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王 森岭
愛媛大学
2025年5月9日更新
- 職名
- 講師
- 電話
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- 学歴
- 九州工業大学 大学院情報工学府 博士後期課程（日本政府国費留学生） 2011年4月 - 2014年3月
九州工業大学 大学院情報工学府 博士前期課程 2009年4月 - 2011年3月 - 学位
- 博士 （ 九州工業大学 ）
- 職歴・経歴
- 新居浜工業高等専門学校 電子制御工学科 非常勤講師 2020年4月 - 現在
愛媛大学 講師（兼任） 2019年12月 - 現在
国立新居浜工業高等専門学校 環境材料工学科 非常勤講師 2019年4月 - 現在
愛媛大学 大学院理工学研究科 特任講師 2017年4月 - 現在
愛媛大学 理工学研究科 助教 2014年4月 - 2017年3月
- 専門分野・研究分野
- 情報通信 / 計算機システム / ＬＳＩテスト及び診断
2025年5月9日更新
- 専門分野・研究分野
- 情報通信 / 計算機システム / ＬＳＩテスト及び診断
- 担当経験のある授業科目
- 2024年度第１クォーター / 計算機システム概論B
2024年度第３クォーター / 工学入門
2024年度第３クォーター / 工学コミュニケーション
2024年度第３クォーター / 情報工学実験Ⅰ
2024年度第４クォーター / 工学入門
2024年度第４クォーター / 工学コミュニケーション
2024年度前期 / 組込みシステム開発基礎
2024年度前期 / データサイエンス概論
2024年度前期 / DS/AI活用PBL演習１
2024年度後期 / コンピュータ工学入門
2024年度後期 / 学部共通PBL
2024年度後期 / DS/AI活用PBL演習２
2024年度第１クォーター / 基礎情報科学
2024年度後期 / 計算機システム概論A
2024年度通年 / インターンシップ
2024年度第１クォーター / 計算機システム特論Ｉ - 指導経験
- 基礎情報科学 2019年4月 - 現在 機関名：愛媛大学工学科
技術英語 機関名：愛媛大学情報工学科
情報工学実験1 機関名：愛媛大学工学部情報工学科
Seminar for Beginning students
システムデザイン 機関名：愛媛大学工学部情報工学科
新入生セミナーＢ 機関名：愛媛大学工学部情報工学科
集積回路工学 機関名：愛媛大学工学部情報工学科
Integrated Circuits Engineering
Engineering English
工業英語 機関名：国立新居浜工業高等専門学校
Industrial English
計算機システム特論1 機関名：愛媛大学大学院理工学研究科
System Design Engineering
Computer Science Experiment
科学技術リテラシー入門 機関名：愛媛大学法文学部
工学コミュニケーション 機関名：愛媛大学工学部
Topics in Computer Science 機関名：愛媛大学大学院理工学研究科
コンピュータ工学入門 機関名：愛媛大学工学部
2025年5月9日更新
- 専門分野・研究分野
- 情報通信 / 計算機システム / ＬＳＩテスト及び診断
- 研究テーマ
- リコンフィギャラブルコンピューティング
ディペンダビリティコンピューティング
テスト
集積回路
LSIテスト及び故障診断
フィールドテスト
テスト容易化設計
低電力テスト
- 著書
- 基礎情報科学 （ 担当： 分担執筆 範囲: 第３章 担当） 学術図書出版社 2024年4月
Three Dimensional Integration of Semiconductors （ 担当： 分担執筆 範囲: 第8章） Springer International Publishing Switzerland 2015年 （ ISBN:9783319186740 ） - 論文
- SASL-JTAG+: An Enhanced Lightweight and Secure JTAG Authentication Mechanism for IoT Systems with Diverse Devices 査読 Hisashi Okamoto, Shaoqi Wei, Senling Wang, Hiroshi Kai, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Akihiro Shimizu, Tianming Ni, Xiaoqing Wen Journal of Communications Just Accepted 2025年4月
Binary Splitting Test Generation for a Pattern Matching Accelerator with In-Memory-Processing Architecture 査読 Ryusuke Yamamoto, Tatsuya Nishikawa, Keisuke Kamita, Senling Wang, Shuichi Kameyama, Hiroshi Takahashi, Hiroshi Kai, Katsumi Inoue The 8th International Conference on Electronics, Communications and Control Engineering (ICECC 2025) Just Accepted 2025年3月
A Lightweight and Secure One-time RFID Authentication Protocol based on SAS-L2 査読 Kengo Shimizu, Senling Wang, Hiroshi Kai, Hiroshi Takahashi, Akihiro Shimizu IEEE The 9th International Conference On Consumer Electronics (ICCE) Asia Just Accepted 2024年11月
Highly Defect Detectable and SEU-Resilient Robust Scan-Test-Aware Latch Design 査読 Ruijun Ma, Stefan Hols, Hui Xu, Xiaoqing Wen, Senling Wang, Jiuqi Li, Aibin Ya IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 1 - 13 2024年10月
A demultiplexer-based dual-path switching true random number generator. 査読 Tianming Ni, Kejie Xu, Hao Wu, Senling Wang, Mu Nie Microelectron. J. 151 106363 - 106363 2024年9月
大規模集合演算プロセッサ（SOP）のFPGA実装と高速化 査読 西川竜矢, 山本隆介, 王森レイ, 亀山修一, 甲斐博, 高橋寛, 井上克己 DAシンポジウム2024 2024 200 - 207 2024年8月
Test Point Selection for Multi-Cycle Logic BIST using Multivariate Temporal-Spatial GCNs 査読 Senling Wang, Shaoqi Wei, Hisashi Okamoto, Tatusya Nishikawa, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroyuki Yotsuyanagi, Ruijun Ma, Tianming Ni, Hiroshi Takahashi, Xiaoqing Wen 2024 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) 1 - 6 2024年8月
Deep-BMNN: Implementing Sparse Binary Neural Networks in Memory-Based Reconfigurable Processor (MRP) 査読 Kenta Sasagawa, Senling Wang, Tetsuya Nishikawa, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tianming Ni, Xiaoqing Wen 2024 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC) 1 - 6 2024年7月
Diagnosis of Double Faults Consisting of a Stuck-at Fault and a Transition Fault 査読 Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal Saluja 2024 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications, ITC-CSCC 2024 in-press 2024年7月
3 次元 LSI における貫通シリコンビア(TSV)に対する故障検査法 招待 査読 王 森レイ, 高橋 寛 日本信頼性学会誌 46 ( 3 ) 108 - 115 2024年5月
