| 著者名/発表者名 | Yuki Ikiri, Hiroyuki Yotsuyanagi, Fara Ashikin Binti Ali, Shyue-Kung Lu, Masaki Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
A DfT Technique for Electrical Interconnect Testing of Circuit Boards with 3D Stacked SRAM ICs
巻 : -
ページ : 113 - 116
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-23K11039 |
| 著者名/発表者名 | 大松 正男, 大寺 佑都, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu |
|---|---|
| 学会名 | エレクトロニクス実装学会第33回マイクロエレクトロニクスシンポジウム |
| 収録誌 |
アナログ素子のみで構成する弛緩発振器によるIC間抵抗断線の検出可能性調査
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-23K11039 |
| 著者名/発表者名 | 小松原 滉人, 大松 正男, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
オフセットキャンセル型コンパレータ内インバータゲートの増幅度の温度依存性
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-23K11039 |
| 著者名/発表者名 | Yuya Okumoto, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume and Shyue-Kung Lu |
|---|---|
| 収録誌 |
Detectable Resistance Increase of Open Defects in Assembled PCBs by Quiescent Currents through Embedded Diodes
巻 : -
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | Ikiri Yuki, Fumiya Sako, Hashizume Masaki, Yotsuyanagi Hiroyuki, Shyue-Kung Lu, Toru Yazaki, Yasuhiro Ikeda and Yutaka Uematsu |
|---|---|
| 収録誌 |
Open Defect Detection in Assembled Circuit Boards with Built-In Relaxation Oscillators
巻 : 11
号 : 6
ページ : 931 - 943
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | Yuki Ikiri, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroshi Yokoyama and Shyue-Kung Lu |
|---|---|
| 学会名 | The 21st IEEE Workshop on RTL and High Level Testing |
| 収録誌 |
Recovery of Defective TSVs with A Small Number of Redundant TSVs in 3D Stacked ICs
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | Michiya Kanda, Masaki Hashizume, Binti ALI Fara Ashikin, Hiroyuki Yotsuyanagi, Shyue-Kung Lu |
|---|---|
| 収録誌 |
Open Defect Detection Not Utilizing Boundary Scan Flip-Flops in Assembled Circuit Boards
巻 : 10
号 : 5
ページ : 895 - 907
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | Fumiya Sako, Yuki Ikiri, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroshi Yokoyama and Shyue-Kung Lu |
|---|---|
| 収録誌 |
Temperature Sensing with a Relaxation Oscillator in CMOS ICs
巻 : -
ページ : 141 - 144
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | 大寺 佑都, 硲 文弥, 伊喜利 勇貴, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu |
|---|---|
| 学会名 | 電子情報通信学会ソサイエティ大会 |
| 収録誌 |
アナログ素子で構成する弛緩発振器によるCMOS IC内温度測定
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | 硲 文弥, 伊喜利 勇貴, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 横山 洋之, Shyue-Kung Lu |
|---|---|
| 学会名 | 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
弛緩発振器を用いた組込み型温度センサによる温度推定の可能性
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | 奥本 裕也, 曽根田 伴奈, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, Shyue-Kung Lu |
|---|---|
| 学会名 | 電子情報通信学会ソサイエティ大会 |
| 収録誌 |
電流テストによるダイ間断線検出のためのpMOSのオン抵抗値を用いた断線抵抗値の推定
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | Soneda Hanna、Hashizume Masaki、Yotsuyanagi Hiroyuki、Lu Shyue-Kung |
|---|---|
| 収録誌 |
Electrical Field Test Method of Resistive Open Defects between Dies by Quiescent Currents through Embedded Diodes
巻 : 1
ページ : 1 - 5
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume |
|---|---|
| 学会名 | The 5-th International Forum on Advanced Technologies |
| 収録誌 |
Health Monitoring of Electronic Circuits in IoT Systems
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | 池内 康祐, 神田 道也, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu |
|---|---|
| 学会名 | 第29回マイクロエレクトロニクスシンポジウム |
| 収録誌 |
バウンダリスキャンテストによる3D IC内ダイ間抵抗断線検出可能性調査
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | 池内 康祐, 神田 道也, 平井 智士, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 第33回エレクトロニクス実装学会春季講演大会 |
| 収録誌 |
バウンダリスキャンテスト回路を用いた待機モード時電気試験を可能にするTAPCの開発
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | 曽根田 伴奈, 神田 道也, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu |
|---|---|
| 学会名 | 第29回マイクロエレクトロニクスシンポジウム |
| 収録誌 |
電気試験法による実装基板内抵抗断線の出荷後検出法
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | ASHIKIN Fara、HASHIZUME Masaki、YOTSUYANAGI Hiroyuki、LU Shyue-Kung、ROTH Zvi |
|---|---|
| 収録誌 |
A Design for Testability of Open Defects at Interconnects in 3D Stacked ICs
巻 : E101.D
号 : 8
ページ : 2053 - 2063
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | 曽根田 伴奈, 神田 道也, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, Shyue-Kung Lu |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
MOS製造ばらつきに対するダイオード組込型検査用回路を用いた検査法の抵抗断線検出能力
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | Miyatake Noriko, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroshi Yokoyama and Tetsuo Tada |
|---|---|
| 学会名 | 2018 RISP International Workshop on Nonlinear Circuits, Communications |
| 収録誌 |
Oscillation Frequency Estimation of Ring Oscillator for Interconnect Tests in 3D Stacked ICs
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | Kanda Michiya、Yabui Daisuke、Hashizume Masaki、Yotsuyanagi Hiroyuki、Lu Shyue-Kung |
|---|---|
| 収録誌 |
Stand-by Mode Test Method of Interconnects between Dies in 3D ICs with IEEE 1149.1 Test Circuits
巻 : 1
