研究者を探す
王 森岭
愛媛大学
2024年12月20日更新
- 職名
- 講師
- 電話
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
- 電子メール
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
- 学歴
- 2009/04-2011/03 九州工業大学
2011/04-2014/03 九州工業大学 - 学位
- 博士 九州工業大学
- 職歴・経歴
- 2014/04-2017/03 愛媛大学 理工学研究科 助教
2017/04-現在 愛媛大学 大学院理工学研究科 特任講師
2019/04-現在 国立新居浜工業高等専門学校 環境材料工学科 非常勤講師
2019/12-現在 愛媛大学工学部社会基盤iセンシングセンター Faculty of Engineering 講師（兼任）
2020/04-現在 新居浜工業高等専門学校 電子制御工学科 非常勤講師
- 専門分野・研究分野
- 情報通信 / 計算機システム / ＬＳＩテスト及び診断
情報通信 / 高性能計算 / In memory computing
2024年12月20日更新
- 専門分野・研究分野
- 情報通信 / 計算機システム / ＬＳＩテスト及び診断
情報通信 / 高性能計算 / In memory computing - 担当経験のある授業科目
- 基礎情報科学
計算機システム特論Ｉ
計算機システム概論B
工学入門
工学コミュニケーション
情報工学実験Ⅰ
組込みシステム開発基礎
データサイエンス概論
DS/AI活用PBL演習１
コンピュータ工学入門
学部共通PBL
DS/AI活用PBL演習２
計算機システム概論A
インターンシップ - 指導経験
- 2024,第１クォーター,工学部,基礎情報科学
2024,第１クォーター,理工学研究科（博士前期課程2006〜）,計算機システム特論Ｉ
2024,第１クォーター,理工学研究科（博士前期課程2006〜）,計算機システム概論B
2024,第３クォーター,共通教育,工学入門
2024,第３クォーター,工学部,工学コミュニケーション
2024,第３クォーター,工学部,情報工学実験Ⅰ
2024,第４クォーター,共通教育,工学入門
2024,第４クォーター,工学部,工学コミュニケーション
2024,前期,工学部,組込みシステム開発基礎
2024,前期,地域レジリエンス学環,データサイエンス概論
2024,前期,理工学研究科（博士前期課程2006〜）,データサイエンス概論
2024,前期,理工学研究科（博士前期課程2006〜）,DS/AI活用PBL演習１
2024,後期,工学部,コンピュータ工学入門
2024,後期,工学部,学部共通PBL
2024,後期,理工学研究科（博士前期課程2006〜）,DS/AI活用PBL演習２
2024,後期,理工学研究科（博士前期課程2006〜）,計算機システム概論A
2024,通年,理工学研究科（博士前期課程2006〜）,インターンシップ
2024年12月20日更新
- 専門分野・研究分野
- 情報通信 / 計算機システム / ＬＳＩテスト及び診断
情報通信 / 高性能計算 / In memory computing
- 研究テーマ
- ディペンダビリティコンピューティング
リコンフィギャラブルコンピューティング
低電力テスト
フィールドテスト
LSIテスト及び故障診断
In-Memory computing
テスト容易化設計
テスト
集積回路
- 著書
- Three Dimensional Integration of Semiconductors Kazuo KondoMorihiro KadaKenji Takahashi 第8章 Springer International Publishing Switzerland 2015 ISBN: 9783319186740
- 論文
- A Lightweight and Secure One-time RFID Authentication Protocol based on SAS-L2 Kengo ShimizuSenling WangHiroshi KaiHiroshi TakahashiAkihiro Shimizu 2024/11 IEEE The 9th International Conference On Consumer Electronics (ICCE) Asia Just Accepted 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Highly Defect Detectable and SEU-Resilient Robust Scan-Test-Aware Latch Design Ruijun MaStefan HolsHui XuXiaoqing WenSenling WangJiuqi LiAibin Ya 2024/10 IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 1-13 研究論文（学術雑誌）
A demultiplexer-based dual-path switching true random number generator. Tianming NiKejie XuHao WuSenling WangMu Nie 2024/09 Microelectron. J. 151, 106363-106363 研究論文（学術雑誌）
Test Point Selection for Multi-Cycle Logic BIST using Multivariate Temporal-Spatial GCNs Senling WangShaoqi WeiHisashi OkamotoTatusya NishikawaHiroshi KaiYoshinobu HigamiHiroyuki YotsuyanagiRuijun MaTianming NiHiroshi TakahashiXiaoqing Wen 2024/08/18 2024 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) 1-6 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Deep-BMNN: Implementing Sparse Binary Neural Networks in Memory-Based Reconfigurable Processor (MRP) Kenta SasagawaSenling WangTetsuya NishikawaHiroshi KaiYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiHiroyuki YotsuyanagiTianming NiXiaoqing Wen 2024/07/02 2024 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC) 1-6 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Diagnosis of Double Faults Consisting of a Stuck-at Fault and a Transition Fault Yoshinobu HigamiTsutomu InamotoSenling WangHiroshi TakahashiKewal Saluja 2024/07 2024 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications, ITC-CSCC 2024 in-press 研究論文（国際会議プロシーディングス）
3 次元 LSI における貫通シリコンビア(TSV)に対する故障検査法 王 森レイ高橋 寛 2024/05 日本信頼性学会誌 46/ 3, 108-115 研究論文（学術雑誌）
ワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のスケーラビリティ向上について 岡本悠塩谷晃平西川竜矢王森レイ甲斐博樋上喜信高橋寛清水明宏 2024/03 第38回エレクトロニクス実装学会春季講演大会 14D2/ 3 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
A Low Area-Overhead and Low Delay Triple-Node-Upset Self-Recoverable Design Based On Stacked Transistors Hui XuJiuqi LiRuijun MaHuaguo LiangChaoming LiuSenling WangXiaoqing Wen 2024/03 IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 研究論文（学術雑誌）
深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法 塩谷晃平西川竜矢魏 少奇王 森レイ甲斐 博樋上喜信高橋 寛 2024/02 信学技報, vol. 123, no. 389, DC2023-98, pp. 23-28, 2024年2月. 123/ 389 （MISC）速報，短報，研究ノート等（学術雑誌）
A Lightweight and Machine-Learning-Resistant PUF framework based on Nonlinear Structure and Obfuscating Challenges Tianming NiFei LiQingsong PengSenling WangXiaoqing Wen 2023/12 Asian Hardware Oriented Security and Trust Symposium (AsianHOST2023) in-press 研究論文（国際会議プロシーディングス）
メモリ型論理再構成装置におけるニューラルネットワークの実装について 笹川健太西川竜矢周 細紅王 森岭甲斐 博高橋 寛 2023/11 信学技報 デザインガイア2023 -VLSI設計の新しい大地- VLD （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