A Low Area-Overhead and Low Delay Triple-Node-Upset Self-Recoverable Design Based On Stacked Transistors 査読 Hui Xu, Jiuqi Li, Ruijun Ma, Huaguo Liang, Chaoming Liu, Senling Wang, Xiaoqing Wen IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 2024年3月
愛媛大学大学院理工学研究科計算機・ソフトウェアシステム研究室 王 森岭, 甲斐 博, 高橋 寛 エレクトロニクス実装学会誌 27 ( 1 ) 169 - 169 2024年1月
A Lightweight and Machine-Learning-Resistant PUF framework based on Nonlinear Structure and Obfuscating Challenges 査読 Tianming Ni, Fei Li, Qingsong Peng, Senling Wang, Xiaoqing Wen Asian Hardware Oriented Security and Trust Symposium (AsianHOST2023) in-press 2023年12月
Enhancing Defect Diagnosis and Localization in Wafer Map Testing through Weakly Supervised Learning 査読 Mu Nie, Wen Jiang, Wankou Yang, Senling Wang, Xiaoqing Wen, Tianming Ni Proc. of the 32nd IEEE Asian Test Symposium 2023年10月
SASL-JTAG: A Light-Weight Dependable JTAG 査読 Senling Wang, Shaoqi Wei, Jun Ma, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Akihiro Shimizu, Xiaoqing Wen, Tianming Ni Proc. of the 36th IEEE Int'l Symp. on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, paper 6.1 2023年10月
Testing and Delay-Monitoring for the High Reliability of Memory-based Programmable Logic Device 査読 Xihong ZHOU, Senling WANG, Yoshinobu HIGAMI, Hiroshi TAKAHASHI IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems E106-D ( 10 ) 2023年10月
A Compact TRNG design for FPGA based on the Metastability of RO-Driven Shift Registers 査読 Qingsong Peng, Jingchang Bian, Zhengfeng Huang, Senling Wang, Aibin Yan ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems Just Accepted 2023年7月
Improving of Fault Diagnosis Ability by Test Point Insertion and Output Compaction 査読 Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications, ITC-CSCC 2023 2023年6月
Test Point Insertion for Multi-Cycle Power-On Self-Test. 査読 Senling Wang, Xihong Zhou, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems 28 ( 3 ) 46 - 21 2023年
Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning 査読 Shaoqi Wei, Kohei Shiotani, Senling Wang, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Gang Wang 2023年
QR-Code with Superimposed Text 査読 Naoya Tahara, Senling Wang, Hiroshi Kai, Hiroshi Takahashi, Masakatu Morii 259 - 262 2023年
Preliminary Study on Noise-Resilient Artificial Neural Networks for On-Chip Test Generation 査読 Tsutomu Inamoto, Tomoki Nishino, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi IEEE Global Conference on Consumer Electronics 2022年10月
Machine Learning Based Fault Diagnosis for Stuck-at Faults and Bridging Faults 査読 Yoshinobu Higami, Takaya Yamauchi, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC) 2022年6月
ディープニューラルネットワークを利用したシステムに対する高効率な検証法 査読 白石忠明, 高橋寛, WANG Senling 情報科学技術フォーラム講演論文集 21st 2022年
JTAGのセキュリティ脅威 -攻撃の現状とその対策- 査読 王 森レイ, 亀山 修一, 高橋 寛 エレクトロニクス実装学会誌/24 巻 (2021) 7 号 24 ( 7 ) 668 - 674 2021年11月
Diagnosis for Interconnect Faults in Memory-based Reconfigurable Logic Device 査読 Xihong Zhou, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi IEEE the 22nd Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 11 - 16 2021年11月
Compaction of Fault Dictionary without Degrading Diagnosis Ability 招待 査読 Yoshinobu Higami, Tomokazu Nakamura, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja 2021 36th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 2021年6月
MNN: A Solution to Implement Neural Networks into a Memory-based Reconfigurable Logic Device (MRLD) 査読 Xihong Zhou, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Mitsunori Katsu, Shoichi Sekiguchi 2021 36th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 2021年6月
FF-Control Point Insertion (FF-CPI) to Overcome the Degradation of Fault Detection under Multi-Cycle Test for POST. 査読 Hanan T. Al-Awadhi, Tomoki Aono, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima IEICE Transactions on Information & Systems 103-D ( 11 ) 2289 - 2301 2020年11月
Ring-Oscillator Implementation for Monitoring the Aging State of Memory-based Reconfigurable Logic Device (MRLD) 査読 Xihong Zhou, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC2020) 228 - 233 2020年7月
Reduction of Fault Dictionary Size by Optimizing the Order of Test Patterns Application 査読 Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC2020) 131 - 136 2020年7月
Compact Dictionaries for Reducing Compute Time in Adaptive Diagnosis 招待 査読 Yoshinobu Higami, Tomokazu Nakamura, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja The 34th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC 2019) inpress 124 - 127 2019年8月
