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二次イオン質量分析法による鉱物同定の試み

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研究課題番号 KAKENHI-PROJECT-07504007
研究種目 基盤研究(A)
研究分野 理学
地球科学
岩石・鉱物・鉱床学
研究機関 鳴門教育大学
代表研究者 西村 宏
研究分担者 小澤 大成
研究分担者 村田 守
研究期間 開始年月日 1995/4/1
研究期間 終了年度 1997
研究ステータス 完了 (1997/4/1)
配分額(合計) 7,400,000 (直接経費 :7,400,000)
配分額(履歴) 1997年度:2,900,000 (直接経費 :2,900,000)
1996年度:4,500,000 (直接経費 :4,500,000)
キーワード 試料直接充填法表面電離型イオン源
質量分析
同位体比分析
鉱物同定
二次イオン質量分析
直接塗布型表面電離イオン源
同位体比
SIMS
軽元素同位体比
Direct sample loading surface ionaization ion source
Mass spectrometry
Isotopic analysis
Mineral identification
Secondary ion mass spectrometry