合せ回路の活性化入力対とその故障診断への応用 松永 隆徳柳田 宣広高橋 寛 1997/02 愛媛大学工学部紀要 16/ 16
A method of multiple fault diagnosis in sequential circuits by sensitizing sequence pairs N YanagidaH TakahashiY Takamatsu 1997/01 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E80D/ 1, 28-37 研究論文（学術雑誌）
Design of c-testable multipliers based on the modified booth algorithm KO BoatengH TakahashiY Takamatsu 1997 SIXTH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS'97), PROCEEDINGS 42-47 研究論文（国際会議プロシーディングス）
A method of generating tests for marginal delays and delay faults in combinational circuits H TakahashiT MatsunagaKO BoatengY Takamatsu 1997 SIXTH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS'97), PROCEEDINGS 320-325 研究論文（国際会議プロシーディングス）
信号伝搬時間を利用した組合せ回路の多重縮退故障に対する一診断法 高橋 寛柳田 宣広高松 雄三 1996/12/25 電子情報通信学会論文誌. D-1, 情報・システム 1-コンピュータ 79/ 12, 1131-1140
有限要素多結晶モデルによる数値材料試験と塑性加工解析 高橋 寛 1996/12/20 塑性と加工 37/ 431
組合せ回路の微小なゲート遅延故障に対するテストとその生成法 高橋 寛渡部 崇史松永 敏幸高松 雄三 1996/06/25 電子情報通信学会論文誌. D-1, 情報・システム 1-コンピュータ 79/ 6, 361-370
連続体塑性論から多結晶塑性論へ 高橋 寛 1996/05/20 塑性と加工 37/ 424
有限要素多結晶モデルによる塑性変形解析およびそのシステム化 本橋 元高橋 寛土田 信 1996/02/20 塑性と加工 37/ 421
組合せ回路におけるクリティカル経路の検出 于 湘秋高橋 寛高松 雄三 1996/02 愛媛大学工学部紀要 15/ 15
電子ビ-ムテスタを用いた活性化入力対による組合せ回路の多重故障診断 柳田 宣広高橋 寛高松 雄三 1996/02 愛媛大学工学部紀要 15/ 15
Multiple fault diagnosis in sequential circuits using sensitizing sequence pairs N YanagidaH TakahashiY Takamatsu 1996 PROCEEDINGS OF THE TWENTY-SIXTH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON FAULT-TOLERANT COMPUTING 86-95 研究論文（国際会議プロシーディングス）
活性化入力系列を用いた順序回路の故障診断に関する一考察 柳田 宣広高橋 寛高松 雄三 1995/10/19 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 95/ 306
活性化入力系列を用いた順序回路の故障診断に関する一考察 柳田 宣広高橋 寛高松 雄三 1995/10/19 情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告 95/ 99
A STUDY FOR TESTABILITY OF REDUNDANT FAULTS IN COMBINATIONAL-CIRCUITS USING DELAY EFFECTS XQ YUH TAKAHASHIY TAKAMATSU 1995/07 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E78D/ 7, 822-829 研究論文（学術雑誌）
組合せ回路の微小なゲート遅延故障に対するテスト生成 高橋 寛渡部 崇史高松 雄三 1995/06/06 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 95/ 87
組合せ回路のゲート遅延故障に対する高分解能テストの生成 高橋 寛渡部 崇史高松 雄三 1995/03/27 電子情報通信学会総合大会講演論文集 1995/ 1
組合せ回路におけるクリティカル経路の一検出法 于 湘秋高橋 寛高松 雄三 1995/03/27 電子情報通信学会総合大会講演論文集 1995/ 1
MULTIPLE-FAULT DIAGNOSIS IN COMBINATIONAL-CIRCUITS USING SENSITIZING INPUT-PAIRS N YANAGIDAH TAKAHASHIY TAKAMATSU 1995/03 SYSTEMS AND COMPUTERS IN JAPAN 26/ 3, 17-29 研究論文（学術雑誌）
有限要素多結晶モデルによる塑性変形解析 本橋 元影沢 豊彦高橋 寛土田 信 1995/02/25 日本機械学会論文集. A編 61/ 582
組合せ回路のタイミング解析におけるクリティカル経路問題について 于 湘秋高橋 寛高松 雄三 1995/02 愛媛大学工学部紀要 14/ 14
Multiple Fault Diagnosis by Sensitizing Input Pairs. Nobuhiro YanagidaHiroshi TakahashiYuzo Takamatsu 1995 IEEE Design & Test of Computers 12/ 3, 44-52
Generation of tenacious tests for small gate delay faults in combinational circuits. Hiroshi TakahashiTakashi WatanabeYuzo Takamatsu 1995 4th Asian Test Symposium (ATS '95), November 23-24, 1995. Bangalore, India 332-338
Enhancing Multiple Fault Diagnosis in Combinational Circuits Based on Sensitized Paths and EB Testing TAKAHASHI H. 1995 Proc. IEEE ATS'95 58-64
分割した構造記述関数による組合せ回路の経路解析 于 湘秋柳田 宣広高橋 寛高松 雄三 1994/10/25 電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-コンピュータ = The transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers 77/ 10, 741-744
遅延効果を用いた組合せ回路における冗長故障のテスト生成法 于 湘秋高橋 寛高松 雄三 1994/06/28 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 94/ 128
活性化入力対を用いた組合せ回路の多重縮退故障の診断に関する一考察 柳田 宣広高橋 寛高松 雄三 1994/04/25 電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-コンピュータ = The transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers 77/ 4, 318-327
組合せ回路の遅延故障に対するロバストテスト対生成法について 井内 張景高橋 寛高松 雄三 1994/02 愛媛大学工学部紀要 13
A Study for Multiple Fault Diagnosis in Combinational Circuits Using Sensitizing Input-Pairs 1994 The Transactios of The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers D-I J77-D-1/ 4, 318-327
組合せ回路のタイミング解析におけるクリティカル経路の一検出法 于 湘秋柳田 宣広高橋 寛高松 雄三 1993/10/29 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 93/ 303
組合せ回路のタイミング解析におけるクリティカル経路の一検出法 于 湘秋柳田 宣広高橋 寛高松 雄三 1993/10/28 情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告 93/ 94
単一活性化経路に基づく組合せ回路の多重縮退故障の診断法に関する一考察 高橋 寛柳田 宣広高松 雄三 1993/08/19 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 93/ 182
Improved Forward Test Generation of Sequential Circuits Using Variable-Length Time Frames (Special Issue on VLSI Testing and Testable Design) Takamatsu YuzoOgawa TaijiroTakahashi Hiroshi 1993/07/25 IEICE transactions on information and systems 76/ 7
Test generation for multiple fault diagnosis in one-dimensional iterative logic arrays 高橋 寛山本 貴之高松 雄三 1993/02 愛媛大学工学部紀要 12/ 4
周波数特性を同じにした補聴器のききやすさ 高橋 信雄中川 寛高橋 真由美 1993 ＡＵＤＩＯＬＯＧＹ ＪＡＰＡＮ 36/ 5
Multiple stuck-fault diagnosis in combinational circuits based on restricted single sensitized paths TAKAHASHI T. 1993 Proc. of IEEE ATS '93 185-190
多結晶塑性論における天才Taylorと秀才Hill 高橋 寛 1992/12/20 塑性と加工 33/ 383
順序回路の前方テスト生成に対する一手法 高松 雄三小川 泰次郎高橋 寛 1992/09/25 電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-コンピュータ = The transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers 75/ 9, 864-873
A METHOD OF GENERATING TESTS FOR COMBINATIONAL-CIRCUITS WITH MULTIPLE FAULTS H TAKAHASHIN IUCHIY TAKAMAISU 1992/07 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E75D/ 4, 569-576 研究論文（学術雑誌）