メモリズムパターンマッチングアクセラレータのFPGA実装と性能評価 本田志遠西川竜矢周 細紅王 森レイ甲斐 博樋上喜信高橋 寛井上克己 2023/11 信学技報 デザインガイア2023 -VLSI設計の新しい大地- DC （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
メモリ型論理再構成デバイスにおける行列演算の実装法 笹川 健太王 森レイ甲斐 博高橋 寛 2023/10 2023年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
Testing and Delay-Monitoring for the High Reliability of Memory-based Programmable Logic Device Xihong ZHOUSenling WANGYoshinobu HIGAMIHiroshi TAKAHASHI 2023/10 IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems E106-D/ 10 研究論文（学術雑誌）
SASL-JTAG: A Light-Weight Dependable JTAG Senling WangShaoqi WeiJun MaHiroshi KaiYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiAkihiro ShimizuXiaoqing WenTianming Ni 2023/10 Proc. of the 36th IEEE Int'l Symp. on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, paper 6.1 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Enhancing Defect Diagnosis and Localization in Wafer Map Testing through Weakly Supervised Learning Mu NieWen JiangWankou YangSenling WangXiaoqing WenTianming Ni 2023/10 Proc. of the 32nd IEEE Asian Test Symposium 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Vitis を用いた物体検出アーキテクチャのFPGA 実装 西川 竜矢山中 正晴王 森レイ甲斐 博高橋 寛 2023/09 電気･電子･情報関係学会四国支部連合大会 10-3 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
ワンタイムパスワードを用いたJTAG 認証機構のスケーラビリテ ィ向上について 岡本 悠馬 竣王 森レイ甲斐 博高橋 寛清水 明宏 2023/09 2023年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 10-9 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
SAS-L2 を用いたRFID システムの認証方式 清水 健吾甲斐 博王 森玲橋 寛清水 明宏 2023/09 2023年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 16-2 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
遺伝的アルゴリズムを用いたAesthetic QR コードの生成方法に 関する研究 船田 大輝王 森レイ甲斐 博高橋 寛 2023/09 2023年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
マルチサイクルテストによるテストパターン圧縮 中野 潤平王 森レイ甲斐 博高橋 寛 2023/09 2023年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 10-10 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
インメモリ型高速パターンマッチングアーキテクチャのFPGA 実 装と性能評価 本田 志遠周 細紅王 森レイ甲斐 博高橋 寛井上 克己 2023/08 2023年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 10-8 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
A Compact TRNG design for FPGA based on the Metastability of RO-Driven Shift Registers Qingsong PengJingchang BianZhengfeng HuangSenling WangAibin Yan 2023/07 ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems Just Accepted 研究論文（学術雑誌）
Improving of Fault Diagnosis Ability by Test Point Insertion and Output Compaction Yoshinobu HigamiTsutomu InamotoSenling WangHiroshi TakahashiKewal K. Saluja 2023/06 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications, ITC-CSCC 2023 研究論文（国際会議プロシーディングス）
ワンタイムパスワードによるJTAG アクセス認証アーキテクチャのFPGA 実装と機能検証 馬 竣岡本 悠魏 少奇王 森レイ甲斐 博高橋 寛清水 明宏 2023/03 第37回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 37th （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法 魏 少奇塩谷晃平王 森レイ甲斐 博樋上喜信高橋 寛 2023/02 信学技報 vol. 122/ no. 393 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
QR-Code with Superimposed Text Naoya TaharaSenling WangHiroshi KaiHiroshi TakahashiMasakatu Morii 2023 IEEE APNOMS 259-262 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning Shaoqi WeiKohei ShiotaniSenling WangHiroshi KaiYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiGang Wang 2023 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications, ITC-CSCC 2023 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Test Point Insertion for Multi-Cycle Power-On Self-Test. Senling WangXihong ZhouYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiHiroyuki IwataYoichi MaedaJun Matsushima 2023 ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems 28/ 3, 46-21 研究論文（学術雑誌）
軽量なワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のFPGA実装と面積評価 岡本 悠馬 竣王 森レイ甲斐 博高橋 寛清水明宏 2022/11 信学技報, デザインガイア2022 -VLSI設計の新しい大地- 122/ 285
Preliminary Study on Noise-Resilient Artificial Neural Networks for On-Chip Test Generation Tsutomu InamotoTomoki NishinoSenling WangYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2022/10 IEEE Global Conference on Consumer Electronics 研究論文（国際会議プロシーディングス）
マルチサイクルの機能動作による故障診断能力の向 上について 神崎壽伯王森レイ甲斐博高橋寛 2022/09 2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2022 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
SAS-L を用いた JTAG 認証システムのアクセスポートロック機能回路の設計と実装 馬 竣岡本 悠王 森レイ甲斐 博亀山 修一高橋 寛清水 明宏 2022/09 2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2022 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
グラフ構造強化学習を用いたテスト検査点選定法 塩谷 晃平魏少奇王 森レイ甲斐 博高橋 寛 2022/09 2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2022 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
エッジデバイスにおける SAS 認証回路の設計と実装 岡本 悠王 森レイ甲斐 博高橋寛清水 明宏 2022/09 2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2022 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
