VLSIにおける劣化影響を低減可能なデジタル温度電圧センサに関する研究
KAKEN 科学研究費助成事業データベース で見る| 研究課題番号 | KAKENHI-PROJECT-19K20236 |
|---|---|
| 研究種目 | 若手研究 |
| 研究分野 | |
| 研究機関 | 九州工業大学 |
| 代表研究者 | 三宅 庸資 |
| 研究期間 開始年月日 | 2019/4/1 |
| 研究期間 終了年度 | 2021 |
| 研究ステータス | 完了 (2021/4/1) |
| 配分額（合計） | 4,160,000 (直接経費 :3,200,000、間接経費 :960,000) |
| 配分額（履歴） |
2020年度：1,820,000 (直接経費 :1,400,000、間接経費 :420,000) 2019年度：2,340,000 (直接経費 :1,800,000、間接経費 :540,000) |
| キーワード | 温度センサ 電圧センサ 劣化 リングオシレータ LSIテスト フィールドテスト VLSI設計技術 ディペンダブル・コンピューティング デジタルセンサ NBTI劣化 信頼性試験 計算機システム 情報工学 |