順序回路のデ-タ構造について 小川 泰次郎高橋 寛高松 雄三 1992/02 愛媛大学工学部紀要 12/ 3
大ひずみ域におけるバウシンガ-曲線と再負荷曲線 塩野 功高橋 寛 1987/01 山形大学紀要 工学 19/ 2
山形県立川町における風況--風エネルギ-の観点から 丹 省一福士 正幸高橋 寛 1983/12 鶴岡工業高等専門学校研究紀要 18
深絞り容器の軸圧縮と内圧による張出加工 塩野 功高橋 寛 1980/01 山形大学紀要 工学 16/ 1
有限要素法による円柱圧縮の塑性解析に関するいくつかの問題点 高橋 寛塩野 功小林 史郎 1977/07 塑性と加工 18/ 198
金属円板の静水圧による張出し変形の解析 : 第2報, 実験と理論解析の比較 高橋 寛 1970 日本機械学会誌 73/ 619 - MISC
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- 講演・発表
- ワンタイムパスワードによるJTAGアクセス認証アーキテクチャのFPGA実装と機能検証 エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM) 2023
NS形電気転てつ機のフィールドデータ分析と状態基準保全に関する研究 電気学会全国大会講演論文集(CD-ROM) 2023
グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 2023
JTAG認証機構の軽量化設計について エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM) 2022
マルチサイクルの機能動作による故障診断能力の向上について 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022
ローエンドエッジデバイスにおけるSAS認証方式の処理時間の評価 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022
SAS-Lを用いたJTAG認証システムのアクセスポートロック機能回路の設計と実装 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022
RS符号の消失訂正を用いたAesthetic QRコードの生成法 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022
マルチサイクルテストによるテストパターン削減 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022
グラフ構造強化学習を用いたテスト検査点選定法 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022
エッジデバイスにおけるSAS認証回路の設計と実装 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022
シングルボードコンピュータ上でのSAS認証方式の計算時間の評価 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2022
地方大学におけるSociety5.0に向けた新しい技術者リカレント教育の挑戦 産学官連携ジャーナル(Web) 2022
機械学習による踏切遮断かん折損検知に関する考察 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 2021
WebGLによるネットワークトラフィック可視化方法の検討 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021
グラフ畳み込みニューラルネットワークを用いたテストポイント選定について 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021
マルチサイクルテストの導入による組込自己診断の故障診断能力評価 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021
マルチサイクルの機能動作による故障診断用パターン生成 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021
Aesthetic QRコードを生成するソフトウェアの実装に関する研究 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021
機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021
機械学習を用いたマルウェアの機能推定に関する研究 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021
マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 2021
ハイブリッドテストポイント挿入法のマルチサイクルテストへの適用とその性能評価 2020年電子情報通信学会総合大会 2020/03 口頭発表（一般）
メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装 第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会講演集 2020/03 口頭発表（一般）
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法 電子情報通信学会技術研究報告 2020/02 口頭発表（一般）
車載組込みシステム技術者の育成～enPiT-Pro Embでの教育実践～—招待論文 デジタルプラクティス 2020/01/15
機械学習の異常検知による半断線故障判別法における温度依存性の検討 電子情報通信学会技術研究報告 2020
NS形電気転てつ機の状態基準保全に関する研究 電子情報通信学会技術研究報告(Web) 2020
Raspberry Piを用いた画像処理とCNNによる微小害虫の計数システムの構築 令和元年度電気関係学会四国支部連合大会論文集（CD-ROM) 2019/09
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析 電子情報通信学会技術報告 2019
enPiT-Pro Embにおける社会人教育実践とその評価 教育システム情報学会全国大会講演論文集(CD-ROM) 2019
機械学習を応用した軌道回路の状態基準保全に関する研究 日本機械学会 第25回鉄道技術連合シンポジウム 2018/12
キャプチャパターン制御機構を付加したフリップフロップの選択法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2018/09/15
サウンドコード技術を利用した電気錠システムの開発 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2018/09/15
隣接線の信号遷移を用いる半断線故障判別法の温度に対する有効性調査 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2018/09/15
機械学習を適用した半断線故障判別法の評価 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2018/09/15
マルチサイクルテストの故障検出率の低下を改善するためのキャプチャパターン制御法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2018/09/15
バウンダリスキャン技術におけるテスト容易化設計とその最新状況 エレクトロニクス実装学会誌 2018/08/01
ニューラルネットワークによる軌道回路の状態基準保全に関する考察 日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 2018/06/04
偽造ICチップの脅威と対策―バウンダリスキャンによる真贋判定とトレーサビリティ― エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM) 2018/03/06
偽造ICチップの脅威と対策 -バウンダリスキャンによる真贋判定とトレーサビリティ- エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集 2018
在宅医療制度を患者の利益に推進する取組み~全国在宅医療テストと訪問看護活用のためのアプリ~ 日本在宅医学会大会抄録集 2018
軌道回路の状態基準保全に向けた検討(その3)―設備故障の再現試験とマハラノビス距離による設備の劣化把握― 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 2017/11/27 口頭発表（一般）
深層学習による柑橘類果実の個数推定 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017/09/16 口頭発表（一般）
組込み自己診断向けのテストパターン生成法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017/09/16
フィールドテストにおけるテスト集合分割法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017/09/16 口頭発表（一般）
画像処理と深層学習による微小害虫の検出 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017/09/16 口頭発表（一般）
パス順位比較を用いる半断線故障の検査可能性評価 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017/09/16 口頭発表（一般）
訪問看護制度利用のためのアプリ開発 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017/09/16 口頭発表（一般）
マルチサイクルテストにおける故障検出率最大化のための電力制御法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017/09/16 口頭発表（一般）
可変サイクルテストのテスト圧縮効果 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017/09/16 口頭発表（一般）
論理回路の組込み自己診断に関する提案 電子情報通信学会技術研究報告 2017/02/14 口頭発表（一般）
三次元積層ICのTSV相互接続の評価容易化設計DFE―アナログバウンダリスキャンによる接続抵抗評価― 電子情報通信学会技術研究報告 2017/02/14 口頭発表（一般）
軌道回路の状態基準保全に向けた検討(その1)―状態監視データから見た軌道回路の特徴― 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 2016/11/24
隣接線の信号遷移を用いる半断線故障判別法の断線位置に対する有効性調査 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016/09/17 口頭発表（一般）
組込み自己診断におけるハードウェア制約の改善法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016/09/17 口頭発表（一般）
マルチサイクルテストにおけるFFの接続情報を用いた中間観測FFの選択法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016/09/17 口頭発表（一般）