ローエンドエッジデバイスにおける SAS 認証方式の処理時間の評価 荻田 高史郎清水 健吾中西 佳菜子甲斐 博王 森レイ高橋 寛清水 明宏 2022/09 2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2022 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
RS 符号の消失訂正を用いた Aesthetic QR コードの生成法 田原 直哉甲斐 博王 森レイ高橋 寛森井 昌克 2022/09 2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2022 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
Machine Learning Based Fault Diagnosis for Stuck-at Faults and Bridging Faults Yoshinobu HigamiTakaya YamauchiTsutomu InamotoSenling WangHiroshi TakahashiKewal K. Saluja 2022/06 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC)
シングルボードコンピュータ上でのSAS認証方式の計算時間の評価 荻田高史郎甲斐博王森レイ高橋寛清水明宏 2022/03 2022年電子情報通信学会総合大会 D-6-11 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
JTAG認証機構の軽量化設計について 馬竣岡本悠王森レイ甲斐博亀山修一高橋寛愛清水明宏 2022/03 第36回エレクトロニクス実装学会春季講演大会 36th （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
ディープニューラルネットワークを利用したシステムに対する高効率な検証法 白石忠明高橋寛WANG Senling 2022 情報科学技術フォーラム講演論文集 21st 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
JTAGのセキュリティ脅威 -攻撃の現状とその対策- 王 森レイ亀山 修一高橋 寛 2021/11/01 エレクトロニクス実装学会誌/24 巻 (2021) 7 号 24/ 7, 668-674
Diagnosis for Interconnect Faults in Memory-based Reconfigurable Logic Device Xihong ZhouSenling WangYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2021/11 IEEE the 22nd Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 11-16 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
グラフ畳み込みニューラルネットワークを用いたテ ストポイント選定について 魏 少奇王 森レイ甲斐 博樋上 喜信高橋 寛 2021/09 令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2021 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断 山内 崇矢稲元 勉王 森レイ樋上 喜信高橋 寛 2021/09 令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2021 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
マルチサイクルテストの導入による組込自己診断の 故障診断能力評価 王 宇超王 森レイ樋上 喜信甲斐 博高橋 寛 2021/09 令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2021 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
マルチサイクル機能動作による故障診断用パターン生成 神崎 壽伯王 森レイ樋上 喜信甲斐 博高橋 寛 2021/09 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
WebGL によるネットワークトラフィック可視化方 法の検討 松浦 拓海王 森レイ甲斐 博高橋 寛森井 昌克 2021/09 令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2021 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
機械学習を用いたマルウェアの機能推定に関する 研究 中島 拓哉児玉 光平王 森レイ甲斐 博高橋 寛森井 昌克 2021/09 令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2021 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
Aesthetic QR コードを生成するソフトウェアの実装 に関する研究 福田 諒也王 森レイ甲斐 博高橋 寛森井 昌克 2021/09 令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会 2021 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
MNN: A Solution to Implement Neural Networks into a Memory-based Reconfigurable Logic Device (MRLD) Xihong ZhouSenling WangYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiMitsunori KatsuShoichi Sekiguchi 2021/06/27 2021 36th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Compaction of Fault Dictionary without Degrading Diagnosis Ability Yoshinobu HigamiTomokazu NakamuraTsutomu InamotoSenling WangHiroshi TakahashiKewal K. Saluja 2021/06/27 2021 36th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 研究論文（国際会議プロシーディングス）
マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法 中岡典弘王 森レイ樋上喜信高橋 寛岩田浩幸前田洋一松嶋 潤 2021/02 信学技報 DC 120/ 358(DC2020 69-79) （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法 環 輝王 森レイ樋上喜信高橋 寛岩田浩幸前田洋一松嶋 潤 2020/11 信学技報 120/ 236 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
FF-Control Point Insertion (FF-CPI) to Overcome the Degradation of Fault Detection under Multi-Cycle Test for POST. Hanan T. Al-AwadhiTomoki AonoSenling WangYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiHiroyuki IwataYoichi MaedaJun Matsushima 2020/11 IEICE Transactions on Information & Systems 103-D/ 11, 2289-2301 研究論文（学術雑誌）
Ring-Oscillator Implementation for Monitoring the Aging State of Memory-based Reconfigurable Logic Device (MRLD) Xihong ZhouSenling WangYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2020/07 International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC2020) 228-233 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Reduction of Fault Dictionary Size by Optimizing the Order of Test Patterns Application Yoshinobu HigamiTsutomu InamotoSenling WangHiroshi TakahashiKewal K. Saluja 2020/07 International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC2020) 131-136 研究論文（国際会議プロシーディングス）
メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装 周 細紅王 森レイ樋上 喜信高橋 寛 2020/03 第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会講演集 34th （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
