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タイミングウインドウ内の電荷供給量によるＩＣの電流テスト法に関する研究

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研究課題番号 KAKENHI-PROJECT-15K12002
研究種目 挑戦的萌芽研究
研究分野 総合系
情報学
計算基盤
計算機システム
研究機関 徳島大学
代表研究者 橋爪 正樹
研究期間 開始年月日 2015/4/1
研究期間 終了年度 2016
研究ステータス 完了 (2016/4/1)
配分額（合計） 2,860,000 (直接経費 :2,200,000、間接経費 :660,000)
配分額（履歴） 2016年度：1,300,000 (直接経費 :1,000,000、間接経費 :300,000)
2015年度：1,560,000 (直接経費 :1,200,000、間接経費 :360,000)
キーワード IC検査
電流テスト
電荷注入
断線故障
電気検査
欠陥検出
IC
断線
短絡
電荷量

研究成果

[学会発表] 電荷注入回数によるIC間配線の試験回路

大谷 航平, 菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2017

[雑誌論文] A Power Supply Circuit for Interconnect Tests Based on Injected Charge Volume of 3D IC

Kouhei Ohtani, Masaki Hashizume, Daisuke Suga, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu 2016

[学会発表] IDDT出現時間を用いる断線故障検査法の伝搬不能故障検出に対する有効性調査

三好 大地, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2016

[学会発表] 電荷注入量による断線不良検出の回路規模に対する影響調査

大谷 航平, 菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2016

[学会発表] A Power Supply Circuit for Detecting Open Defects in SoCs by Amount of Injected Charge

Masaki Hashizume,Kohei Ohtani,Daisuke Suga,Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu 2016

[雑誌論文] A Built-in Test Circuit for Injected Charge Tests of Open Defects in CMOS ICs

Kouhei Ohtani, Daisuke Suga, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume 2016

[雑誌論文] Electrical Test for Open Defects in CMOS ICs by Injected Charge

Daisuke Suga, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume 2015

[学会発表] 電荷注入量によるIC間配線の電流テストの可能性評価

菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 2015

[雑誌論文] Electrical Interconnect Test Method of 3D ICs by Injected Charge Volume

Daisuke Suga, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu 2015