ページ : 189 - 192
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | 宮武 典子, 四柳 浩之, 横山 洋之, 橋爪 正樹, 多田 哲生 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
リングオシレータを用いた3D IC内ダイ間断線検出のMOS製造ばらつきによる影響
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | Michiya Kanda, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu |
|---|---|
| 学会名 | 2017 IEEE Int. Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems |
| 収録誌 |
A Defective Level Monitor of Open Defects in 3D ICs with a Comparator of Offset Cancellation Type
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | 薮井 大輔, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 第27回マイクロエレクトロニクスシンポジウム |
| 収録誌 |
BC1タイプのバウンダリスキャンテスト回路を用いた実装基板のオンライン配線検査法
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | 宮武 典子, 四柳 浩之, 横山 洋之, 橋爪 正樹, 多田 哲生 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
リングオシレータを用いた3D IC内ダイ間配線検査法の発振周波数の温度依存性調査
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-17H01715 |
| 著者名/発表者名 | 大谷 航平, 菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 第31回エレクトロニクス実装学会春季講演大会 |
| 収録誌 |
電荷注入回数によるIC間配線の試験回路
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15K12002 |
| 著者名/発表者名 | Kouhei Ohtani, Daisuke Suga, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
A Built-in Test Circuit for Injected Charge Tests of Open Defects in CMOS ICs
巻 : －
ページ : 291 - 294
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15K12002 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume,Kohei Ohtani,Daisuke Suga,Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu |
|---|---|
| 学会名 | Taiwan and Japan Conference on Circuits and Systems(TJCAS2016) |
| 収録誌 |
A Power Supply Circuit for Detecting Open Defects in SoCs by Amount of Injected Charge
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15K12002 |
| 著者名/発表者名 | Kouhei Ohtani, Masaki Hashizume, Daisuke Suga, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu |
|---|---|
| 収録誌 |
A Power Supply Circuit for Interconnect Tests Based on Injected Charge Volume of 3D IC
巻 : －
ページ : 139 - 140
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15K12002 |
| 著者名/発表者名 | 三好 大地, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
IDDT出現時間を用いる断線故障検査法の伝搬不能故障検出に対する有効性調査
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15K12002 |
| 著者名/発表者名 | 大谷 航平, 菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
電荷注入量による断線不良検出の回路規模に対する影響調査
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15K12002 |
| 著者名/発表者名 | Daisuke Suga, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu |
|---|---|
| 収録誌 |
Electrical Interconnect Test Method of 3D ICs by Injected Charge Volume
巻 : _
ページ : TS8.19.1 - TS8.19.6
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15K12002 |
| 著者名/発表者名 | Daisuke Suga, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Electrical Test for Open Defects in CMOS ICs by Injected Charge
巻 : _
ページ : 653 - 656
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15K12002 |
| 著者名/発表者名 | 菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 |
| 収録誌 |
電荷注入量によるIC間配線の電流テストの可能性評価
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15K12002 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume, Shohei Suenaga and Hiroyuki Yotsuyanagi |
|---|---|
| 収録誌 |
A Built-in Test Circuit for Detecting Open Defects by IDDT Appearance Time in CMOS ICs
巻 : (to appear)
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-24650021 |
| 著者名/発表者名 | Shohei Suenaga, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tetsuo Tada and Shyue-Kung Lu |
|---|---|
| 収録誌 |
Built-in IDDT Appearance Time Sensor for Detecting Open Faults in 3D IC
ページ : 247 - 250
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-24650021 |
| 著者名/発表者名 | 末永翔平, 四柳浩之, 橋爪正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 |
| 収録誌 |
組込み型IDDT出現時間検出回路の実験による評価用設計
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-24650021 |
| 著者名/発表者名 | 末永 翔平, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
組込み型IDDT出現時間検出回路の実験による評価用設計
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-24650021 |
| 著者名/発表者名 | Shohei Suenaga, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
A Built-in Sensor for IDDT Testing of CMOS ICs
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-24650021 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura |
|---|---|
| 学会名 | Japan-Taiwan Joint Workshop on Advanced VLSI Testing |
| 収録誌 |
A Supply Current Testable DAC of Resistor String Type
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-22650009 |
| 著者名/発表者名 | 末永翔平, 四柳浩之, 橋爪正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 |
| 収録誌 |
組込み型IDDT出現時間検出回路による断線故障の検出のための必要条件
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-24650021 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
A Supply Current Testable DAC of Resistor String Type
ページ : 13 - 16
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-22650009 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume, Yutaka Hata, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura |
|---|---|
| 収録誌 |
A Supply Current Testable DAC of Resistor String Type, Proc.