マルチサイクルテストにおけるクロック信号線のd‐故障に対するテストパターン生成について 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016/09/17
アナログバウンダリスキャンを適用した三次元積層後のTSV抵抗精密計測法の計測精度評価 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016/09/17 口頭発表（一般）
中間観測FF選択法の大規模ベンチマーク回路に対する評価 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016/09/17 口頭発表（一般）
マルチサイクルテストのためのFFの構造的評価 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2016/03/01 口頭発表（一般）
三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について 電子情報通信学会技術研究報告 2016/02/10 口頭発表（一般）
論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減 電子情報通信学会技術研究報告 2016/02/10 口頭発表（一般）
隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について 電子情報通信学会技術研究報告 2015/11/24 口頭発表（一般）
アナログバウンダリスキャンを用いた三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法の実装について 電子情報通信学会技術研究報告 2015/11/24 口頭発表（一般）
遅延を考慮したシミュレータを用いたクロック信号線のブリッジ故障の故障診断 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015/09/26 口頭発表（一般）
アナログバウンダリスキャンによる三次元積層後のTSV抵抗精密計測法の実装と評価 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015/09/26 口頭発表（一般）
組込み自己診断におけるシード候補の生成法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015/09/26 口頭発表（一般）
マルチサイクルテストにおけるクロック信号線のd‐故障に対する診断技術 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015/09/26 口頭発表（一般）
隣接線の信号遷移を用いる多変量解析による半断線故障の検出可能性について 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015/09/26 口頭発表（一般）
組込み自己診断における遷移故障診断能力の改善法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015/09/26 口頭発表（一般）
タイミングシミュレーション情報に基づく故障診断法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015/09/26 口頭発表（一般）
論理BISTにおける故障検出率の向上を考慮したシフトピーク電力制御法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015/09/26 口頭発表（一般）
組込み自己診断におけるテストパターン系列の診断能力に関して 情報科学技術フォーラム講演論文集 2015/08/24 口頭発表（一般）
0‐1整数計画問題を利用した遅延故障テストの改善 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2015/02/24 口頭発表（一般）
IR‐dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法 電子情報通信学会技術研究報告 2015/02/06 口頭発表（一般）
列車検知装置の保全コストに関する考察(その2)―設備保全データのモデル化と活用― 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 2014/11/19 口頭発表（一般）
クロック信号線のブリッジ故障に対する遅延を考慮した故障診断 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014/09/12 口頭発表（一般）
マルチサイクルテストでの遷移故障に対するテスト生成 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014/09/12
オンチップセンサを利用した抵抗性オープン故障診断 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014/09/12
遺伝的アルゴリズムを利用した診断用テスト生成 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014/09/12
消費電力制約下での焼きなまし法を利用したテストパターン変更法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014/09/12
0‐1整数計画問題を利用した診断用テスト生成システムの開発 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014/09/12
列車検知装置の保全コストに関する考察 日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 2014/06/23
鉄道信号設備のライフサイクルコストを考慮した設備保全に関する一考察―設備故障発生時の経済的損失と設備保全― 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 2013/11/05
IRドロップを考慮した遷移故障に対するテストパターン生成 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013/09/20
多重抵抗性オープン故障診断における順位付けの効果 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013/09/20
SAT手法による隣接線影響を考慮した微小遅延故障検査用テストパターン生成に関する一考察 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013/09/20
クロック信号線の遅延故障に対する故障診断用テスト生成 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013/09/20
抵抗性オープン故障診断のための後方追跡 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013/09/20
抵抗性オープン故障に対する診断用テスト生成 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013/09/20
欠陥検出評価関数に基づくテストパターンの選択 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013/09/20
IRドロップを考慮した抵抗性オープン故障に対するテストパターン生成 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2013/09/20
半断線故障検出のための信号遅延の特性評価(遅延テスト, VLSI設計とテスト及び一般) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2013/02/06
隣接信号線の影響を考慮したテストパターン選択法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012/09/29
クロック信号線の遅延故障に対する故障診断 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012/09/29
ファンアウトブランチに着目した欠陥検出テスト生成 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2012/09/29
招待講演 シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み (ディペンダブルコンピューティング) 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報 2012/06/22
シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み(設計/テスト/検証) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2012/06/15
バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 : 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察(テスト生成・レスト容易化設計,VLSI設計とテスト及び一般) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2012/02/06
バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 : 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 2012/02/06
ファンアウト数に着目した欠陥検出テスト生成 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011/09/13
欠陥検出テスト生成法の改善法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2011/09/13
超高信頼性チップ製造のためのシグナルインティグリティ不良のモデル化およびその故障検査法 愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書 2011/03
D-10-8 活性化経路評価関数に基づくパターン選択(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2011/02/28
活性化経路評価関数に基づくパターン選択 電子情報通信学会大会講演論文集 2011/02/28
欠陥検出テストのためのテストパターン選択(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2011/02/07
欠陥検出テストのためのテストパターン選択 電子情報通信学会電子情報通信学会技術報告 2011
LOCテストに対応した抵抗性オープン故障テスト生成 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010/09/14
ハザードの影響を考慮した信号遷移シミュレーション 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010/09/14