ハイブリッドテストポイント挿入法のマルチサイクルテストへの適用とその性能評価 中岡典弘青野智己王 森レイ高橋 寛松嶋 潤岩田浩幸前田洋一 2020/03 2020年電子情報通信学会総合大会 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法 青野智己中岡典弘周 細紅王 森レイ樋上喜信高橋 寛岩田浩幸前田洋一松嶋 潤 2020/02 電子情報通信学会技術研究報告 119/ 420 （MISC）速報，短報，研究ノート等（学術雑誌）
電子メールによる情報提供システムへのアクセス方法の検討 浅沼和希岡田奈々松浦拓海福田諒也児玉光平甲斐博WANG S.高橋寛 2020 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2020
マルチサイクルテストのテスト容易化のための制御ポイント選定法 環輝WANG Senling樋上喜信高橋寛 2020 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2020
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析—Analysis of Fault Detection Degradation Issue in Multi-cycle Test Scheme using Probabilistic Evaluation Method—VLSI設計技術 ; デザインガイア2019 : VLSI設計の新しい大地 中岡 典弘青野 智己工藤 壮司王 森レイ樋上 喜信高橋 寛岩田 浩幸前田 洋一松嶋 潤 2019/11 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 119/ 282
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出低下問題の解析 中岡 典弘青野 智己工藤 壮司王 森レイ樋上 喜信高橋 寛岩田浩幸前田洋一松嶋 潤 2019/11 デザインガイア2019 -VLSI設計の新しい大地-
マルチサイクルテストにおける故障検出低下問 題の解析とその対策 青野 智己王 森レイ樋上 喜信高橋 寛 2019/09 電気関係学会四国支部連合大会
Raspberry Piを用いた画像処理とCNNによる微小害虫の計数システムの構築 阿部 寛人畝山 勇一朗中岡 典弘渡辺 友希福本 真也森田 航平中本 裕大周 細紅河野 靖木下 浩二一色 正晴二宮 崇田村 晃裕甲斐 博高橋 寛王 森レイ 2019/09 令和元年度電気関係学会四国支部連合大会論文集（CD-ROM) 2019
Feasibility of Machine Learning Algorithm for Test Partitioning Senling WangHanan T. Al-AwadhiMasatoshi AohagiYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2019/08 The 34th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC 2019) 217-220 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Compact Dictionaries for Reducing Compute Time in Adaptive Diagnosis Yoshinobu HigamiTomokazu NakamuraTsutomu InamotoSenling WangHiroshi TakahashiKewal K. Saluja 2019/08 The 34th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC 2019) inpress, 124-127 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Excellent antitumor and antimetastatic activities based on novel coumarin/pyrazole oxime hybrids Hong DaiMeiling HuangJianqiang QianJi LiuChi MengYangyang LiGuxu MingTing ZhangSenling WangYujun ShiYong YaoShushan GeYanan ZhangYong Ling 2019/03 EUROPEAN JOURNAL OF MEDICINAL CHEMISTRY 166, 470-479 研究論文（学術雑誌）
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法 青野智己Hanan T.Al-Awadhi王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛岩田浩幸前田洋一松嶋潤(ルネサスエレクトロニクス 2019/02 信学技報 DC研究会信学技報 118/ 456
enPiT-Pro Embにおける社会人教育実践とその評価 名倉正剛高田広章山本雅基塩見彰睦野口靖浩岡村寛之高橋寛一色正晴WANG Senling甲斐博木下浩二田村晃裕二宮崇沢田篤史 2019 教育システム情報学会全国大会講演論文集(CD-ROM) 44th
論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について 加藤 隆明王 森レイ佐藤 康夫梶原 誠司 2018/12 電子情報通信学会技術研究報告, VLD2018-57 118/ 334 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
On Flip-Flop Selection for Multi-Cycle Scan Test with Partial Observation in Logic BIST Shigeyuki OshimaTakaaki KatoSenling WangYasuo SatoSeiji Kajihara 2018/11 in proc. IEEE Asian Test Symposium 30-35 研究論文（国際会議プロシーディングス）
サウンドコード技術を利用した電気錠システムの開発 周 細紅王 森レイ高橋 寛 2018/09 電気関係学会四国支部連合大会
組込み自己診断向けのテストパターン生成法 松田 優大王 森レイ樋上 喜信高橋 寛 2018/09 電気関係学会四国支部連合大会
機械学習を適用した半断線故障判別法の評価 増成紳介青萩正俊王 森レイ樋上喜信高橋 寛四柳浩之橋爪正樹 2018/09 電気関係学会四国支部連合大会
マルチサイクルテストの故障検出率の低下を改善するための キャプチャパターン制御法 青野 智己矢野 良典王 森レイ樋上 喜信高橋 寛 2018/09 電気関係学会四国支部連合大会
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFF選択法 矢野 良典青野智己王森 レイ樋上喜信高橋 寛 2018/09 電気関係学会四国支部連合大会
Fault Diagnosis Considering Path Delay Variations in Multi-Cycle Test Environment Yoshinobu HigamiTsutomu InamotoSenling WangHiroshi TakahashiKewalK. Saluja 2018/07 International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC) in press 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Test Method for the Bridge Interconnect Faults in Memory Based Reconfigurable-Logic-Device(MRLD) Considering the Place-and-Route Senling WangTomoki AonoTatsuya OgawaYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiMitsunori KatsuShoichi Sekiguchi 2018/07 International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC) in press 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Automotive Functional Safety Assurance by POST with Sequential Observation Senling WangYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiHiroyuki IwataJun Matsushima 2018/06/01 IEEE Design and Test 35/ 3, 39-45 研究論文（学術雑誌）
メモリベース再構成デバイスMRLDにおけるブリッジ接続故障のテスト方法 王 森レイ小川達也樋上喜信高橋 寛佐藤正幸勝 満徳関口象一 2018/02 信学技報 117/ 444
Testing of interconnect defects in memory based reconfigurable logic device (MRLD) Senling WangYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiMasayuki SatoMitsunori KatsuShoichi Sekiguchi 2018/01/24 Proceedings of the Asian Test Symposium 13-18 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Capture-Pattern-Control to Address the Fault Detection Degradation Problem of Multi-cycle Test in Logic BIST. Senling WangTomoki AonoYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiHiroyuki IwataYoichi MaedaJun Matsushima 2018 in proc. IEEE Asian Test Symposium 155-160 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Fault-detection-strengthened method to enable the POST for very-large automotive MCU in compliance with ISO26262. Senling WangYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiHiroyuki IwataYoichi MaedaJun Matsushima 2018 IEEE European Test Symposium (ETS) 1-2 研究論文（国際会議プロシーディングス）
スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について (ディペンダブルコンピューティング) -- (デザインガイア2017 : VLSI設計の新しい大地) 大島 繁之加藤 隆明王 森レイ佐藤 康夫梶原 誠司 2017/11/06 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 117/ 274
Towards an ISO26262 Compliant DFT Architecture Enabling POST for Ultra-Large-Scale Automotive MCU Yoichi MaedaHiroyuki IwataJun MatsushimaSenling WangYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2017/11 IEEE International Workshop on Automotive Reliability&Test 研究論文（国際会議プロシーディングス）
A Flexible Scan-in Power Control Method in Logic BIST and Its Evaluation with TEG Chips Takaaki KatoSenling WangYasuo SatoSeiji KajiharaXiaoqing Wen 2017/10 IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing 8/ 3, 591-601 研究論文（学術雑誌）
フィールドテストにおけるテスト集合分割法 青萩正俊増成紳介WANG S高橋寛 2017/09/16 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2017
再構成可能デバイスMRLDのための接続欠陥テスト 小川達也WANG S高橋寛佐藤正幸 2017/09/05 情報科学技術フォーラム講演論文集 16th
A method for diagnosing bridging fault between a gate signal line and a clock line Yoshinobu HigamiSenling WangHiroshi TakahashiShin-Ya KobayashiKewal K. Saluja 2017/09/01 IEICE Transactions on Information and Systems E100D/ 9, 2224-2227 研究論文（学術雑誌）
画像処理と深層学習による微小害虫の検出 中浦 大貴渡邊 大貴増成 紳介矢野 良典河野 靖木下 浩二二宮 崇田村 晃裕高橋 寛王 森レイ樋上 喜信藤田 欣裕二宮 宏 2017/09 平成29年度 電気関係学会四国支部連合大会 講演論文集 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
深層学習による柑橘類果実の個数推定 野口 敬輔小川 達也安保 良佑高原 圭太河野 靖木下 浩二二宮 崇田村 晃裕高橋 寛王 森レイ樋上 善信藤田 欣裕二宮 宏 2017/09 平成29年度 電気関係学会四国支部連合大会 講演論文集 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
Pattern Partitioning based Field Testing for Improving the Detection Latency of Aging-induced Delay Faults Hanan T. Al-AwadhiSenling WangYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2017/08 32nd International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications In press 研究論文（国際会議プロシーディングス）
三次元積層ICのTSV相互接続の評価容易化設計DFE : アナログバウンダリスキャンによる接続抵抗評価 (ディペンダブルコンピューティング) 亀山 修一王 森レイ高橋 寛 2017/02/14 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 116/ 466
論理回路の組込み自己診断に関する提案 (ディペンダブルコンピューティング) 香川 敬祐矢野 郁也王 森レイ樋上 喜信高橋 寛大竹 哲史 2017/02/14 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 116/ 466
A Flexible Power Control Method for Right Power Testing of Scan-Based Logic BIST Takaaki KatoSenling WangYasuo SatoSeiji KajiharaXiaoqing Wen 2016/12/22 Proceedings of the Asian Test Symposium 2016/ ATS, 203-208 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Pattern Partitioning for Field Testing Considering the Aging Speed Hanan T. Al-AwadhiSenling WangYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2016/11 Proc. IEEE WRTLT16, 72-76 研究論文（国際会議プロシーディングス）
中間観測FF選択法の大規模ベンチマーク回路に対する評価 濱田宗WANG S樋上喜信高橋寛岩田浩幸松嶋潤 2016/09/17 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016
アナログバウンダリスキャンを適用した三次元積層後のTSV抵抗精密計測法の計測精度評価 香川敬祐WANG S亀山修一樋上喜信高橋寛 2016/09/17 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016
マルチサイクルテストにおけるクロック信号線のd‐故障に対するテストパターン生成について 和田祐介樋上喜信WANG S高橋寛小林真也 2016/09/17 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016
マルチサイクルテストにおけるFFの接続情報を用いた中間観測FFの選択法 高原圭太WANG S樋上喜信高橋寛 2016/09/17 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016
組込み自己診断におけるハードウェア制約の改善法 矢野郁也WANG S樋上喜信高橋寛 2016/09/17 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2016
論理BISTにおけるスキャンイン電力制御手法とTEG評価 加藤 隆明王 森レイ佐藤 康夫梶原 誠司温 暁青 2016/09/07 DAシンポジウム2016論文集 2016/ 15
D-10-2 マルチサイクルテストのためのFFの構造的評価(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション) 門田 一樹濱田 宗王 森レイ樋上 喜信高橋 寛岩田 浩幸松嶋 潤 2016/03 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2016/ 1
三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について (ディペンダブルコンピューティング) 王 森レイ香川 敬祐亀山 修一 2016/02/10 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 115/ 449
Structure-Based Methods for Selecting Fault-Detection-Strengthened FF under Multi-Cycle Test with Sequential Observation Senling WangHanan T. Al-AwadhiSoh HamadaYoshinobu HigamiHiroshi TakahashiHiroyuki IwataJun Matsushima 2016 2016 IEEE 25TH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS) 2016/ ATS, 209-214 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Diagnosis methods for gate delay faults with various amounts of delays Yoshinobu HigamiSenling WangHiroshi TakahashiShin-Ya KobayashiKewal K. Saluja 2016 IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 9, 13-20 研究論文（学術雑誌）