ページ : 13 - 16
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-22650009 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume, et al |
|---|---|
| 収録誌 |
A Supply Current Testable Register String DAC of Decoder Type
ページ : 58 - 63
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-22650009 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume, Yutaka Hata, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura |
|---|---|
| 収録誌 |
A Supply Current Testable Register String DAC of Decoder Type
ページ : 58 - 63
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-22650009 |
| 著者名/発表者名 | Miyamori Yoshihiko, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Practical Testability of Supply Current Testable DACs of Resistor Type
ページ : 1015 - 1018
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-22650009 |
| 著者名/発表者名 | 橋爪正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 2011年度電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
デコーダ型DA変換器の電流テスト容易化設計
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-22650009 |
| 著者名/発表者名 | 橋爪正樹, 秦豊, 四柳浩之, 三浦幸也 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
デコーダ型DA変換器の電流テスト容易化設計
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-22650009 |
| 著者名/発表者名 | 橋爪正樹, 秦豊, 四柳浩之, 三浦幸也 |
|---|---|
| 学会名 | 2011年電子情報通信学会総合大会 |
| 収録誌 |
抵抗ラダー型DAC内MOS短絡の電流テスト容易化設計
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-22650009 |
| 著者名/発表者名 | 橋爪正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 2011年度 電子情報通信学会総合大会 |
| 収録誌 |
抵抗ラダー型DAC内MOS短絡の電流テスト容易化設計
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-22650009 |
| 著者名/発表者名 | 小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 高木正夫, 橋爪正樹 |
|---|---|
| 収録誌 |
CMOS ゲート回路を断線センサとして用いた部品結合不良検出法
ページ : 137 - 143
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Akira Ono, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masao Takagi, Masaki Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Open Lead Detection of QFP ICs Using Logic Gates as Open Sensors
ページ : 434 - 439
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 橋爪 正樹 |
|---|---|
| 学会名 | エレクトロニクス実装学会講演大会 |
| 収録誌 |
QFP ICのリード浮きの電気的検出用回路
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之, 小野安季良, 高木正夫 |
|---|---|
| 学会名 | エレクトロニクス実装学会講演大会 |
| 収録誌 |
QFP ICのリード浮きの電気的検出用回路,
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 橋爪 正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 電子情報通信学会総合大会 |
| 収録誌 |
抵抗ラダー型DAC の電流テスト容易化設計
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 橋爪正樹, 秦豊, 四柳浩之, 三浦幸也 |
|---|---|
| 学会名 | 電子情報通信学会総合大会 |
| 収録誌 |
抵抗ラダー型DACの電流テスト容易化設計
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 高木正夫, 橋爪正樹 |
|---|---|
| 学会名 | エレクトロニクス実装学会講演大会 |
| 収録誌 |
検査回路の電源電流測定によるICの電源リード浮き検査能力評価
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 加藤健二, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
0.35μm CMOSICの配線断線時の故障動作の実測
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Yutaka Hata, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura |
|---|---|
| 収録誌 |
Current Testble Design of Resistor String DACs for Open Defects
ページ : 1533 - 1536
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Akira Ono, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masao Takagi, Masaki Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Open Lead Detection Based on Logical Change Caused by AC Voltage Signal Stimulus
ページ : 241 - 244
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 嶋本竜也, 田坂英司, 茅原敏広, 四柳浩之, 橋爪正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
PIC16F84A内のバス故障用実時間テストプログラム
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume |
|---|---|
| 学会名 | IEEE 7-th Internat ional Board Test Workshop |
| 収録誌 |
Test Circuit for Locating Open Leads of QFP ICs
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume, Akihito Shimoura, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi |
|---|---|
| 学会名 | IEEE 7-th International Board Test Workshop |
| 収録誌 |
Test Circuit for Locating Open Leads of QFP Ics
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Akira Ono, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masao Takagi , Masaki Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Test Method for Detecting Open Leads of Low Voltage LSIs
ページ : 457 - 462
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 内倉健一, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 交流電圧信号印加時の論理値異常によるリード浮き検出回路の試作 |
| 収録誌 |
交流電圧信号印加時の論理値異常によるリード浮き検出回路の試作
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之, 下谷光生, 多田哲生, 小山健 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
電流テストによるQFP ICのリード浮き診断回路
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 橋爪 正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
電流テストによるQFP ICのリード浮き診断回路
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 高木正夫, 橋爪正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 第22回エレクトロニクス実装学会講演大会 |
