二次イオン質量分析法による鉱物同定の試み
KAKEN 科学研究費助成事業データベース で見る研究課題番号 | KAKENHI-PROJECT-07504007 |
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研究種目 | 基盤研究(A) |
研究分野 | 理学 地球科学 岩石・鉱物・鉱床学 |
研究機関 | 鳴門教育大学 |
代表研究者 | 西村 宏 |
研究分担者 | 小澤 大成 |
研究分担者 | 村田 守 |
研究期間 開始年月日 | 1995/4/1 |
研究期間 終了年度 | 1997 |
研究ステータス | 完了 (1997/4/1) |
配分額(合計) | 7,400,000 (直接経費 :7,400,000) |
配分額(履歴) |
1997年度:2,900,000 (直接経費 :2,900,000) 1996年度:4,500,000 (直接経費 :4,500,000) |
キーワード | 試料直接充填法表面電離型イオン源 質量分析 同位体比分析 鉱物同定 二次イオン質量分析 直接塗布型表面電離イオン源 同位体比 SIMS 軽元素同位体比 Direct sample loading surface ionaization ion source Mass spectrometry Isotopic analysis Mineral identification Secondary ion mass spectrometry |