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3次元積層チップ間接続の異常遅延検出のための検査容易化回路設計手法の開発

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研究課題番号 KAKENHI-PROJECT-15K00079
研究種目 基盤研究(C)
研究分野 総合系
情報学
計算基盤
計算機システム
研究機関 徳島大学
代表研究者 四柳 浩之
研究期間 開始年月日 2015/4/1
研究期間 終了年度 2017
研究ステータス 完了 (2017/4/1)
配分額（合計） 4,550,000 (直接経費 :3,500,000、間接経費 :1,050,000)
配分額（履歴） 2017年度：1,040,000 (直接経費 :800,000、間接経費 :240,000)
2016年度：1,040,000 (直接経費 :800,000、間接経費 :240,000)
2015年度：2,470,000 (直接経費 :1,900,000、間接経費 :570,000)
キーワード VLSIの検査技術
検査容易化設計
３次元積層チップ
遅延故障
LSIテスト
ディペンダブル・コンピューティング
VLSI

研究成果

[学会発表] TDC 組込み型スキャン設計の遅延付加部の遅延検出能力評価

新開 颯馬, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2018

[雑誌論文] TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部のリオーダによる配線長の低減

平井 智士, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2018

[学会発表] Effect of Routing in Testing a TSV Array Using Boundary Scan Circuit with Embedded TDC

Jumpei Kawano, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume 2018

[学会発表] On design for reducing delay variation in design-for-testability circuit for delay fault

Satoshi Hirai, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume 2017

[学会発表] TSV検査のためのTDC組込み型バウンダリスキャン制御回路の設計

河口 巧, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2017

[学会発表] Reordering Delay Elements in Boundary Scan Circuit with Embedded TDC

Satoshi Hirai, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume 2017

[学会発表] 試作した遅延故障検査容易化回路による 2 経路同時検査について

谷口 公貴, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2017

[学会発表] TDC組込み型スキャンFFの微小遅延故障検出能力評価

河塚 信吾, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2017

[学会発表] 遅延故障検査容易化設計のための遅延付加ゲートの設計

新開 颯馬, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2017

[学会発表] Design-for-testability circuit for interconnect test of 3D IC

Hiroyuki Yotsuyanagi 2017

[学会発表] 3 次元実装 IC におけるマイクロバンプ欠損時の遅延解析

柴田 駿介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2017

[学会発表] TDC 組込み型バウンダリスキャンを用いた複数 TSV の検査用信号の印加と観測について

河口巧, 四柳浩之, 橋爪正樹 2016

[雑誌論文] 微小遅延故障テストのためのTDC組込み型スキャンFFの設計について

河塚信吾, 四柳浩之, 橋爪正樹 2016

[学会発表] TDC組込み型スキャンFFの遅延分解能へのばらつきの影響調査

河塚信吾, 四柳浩之, 橋爪正樹 2016

[学会発表] On Control Circuit and Observation Conditions for Testing Multiple TSVs Using Boundary Scan Circuit with Embedded TDC

T. Kawaguchi, H. Yotsuyanagi, and M. Hashizume 2016

[学会発表] TDC 組込み型バウンダリスキャンを用いる遅延故障検査でのチップ間ばらつき補正

森亮介, 四柳浩之, 橋爪正樹 2016

[学会発表] TDC組込み型バウンダリスキャンを用いた 2 経路同時遅延測定の実測による評価

森 亮介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2015

[学会発表] TSV故障検出回路におけるVDL回路部の遅延検出能力評価

宮本 陽平, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2015

[学会発表] 遅延故障用バウンダリスキャンによるTSV検査法に関する研究

濱田 圭吾, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2015

[学会発表] 微小遅延故障検査用遅延測定回路内の遅延付加部の改良

石場 隆之, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2015

[学会発表] On TSV Array Defect Detection Method Using Two Ring-oscillators Considering Signal Transitions at Adjacent TSVs

Hiroyuki Yotsuyanagi, Akihiro Fujiwara and Masaki Hashizume 2015

[学会発表] 遅延故障検査容易化回路を用いる同時検査対象経路選択条件の検討

森 亮介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2015