Feasibility of Machine Learning Algorithm for Test Partitioning 招待 査読 Senling Wang, Hanan T. Al-Awadhi, Masatoshi Aohagi, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi The 34th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC 2019) 217 - 220 2019年8月
On Flip-Flop Selection for Multi-Cycle Scan Test with Partial Observation in Logic BIST 査読 Shigeyuki Oshima, Takaaki Kato, Senling Wang, Yasuo Sato, Seiji Kajihara in proc. IEEE Asian Test Symposium 30 - 35 2018年11月
Test Method for the Bridge Interconnect Faults in Memory Based Reconfigurable-Logic-Device(MRLD) Considering the Place-and-Route 査読 Senling Wang, Tomoki Aono, Tatsuya Ogawa, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Mitsunori Katsu, Shoichi Sekiguchi International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC) in press 2018年7月
Fault Diagnosis Considering Path Delay Variations in Multi-Cycle Test Environment 査読 Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal, K. Saluja International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC) in press 2018年7月
Automotive Functional Safety Assurance by POST with Sequential Observation 査読 Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Jun Matsushima IEEE Design and Test 35 ( 3 ) 39 - 45 2018年6月
Testing of interconnect defects in memory based reconfigurable logic device (MRLD) 査読 Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Masayuki Sato, Mitsunori Katsu, Shoichi Sekiguchi Proceedings of the Asian Test Symposium 13 - 18 2018年1月
Capture-Pattern-Control to Address the Fault Detection Degradation Problem of Multi-cycle Test in Logic BIST. 査読 Senling Wang, Tomoki Aono, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima in proc. IEEE Asian Test Symposium 155 - 160 2018年
Fault-detection-strengthened method to enable the POST for very-large automotive MCU in compliance with ISO26262. 査読 Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima IEEE European Test Symposium (ETS) 1 - 2 2018年
Towards an ISO26262 Compliant DFT Architecture Enabling POST for Ultra-Large-Scale Automotive MCU 査読 Yoichi Maeda, Hiroyuki Iwata, Jun Matsushima, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi IEEE International Workshop on Automotive Reliability&Test 2017年11月
A Flexible Scan-in Power Control Method in Logic BIST and Its Evaluation with TEG Chips 査読 Takaaki Kato, Senling Wang, Yasuo Sato, Seiji Kajihara, Xiaoqing Wen IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing 8 ( 3 ) 591 - 601 2017年10月
A method for diagnosing bridging fault between a gate signal line and a clock line 査読 Yoshinobu Higami, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Shin-Ya Kobayashi, Kewal K. Saluja IEICE Transactions on Information and Systems E100D ( 9 ) 2224 - 2227 2017年9月
Pattern Partitioning based Field Testing for Improving the Detection Latency of Aging-induced Delay Faults 査読 Hanan T. Al-Awadhi, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi 32nd International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications - In press 2017年8月
A Flexible Power Control Method for Right Power Testing of Scan-Based Logic BIST 査読 Takaaki Kato, Senling Wang, Yasuo Sato, Seiji Kajihara, Xiaoqing Wen Proceedings of the Asian Test Symposium 2016 ( ATS ) 203 - 208 2016年12月
Pattern Partitioning for Field Testing Considering the Aging Speed 査読 Hanan T. Al-Awadhi, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi Proc. IEEE WRTLT16, 72 - 76 2016年11月
Structure-Based Methods for Selecting Fault-Detection-Strengthened FF under Multi-Cycle Test with Sequential Observation 査読 Senling Wang, Hanan T. Al-Awadhi, Soh Hamada, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Jun Matsushima 2016 IEEE 25TH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS) 2016 ( ATS ) 209 - 214 2016年
Diagnosis methods for gate delay faults with various amounts of delays 査読 Yoshinobu Higami, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Shin-Ya Kobayashi, Kewal K. Saluja IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 9 13 - 20 2016年
Physical power evaluation of low power logic-bist scheme using test element group chip 査読 Senling Wang, Yasuo Sato, Seiji Kajihara, Hiroshi Takahashi Journal of Low Power Electronics 11 ( 4 ) 528 - 540 2015年12月