Physical power evaluation of low power logic-bist scheme using test element group chip Senling WangYasuo SatoSeiji KajiharaHiroshi Takahashi 2015/12/01 Journal of Low Power Electronics 11/ 4, 528-540 研究論文（学術雑誌）
アナログバウンダリスキャンを用いた三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法の実装について WANG Senling香川敬祐亀山修一亀山修一樋上喜信高橋寛 2015/11 電子情報通信学会技術研究報告 115/ 338(VLD2015 38-76)
論理BISTにおける故障検出率の向上を考慮したシフトピーク電力制御法 WANG S樋上喜信高橋寛 2015/09/26 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015
タイミングシミュレーション情報に基づく故障診断法 門田一樹矢野郁也WANG S樋上喜信高橋寛 2015/09/26 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015
マルチサイクルテストでのクロック信号線のd-故障に対する故障診断 和田 祐介樋上 喜信王 森レイ高橋 寛小林 真也 2015/09 平成27年度電気関係学会四国支部連合大会
遅延を考慮したシミュレータ用いたクロック信号線のブリッジ故障の故障診断 細川 優人樋上 喜信王 森レイ高橋 寛小林 真也 2015/09 平成27年度電気関係学会四国支部連合大会
アナログバウンダリスキャンによる三次元積層後のTSV抵抗精密計測法の実装と評価 香川敬祐WANG S亀山修一樋上喜信高橋寛 2015/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
組込み自己診断におけるシード候補の生成法 村上陽紀宮本夏規WANG S樋上喜信高橋寛 2015/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
組込み自己診断における遷移故障診断能力の改善法 宮本夏規村上陽紀WANG S樋上喜信高橋寛 2015/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2015 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
組込み自己診断におけるテストパターン系列の診断能力に関して 宮本夏規村上陽紀WANG Senling樋上喜信高橋寛大竹哲史 2015/08 情報科学技術フォーラム講演論文集 14th
IR-dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法 (ディペンダブルコンピューティング) 王 森レイ井上 大画アル・アワディー ハナン ティ樋上 喜信高橋 寛 2015/02/13 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114/ 446
0‐1整数計画問題を利用した遅延故障テストの改善 門田一樹今村亮太WANG Senling樋上喜信高橋寛 2015/02 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2015
Trends in 3D integrated circuit (3D-IC) testing technology Hiroshi TakahashiSenling WangYoshinobu HigamiShuichi KameyamaHiroyuki YotsuyanagiMasaki HashizumeShyue-Kung LuZvi Roth 2015/01/01 Three-Dimensional Integration of Semiconductors: Processing, Materials, and Applications 235-268 論文集(書籍)内論文
A Simulated Annealing based Pattern Selection Method to Handle Power Supply Noise for Resistive Open Fault Diagnosis Senling WangTaiga InoueHanan T. Al-AwadhiYoshinobu HigamiHiroshi Takahashi 2015 Proc. 30th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) -, pp.592-595 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Diagnosis of Delay Faults in the Presence of Clock Delays Considering Hazards Yoshinobu HigamiSenling WangHiroshi TakahashiShin-ya KobayashiKewal K. Saluja 2015 Proc. 30th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 649-652 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Diagnosis of Delay Faults Considering Hazards Yoshinobu HigamiSenling WangHiroshi TakahashiShin-ya GraduateKewal K. Saluja 2015 2015 IEEE COMPUTER SOCIETY ANNUAL SYMPOSIUM ON VLSI 07-10-July-2015, 503-508 研究論文（国際会議プロシーディングス）
クロック信号線のブリッジ故障に対する遅延を考慮した故障診断 細川 優人樋上 喜信王 森レイ高橋 寛小林 真也 2014/09 電気関係学会四国支部連合大会
マルチサイクルテストでの遷移故障に対するテスト生成 藤原 翼樋上 喜信王 森レイ高橋 寛小林 真也 2014/09 電気関係学会四国支部連合大会
0‐1整数計画問題を利用した診断用テスト生成システムの開発 村上陽紀宮本夏規WANG S樋上喜信高橋寛 2014/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
消費電力制約下での焼きなまし法を利用したテストパターン変更法 井上大画WANG S樋上喜信高橋寛 2014/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
遺伝的アルゴリズムを利用した診断用テスト生成 門田一樹今村亮太WANG S樋上喜信高橋寛 2014/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
オンチップセンサを利用した抵抗性オープン故障診断 竹田和生WANG S樋上喜信高橋寛 2014/09 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2014 （MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）
低電力BIST手法におけるキャプチャ電力のTEG評価 西田敏也WANG Senling佐藤康夫梶原誠司 2014/06 電子情報通信学会技術研究報告 114/ 99(DC2014 10-17)
フィールドにおけるテスト印加と低電力論理BISTに関する研究 王 森レイ 2014/03 九州工業大学博士学位論文 1-89 学位論文（博士）
Power Evaluation of a Low Power Logic BIST Scheme using TEG Chip Senling WangToshiya NishidaYasuo SatoSeiji KajiharaHiroshi Takahashi 2014 Proc. of IEEE WRTLT14 pp.8-13 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Scan-out power reduction for logic BIST Senling WangYasuo SatoSeiji KajiharaKohei Miyase 2013 IEICE Transactions on Information and Systems E96-D/ 9, 2012-2020 研究論文（国際会議プロシーディングス）
マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法 WANG Senling佐藤康夫梶原誠司宮瀬紘平 2012/11/19 電子情報通信学会技術研究報告 112/ 321(DC2012 25-72)
論理BISTの電力低減手法と評価 佐藤康夫WANG Senling加藤隆明宮瀬紘平梶原誠司 2012/06/15 電子情報通信学会技術研究報告 112/ 102(DC2012 9-16)
低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について 加藤隆明WANG Senling宮瀬絋平佐藤康夫梶原誠司 2012/02/06 電子情報通信学会技術研究報告 111/ 435(DC2011 76-86)
Low power BIST for scan-shift and capture power Yasuo SatoSenling WangTakaaki KatoKohei MiyaseSeiji Kajihara 2012 Proceedings of the Asian Test Symposium 173-178 研究論文（国際会議プロシーディングス）