IC内隣接配線における半断線故障時の信号遅延解析 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010/09/14
欠陥検出確率を利用した2パターンテスト生成法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010/09/14
遷移故障における等価故障判定 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010/09/14
LOCテストに対応したブリッジ故障シミュレータの高精度化 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010/09/14
クロストーク故障に対するテストパターン生成 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010/09/14
伝播経路評価関数を利用したテストパターン選択法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010/09/14
状態遷移図の簡単化を用いた組込みシステムに対するテスト系列生成法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010/09/14
ハザードの影響をマスクした微小遅延故障診断法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2010/09/14
遅延故障診断に関する研究 愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書 2010/03
TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2010/02/08
抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2010/02/08
LOCテストに対応した抵抗性オープン故障シミュレータ 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009/09/15
欠陥考慮2パターンテストについて 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009/09/15
SATソルバーを利用したオープン故障に対するテストの評価 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009/09/15
テストサイクル決定に関する一考察 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009/09/15
LOCテストに対応したブリッジ故障シミュレータ 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009/09/15
微小遅延故障診断におけるゲート遅延変動の影響 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009/09/15
抵抗性オープン故障に対するテストについて 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2009/09/15
縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2009/06/12
D-10-19 遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2009/03/04
遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断 電子情報通信学会大会講演論文集 2009/03/04
テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化設計のための新故障モデルとそのテスト・故障診断に関する研究 愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書 2009/03
組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2009/02/09
隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2009/02/09
TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2008/11/10
TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地) 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 2008/11/10
TEGチップを用いたオープン故障の解析 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 2008/11/10
複数故障モデルに対する統計的な故障診断法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008/09/15
抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008/09/15
原因‐結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケース生成法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008/09/15
欠陥検出向けテストパターンの一選択法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008/09/15
遅延故障シミュレーションを利用した欠陥診断法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008/09/15
SATソルバーを利用した診断用テスト生成法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008/09/15
抵抗性ブリッジ故障シミュレーションについて 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008/09/15
オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2008/06/13
D-10-3 スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008/03/05
D-10-2 動的なオープン故障に対するテストパターン生成法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008/03/05
D-10-1 ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008/03/05
ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について 電子情報通信学会大会講演論文集 2008/03/05
動的なオープン故障に対するテストパターン生成法 電子情報通信学会大会講演論文集 2008/03/05
スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について 電子情報通信学会大会講演論文集 2008/03/05
遷移故障に対する診断用テスト生成法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2008/02/01
隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2008/02/01
微小遅延故障に対する故障診断 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007/09/15
遅延故障に対する診断用テスト生成法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007/09/15
故障励起条件を考慮した欠陥検出テストパターン 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007/09/15
D-10-2 縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演) 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2007/03/07
D-10-1 ハードウェア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演) 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2007/03/07
縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法 電子情報通信学会大会講演論文集 2007/03/07
ハードウェア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用 電子情報通信学会大会講演論文集 2007/03/07
ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2007/02/02
BIST環境に適応した故障診断法に関する研究―ブリッジおよびオープン故障に対する故障診断への拡張―大規模回路への適用可能性の調査― 愛媛大学産業科学技術支援センター研究成果報告書 2006/11
縮退故障テストに基づくオープン故障のテスト生成 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006/09/12
オープン故障に対する診断用テスト生成について 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006/09/12
BIST環境における単一縮退故障診断法の評価実験 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006/09/12
隣接信号線の信号変化を考慮したオープン故障 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2006/09/12
隣接信号線を考慮したオープン故障の一モデルとその故障診断(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2006/02/10
隣接信号線を考慮したオープン故障の一診断法 LSIテスティングシンポジウム 2006
オープン故障に対する一故障モデルの提案とその故障診断 ＬＳＩテスティングシンポジウム２００６ 2006
組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術) 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 2005/09/01
組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術) 電子情報通信学会技術研究報告. CPM, 電子部品・材料 2005/09/01
BIST環境を考慮した故障診断システムについて 情報処理学会シンポジウム論文集 2005/08/24
検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2005/02/11
