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SoC、SiPの断線・短絡故障の電流テスト法に関する研究

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研究課題番号 KAKENHI-PROJECT-18500039
研究種目 基盤研究(C)
研究分野 総合・新領域系
総合領域
情報学
計算機システム・ネットワーク
研究機関 徳島大学
代表研究者 橋爪 正樹
研究期間 開始年月日 2006/4/1
研究期間 終了年度 2008
研究ステータス 完了 (2008/4/1)
配分額（合計） 4,030,000 (直接経費 :3,400,000、間接経費 :630,000)
配分額（履歴） 2008年度：1,300,000 (直接経費 :1,000,000、間接経費 :300,000)
2007年度：1,430,000 (直接経費 :1,100,000、間接経費 :330,000)
2006年度：1,300,000 (直接経費 :1,300,000)
キーワード SoC, SiP
ディペンダブルコンピューティング
断線
短絡
電流テスト
SoC
SiP
CMOS
リード浮き
マイクロコンピュータ

研究成果

[学会発表] 抵抗ラダー型DAC の電流テスト容易化設計

橋爪 正樹 2009

[学会発表] QFP ICのリード浮きの電気的検出用回路

橋爪 正樹 2009

[雑誌論文] Open Lead Detection of QFP ICs Using Logic Gates as Open Sensors

Akira Ono, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masao Takagi, Masaki Hashizume 2009

[学会発表] QFP ICのリード浮きの電気的検出用回路,

橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之, 小野安季良, 高木正夫 2009

[学会発表] 抵抗ラダー型DACの電流テスト容易化設計

橋爪正樹, 秦豊, 四柳浩之, 三浦幸也 2009

[雑誌論文] CMOS ゲート回路を断線センサとして用いた部品結合不良検出法

小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 高木正夫, 橋爪正樹 2009

[学会発表] 検査回路の電源電流測定によるICの電源リード浮き検査能力評価

小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 高木正夫, 橋爪正樹 2009

[学会発表] Test Circuit for Locating Open Leads of QFP Ics

Masaki Hashizume, Akihito Shimoura, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi 2008

[学会発表] PIC16F84A内のバス故障用実時間テストプログラム

嶋本竜也, 田坂英司, 茅原敏広, 四柳浩之, 橋爪正樹 2008

[雑誌論文] Open Lead Detection Based on Logical Change Caused by AC Voltage Signal Stimulus

Akira Ono, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masao Takagi, Masaki Hashizume 2008

[雑誌論文] Test Method for Detecting Open Leads of Low Voltage LSIs

Akira Ono, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masao Takagi , Masaki Hashizume 2008

[学会発表] 0.35μm CMOSICの配線断線時の故障動作の実測

加藤健二, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹 2008

[学会発表] 電流テストによるQFP ICのリード浮き診断回路

橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之, 下谷光生, 多田哲生, 小山健 2008

[学会発表] Test Circuit for Locating Open Leads of QFP ICs

Masaki Hashizume 2008

[学会発表] 交流電圧信号印加時の論理値異常によるリード浮き検出回路の試作

内倉健一, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹 2008

[学会発表] 電流テストによるQFP ICのリード浮き診断回路

橋爪 正樹 2008

[学会発表] 電流テスト容易化抵抗ストリング型D/A変換器の故障検出能力

秦豊, 四柳浩之, 橋爪正樹, 三浦幸也 2008

[学会発表] 電流テストによるQFPCPLD IC のリード浮きの検査能力評価

小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 高木正夫, 橋爪正樹 2008

[雑誌論文] Current Testble Design of Resistor String DACs for Open Defects

Yutaka Hata, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura 2008

[学会発表] 0.35μmCMOS プロセスで試作したICのリード浮きの電流テスト可能性評価

滝川徳郎, 東條充, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹 2007

[学会発表] 抵抗ストリング型D/A 変換器の電流テスト容易化設計

秦豊, 飯野純一, 四柳浩之, 橋爪正樹,三浦幸也 2007

[雑誌論文] Open Lead Detection of CMOS Logic Circuits by Low Pressure Probing

Ono Akira, Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi 2007

[雑誌論文] 交流電界印加時の電流テストによる CMOS LSIのリード浮き検出のための印加交流電圧

高木正夫, 橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之 2007

[学会発表] 論理IC実装時に発生する抵抗を伴うリード浮きに対する電流テスト能力評価

小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹, 月本功, 高木正夫 2007

[学会発表] Test Circuit for Vectorless Open Lead Detection of CMOS Ics

Masaki Hashizume 2007

[学会発表] 0.35umCMOSプロセスで試作したICのリード浮きの電流テスト可能性評価

橋爪 正樹 2007

[学会発表] CMOSQFP ICのリード浮きの電気的検査法

橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之 2007

[学会発表] Z80 のバス縮退故障の実時間テストプログラム

嶋本竜也, 田坂英司, 茅原敏広, 四柳浩之, 大家隆弘, 橋爪正樹 2007

[雑誌論文] Current Testable Design of Resistor String DACs

Masaki Hashizume, Yutaka Hata, Tomomi Nishida, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura 2007

[学会発表] 交流電界印加時の電流テストによる試作IC内断線の検査

東條充, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹 2007

[雑誌論文] Interconnect Open Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field Application

Masaki Hashizume, Yuuki Ogata, Mitsuru Tojo, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi 2007

[雑誌論文] Interconnect Open Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field Application

Masaki Hashizume 2007

[雑誌論文] est Circuit for Vectorless Open Lead Detection of CMOS Ics

Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Akira Ono and Hiroyuki Yotsuyanagi 2007

[雑誌論文] Current Testable Design of Resistor String DACs

Masaki Hashizume 2007

[雑誌論文] Test Circuit for Open Lead Detection of CMOS ICs Based on Supply Current

Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi 2006

[雑誌論文] At Speed Testing of Bus Interconnects in Microcomputers

Eiji Tasaka, Masaki Hashizume, Seiichi Nishimoto, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takahiro Oie, Ikuro Morita, Toshihiro Kayahara 2006

[雑誌論文] Test Circuit for Open Lead Detection of CMOS ICs Based on Supply Current

Masaki Hashizume 2006

[学会発表] 交流電界印加による電流テスト用検査装置の試作

東條充, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹 2006

[雑誌論文] Open Lead Detection Based on Supply Current of CMOS Logic Circuits by AC Voltage Signal Application

Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takeomi Tamesada 2006

[雑誌論文] Current Testing of Interconnect Opens between CMOS LSIs Having Scan Cells

Tojo Mitsuru, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume 2006

[雑誌論文] Open Lead Detection Based on Supply Current of CMOS Logic Circuits by AC Voltage Signal Application

Masaki Hashizume 2006

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