Trends in 3D integrated circuit (3D-IC) testing technology Hiroshi Takahashi, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Shuichi Kameyama, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Shyue-Kung Lu, Zvi Roth Three-Dimensional Integration of Semiconductors: Processing, Materials, and Applications 235 - 268 2015年1月
Diagnosis of Delay Faults in the Presence of Clock Delays Considering Hazards 査読 Yoshinobu Higami, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Kewal K. Saluja Proc. 30th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 649 - 652 2015年
A Simulated Annealing based Pattern Selection Method to Handle Power Supply Noise for Resistive Open Fault Diagnosis 査読 Senling Wang, Taiga Inoue, Hanan T. Al-Awadhi, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi Proc. 30th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) - pp.592 - 595 2015年
Diagnosis of Delay Faults Considering Hazards 査読 Yoshinobu Higami, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Graduate, Kewal K. Saluja 2015 IEEE COMPUTER SOCIETY ANNUAL SYMPOSIUM ON VLSI 07-10-July-2015 503 - 508 2015年
フィールドにおけるテスト印加と低電力論理BISTに関する研究 査読 王 森レイ 九州工業大学博士学位論文 1 - 89 2014年3月
Power Evaluation of a Low Power Logic BIST Scheme using TEG Chip 査読 Senling Wang, Toshiya Nishida, Yasuo Sato, Seiji Kajihara, Hiroshi Takahashi Proc. of IEEE WRTLT14 pp.8 - 13 2014年
Scan-out power reduction for logic BIST 査読 Senling Wang, Yasuo Sato, Seiji Kajihara, Kohei Miyase IEICE Transactions on Information and Systems E96-D ( 9 ) 2012 - 2020 2013年
A scan-out power reduction method for multi-cycle BIST 査読 Senling Wang, Yasuo Sato, Kohei Miyase, Seiji Kajihara Proceedings of the Asian Test Symposium 272 - 277 2012年
Low power BIST for scan-shift and capture power 査読 Yasuo Sato, Senling Wang, Takaaki Kato, Kohei Miyase, Seiji Kajihara Proceedings of the Asian Test Symposium 173 - 178 2012年
A Pattern Partitioning Algorithm for Field Test 査読 Senling Wang, Seiji Kajihara, Yasuo Sato, Xiaoxin Fan, S.M. Reddy Proc. 2nd Int'l Workshop on Reliability Aware System Design and Test (RASDAT'11), 31 - 36 2011年
Genetic algorithm based approach for segmented testing 査読 Xiaoxin Fan, Sudhakar M. Reddy, Senling Wang, Seiji Kajihara, Yasuo Sato Proceedings of the International Conference on Dependable Systems and Networks 85 - 90 2011年 - MISC
- 深層強化学習を用いたテストポイント挿入法に対する特徴解析 佐々木翔也, 井手秋孝, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛 信学技報 124 ( 374 ) 25 - 30 2025年2月
形式的検証を用いたSAS-L の安全性に関する研究 中村凌也, 清水健吾, 岡本悠, 王森レイ, 甲斐博, 高橋寛, 清水明宏 数式処理Bulletin of JSSAC (2024) 1 - 4 2024年10月
大規模言語モデルを利用したテスタビリティ評価手法 井手秋孝, 王森レイ, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛 電気･電子･情報関係学会四国支部連合大会 10 ( 5 ) 62 - 62 2024年9月
Vitis を用いたエッジデバイスにおける 高速物体検知のハードウェア実装 紙田 佳祐, 西川 竜矢, 山中 正晴, 王 森レイ, 甲斐, 博, 高橋 寛 電気･電子･情報関係学会四国支部連合大会 10 ( 2 ) 59 - 59 2024年9月
バレルシフタによるパターン認識アクセラレータの高速化 山本 隆介, 西川 竜矢, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 井上 克己 令和6年度 電気・電子・情報関係学会 四国支部連合大会 10-1 58 - 58 2024年9月
ホログラムQR コードの拡張 森 創太, 王森レイ†, 甲斐 博, 高橋 寛, 森井 昌克 第23回情報科学技術フォーラム（FIT2024） CO ( 001 ) 85 - 90 2024年9月
SV 攻撃に耐性のあるSAS-L2 の安全性評価 中村 凌也, 清水 健吾, 岡本 悠, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 清水 明宏 電気･電子･情報関係学会四国支部連合大会 16 ( 2 ) 153 - 153 2024年9月
マルウェア亜種の機能推定における Temporal Bias の影響に関する研究 光家 遥香, 甲斐, 博, 王森レイ 高橋 電気･電子･情報関係学会四国支部連合大会 16 ( 1 ) 152 - 152 2024年9月
深層強化学習を用いたテストポイント挿入法に対する特徴解析 佐々木, 翔也, 王 森レイ, 甲斐, 博, 高橋 寛 電気･電子･情報関係学会四国支部連合大会 10 ( 7 ) 64 - 64 2024年9月
ワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のスケーラビリティ向上について 岡本悠, 塩谷晃平, 西川竜矢, 王森レイ, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛, 清水明宏 第38回エレクトロニクス実装学会春季講演大会 14D2 ( 3 ) 1 - 4 2024年3月
深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法 塩谷晃平, 西川竜矢, 魏 少奇, 王 森レイ, 甲斐 博, 樋上喜信, 高橋 寛 信学技報, vol. 123, no. 389, DC2023-98, pp. 23-28, 2024年2月. 123 ( 389 ) 23 - 28 2024年2月
メモリ型論理再構成装置におけるニューラルネットワークの実装について 笹川健太, 西川竜矢, 周 細紅, 王 森岭, 甲斐 博, 高橋 寛 信学技報 デザインガイア2023 -VLSI設計の新しい大地- VLD 2023年11月
メモリズムパターンマッチングアクセラレータのFPGA実装と性能評価 本田志遠, 西川竜矢, 周 細紅, 王 森レイ, 甲斐 博, 樋上喜信, 高橋 寛, 井上克己 信学技報 デザインガイア2023 -VLSI設計の新しい大地- DC 2023年11月
メモリ型論理再構成デバイスにおける行列演算の実装法 笹川 健太, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛 2023年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2023年10月
ワンタイムパスワードを用いたJTAG 認証機構のスケーラビリテ ィ向上について 岡本 悠, 馬 竣, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 清水 明宏 2023年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 10-9 2023年9月