A scan-out power reduction method for multi-cycle BIST Senling WangYasuo SatoKohei MiyaseSeiji Kajihara 2012 Proceedings of the Asian Test Symposium 272-277 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Genetic algorithm based approach for segmented testing Xiaoxin FanSudhakar M. ReddySenling WangSeiji KajiharaYasuo Sato 2011 Proceedings of the International Conference on Dependable Systems and Networks 85-90 研究論文（国際会議プロシーディングス）
A Pattern Partitioning Algorithm for Field Test Senling WangSeiji KajiharaYasuo SatoXiaoxin FanS.M. Reddy 2011 Proc. 2nd Int'l Workshop on Reliability Aware System Design and Test (RASDAT'11), 31-36 研究論文（国際会議プロシーディングス） - MISC
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
- 総説・解説
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
- 講演・発表
- Automotive Functional Safety Assurance with Multi-cycle POST The 1st Workshop on Emerging Test Technologies Workshop on Automotive Functional Safety (ETT-FuSa'23) 2023/10/14 シンポジウム・ワークショップ パネル（指名）
サイバーフィジカルシステムにおけるセキュリティ脅威と対策について バウンダリスキャン研究会 2022年度公開研究会 2022/09/14 口頭発表（一般）
JTAGにおけるセキュリティ脅威とその対策に関する調査 エレクトロニクス実装学会 バウンダリスキャン研究会 2021/12/21 口頭発表（招待・特別）
シミュレーターの活用による組込みシステム開発演習の完全遠隔化 enPiT2組込みシステム分野ＦＤ研修会 2020/12/12 公開講演，セミナー，チュートリアル，講習，講義等
CAD ツールを用いた組込みシステム開発のバーチャル演習実践 日本ソフトウェア科学会第37回大会(JSSST2020) 2020/09/07 公開講演，セミナー，チュートリアル，講習，講義等
CAD ツールを用いた組込みシステム開発のバーチャル演習実践 日本ソフトウェア科学会第37回大会(JSSST2020) 2020/09/07 口頭発表（招待・特別）
メモリーベース再構成可能論理デバイス(ＭＲＬＤ)における接続欠陥のテスト方法について 第７７回FTC研究会 2017/07/22 口頭発表（一般）
- 研究会・報告書
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
- 特許
- 特許権 故障検出システム、生成回路及びプログラム JP2013063393 2013/05/14 WO2013-175998 2013/11/28
- 作品
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
- 補助金・競争的資金
- 科学研究費助成事業 IoT環境におけるエッジデバイスでの劣化故障検出及び障害予告技術の開発 若手研究 2019/04-2023/03 本研究の目的は，汎用メモリで構成されている論理再構成エッジデバイスMRLDの高信頼化技術を開発することである。具体的な目標は，①MRLDの製造欠陥(接続配線間の断線)に対する高品質な生産テスト法，②MRLDにおける劣化故障を検出するフィールドテスト技術，③MRLDにおける劣化状態の検知・報告技術，④MRLDの構造に適する論理合成ツールを開発することを目指している。 2021年度は，目標①に対して，MRLDのLUT（look-up table）間の接続配線におけるブリッジ故障とオープン故障を特定するための診断用テスト生成法を提案した。目標②について、テスト対象回路の時間的可制御性と可観測性の改善に着目したテストポイント挿入手法を提案し、大規模ベンチマーク回路において効果検証を行った。目標③に対して、回路シミュレータ（HSPICE）を用いて，温度と製造バラツキを含めたシミュレーションを行い，提案したRO+カウンタ回路の遅延測定精度を評価した。目標④に関しては、MRLDにおいてバイナルニューラルネットワークを構築するために，機能レベルのファッション分割と真理値表自動生成ツールを開発した。 本年度の研究成果は，1編のエレクトロニクス実装学会論文誌、3編の査読付き国際会議論文、4編の電気関係学会四国支部大会発表発表を行った。
科学研究費助成事業 つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発 基盤研究(C) 2019/04-2023/03 本研究の目的は，つながる車載システムやIoT環境でのエッジコンピューティングシステムなどが市場稼働時においても高信頼性を保証するために，非破壊で集積回路自身が自己テストによって故障の有無および真贋を識別する手法を信頼性強化設計法(Design For Trust: DFTr)として開発することである。 本研究では，次のことを明らかにしていくために中目標を設定している。中目標１：集積回路に対するフィールドテストのために故障検出強化技術を開発する。中目標２：メモリコンピューティングデバイスにおける故障状態警告技術を開発する。中目標３：テスト容易化技術を利用して集積回路の個体情報を獲得する真贋識別技術を開発する。 本年度は，中目標１に対して，これまで提案してきた可観測性を向上させる「故障検出強化フリップ」および可制御性を向上させるために「論理値を制御できるテスト容易化設計」を施す最適な位置を選択するアルゴリズムを新たに提案し，その有効性を評価した。 中目標２に対しては，フィールドテストにおける回路の内部状態の獲得技術に関して，文献調査を行った。「故障状態警告技術」としては，リングオシレーターを書き換え可能デバイス上に実装した。中目標３に対しては，つながるデバイスのセキュリティの強化のためにテスト容易化設計法（バンダリスキャンテスト）を安全に利用するための認証法を検討した。新たに，バンダリスキャンテストを遠隔で実施するために，稼働モードからテストモードに安全に遷移できるように外部とテストアクセス機構の間の認証法を実装する方向に研究の指針を拡張した。 本年度の研究成果として，3編の電気・電子・情報関係学会四国支部大会発表，1編の電子情報通信学会総合大会および1編のエレクトロニクス実装学会春季講演大会で発表を行った．また，エレクトロニクス実装学会学会誌に調査論文が掲載された。
科学研究費助成事業 アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究 基盤研究(C) 2019/04-2023/03 令和3年度の研究成果は主に3点に集約される １．機械学習を用いた複数故障モデル診断法の開発．故障辞書を元に学習した，ニューラルネットワークを用いて候補故障を推定する手法を開発した．対象故障として，縮退故障と4wayブリッジ故障を対象とした．学習に用いる元の故障辞書は，印加するすべてのテストパターンと対象とするすべての故障に対するパス／フェイル（検出／非検出）の情報を含んでおり，情報の表現形式として，2通りのタイプのデータに加工し，学習に用いた．ベンチマーク回路に対して実験を行った結果，データ量が少ない形式の方が，ニューラルネットワークの再現率が高く，故障診断についても良い結果が得られら． ２．ニューラルネットワークを用いたテストパターン生成器の開発．テスト生成としてアナログ回路で実装したニューラルネットワークを用いる手法を提案し，そのようなテスト生成器の性能について，電子回路シミュレーションを行い，調査した．アナログ回路では，製造ばらつきや使用環境により，どの程度性能に影響があるかを調べるため，抵抗値をばらつかせてシミュレーションを行った．実験の結果，ばらつきの程度と，生成したテストパターンが期待値とどの程度異なるかについての定量的な結果を得ることができた． ３．アダプティブ故障診断における圧縮故障辞書作成のための外部出力グループ化の高速化手法の開発．アダプティブ故障診断に用いる圧縮故障辞書を作成するため，排他的論理和演算で圧縮する外部出力のグループ化で行う圧縮優先度計算を近似的に行うことで計算時間を短縮する手法を開発した．実験の結果，1000倍程度高速化を実現することができた．ただし，一部回路で若干の故障診断性能の低下が見られた．
科学研究費助成事業 高精度遅延故障シミュレータを用いた遅延故障に対するテストと診断に関する研究 基盤研究(C) 2016/04-2020/03 平成30年度に実施した研究の主な成果は，「遅延変動を考慮したマルチサイクルテスト環境での故障診断手法の開発」に関するものである．この研究では，システムのクロックを複数連続して印加する，マルチサイクルテスト環境を想定している．マルチサイクルテスト環境は，実動作環境に近いため，スキャンテスト時に消費電力が高くなるという問題や，オーバーテストにより歩留まりが低下する問題などを緩和する．さらにここでは，信号伝搬遅延が経路上で変化するような状況を想定し，単一縮退故障および2重縮退故障を対象に故障診断を行う手法を開発した．故障診断においては，故障回路に対してシミュレーションを行い，候補故障を絞り込むが，信号伝搬遅延が経路上で変化する場合には，シミュレーションの結果と実際の故障回路の出力応答が一致せず，候補故障の絞り込みがうまくいかず候補故障数が多くなったり，故障回路に存在する故障が候補故障集合に含まれないようなことが起こる．そこで，提案法では，遅延変動の影響が大きく現れる可能性のあるテストパターンをリスキーパターンとよび，それらを用いずに故障診断を行う手法を導入した．また，遅延変動によってフリップフロップに取り込まれる値が変化する場合を想定し，フリップフロップに未知の値Xを取り込むとしてシミュレーションを行う手法を導入した．ベンチマーク回路に対する実験の結果，単一縮退故障に対しては，6個のベンチマーク回路中５回路において，候補故障数が10個以下となった．また2重縮退故障に対しては，実験を行った３個のベンチマーク回路において，100個の故障回路中半数以上の回路で候補故障数を20個以下に絞り込めた．