検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2005/02/11
不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2005/02/11
不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2005/02/11
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 2004/12/02
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 2004/12/02
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 2004/11/25
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 2004/11/25
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 2004/11/25
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 2004/11/25
不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2004/11/25
不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2004/11/25
テストの検出/非検出情報に基づくブリッジ故障診断について 電子情報通信学会大会講演論文集 2004/09/08
多重縮退故障診断における故障候補の削減法について 電子情報通信学会大会講演論文集 2004/09/08
不確かな診断テスト集合による単一/多重縮退故障の診断法 電子情報通信学会技術研究報告 2004/02/20
テストの検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法 電子情報通信学会技術研究報告 2004/02/20
不確かな診断テスト集合による単一/多重縮退故障の診断法(VLSI設計とテスト) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2004/02/13
テストの検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(VLSI設計とテスト) 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2004/02/13
不確かなテスト集合をもつBISTの故障診断法 電子情報通信学会技術研究報告 2003/02/21
不確かなテスト集合をもつBISTの故障診断法 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2003/02/14
順序回路のクロストークによる遅延故障に対する目標故障の一判別法 電子情報通信学会技術研究報告 2002/02/22
順序回路のクロストークによる遅延故障に対する目標故障の一判別法 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 2002/02/15
縮退故障のテスト集合に基づくパス遅延故障の一テスト生成法 電子情報通信学会技術研究報告 2000/08/05
FTS2000-24 縮退故障のテスト集合に基づくパス遅延故障の一テスト生成法 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 2000/07/29
論理シミュレータを利用した単一設計誤りの一診断法 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2000/03/07
組合せ回路のゲート遅延故障に対する一診断法 愛媛大学工学部紀要 2000/02
A Method of Test Generation for Iterative Logic Arrays (特集:VLSIプロセッサ及び新アーキテクチャLSI技術,一般) 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 1999/04/16
A Method of Test Generation for Iterative Logic Arrays (特集 VLSIプロセッサ及び新アーキテクスチャLSI技術、一般) 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 1999/04/16
A Method of Test Generation for Iterative Logic Arrays (特集:VLSIプロセッサ及び新アーキテクチャLSI技術,一般) 電子情報通信学会技術研究報告. CPSY, コンピュータシステム 1999/04/16
単一/多重故障シミュレーションに基づく組合せ回路の多重縮退故障に対する一診断法 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 1999/02/05
単一/多重故障シミュレーションに基づく組合せ回路の多重縮退故障に対する一診断法 情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告 1999/02/04
Design of C-Testable Modified-Booth Multipliers Under the Stuck-at Fault Model 愛媛大学工学部紀要 1999/02
組合せ回路の単一設計誤りに対する一診断法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1999
縮退故障のテスト集合を用いたパス遅延故障に対するテストの一生成法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1999
電子ビームテスタを用いた順序回路の故障診断 愛媛大学工学部紀要 1998/02
CMOS論理回路の短絡故障に対する並列故障シミュレーションについて 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1998
多重/単一故障シミュレーションを利用した多重縮退故障の一診断法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1998
改良Booth法に基づく乗算回路のC-テスタブル設計について 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 1997/03/06
改良Booth法に基づく乗算回路のC-テスタブル設計について 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 1997/03/06
複数の外部入力を変化させる活性化入力対の生成法について 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 1997/02/13
組合せ回路の活性化入力化とその故障診断への応用 愛媛大学工学部紀要 1997/02
組合せ回路の活性化入力対とその故障診断への応用 愛媛大学工学部紀要 1997/02
順序回路の故障検査のための観測点挿入位置の決定法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1997
遅延故障シミュレーションを用いたゲート遅延故障の一診断法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1997
電子ビームテスタを用いた活性化入力対による組合せ回路の多重故障診断 愛媛大学工学部紀要 1996/02
組合せ回路におけるクリティカル経路の検出 愛媛大学工学部紀要 1996/02
複数の変化信号値をもつ活性化入力対の生成について 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1996
電子ビームテスタを利用した組合せ回路の多重縮退故障に対するテスト生成 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1996
ゲート遅延故障に対する診断用テストの一生成法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1996
活性化入力系列を用いた順序回路の故障診断に関する一考察 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 1995/10/19
活性化入力系列を用いた順序回路の故障診断に関する一考察 情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告 1995/10/19
組合せ回路の微小なゲート遅延故障に対するテスト生成 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 1995/06/06
組合せ回路のゲート遅延故障に対する高分解能テストの生成 電子情報通信学会総合大会講演論文集 1995/03/27
組合せ回路におけるクリティカル経路の一検出法 電子情報通信学会総合大会講演論文集 1995/03/27
組合せ回路のタイミング解析におけるクリティカル経路問題について 愛媛大学工学部紀要 1995/02
表駆動型遅延故障シミュレータの作成 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1995
活性化入力対の追加生成による組合せ回路の故障診断強化について 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1995
ティネシャステスト(Tenacious Test)集合を用いた組合せ回路の縮退故障診断について 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1995
遅延効果を用いた組合せ回路における冗長故障のテスト生成法 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 1994/06/28
組合せ回路の遅延故障に対するロバストテスト対生成法について 愛媛大学工学部紀要 1994/02
遅延効果を用いた組合せ回路における冗長故障のテスト生成について 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1994
活性化入力対を用いた組合せ回路におけるゲート遅延故障の一診断法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1994
活性化入力対を用いた組合せ回路の多重故障診断の推論強化に対する二,三の手法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1994
組合せ回路における冗長故障のテスト生成のためのデータ構造とその演算法 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1994
組合せ回路のタイミング解析におけるクリティカル経路の一検出法 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 1993/10/29
組合せ回路のタイミング解析におけるクリティカル経路の一検出法 情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告 1993/10/28