| 収録誌 |
電流テストによるQFPCPLD IC のリード浮きの検査能力評価
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 秦豊, 四柳浩之, 橋爪正樹, 三浦幸也 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
電流テスト容易化抵抗ストリング型D/A変換器の故障検出能力
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 橋爪 正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
0.35umCMOSプロセスで試作したICのリード浮きの電流テスト可能性評価
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 滝川徳郎, 東條充, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
0.35μmCMOS プロセスで試作したICのリード浮きの電流テスト可能性評価
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之 |
|---|---|
| 学会名 | 第38回国際電子回路産業展 |
| 収録誌 |
CMOSQFP ICのリード浮きの電気的検査法
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume, Yutaka Hata, Tomomi Nishida, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura |
|---|---|
| 収録誌 |
Current Testable Design of Resistor String DACs
ページ : 399 - 403
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Current Testable Design of Resistor String DACs
ページ : 399 - 403
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume, Yuuki Ogata, Mitsuru Tojo, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi |
|---|---|
| 収録誌 |
Interconnect Open Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field Application
ページ : 25 - 29
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Interconnect Open Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field Application
ページ : 25 - 29
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Ono Akira, Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi |
|---|---|
| 収録誌 |
Open Lead Detection of CMOS Logic Circuits by Low Pressure Probing
ページ : 359 - 364
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume |
|---|---|
| 学会名 | IEEE 6-th International Board Test Workshop |
| 収録誌 |
Test Circuit for Vectorless Open Lead Detection of CMOS Ics
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 嶋本竜也, 田坂英司, 茅原敏広, 四柳浩之, 大家隆弘, 橋爪正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
Z80 のバス縮退故障の実時間テストプログラム
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| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Akira Ono and Hiroyuki Yotsuyanagi |
|---|---|
| 収録誌 |
est Circuit for Vectorless Open Lead Detection of CMOS Ics
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 高木正夫, 橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之 |
|---|---|
| 収録誌 |
交流電界印加時の電流テストによる CMOS LSIのリード浮き検出のための印加交流電圧
ページ : 219 - 228
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 東條充, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
交流電界印加時の電流テストによる試作IC内断線の検査
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| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 秦豊, 飯野純一, 四柳浩之, 橋爪正樹,三浦幸也 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
抵抗ストリング型D/A 変換器の電流テスト容易化設計
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹, 月本功, 高木正夫 |
|---|---|
| 学会名 | マイクロエレクトロニクスシンポジウム |
| 収録誌 |
論理IC実装時に発生する抵抗を伴うリード浮きに対する電流テスト能力評価
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Eiji Tasaka, Masaki Hashizume, Seiichi Nishimoto, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takahiro Oie, Ikuro Morita, Toshihiro Kayahara |
|---|---|
| 収録誌 |
At Speed Testing of Bus Interconnects in Microcomputers
ページ : 123 - 127
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Tojo Mitsuru, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Current Testing of Interconnect Opens between CMOS LSIs Having Scan Cells
ページ : 39 - 42
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Open Lead Detection Based on Supply Current of CMOS Logic Circuits by AC Voltage Signal Application
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takeomi Tamesada |
|---|---|
| 収録誌 |
Open Lead Detection Based on Supply Current of CMOS Logic Circuits by AC Voltage Signal Application
ページ : 147 - 152
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Open Lead Detection Based on Supply Current of CMOS Logic Circuits by AC Voltage Signal Application
ページ : 147 - 152
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Open Lead Detection Based on Supply Current of CMOS Logic Circuits by AC voltage Signal Application
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Open Leads Detection Based on Supply Current of CMOS Logic Circuits by AC Voltage Signal Application
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi |
|---|---|
| 収録誌 |
Test Circuit for Open Lead Detection of CMOS ICs Based on Supply Current
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | Masaki Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Test Circuit for Open Lead Detection of CMOS ICs Based on Supply Current
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | 東條充, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹 |
|---|---|
| 学会名 | 電気関係学会四国支部連合大会 |
| 収録誌 |
交流電界印加による電流テスト用検査装置の試作
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Current Testable Design of Register String DACs