科学研究費助成事業 機能安全技術のための組込み自己診断法の開発 基盤研究(C) 2016/04-2019/03 先進運転支援システムにおける機能安全規格準拠したシステムを構成するためには，その構成要素である集積回路の組込み自己診断技術の開発が喫緊の課題である．本研究では，パワーオン時や待機時の組込み自己テストに適用するマルチサイクルテストの故障検出率向上化法，および組込み自己診断機構を提案する．本研究の成果を以下に示す。 １）パワーオン時の組込み自己テストに適用するマルチサイクルテストにおける故障検出率を向上するためのテスト容易化設計を開発した。具体的には，故障検出強化フリップフロップによる中間観測を導入したマルチサイクルテスト法を提案した。商用車載コンピュータ（ゲート数2.7M）に対する評価実験結果から，通常のスキャンテストに対してマルチサイクルテストを実行することによって2.8倍のテストパターンの圧縮が可能となることがわかった． ２）フィールドでの劣化による遅延故障箇所の特定を指向した組込み自己故障診断（BISD）機構を開発した。提案機構は事前に生成した期待署名をメモリに持つことなく，動的に期待署名を生成しながら遅延故障診断テストを行う．提案したBISD 機構では通常 のクロック (実速度クロック) よりも遅いクロック (低速度クロック) を用いて期待署名の自己生成を行い，実速度クロックを用いて遅延故障診断テストを行う。実験ではベンチマーク回路に対して提案 BISD 機構を適用し，面積オーバヘッドを評価した。 ３）パワーオンセルフテストの実行時間短縮のためのテスト集合分割法を提案した．また，組込み自己診断の高精度化のために組込み自己診断向けの診断用テストパターンの生成法を提案した。 ４）配線における半断線故障の検出能力の向上化のために，機械学習の手法（マハラノビクス距離，SVM）を利用した半断線故障の識別法を提案した。 ５）次世代のメモリコンピューティングデバイスのテスト法を提案した。
機能安全技術のための組込み自己診断法の開発 基盤研究(C) 競争的資金
つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発 基盤研究(C) 競争的資金
高精度遅延故障シミュレータを用いた遅延故障に対するテストと診断に関する研究 基盤研究(C) 競争的資金
アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究 基盤研究(C) 競争的資金
科学研究費助成事業 構造型情報処理アーキテクチャに対するフィールドテスト法 基盤研究(C) 2023/04-2026/03
二国間交流事業共同研究 チップレットシステムのライフサイクル信頼性強化設計技術 国際間共同研究 2023/04-2025/12
科学研究費助成事業 メモリ型再構成エッジデバイスにおける高信頼性知的処理機能の設計法に関する研究 基盤研究(C) 2022/04-2025/03
- その他
- 研究者総覧に該当データはありませんでした。
2024年12月20日更新
- 専門分野・研究分野
- 情報通信 / 計算機システム / ＬＳＩテスト及び診断
情報通信 / 高性能計算 / In memory computing - 所属学会・所属協会
- 情報処理学会
電子情報通信学会
米国電気電子学会
エレクトロニクス実装学会
ACM
Association for Computing Machinery - 委員歴・役員歴
- 2021/01-現在 情報処理学会 SLDM研究会 運営委員
2021/01-現在 DAシンポジウム2021 －システムとLSIの設計技術－ 実行委員会（広報委員）
2021/01-2021/11 IEEE WRTLT Organization Committee Local Arrangement Chair
2021/01-2021/11 IEEE Asian Test Symposium Local Arrangement Chair
2020/06-現在 IEEE Asian Test Symposium Program 委員
2020/06-現在 IEEE WRTLT Program Committee Program 委員
2020/04-現在 システムとLSIの設計技術研究会 運営委員
2020/04-現在 情報処理学会四国支部委員会 委員
2020/04-現在 DAシンポジウム2022 プログラム委員会委員
2019/06-2019/12 WRTLT2019 Program Committee Program 委員
2019/05-2019/12 WRTLT2019 Program Committee Program Committee Member
2019/03-2019/12 デザインガイア2019 ～VLSI設計の新しい大地～ 実行委員会
2019-現在 Asian Test Symposium 実行委員会 Local Arrangement Chair
2019-現在 Asian Test Symposium OC Local Arrangement Chair
2018/08-2019/10 ITC-Asia 2019 実行委員会 広報委員
2018/08-2019/10 ITC-Asia 2019 Organizing Committee Publicity Chair
2018/04-現在 エレクトロニクス実装学会 バウンダリスキャン研究会 委員
2018/04-現在 JIEP Boundary Scan (JTAG) WorkGroup Committee
2018/01-2018/09 電気関係学会四国支部連合大会 現地実行委員会 - 受賞
- 2024/07 工学部教育貢献賞
2021/04 教育貢献賞
2020 IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award
2018/04 教育貢献賞
2014/08 The 4th IEEE SSCS Japan Chapter VDEC Design Award
2011/04 国費外国人留学生奨学金 - 活動
- 2018/06/01-2018/09/24 電気関係学会四国支部連合大会
2017-2019 DC研究会
2024年12月22日更新
2024年12月21日更新
Ｊグローバル
- Jグローバル最終確認日
- 2024/12/21 01:48
- 氏名（漢字）
- 王 森岭
- 氏名（フリガナ）
- オウ シンレイ
- 氏名（英字）
- Wang Senling
- 所属機関
- 愛媛大学 講師
リサーチマップ
- researchmap最終確認日
- 2024/12/22 02:46
- 氏名（漢字）
- 王 森岭
- 氏名（フリガナ）
- オウ シンレイ
- 氏名（英字）
- Wang Senling
- プロフィール
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- 登録日時
- 2016/3/16 18:43
- 更新日時
- 2024/12/8 13:20
- アバター画像URI
- https://researchmap.jp/senling_wang_scholar/avatar.jpg
- ハンドル
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- eメール
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- eメール（その他）
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- 携帯メール
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- 性別
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- 没年月日
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- 所属ID
- 0352021007
- 所属
- 愛媛大学
- 部署
- 大学院理工学研究科 電子情報工学専攻
- 職名
- 講師
- 学位
- 博士
- 学位授与機関
- 九州工業大学
- URL
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- 科研費研究者番号
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- Google Analytics ID
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- ORCID ID
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- その他の所属ID
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- その他の所属名
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- その他の所属 部署
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- その他の所属 職名
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- 最近のエントリー
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- Read会員ID
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- 経歴
- 受賞
- Misc
- 論文
- 講演・口頭発表等
- 書籍等出版物
- 研究キーワード
- 研究分野
- 所属学協会
- 担当経験のある科目
- その他
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- Works
- リサーチマップAPIで取得できませんでした。
- 特許
- 学歴
- 委員歴
- 社会貢献活動
更新
- 研究者番号
- KAKEN APIで取得できませんでした。
- 所属（現在）
- KAKEN APIで取得できませんでした。
- 所属（過去の研究課題
情報に基づく）*注記 - KAKEN APIで取得できませんでした。
- 審査区分/研究分野
- KAKEN APIで取得できませんでした。
- キーワード
- KAKEN APIで取得できませんでした。
研究課題
研究成果
共同研究者
注目研究はありません。