単一活性化経路に基づく組合せ回路の多重縮退故障の診断法に関する一考察 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム 1993/08/19
Test generation for multiple fault diagnosis in one-dimensional iterative logic arrays 愛媛大学工学部紀要 1993/02
A Method of Generating Robust Test-Pairs for Delay Faults in Combinational Circuits Memories of Faculty of Engineering, Ehime University 1993
組合せ回路の遅延故障に対するロバストテスト対生成法について 愛媛大学工学部紀要 1993
組合せ回路におけるクリティカル経路問題: 理論 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1993
組合せ回路の多重故障に対する適応検査について 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 1993
活性化入力対を用いた組合せ回路における多重縮退故障の診断について 電子情報通信学会技術研究報告 1992/12/11
一次元繰返し回路における多重故障診断テストの生成法 電子情報通信学会技術研究報告 1992/06/19
ハザードを考慮したゲート遅延故障に対するロバストテスト対の生成について 電子情報通信学会技術研究報告 1992/06/18
順序回路のデータ構造について 愛媛大学工学部紀要 1992/02
順序回路の前方テスト生成アルゴリズム:FORTE 電子情報通信学会技術研究報告 1991/04/19
多重故障をもつ組合せ回路の検査入力生成アルゴリズム 電子情報通信学会全国大会講演論文集 1991/03
順序回路の前方テスト生成アルゴリズム 電子情報通信学会全国大会講演論文集 1991/03
多重故障をもつ組合せ回路の検査入力生成法 電子情報通信学会技術研究報告 1990/12/14
- 研究会・報告書
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
- 特許
- 特許権 故障推定装置及び方法 特願2010-091488 2010/04/12 特開2010-204107 2010/09/16
特許権 故障推定装置及び方法 特願2010-091488 2010/04/12 特開2010-204107 2010/09/16 特許第5103501号
特許権 故障検査装置及び方法 特願2007-216141 2007/08/22 特開2009-047645 2009/03/05
特許権 アドレス線のテスト方法 特願平11-013683 1999/01/22 特開2000-215077 2000/08/04 - 作品
- 超高信頼性チップ製造のためのシグナルインティグリティ不良のモデル化およびその故障検査法に関する研究 2009-2011
故障励起関数に基づく高性能LSIに対する高効率故障検査ツールの開発 2008-2008
遅延故障診断に関する研究 2007-2008
テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化設計のための新故障モデルとそのテスト・故障診断に関する研究 2006 - 補助金・競争的資金
- プリシリコンテストとポストシリコンテストを併用したタイミング不良診断法の開発 基盤研究(C) 競争的資金
機能安全技術のための組込み自己診断法の開発 基盤研究(C) 競争的資金
つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発 基盤研究(C) 競争的資金
科学研究費助成事業 構造型情報処理アーキテクチャに対するフィールドテスト法 基盤研究(C) 2023/04-2026/03
科学研究費助成事業 基盤研究(C) メモリ型再構成エッジデバイスにおける高信頼性知的処理機能の設計法に関する研究 基盤研究(C) 2022/04-2025/03
科学研究費助成事業 基盤研究(C) つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発 基盤研究(C) 2019/04-2022/03
科学研究費助成事業 基盤研究(C) アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究 基盤研究(C) 2019/04-2022/03
科学研究費助成事業 基盤研究(C) 高精度遅延故障シミュレータを用いた遅延故障に対するテストと診断に関する研究 基盤研究(C) 2016/04-2020/03 本研究では，LSI（大規模集積回路）において，信号伝搬遅延を考慮したテストと診断に関する問題を取り扱い，主に以下の3点の研究を行い，成果を得た．１つは，ゲート信号線とクロック信号線のブリッジ故障に対する故障診断法の開発である．2つ目は，遅延変動を考慮したマルチサイクルテスト環境での，故障診断法の開発である．3つ目は，フィールド故障診断においてテストパターンを削減する手法の開発である．
基盤研究Ｃ 機能安全技術のための組込み自己診断法の開発 研究課題 2016/04-2019/03 競争的資金
科学研究費助成事業 基盤研究(C) 機能安全技術のための組込み自己診断法の開発 基盤研究(C) 2016/04-2019/03 先進運転支援システムにおける機能安全規格準拠したシステムを構成するためには，その構成要素である集積回路の組込み自己診断技術の開発が喫緊の課題である．本研究では，パワーオン時や待機時の組込み自己テストに適用するマルチサイクルテストの故障検出率向上化法，および組込み自己診断機構を提案する．本研究の成果を以下に示す。 １）パワーオン時の組込み自己テストに適用するマルチサイクルテストにおける故障検出率を向上するためのテスト容易化設計を開発した。具体的には，故障検出強化フリップフロップによる中間観測を導入したマルチサイクルテスト法を提案した。商用車載コンピュータ（ゲート数2.7M）に対する評価実験結果から，通常のスキャンテストに対してマルチサイクルテストを実行することによって2.8倍のテストパターンの圧縮が可能となることがわかった． ２）フィールドでの劣化による遅延故障箇所の特定を指向した組込み自己故障診断（BISD）機構を開発した。提案機構は事前に生成した期待署名をメモリに持つことなく，動的に期待署名を生成しながら遅延故障診断テストを行う．提案したBISD 機構では通常 のクロック (実速度クロック) よりも遅いクロック (低速度クロック) を用いて期待署名の自己生成を行い，実速度クロックを用いて遅延故障診断テストを行う。実験ではベンチマーク回路に対して提案 BISD 機構を適用し，面積オーバヘッドを評価した。 ３）パワーオンセルフテストの実行時間短縮のためのテスト集合分割法を提案した．また，組込み自己診断の高精度化のために組込み自己診断向けの診断用テストパターンの生成法を提案した。 ４）配線における半断線故障の検出能力の向上化のために，機械学習の手法（マハラノビクス距離，SVM）を利用した半断線故障の識別法を提案した。 ５）次世代のメモリコンピューティングデバイスのテスト法を提案した。
基盤研究Ｃ プリシリコンテストとポストシリコンテストを併用したタイミング不良診断法の開発 2013/04-2017/03 競争的資金
科学研究費助成事業 基盤研究(C) プリシリコンテストとポストシリコンテストを併用したタイミング不良診断法の開発 基盤研究(C) 2013/04-2017/03 これまでの縮退故障および遷移故障に対する故障検査のみでは，高速システムオンチップの品質を保証することは困難である。本研究では，抵抗性オープン故障に対する高精度診断用テストとして，2パターン―2ペアテストの概念を提案し，その生成法を提案した。また，診断容易化回路として，アナログバンダリスキャンを適用したオンチップセンサを提案した。さらに，被診断回路のパスの順位に基づく故障診断法を提案した。ベンチマーク回路に対する評価実験結果から，従来法に比べて，高精度な診断用テストが生成可能であること，および良好な故障診断分解能が得られることを示した。
基盤研究Ｃ ３次元LSIにおけるビア接続不良に対するテストと診断に関する研究 2013/04-2016/03 競争的資金
科学研究費助成事業 基盤研究(C) ３次元LSIにおけるビア接続不良に対するテストと診断に関する研究 基盤研究(C) 2013/04-2016/03 3次元LSIにおいてビア接続不良が発生した場合に考えられる影響として，信号の伝搬遅延が想定される．そこで本研究では，遅延故障に対する故障診断法を開発した．対象故障は，ゲート信号線とクロック信号線であり，様々な大きさの遅延量に適用可能とした．また，一時的に信号値が変化するハザードの発生にも対応できるようにした．開発した手法をベンチマーク回路に適用した実験により開発した手法の有効性を確認した．
科学研究費助成事業 基盤研究(C) システム LSI におけるクロック信号線上の故障に対する検査法β診断法の開発 基盤研究(C) 2010-2012 本研究では,システム LSI に対する故障検査法および故障診断法を開発した.対象とする故障はクロック信号線上の遅延故障とブリッジ故障であり,故障の存在する LSI において,故障個所を指摘する手法を開発した.開発した手法は,シミュレーションに基づく手法であり,その有効性についてはベンチマークとなる回路を用いたシミュレーション実験を行い,確認した.
超高信頼性チップ製造のためのシグナルインティグリティ不良のモデル化およびその故障検査法 2009/04-2012/03 競争的資金
基盤研究Ｃ 故障励起関数に基づく欠陥検出向きテスト生成法に関する研究 2008/04-2011/03 競争的資金
科学研究費助成事業 基盤研究(C) 故障励起関数に基づく欠陥検出向きテスト生成法に関する研究 基盤研究(C) 2008-2010 ディープサブミクロンプロセスで製造された高性能LSIに対して,テストコストを低減でき,かつ,多様な欠陥に対して有効なテストCADツールの開発が求められている.本研究では,縮退故障,ブリッジ故障,完全オープン故障,遷移故障,抵抗性ブリッジ故障,および抵抗性オープン故障に対する故障励起関数を提案した.次に,故障励起関数に基づく欠陥検出向けテスト生成法および故障診断法をそれぞれ提案した.ISCASベンチマーク回路に対する評価実験結果から,従来法に対して良好な検出率および良好な診断分解能が得られることを示した.
科学研究費助成事業 基盤研究(C) 高速VLSIのクロストーク故障に対する高信頼テスト手法に関する研究 基盤研究(C) 2007-2009 本研究では,VLSI(大規模集積回路)におけるクロストーク故障を対象にしたテスト手法を提案した.クロストーク故障とは,隣接する2本の信号線が容量性結合することによるものである,従来の故障モデルを対象にしたテストでは検出されない.そこで,クロストーク故障の故障動作を詳細に解析し,モデル化を行い,テストパターンを生成する手法を提案した.さらに手法を拡張し,トランジスタショート故障に対する故障診断法やテストパターン生成法も提案した.
科学研究費助成事業 基盤研究(C) 組み込みシステムに対するソフト/ハード協調テスト法の開発 基盤研究(C) 2006-2008 本研究では, 組み込みシステムに対して自動的にテストケースを生成する手法を開発した. 開発した手法では, システムをハードウエアとソフトウエアにく別することなく, システム全体をテストすることが可能となる. また, テスト生成においては, 仕様で与えられたシステムの動作やテスト生成時の様々な制約を論理回路で表現し, ハードウエアテスト生成ツールを用いた手法を開発することで, 実用化が容易となるようにした.