遺伝的アルゴリズムを用いたAesthetic QR コードの生成方法に 関する研究 船田 大輝, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛 2023年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2023年9月
Vitis を用いた物体検出アーキテクチャのFPGA 実装 西川 竜矢, 山中 正晴, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛 電気･電子･情報関係学会四国支部連合大会 10-3 2023年9月
マルチサイクルテストによるテストパターン圧縮 中野 潤平, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛 2023年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 10-10 73 - 73 2023年9月
SAS-L2 を用いたRFID システムの認証方式 清水 健吾, 甲斐 博, 王 森玲, 橋 寛, 清水 明宏 2023年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 16-2 2023年9月
インメモリ型高速パターンマッチングアーキテクチャのFPGA 実 装と性能評価 本田 志遠, 周 細紅, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 井上 克己 2023年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 10-8 2023年8月
ワンタイムパスワードによるJTAG アクセス認証アーキテクチャのFPGA 実装と機能検証 馬 竣, 岡本 悠, 魏 少奇, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 清水 明宏 第37回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 37th 10 - 13 2023年3月
グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法 魏 少奇, 塩谷晃平, 王 森レイ, 甲斐 博, 樋上喜信, 高橋 寛 信学技報 vol. 122 ( no. 393 ) 27 - 32 2023年2月
軽量なワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のFPGA実装と面積評価 岡本 悠, 馬 竣, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 清水明宏 信学技報, デザインガイア2022 -VLSI設計の新しい大地- 122 ( 285 ) 168 - 173 2022年11月
SAS-L を用いた JTAG 認証システムのアクセスポートロック機能回路の設計と実装 馬 竣, 岡本 悠, 王 森レイ, 甲斐 博, 亀山 修一, 高橋 寛, 清水 明宏 2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2022 71 - 71 2022年9月
RS 符号の消失訂正を用いた Aesthetic QR コードの生成法 田原 直哉, 甲斐 博, 王 森レイ, 高橋 寛, 森井 昌克 2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2022 180 - 180 2022年9月
ローエンドエッジデバイスにおける SAS 認証方式の処理時間の評価 荻田 高史郎, 清水 健吾, 中西 佳菜子, 甲斐 博, 王 森レイ, 高橋 寛, 清水 明宏 2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2022 160 - 160 2022年9月
エッジデバイスにおける SAS 認証回路の設計と実装 岡本 悠, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋, 寛, 清水 明宏 2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2022 74 - 74 2022年9月
マルチサイクルの機能動作による故障診断能力の向 上について 神崎壽伯, 王森レイ, 甲斐博, 高橋寛 2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2022 70 - 70 2022年9月
グラフ構造強化学習を用いたテスト検査点選定法 塩谷 晃平, 魏少奇, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛 2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2022 72 - 72 2022年9月
シングルボードコンピュータ上でのSAS認証方式の計算時間の評価 荻田高史郎, 甲斐博, 王森レイ, 高橋寛, 清水明宏 2022年電子情報通信学会総合大会 D-6-11 2022年3月
JTAG認証機構の軽量化設計について 査読 馬竣, 岡本悠, 王森レイ, 甲斐博, 亀山修一, 高橋寛, 愛, 清水明宏 第36回エレクトロニクス実装学会春季講演大会 36th 212 - 214 2022年3月
マルチサイクルテストの導入による組込自己診断の 故障診断能力評価 王 宇超, 王 森レイ, 樋上 喜信, 甲斐 博, 高橋 寛 令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2021 2021年9月
マルチサイクル機能動作による故障診断用パターン生成 神崎 壽伯, 王 森レイ, 樋上 喜, 信, 甲斐 博, 高橋 寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年9月
機械学習を用いたマルウェアの機能推定に関する 研究 中島 拓哉, 児玉 光平, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 森井 昌, 克 令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2021 2021年9月
WebGL によるネットワークトラフィック可視化方 法の検討 松浦 拓海, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 森井 昌克 令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2021 2021年9月
Aesthetic QR コードを生成するソフトウェアの実装 に関する研究 福田 諒也, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 森井 昌克 令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2021 2021年9月
機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断 山内 崇矢, 稲元 勉, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2021 2021年9月
グラフ畳み込みニューラルネットワークを用いたテ ストポイント選定について 魏 少奇, 王 森レイ, 甲斐 博, 樋上 喜信, 高橋 寛 令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2021 2021年9月
マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法 中岡典弘, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋 潤 信学技報 DC 120 ( 358(DC2020 69-79) ) 36 - 41 2021年2月
マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法 環 輝, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋 潤 信学技報 120 ( 236 ) 24 - 29 2020年11月
メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装 周 細紅, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会講演集 34th 4C1-02 2020年3月
ハイブリッドテストポイント挿入法のマルチサイクルテストへの適用とその性能評価 中岡典弘, 青野智己, 王 森レイ, 高橋 寛, 松嶋 潤, 岩田浩幸, 前田洋一 2020年電子情報通信学会総合大会 2020年3月
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法 招待 青野智己, 中岡典弘, 周 細紅, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋 潤 電子情報通信学会技術研究報告 119 ( 420 ) 19 - 24 2020年2月
マルチサイクルテストのテスト容易化のための制御ポイント選定法 環輝, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2020 2020年
