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組み込み型電圧変動センサを用いた動的電流テスト法に関する研究

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研究課題番号 KAKENHI-PROJECT-24650021
研究種目 挑戦的萌芽研究
研究分野 総合・新領域系
総合領域
情報学
計算機システム・ネットワーク
研究機関 徳島大学
代表研究者 橋爪 正樹
研究期間 開始年月日 2012/4/1
研究期間 終了年度 2013
研究ステータス 完了 (2013/4/1)
配分額(合計) 2,860,000 (直接経費 :2,200,000、間接経費 :660,000)
配分額(履歴) 2013年度:1,300,000 (直接経費 :1,000,000、間接経費 :300,000)
2012年度:1,560,000 (直接経費 :1,200,000、間接経費 :360,000)
キーワード 断線
電流テスト
IC
IDDTテスト
電流センサ回路
遅延故障
CMOS
動的電源電流
動的電源電圧変動
短絡
CMOS IC

研究成果

[雑誌論文] A Built-in Test Circuit for Detecting Open Defects by IDDT Appearance Time in CMOS ICs

Masaki Hashizume, Shohei Suenaga and Hiroyuki Yotsuyanagi 2014

[学会発表] 組込み型IDDT出現時間検出回路の実験による評価用設計

末永翔平, 四柳浩之, 橋爪正樹 2013

[学会発表] 組込み型IDDT出現時間検出回路の実験による評価用設計

末永 翔平, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2013

[雑誌論文] Built-in IDDT Appearance Time Sensor for Detecting Open Faults in 3D IC

Shohei Suenaga, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tetsuo Tada and Shyue-Kung Lu 2013

[雑誌論文] A Built-in Sensor for IDDT Testing of CMOS ICs

Shohei Suenaga, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume 2012

[学会発表] 組込み型IDDT出現時間検出回路による断線故障の検出のための必要条件

末永翔平, 四柳浩之, 橋爪正樹 2012