科学研究費助成事業 基盤研究(C) 超高速・超微細VLSIに対する組込み自己テスト手法と故障診断法に関する研究 基盤研究(C) 2003-2005 本年度は,診断用テストベクトルの圧縮法,オープン故障に対する故障診断法,ゲート内部ブリッジ故障に対する故障診断法の開発を行った. (1)診断用テストベクトルの圧縮法 組込み自己テストでは,非常に多くのテストベクトルの印加を必要とする.そこで診断のために必要な,少ない数のテストベクトルを選択する手法を開発した.これによって,診断時間の短縮,テストベクトルや出力応答を保存するためのメモリ量を削減することが可能になる.開発した手法では,与えられたテスト集合に対して,区別可能な故障ペア数を減少させることなく,できるだけ少ないテストベクトルを選択する.まず,1つのテストベクトルでしか検出されない故障を抽出し,それらを検出するテストベクトルを選択する.次に,一部の故障ペアを選択し,それらを区別するようなテストベクトルを選択する.その後,別の故障ペアの選択と,それらを区別するテストベクトルの選択を繰り返し行う. (2)オープン故障に対する故障診断法 信号線のオープン故障に対する故障診断法を開発した.この研究では,オープン故障が存在する信号線の論理値が,隣接信号線の影響により決定するような故障動作を仮定した.開発した故障診断法では,検出テストと非検出テストを用いて故障シミュレーションを行い,少ない数の故障位置指摘を実現した. (3)ゲート内部ブリッジ故障に対する故障診断法 ゲート内部のトランジスタノードが短絡するようなゲート内部ブリッジ故障に対する故障診断法を開発した.この診断法では,まず検出テストを用いてゲートレベルシミュレーションを行い,故障が存在するゲートの候補を抽出する.次に,ゲート入力値を調べ,ゲートの候補内に存在する内部ブリッジ故障を推定する.さらに非検出テストを用いて,内部ブリッジ故障の候補を削減する.
科学研究費助成事業 奨励研究(A) 組合せ回路の遅延故障に対する新しいテストとその診断への応用に関する研究 奨励研究(A) 1997-1998 本研究の実績を以下に示す. 1. 前年度の研究成果である診断用テスト集合を用いた多重ゲート遅延故障に対する診断法を提案した.本研究では,これまでに提案されていない信号線の信号値および信号変化時刻を利用した診断法を考察した.本診断法では,信号伝搬遅延時間を利用し,外部出力で観測された信号変化の最終変化時刻を決定した信号変化の伝搬経路を外部出力側から推定する.本診断法は平成9年度の成果である診断用テストを利用した手法である.まず,これまで我々が提案した多重縮退故障に対する推論規則に基づいて,ゲート遅延故障に対する推論規則を考察する.次に,外部出力で観測された故障出力と最終変化時刻に基づいて活性化経路上の被疑故障を推定する診断法と,外部出力で観測された正常出力と最終変化時刻に基づいて活性化経路上の正常な信号線を同定する診断法をそれぞれ提案した. 2. 前年度の科学研究費補助金により購入したワークステーション上に提案した診断法を実現し,国際会議において定められたISCAS'85ベンチマーク回路に適用した計算機実験を行った.実験結果から,提案した診断法は高い診断分解能を得られることを示した.
科学研究費助成事業 奨励研究(A) 組合せ回路の遅延故障に対する新しいテストの提案とその生成法 奨励研究(A) 1996-1996 1.ゲート遅延故障に対するロバスト/ノンロバストテストにおける問題点の考察:遅延故障におけるテストの問題点は,観測時刻によって,目標信号線の遅延故障に対するロバストテストとして正しくないことがあることである.このことが,生成したテストの検出できる遅延の大きさを決めることになることを示した. 2.微小なゲート遅延故障に対するテストの提案:1.の考察に基づいて,目標信号線における信号変化の時刻は,それが生じる時刻以降の任意の時刻では,他のゲートの遅延で生じる信号変化に依存しないように信号変化を伝搬することができる経路を活性化するテストを微小なゲート遅延故障に対するテストとして提案した. 3.提案した微小なゲート遅延故障に対するテストの生成法の開発:科学研究費補助金により購入したワークステション上で,提案した遅延テストの生成法を開発した.本手法は,7値の論理値および信号変化の時刻を用いて,遅延故障テストの生成を行う. 4.実験:提案する遅延故障テストの生成法を科学研究費補助金により購入したワークステション上で実現し、ISCAS'85ベンチマーク回路に適用した実験を行った.実験結果より提案する微小な遅延故障に対するテストおよびその生成法の有効性を示した. 5.成果の公表:本研究の成果を論文誌に公表している. 6.今後の展望:今後,微小な遅延故障のテストを用いたゲート遅延故障の診断法を検討する予定である.
科学研究費助成事業 奨励研究(A) 部分単一活性化経路に基づく組合せ回路の多重縮退故障の診断法に関する研究 奨励研究(A) 1994-1994 1.多重故障診断用テスト集合およびその生成法の提案:従来の診断用テスト集合と異なり,本診断法では,TP_1:少なくとも1つの検査点を部分単一活性化経路上に含む経路を活性化する活性化入力対の集合,TP_2:検査点を多重活性化経路上に含む経路を活性化する活性化入力対の集合,TP_3:外部入力から検査点までの経路を活性化する活性化入力対の集合およびTP_4:検査点の単一縮退故障に対する検査入力の集合によって構成される診断用テスト集合を提案した.次に,この診断用テスト集合を得るために7値の論理値を導入したテスト生成法を提案した.科学研究費補助金により購入したワークステーション上に生成法を実現し,ベンチマーク回路に適用した結果,冗長故障をもつ検査点以外のすべての検査点に対して診断用テストを生成することができた. 2.多重故障診断法の提案:1.の診断用テスト集合により活性化された経路に基づく診断法を提案した.診断法は,1)外部出力で故障出力が観測された活性化経路に基づいて故障候補を推定するための処理,および,2)外部出力で正常出力が観測された活性化経路に基づいて正常な信号線を同定するための処理から成る.また,推定された故障候補の数をより減少させるために,診断用テスト集合により活性化された経路に基づいて観測点を決定し,TP_1およびTP_2による診断に電子ビームテスタを併用する手法も提案した.補助金により購入したワークステーション上に提案した診断法を実現し,4重故障までを仮定したベンチマーク回路に適用した実験を行い,本診断法が故障候補を全故障数の0.2〜5.1%の範囲に指摘できることを明らかにした.これらの実験結果より,診断用テスト集合により活性化された経路に基づく診断法は,多重縮退故障の一診断法として有効であると考えられる.現在,本研究の成果を論文誌に投稿するための準備を行っている.