電子メールによる情報提供システムへのアクセス方法の検討 浅沼和希, 岡田奈々, 松浦拓海, 福田諒也, 児玉光平, 甲斐博, WANG S., 高橋寛 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2020 2020年
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出低下問題の解析 中岡 典弘, 青野 智己, 工藤 壮司, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋 潤 デザインガイア2019 -VLSI設計の新しい大地- 2019年11月
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析—Analysis of Fault Detection Degradation Issue in Multi-cycle Test Scheme using Probabilistic Evaluation Method—VLSI設計技術 ; デザインガイア2019 : VLSI設計の新しい大地 中岡 典弘, 青野 智己, 工藤 壮司, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛, 岩田 浩幸, 前田 洋一, 松嶋 潤 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 119 ( 282 ) 145 - 150 2019年11月
マルチサイクルテストにおける故障検出低下問 題の解析とその対策 青野 智己, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 電気関係学会四国支部連合大会 2019年9月
Raspberry Piを用いた画像処理とCNNによる微小害虫の計数システムの構築 阿部 寛人, 畝山 勇一朗, 中岡 典弘, 渡辺 友希, 福本 真也, 森田 航平, 中本 裕大, 周 細紅, 河野 靖, 木下 浩二, 一色 正晴, 二宮 崇, 田村 晃裕, 甲斐 博, 高橋 寛, 王 森レイ 令和元年度電気関係学会四国支部連合大会論文集（CD-ROM) 2019 2019年9月
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法 招待 青野智己, Hanan T.Al-Awadhi, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 愛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋, 潤(ルネサスエレクトロニクス 信学技報 DC研究会信学技報 118 ( 456 ) 49 - 54 2019年2月
enPiT-Pro Embにおける社会人教育実践とその評価 名倉正剛, 高田広章, 山本雅基, 塩見彰睦, 野口靖浩, 岡村寛之, 高橋寛, 一色正晴, WANG Senling, 甲斐博, 木下浩二, 田村晃裕, 二宮崇, 沢田篤史 教育システム情報学会全国大会講演論文集(CD-ROM) 44th 2019年
論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について 加藤 隆明, 王 森レイ, 佐藤 康夫, 梶原 誠司 電子情報通信学会技術研究報告, VLD2018-57 118 ( 334 ) 125 - 130 2018年12月
組込み自己診断向けのテストパターン生成法 松田 優大, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 電気関係学会四国支部連合大会 2018年9月
サウンドコード技術を利用した電気錠システムの開発 周 細紅, 王 森レイ, 高橋 寛 電気関係学会四国支部連合大会 2018年9月
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFF選択法 矢野 良典, 青野, 智己, 王森 レイ, 樋上, 喜信, 高橋 寛 電気関係学会四国支部連合大会 2018年9月
マルチサイクルテストの故障検出率の低下を改善するための キャプチャパターン制御法 青野 智己, 矢野 良典, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛 電気関係学会四国支部連合大会 2018年9月
機械学習を適用した半断線故障判別法の評価 増成紳介, 青萩正俊, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 四柳浩之, 橋爪正樹 電気関係学会四国支部連合大会 2018年9月
メモリベース再構成デバイスMRLDにおけるブリッジ接続故障のテスト方法 王 森レイ, 小川達也, 樋上喜信, 高橋 寛, 佐藤正幸, 勝 満徳, 関口象一 信学技報 117 ( 444 ) 61 - 66 2018年2月
スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について (ディペンダブルコンピューティング) -- (デザインガイア2017 : VLSI設計の新しい大地) 大島 繁之, 加藤 隆明, 王 森レイ, 佐藤 康夫, 梶原 誠司 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 117 ( 274 ) 85 - 90 2017年11月
フィールドテストにおけるテスト集合分割法 青萩正俊, 増成紳介, WANG S, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017 ROMBUNNO.10‐6 2017年9月
再構成可能デバイスMRLDのための接続欠陥テスト 小川達也, WANG S, 高橋寛, 佐藤正幸 情報科学技術フォーラム講演論文集 16th 237‐238 2017年9月
深層学習による柑橘類果実の個数推定 野口 敬輔, 小川 達也, 安保 良佑, 高原 圭太, 河野 靖, 木下 浩二, 二宮 崇, 田村 晃裕, 高橋 寛, 王 森レイ, 樋上 善信, 藤田 欣裕, 二宮 宏 平成29年度 電気関係学会四国支部連合大会 講演論文集 177 - 177 2017年9月
画像処理と深層学習による微小害虫の検出 中浦 大貴, 渡邊 大貴, 増成 紳介, 矢野 良典, 河野 靖, 木下 浩二, 二宮 崇, 田村 晃裕, 高橋 寛, 王 森レイ, 樋上 喜信, 藤田 欣裕, 二宮 宏 平成29年度 電気関係学会四国支部連合大会 講演論文集 183 - 183 2017年9月
三次元積層ICのTSV相互接続の評価容易化設計DFE : アナログバウンダリスキャンによる接続抵抗評価 (ディペンダブルコンピューティング) 亀山 修一, 王 森レイ, 高橋 寛 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 116 ( 466 ) 53 - 58 2017年2月
論理回路の組込み自己診断に関する提案 (ディペンダブルコンピューティング) 香川 敬祐, 矢野 郁也, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛, 大竹 哲史 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 116 ( 466 ) 11 - 16 2017年2月
マルチサイクルテストにおけるFFの接続情報を用いた中間観測FFの選択法 高原圭太, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.10‐7 2016年9月
中間観測FF選択法の大規模ベンチマーク回路に対する評価 濱田宗, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 松嶋潤 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.10‐8 2016年9月
マルチサイクルテストにおけるクロック信号線のd‐故障に対するテストパターン生成について 和田祐介, 樋上喜信, WANG S, 高橋寛, 小林真也 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.10‐6 2016年9月
アナログバウンダリスキャンを適用した三次元積層後のTSV抵抗精密計測法の計測精度評価 香川敬祐, WANG S, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.10‐5 2016年9月
組込み自己診断におけるハードウェア制約の改善法 矢野郁也, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016 ROMBUNNO.10‐9 2016年9月
論理BISTにおけるスキャンイン電力制御手法とTEG評価 加藤, 隆明, 王, 森レイ, 佐藤, 康夫, 梶原, 誠司, 温, 暁青 DAシンポジウム2016論文集 2016 ( 15 ) 79 - 84 2016年9月
D-10-2 マルチサイクルテストのためのFFの構造的評価(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 門田 一樹, 濱田 宗, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛, 岩田 浩幸, 松嶋 潤 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2016 ( 1 ) 151 - 151 2016年3月
