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フィールド運用中のアダプティブテストに基づくVLSIの予防安全

KAKEN 科学研究費助成事業データベース で見る
研究課題番号 KAKENHI-PROJECT-18KT0014
研究種目 基盤研究(B)
研究分野 人工物システムの強化
研究機関 九州工業大学
代表研究者 梶原 誠司
研究分担者 大竹 哲史
研究分担者 三宅 庸資
研究期間 開始年月日 2018/4/1
研究期間 終了年度 2022
研究ステータス 交付 (2021/4/1)
配分額（合計） 18,460,000 (直接経費 :14,200,000、間接経費 :4,260,000)
配分額（履歴） 2020年度：5,980,000 (直接経費 :4,600,000、間接経費 :1,380,000)
2019年度：6,240,000 (直接経費 :4,800,000、間接経費 :1,440,000)
2018年度：6,240,000 (直接経費 :4,800,000、間接経費 :1,440,000)
キーワード フィールド高信頼化
VLSIテスト
データマイニング
組込み自己テスト
予防安全
組み込み自己テスト
VLSI

研究成果

[学会発表] オンチップ遅延測定における製造バラツキを考慮した温度電圧影響の補正手法

加藤隆明, 三宅庸資, 梶原誠司 2022

[学会発表] 機械学習を用いたデジタル温度電圧センサの精度向上手法の検討

権藤昌之, 三宅庸資, 梶原誠司 2020

[雑誌論文] High Precision PLL Delay Matrix with Overclocking and Double Data Rate for Accurate FPGA Time-to-Digital Converter

Poki Chen, Jian-Ting Lan, Ray-Ting Wang, Nguyen My Qui, Yousuke Miyake and Seiji Kajihara 2020

[学会発表] 勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について

森誠一郎, 権藤昌之, 三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司 2020

[学会発表] オンチップ遅延測定における温度電圧影響の補正手法について

加藤 隆明, 三宅 庸資, 梶原 誠司 2020

[学会発表] Innovative Test Practices in Asia

T. Iwasaki, M. Aso, H. Futami, S. Matsunaga, Y. Miyake, T. Kato, S. Kajihara, Y. Miura, S. Lai, G. Hung, H.H. Chen, H. Kobayashi, K. Hatayama 2020

[雑誌論文] On Evaluation for Aging-Tolerant Ring Oscillators with Accelerated Life Test And Its Application to A Digital Sensor

Masayuki Gondo, Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara 2020

[雑誌論文] Path Delay Measurement with Correction for Temperature and Voltage Variations

Yousuke Miyake,Takaaki Kato, Seiji KAJIHARA 2020

[雑誌論文] On-Chip Delay Measurement for Degradation Detection And Its Evaluation under Accelerated Life Test

Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji KAJIHARA, Masao ASO, Haruji FUTAMI, Satoshi MATSUNAGA, Yukiya MIURA, 2020

[雑誌論文] A Selection Method of Ring Oscillators for An On-Chip Digital Temperature And Voltage Sensor

Miyake Yousuke、Sato Yasuo、Kajihara Seiji 2019

[雑誌論文] On-Chip Test Clock Validation Using A Time-to-Digital Converter in FPGAs

Yousuke Miyake, Seiji Kajihara, Poki Chen 2019

[雑誌論文] On-Chip Delay Measurement for In-Field Test of FPGAs

Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara 2019

[学会発表] 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測

三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司, 麻生正雄, 二見治司, 松永恵士, 三浦幸也 2019

[学会発表] FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定

三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司 2018

[学会発表] FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ

三宅庸資, 梶原誠司 2018

[学会発表] FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ

三宅庸資, 梶原誠司 2018