- その他
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
2024年12月23日更新
- 専門分野・研究分野
- 情報通信 / 計算機システム
- 所属学会・所属協会
- The Institute of Electornics
Information and Communication Engineers
Information Processing Society of Japan
IEEE: The Institute of Electrical and Electronics Engineers
IEEE Asian Test Symposium Steering Committee
電子情報通信学会
情報処理学会
日本信頼性学会
エレクトロニクス実装学会
IEEE - 委員歴・役員歴
- 2023/11-2025/11 IEEE アジアテストシンポジウムＳＣ 副委員長
2022/06/01-現在 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究会専門委員会委員
2020/06-2022/05 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会委員長
2020/06-2021/06 情報処理学会四国支部 幹事
2020/04-現在 エレクトロニクス実装学会 マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文委員会委員
2020/04/01-2021/03/31 一般社団法人 パワーデバイス・イネーブリング協会 半導体技術者検定 問題検討委員会
2018/08-現在 一般社団法人パワーデバイス・イネーブリング協会 半導体テスト技術者検定 課題検討委員会
2018/06-現在 日本信頼性学会 評議員
2018/06-2020/06 情報処理学会 四国支部長
2018/06-2020/06 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会副委員長
2015/04-2016/11 IEEE アジアテストシンポジウム 実行委員長
2009/04-現在 IEEE アジアテストシンポジウムＳＣ - 受賞
- 2020/01 IEEE CASS 四国チャプタ主催アワード
2018/07 特別研究員等の書面審査における貢献
2016/05 高木賞
2012/05 電子情報通信学会論文賞 - 活動
- 2020/09/04-2021/03/31 CREST追跡評価委員
2024年12月22日更新
2024年12月21日更新
Ｊグローバル
- Jグローバル最終確認日
- 2024/12/21 01:50
- 氏名（漢字）
- 高橋 寛
- 氏名（フリガナ）
- タカハシ ヒロシ
- 氏名（英字）
- Takahashi Hiroshi
- 所属機関
- 愛媛大学 教授,副学長
リサーチマップ
- researchmap最終確認日
- 2024/12/22 02:58
- 氏名（漢字）
- 高橋 寛
- 氏名（フリガナ）
- タカハシ ヒロシ
- 氏名（英字）
- Takahashi Hiroshi
- プロフィール
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- 登録日時
- 2011/8/16 00:00
- 更新日時
- 2024/12/12 23:16
- アバター画像URI
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- ハンドル
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- eメール
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- eメール（その他）
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- 携帯メール
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- 性別
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- 没年月日
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- 所属ID
- 0352021007
- 所属
- 愛媛大学
- 部署
- 大学院理工学研究科 電子情報工学専攻
- 職名
- 教授,副学長
- 学位
- 博士（工学）
- 学位授与機関
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- URL
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- 科研費研究者番号
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- Google Analytics ID
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- ORCID ID
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- その他の所属ID
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- その他の所属名
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- その他の所属 部署
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- その他の所属 職名
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- 最近のエントリー
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- Read会員ID
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- 経歴
- 受賞
- Misc
- 論文
- 講演・口頭発表等
- 書籍等出版物
- 研究キーワード
- 研究分野
- 所属学協会
- 担当経験のある科目
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- その他
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- Works
- 特許
- 学歴
- 委員歴
- 社会貢献活動
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2024年12月21日更新
- 研究者番号
- 80226878
- 所属（現在）
- 2024/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授
- 所属（過去の研究課題
情報に基づく）*注記 - 2016/4/1 – 2023/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授
2015/4/1 : 愛媛大学, 大学院理工学研究科, 教授
2012/4/1 – 2015/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科, 教授
2009/4/1 – 2012/4/1 : 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 教授
2010/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科, 教授
2008/4/1 – 2009/4/1 : 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 准教授
2007/4/1 – 2009/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科, 准教授
2006/4/1 : 愛媛大学, 理工学研究科, 助教授
2003/4/1 – 2005/4/1 : 愛媛大学, 工学部, 助教授
1997/4/1 – 1998/4/1 : 愛媛大学, 工学部, 講師
1996/4/1 : 愛媛大学, 工学部, 助手
1994/4/1 : 愛媛大学, 工学部, 助手
- 審査区分/研究分野
-
研究代表者
複合領域 / 情報科学 / 計算機科学
総合・新領域系 / 総合領域 / 情報学 / 計算機システム・ネットワーク
総合系 / 情報学 / 計算基盤 / 計算機システム
小区分60040:計算機システム関連研究代表者以外
総合・新領域系 / 総合領域 / 情報学 / 計算機システム・ネットワーク
総合系 / 情報学 / 計算基盤 / 計算機システム
小区分60040:計算機システム関連
- キーワード
-
研究代表者
故障診断 / 多重縮退故障 / 診断用テスト集合 / 活性化経路 / 組合せ回路 / ゲート遅延故障 / テスト生成 / 遅延故障 / 組み合せ回路 / ディペンダブルコンピューティング / ブリッジ故障 / オープン故障 / 欠陥検出向きテスト / 情報工学 / システムオンチップ / 故障検査 / タイミング不良 / テスト / 診断 / オンチップセンサー / 抵抗性オープン故障 / ポストシリコンテスト / プリシリコンテスト / 故障診断法 / 診断用テスト / 組込み自己テスト / 組込み自己診断 / 機能安全 / 組込み自己診断法 / LSIのテスト / 先進自動運転 / 先進運転支援システム / 計算機システム / ディペンダブル・コンピューティング / フィールドテスト / つながるデバイス / 信頼性強化設計法 / 認証方式 / テスト容易化設計法 / 検査容易化設計 / 構造型情報処理アーキテクチャ
研究代表者以外
組み込みシステム / テスト / ハードウエア / ソフトウエア / 協調テスト / ソフト / ハード協調設計 / ハード協調テスト / テストケース / ソフトウエアメトリクス / 保守性 / ハードウエア記述言語 / VLSI(大規模集積回路) / 故障診断 / クロストーク故障 / テストパターン生成 / トランジスタショート / ゲートレベルツール / 故障シミュレーション / 高信頼化 / 論理回路 / VLSIのテスト / シミュレーション / 故障モデル / ディペンダブルコンピューティング / 論理回路の故障検査 / LSIの故障診断 / 故障検査 / システムLSI / クロック信号線 / 遅延故障 / LSIの設計・テスト / LSI / 3次元LSI / LSIのテスト / 組込み自己テスト / テスト圧縮 / 縮退故障 / 内部ブリッジ故障 / オープン故障 / 論理回路のテスト / ブリッジ故障 / ドントケア値 / VLSIの故障検査 / VLSIの故障診断 / テスト系列圧縮 / 消費電力削減 / Testing of LSIs / Fault diagnosis / Built-in self test / Test compaction / Stuck-at fault / Internal bridging fault / Open fault / LSIテスト / マルチサイクルテスト / 信号伝搬遅延変動 / テストパターン数削減 / 故障辞書 / ニューラルネットワーク / テストパターン / アダプティブ故障診断 / フィールドテスト / 出力応答圧縮 / AI（人工知能） / MRP / ニューラルネットワーク（NN） / シストリックアレイ / 深層強化学習 / 集積回路回路 / シストリックアーキテクチャ / メモリ
研究課題
研究成果
共同研究者
注目研究はありません。