三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について (ディペンダブルコンピューティング) 王 森レイ, 香川 敬祐, 亀山 修一 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 115 ( 449 ) 49 - 54 2016年2月
アナログバウンダリスキャンを用いた三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法の実装について WANG Senling, 香川敬祐, 亀山修一, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会技術研究報告 115 ( 338(VLD2015 38-76) ) 177‐182 - 182 2015年11月
論理BISTにおける故障検出率の向上を考慮したシフトピーク電力制御法 WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-21 2015年9月
タイミングシミュレーション情報に基づく故障診断法 門田一樹, 矢野郁也, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-8 2015年9月
アナログバウンダリスキャンによる三次元積層後のTSV抵抗精密計測法の実装と評価 香川敬祐, WANG S, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-16 2015年9月
遅延を考慮したシミュレータ用いたクロック信号線のブリッジ故障の故障診断 細川 優人, 樋上 喜信, 王 森レイ, 高橋 寛, 小林 真也 平成27年度電気関係学会四国支部連合大会 2015年9月
組込み自己診断における遷移故障診断能力の改善法 宮本夏規, 村上陽紀, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-12 2015年9月
組込み自己診断におけるシード候補の生成法 村上陽紀, 宮本夏規, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.10-15 2015年9月
マルチサイクルテストでのクロック信号線のd-故障に対する故障診断 和田 祐介, 樋上 喜信, 王 森レイ, 高橋 寛, 小林 真也 平成27年度電気関係学会四国支部連合大会 2015年9月
組込み自己診断におけるテストパターン系列の診断能力に関して 宮本夏規, 村上陽紀, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛, 大竹哲史 情報科学技術フォーラム講演論文集 14th 273 - 274 2015年8月
IR-dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法 (ディペンダブルコンピューティング) 王 森レイ, 井上 大画, アル・アワディー ハナン ティ, 樋上 喜信, 高橋 寛 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114 ( 446 ) 55 - 60 2015年2月
0‐1整数計画問題を利用した遅延故障テストの改善 門田一樹, 今村亮太, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2015 ROMBUNNO.D-10-4 2015年2月
オンチップセンサを利用した抵抗性オープン故障診断 竹田和生, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.10-9 2014年9月
0‐1整数計画問題を利用した診断用テスト生成システムの開発 村上陽紀, 宮本夏規, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.10-11 2014年9月
マルチサイクルテストでの遷移故障に対するテスト生成 藤原 翼, 樋上 喜信, 王 森レイ, 高橋 寛, 小林 真也 電気関係学会四国支部連合大会 2014年9月
遺伝的アルゴリズムを利用した診断用テスト生成 門田一樹, 今村亮太, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.10-10 2014年9月
消費電力制約下での焼きなまし法を利用したテストパターン変更法 井上大画, WANG S, 樋上喜信, 高橋寛 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 ROMBUNNO.10-8 2014年9月
クロック信号線のブリッジ故障に対する遅延を考慮した故障診断 細川 優人, 樋上 喜信, 王 森レイ, 高橋 寛, 小林 真也 電気関係学会四国支部連合大会 2014年9月
低電力BIST手法におけるキャプチャ電力のTEG評価 西田敏也, WANG Senling, 佐藤康夫, 梶原誠司 電子情報通信学会技術研究報告 114 ( 99(DC2014 10-17) ) 21 - 26 2014年6月
マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法 WANG Senling, 佐藤康夫, 梶原誠司, 宮瀬紘平 電子情報通信学会技術研究報告 112 ( 321(DC2012 25-72) ) 249 - 254 2012年11月
論理BISTの電力低減手法と評価 佐藤康夫, WANG Senling, 加藤隆明, 宮瀬紘平, 梶原誠司 電子情報通信学会技術研究報告 112 ( 102(DC2012 9-16) ) 33 - 38 2012年6月
低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について 加藤隆明, WANG Senling, 宮瀬絋平, 佐藤康夫, 梶原誠司 電子情報通信学会技術研究報告 111 ( 435(DC2011 76-86) ) 25 - 29 2012年2月
- 総説・解説
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
- 講演・発表
- Test Point Selection for Multi-Cycle Logic BIST: From Heuristics to Deep Learning Algorithm 招待 王 森岭 2024可信系统与芯片前沿技术研讨会 暨CCF走进合肥工业大学活动 2024年8月
Test Point Selection for Multi-Cycle Logic BIST: From Heuristics to Deep Learining Algorithm 招待 王 森レイ 2024 Southeast Forum on AI and EDA (AIEDA-2024) 2024年8月
Automotive Functional Safety Assurance with Multi-cycle POST 招待 王 森レイ The 1st Workshop on Emerging Test Technologies Workshop on Automotive Functional Safety (ETT-FuSa'23) 2023年10月
JTAGにおけるセキュリティ脅威とその対策に関する調査 招待 王 森レイ エレクトロニクス実装学会 バウンダリスキャン研究会 2021年12月
シミュレーターの活用による組込みシステム開発演習の完全遠隔化 招待 王 森レイ enPiT2組込みシステム分野ＦＤ研修会 2020年12月 成長分野を支える情報技術人材の育成拠点の形成(enPiT2) 組込みシステム分野 芝浦工業大学・教育イノベーション推進センター（理工学教育共同利用拠点）
CAD ツールを用いた組込みシステム開発のバーチャル演習実践 招待 王 森レイ 日本ソフトウェア科学会第37回大会(JSSST2020) 2020年9月
サイバーフィジカルシステムにおけるセキュリティ脅威と対策について 招待 王 森レイ バウンダリスキャン研究会 2022年度公開研究会 2022年9月
メモリーベース再構成可能論理デバイス(ＭＲＬＤ)における接続欠陥のテスト方法について 王森レイ 第７７回FTC研究会 2017年7月
- 研究会・報告書
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
- 特許
- 故障検出システム、生成回路及びプログラム 佐藤 康夫, 王 森▲レイ▼, 宮瀬 紘平, 梶原 誠司
- 作品
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
- 補助金・競争的資金
- チップレットシステムにおける経年劣化に対する信頼性と安全性強化技術について 2025年4月 - 2028年3月 日本学術振興会JSPS 科研費 基盤研究 王 森レイ, 甲斐 博, 四柳 浩之, 樋上 喜信, 高橋 寛
構造型情報処理アーキテクチャに対するフィールドテスト法 2023年4月 - 2026年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 高橋 寛, 樋上 喜信, 王 森レイ
チップレットシステムのライフサイクル信頼性強化設計技術 2023年4月 - 2025年12月 日本学術振興会JSPS 二国間交流事業共同研究 国際間共同研究 王 森レイ, 甲斐 博, 樋上 喜信, 高橋 寛, 四柳 浩之, 温 暁青
メモリ型再構成エッジデバイスにおける高信頼性知的処理機能の設計法に関する研究 2022年4月 - 2025年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛
IoT環境におけるエッジデバイスでの劣化故障検出及び障害予告技術の開発 2019年4月 - 2023年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 若手研究 王 森レイ
アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究 2019年4月 - 2023年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 樋上 喜信, 稲元 勉, 高橋 寛, 王 森レイ
つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発 2019年4月 - 2023年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 高橋 寛, 樋上 喜信, 王 森レイ
高精度遅延故障シミュレータを用いた遅延故障に対するテストと診断に関する研究 2016年4月 - 2020年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 樋上 喜信, 高橋 寛, 王 森レイ
機能安全技術のための組込み自己診断法の開発 2016年4月 - 2019年3月 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 高橋 寛, 大竹 哲史, 樋上 喜信, 王 森レイ
- その他
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
2025年5月9日更新
- 専門分野・研究分野
- 情報通信 / 計算機システム / ＬＳＩテスト及び診断
- 所属学会・所属協会
- ACM 2022年9月 - 現在
情報処理学会
エレクトロニクス実装学会
米国電気電子学会
電子情報通信学会 - 委員歴・役員歴
- DAシンポジウム2021 －システムとLSIの設計技術－ 実行委員会（広報委員） 2021年1月 - 現在
情報処理学会 SLDM研究会 運営委員 2021年1月 - 現在
IEEE WRTLT Organization Committee Local Arrangement Chair 2021年1月 - 2021年11月
IEEE Asian Test Symposium Local Arrangement Chair 2021年1月 - 2021年11月
IEEE Asian Test Symposium Program 委員 2020年6月 - 現在
IEEE WRTLT Program Committee Program 委員 2020年6月 - 現在
システムとLSIの設計技術研究会 運営委員 2020年4月 - 現在
DAシンポジウム2022 プログラム委員会委員 2020年4月 - 現在
情報処理学会四国支部委員会 委員 2020年4月 - 現在
WRTLT2019 Program Committee Program 委員 2019年6月 - 2019年12月
WRTLT2019 Program Committee Program Committee Member 2019年5月 - 2019年12月
デザインガイア2019 ～VLSI設計の新しい大地～ 実行委員会 2019年3月 - 2019年12月
Asian Test Symposium 実行委員会 Local Arrangement Chair 2019年 - 現在
Asian Test Symposium OC Local Arrangement Chair 2019年 - 現在
ITC-Asia 2019 実行委員会 広報委員 2018年8月 - 2019年10月
ITC-Asia 2019 Organizing Committee Publicity Chair 2018年8月 - 2019年10月
JIEP Boundary Scan (JTAG) WorkGroup Committee 2018年4月 - 現在
エレクトロニクス実装学会 バウンダリスキャン研究会 委員 2018年4月 - 現在
電気関係学会四国支部連合大会 現地実行委員会 2018年1月 - 2018年9月 - 受賞
- 工学部教育貢献賞 2024年7月 国立愛媛大学工学部 王 森レイ
教育貢献賞 2021年4月 愛媛大学工学部情報工学科 王 森レイ
IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award 2020年 IEEE CASS Hiroshi Takahashi, Senling Wang, Yoshinobu Higami
教育貢献賞 2018年4月 愛媛大学工学部情報工学科 王 森岭
The 4th IEEE SSCS Japan Chapter VDEC Design Award 2014年8月 東京大学大規模集積システム設計教育研究センター 王森レイ
国費外国人留学生奨学金 2011年4月 日本政府（文部科学省） - 活動
- 電気関係学会四国支部連合大会 役割：運営参加・支援 2018年6月 - 2018年9月
DC研究会 2017年 - 2019年
2025年5月4日更新
2025年5月3日更新
Ｊグローバル
- Jグローバル最終確認日
- 2025/5/3 01:03
- 氏名（漢字）
- 王 森岭
- 氏名（フリガナ）
- オウ シンレイ
- 氏名（英字）
- Wang Senling
- 所属機関
- 愛媛大学 講師
リサーチマップ
- researchmap最終確認日
- 2025/5/4 01:11
- 氏名（漢字）
- 王 森岭
- 氏名（フリガナ）
- オウ シンレイ
- 氏名（英字）
- Wang Senling
- プロフィール
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- 登録日時
- 2016/3/16 18:43
- 更新日時
- 2025/3/4 15:52
- アバター画像URI
- https://researchmap.jp/senling_wang_scholar/avatar.jpg
- ハンドル
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- eメール
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- eメール（その他）
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- 携帯メール
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- 性別
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- 没年月日
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- 所属ID
- 0352021007
- 所属
- 愛媛大学
- 部署
- 大学院理工学研究科 電子情報工学専攻
- 職名
- 講師
- 学位
- 博士
- 学位授与機関
- 九州工業大学
- URL
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- 科研費研究者番号
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- Google Analytics ID
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- ORCID ID
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- その他の所属ID
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- その他の所属名
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- その他の所属 部署
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- その他の所属 職名
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- 最近のエントリー
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- Read会員ID
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- 経歴
- 受賞
- Misc
- 論文
- 講演・口頭発表等
- 書籍等出版物
- 研究キーワード
- 研究分野
- 所属学協会
- 担当経験のある科目
- その他
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- Works
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- 特許
- 学歴
- 委員歴
- 社会貢献活動
更新
- 研究者番号
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- 所属（現在）
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- 所属（過去の研究課題
情報に基づく）*注記 - KAKEN APIで取得できませんでした。
- 審査区分/研究分野
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- キーワード
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研究課題
研究成果
共同研究者
注目研究はありません。