ページ : 197 - 200
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Current Testable Design of Register String DACs
ページ : 197 - 200
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Current Testable Design of Register String DACs
ページ : 197 - 200
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Electric Field for Detecting Open Leads in CMOS Logic Circuits by Supply Current Testing
ページ : 2995 - 2998
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Electric Field for Detecting Open Leads in CMOS Logic Circuits by Supply Current Testing
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Electric Field for Detecting Open Leads in CMOS Logic Circuits by Supply Current Testing
ページ : 2995 - 2998
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Electric Field for Detecting Open Leads in CMOS Logic Circuits by Supply Current Testing
ページ : 2995 - 2998
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Vectorless Open Pin Detection Method for CMOS Logic Circuits
ページ : 391 - 396
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Vectorless Open Pin Detection Method for CMOS Logic Circuits
ページ : 391 - 396
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Vectorless Open Pin Detection Method for CMOS Logic Circuits
ページ : 391 - 396
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Vectorless Open Pin Detection Method for Logic Circuits
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
CMOS Open Fault Detection by Appearance Time of Switching Supply Current
ページ : 183 - 188
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
CMOS Open Fault Detection by Appearance Time of Switching Supply Current
ページ : 183 - 188
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
CMOS Open Fault Detection by Appearance Time of Switching Supply Current
ページ : 183 - 188
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
IDDQ Test Method Based on Wavalet Transformation for Noisy Current Measurement Environment
ページ : 112 - 117
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
IDDQ Test method Based on Wavelet Transformation for Noisy Current Measurement Environment
ページ : 112 - 117
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
IDDQ Test method Based on Wavelet Transformation for Noisy Current Measurement Environment
ページ : 112 - 117
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Identification and Frequency Estimation of Feedback Bridging Faults Generating Logical Oscillation in CMOS Circuits
ページ : 571 - 579
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Identification and Frequency estimation of Feedback Bridging Faults Generating Logical Oscillation in CMOS Circuits
ページ : 571 - 579
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Test Circuit for CMOS Lead Open Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field Application
ページ : 1557 - 1560
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Test Circuit for CMOS Lead Open Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field Application
ページ : 1557 - 1560
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
A BIST Circuit for IDDQ Tests
ページ : 390 - 395
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
A BIST Circuit for IDDQ Tests
ページ : 390 - 395
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
A Supply Current Test Method for Bridging Faults in CMOS Microprocessor Based Circuits
ページ : 564 - 572
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | 橋爪 正樹 |
|---|---|
| 収録誌 |
CMOSマイクロコンピュータ回路の電源電流によるブリッジ故障検出法
ページ : 564 - 572
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Electric Field Application Method Effective for Pin Open Detection Based on Supply Current in CMOS Logic Circuits
ページ : 75 - 80
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Electric Field Application Method Effective for Pin Open Detection Based on Supply Current in CMOS Logic Circuits
ページ : 75 - 80
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Testability of Supply Current Test in an AGC
ページ : 836 - 839
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | M.Hashizume |
|---|---|
| 収録誌 |
Testability of Supply Current Test in an AGC
ページ : 836 - 839
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | |
|---|---|
| 収録誌 |
回路検査装置
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | |
|---|---|
| 収録誌 |
固体撮像装置およびその特性検査方法
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | |
|---|---|
| 収録誌 |
固体撮像装置およびその特性検査方法
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |
| 著者名/発表者名 | |
|---|---|
| 収録誌 |
論理回路の断線故障の検査装置
|
| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | |
|---|---|
| 収録誌 |
電子回路の配線故障検査法とその検査容易化回路
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| データソース |
KAKENHI-PROJECT-18500039 |
| 著者名/発表者名 | |
|---|---|
| 収録誌 |
電源電流による検査容易化論理回路
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| データソース |
KAKENHI-PROJECT-15500041 |