トップ研究者を探すテラヘルツ周波数領域二重変調型エリプソメータ及び複合偏光解析手法の開発

テラヘルツ周波数領域二重変調型エリプソメータ及び複合偏光解析手法の開発

KAKEN 科学研究費助成事業データベース で見る
研究課題番号 KAKENHI-PROJECT-26289066
研究種目 基盤研究(B)
研究分野 理工系
工学
機械工学
知能機械学・機械システム
研究機関 徳島大学
代表研究者 岩田 哲郎
研究分担者 安井 武史
研究分担者 水谷 康弘
研究期間 開始年月日 2014/4/1
研究期間 終了年度 2016
研究ステータス 完了 (2016/4/1)
配分額(合計) 16,380,000 (直接経費 :12,600,000、間接経費 :3,780,000)
配分額(履歴) 2016年度:2,600,000 (直接経費 :2,000,000、間接経費 :600,000)
2015年度:4,550,000 (直接経費 :3,500,000、間接経費 :1,050,000)
2014年度:9,230,000 (直接経費 :7,100,000、間接経費 :2,130,000)
キーワード テラヘルツ
エリプソメエータ
薄膜計測
光計測
分光計測
幾何学的位相
エイプソメータ
膜厚測定
塗装膜
薄膜
エリプソメトリ
偏光解析
光コム
エリプソメータ

研究成果

[雑誌論文] Optical-rotatory-dispersion measurement approach using the nonlinear behavior of the geometric phase

M. Ginya, M. Kimura, T. Iwata 2017

[学会発表] Direct measurement of the geometric phase of metal screw hole arrays in THz-TDS

T. Iwata, A. Sato, T. Yasui 2016

[学会発表] スキャンレスデュアルコム分光イメージング法の提案

澁谷 九輝, 南川 丈夫, 水谷 康弘, 安井 武史, 岩田 哲郎 2016

[雑誌論文] 塗装膜厚測定のための二重変調方式反射型THzエリプソメータ

岩田哲郎,上村裕明, 水谷康弘, 安井武史 2015

[学会発表] テラヘルツ周波数領域における幾何学的位相の直接測定

佐藤昭洋,水谷康弘,安井武史,岩田哲郎 2015

[雑誌論文] Double-modulation reflection-type terahertz ellipsometer for measuring the thickness of a thin paint coating

T. Iwata H. Uemura Y. Mizutani T. Yasui 2014

[学会発表] 二重変調方式反射型THzエリプソメータの製作と金属表面上の塗装膜厚の測定

上村裕明, 水谷康弘, 安井武史, 岩田哲郎 0

[学会発表] Measurements of the thicknessof a paint film on a metal by a double-modulation terahertz ellipsometer

H. Uemura, Y. Mizutani, T. Yasui, T. Iwata 0